JPH0453031A - 光ヘッド装置 - Google Patents
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- JPH0453031A JPH0453031A JP2161760A JP16176090A JPH0453031A JP H0453031 A JPH0453031 A JP H0453031A JP 2161760 A JP2161760 A JP 2161760A JP 16176090 A JP16176090 A JP 16176090A JP H0453031 A JPH0453031 A JP H0453031A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
しくは光磁気記憶媒体等の記憶媒体上に記憶される光学
情報を記録・再生する光ヘッド装置に関するものである
。
メモリ技術は、高密度・大容量の記憶媒体として、ディ
ジタルオーディオディスクからデータファイルまで用途
を拡張しつつ実用化されてきている。
装置の開発で完成されるが、特に後者の小型化および高
性能性、ならびに信頼性向」−と低価格化は、光メモリ
技術の普及に欠かセないものであり、電子回路の集積化
と並んで、光源および光検出器系を集積化した光ヘッド
装置も開発されている。
の一例を示すものである。半導体レーザを用いた光源1
00からの発散波面は第1の格子101で主ビームと2
本の副ビームに分けられ半円状開口を有する第2の格子
102および第3の格子103に入射する。入射光のう
ち、O次回折波成分はコリメータ104および集光光学
系】05を介して記憶媒体106に集光される。ここで
記憶媒体106上での主ビーム107aのスポットと副
ビーム107b、107eとの距Md′は20IIm程
度に設計され、記憶媒体106のビ・7ト面で反射ある
いは回折されて再び集光光学系105およびコリメータ
104を逆進して各々第2の格子102および第3の格
子103を回折し、5分割された光検出器系108によ
り受光され、フーコ法のフォーカス検出、3ビーム法の
トラッキング検出およびRF傷信号検出が実行される。
グラム素子109の両面に形成されたものであり、複数
波面の分割・生成が可能でありかつ複製が容易である。
あたり、光源100と光検出器系108の相対値W、誤
差の許容範囲が第10図の例で方向XについてΔX−1
7μm1方向YについてΔY−40μmで与えられるた
め、生産工程で高精度の組立を必要とする。とくに記録
・消去システムを備えた光デイスクドライブ装置の場合
、装置の使用環境下での信転性保障に困難を残す。これ
は光ヘッド装置のフォーカスサーボ信号検出方式に従来
のフーコ法、あるいは非点収差法を用いたためである。
置誤差を大幅に許容するフォーカス信号検出方式として
、スポットサイズディテクシッン(SSD)方式を用い
た光ヘッド装置が開発されている。
ドパターンを差動検出してトラッキング信号を得る構成
となっているため、いわゆるコンパクトディスクのよう
に、溝なしでビット列のみの記憶媒体を再生する場合、
コンパクトディスクの傾き等によってトラッキング信号
検出が不安定となる。また、SSD方式を実現するホロ
グラムヘッド構成として、不要な回折光成分を抑圧する
ブレーズ化の容易なホログラム素子を実現する課題が残
されていた。
および光検出器系の組立誤差を大幅に許容し、ピントの
深さの小さい記憶媒体にも安定に検出でき、しかも不要
な回折光成分を抑圧するブレーズ化の容易な回折素子を
有する光ヘッド装置を提供することである。
光を微小スポットに収束して記憶媒体に入射さセる集光
光学系と、 前記微小スポットの前記記憶媒体による出射光を前記集
光光学系を介して入射して、相互に焦点が異なる複数の
同一・次数の回折波面を前記集光光学系の光軸外に構成
するー・対のフレネルゾーンプレート状パターンが、相
互に非重畳的に形成された回折素子と、 前記回折波面の各々を受光する複数の分割領域を有して
フォーカス誤差信号およびドラッギング誤差信号を差動
検出する一対の光検出器系と、前記微小スポットが前記
記憶媒体上を走査するように前記光検出器系の信月に応
して前記集光光学系を制御するアクチュエータとを備え
たものである。
を微小スポットに収束して記憶媒体に入射さセる集光光
学系と、 前記微小スポットのlj記記憶媒体による出射光を前記
集光光学系を介]ノて入射して2.相7jに旬、lル、
が異なる複数の同一次数の回折波面を前記集光光学系の
光軸列に生成する一対のフレネルゾーンプレート状パタ
ーンが、同し幅で交互に複数配列された回折素子と、 前記一対のフレネルゾーンプレート状パターンによる前
記回折波面を検出するフォーカス用の検出部と、前記一
対のフレネルゾーンプレート状パターンを等しい幅で交
互に配列することによりその配列方向に生成する回折波
面を検出する1う。
ポットが前記記憶媒体上を走査するよう乙こ前記光検出
器系の信号に応して前記集光光学系を制御するアクチュ
エータとを備えたものである。
求項(2)において、前記フレネルゾーンブレー]・状
パターンを1次元方向にのみ形成されたリニアフレネル
ゾーンプレート状パターンにしたものであ請求項(4)
の光ヘッド装置は、請求項(2)において、前記光検出
器系の前記フォーカス用の検出部と前記トラッキング用
の検出部の並び方向を前記記憶媒体のトランク方向と平
行にしたものである。
光学系により微小スポットに収束されて記憶媒体に入射
し、記憶媒体よりの出射光が集光光学系を介して回折素
子の一対のフレネルゾーンプレート状パターンに入射し
、その一対の回折光が集光光学器系の光軸外の一対の光
検出器系に入射し、光検出器系より情報信号を出力する
とともにアクチュエータを駆動するフォーカス誤差信号
およびトラッキング誤差信号を差動検出する。
出射光が回折素子により一対の回折光を生成しこれを一
対の光検出器系の各分割領域で受光してトラッキング誤
差信号およびフォーカス誤差信号を差動検出する構成の
ため、光源と光検出器系の相対的位W誤差を大きく許容
することができるとともに、ビットの深さの小さい記憶
媒体に対して安定な検出が可能となる。また回折素子は
一対のフレネルゾーンプレート状パターンを非重畳的に
形成しているため、重畳した場合に伴うビート光の発生
が避けられるとともに、フレネルゾーンプレート状パタ
ーンであるのでブレーズ化が容易であり、このため不要
な回折光成分を抑圧できるとともに回折素子を集光光学
系の近傍に−・体化できる。
のフレネルゾーンプレート状パターンは同し幅で交互に
複数配列されており、また光検出器系が前記一対のフレ
ネルゾーンプレート・状パターンによる回折波面を検出
するフォーカス用の検出部と、前記一対のフレネルゾー
ンプレート状パターンを等しい幅で交互に配列すること
によりその配列方向に生成する回折波面を検出するトラ
ッキング用の検出部を有するため、一対のフレネルゾー
ンプレート状パターンの等しい幅の配列による回折光が
トラッキング検出用の検出部で差動検出され、3ビーム
法によるトラッキング誤差信号を得ることができる。こ
の場合、光検出器系は回折素子の焦点の近傍で正しい信
号が得られればよいので、各回折光のビーム間距離を極
めて小さくでき、かつフレネルゾーンプレート状パター
ンの幅間隔を大きくすることができ、回折素子の製造が
容易になる。その他、請求項(1)と同作用を有する。
たは請求項(2)の前記フレネルゾーンプレート状パタ
ーンを1次元方向にのみ形成されたリニアフレネルゾー
ンプレート状パターンとしたため、請求項(1)または
請求項(2)の作用のほか、検出器系の検出面には細幅
状のビーム断面となるので、リニアフレネルゾーンプレ
ート状パターンのパターン列方向の寸法を短縮でき、し
たがって小型化が可能になるとともに、応答周波数域を
広げることが容易になり、たとえば光源の波長変動の大
きい記録消去型光ディスク等に対してもトラッキングお
よびフォーカスともに安定なサーボ信号の検出が可能に
なる。さらにフレネルゾーンプレート状パターンのリニ
ア化によりブレーズ化が一層容昌になり、また回折素子
を集光光学系に一体化し7で駆動することにより一層サ
ーボ検出の安定化が図れる。
前記光検出器系の前記フォーカス用の検出部と前記トラ
ッキング用の検出部の並び方向を前記記憶媒体のトラン
ク方向と平行にしたため、請求項(2)の作用のほか、
記憶媒体に集光した微小スポットが記憶媒体のトランク
溝またはビット列を横断するときに生じるファーフィー
ルドパターン変化がフォーカス誤差信号に影響を与えな
いので安定なサーボ信号が検出できる。
て説明する。すなわち、第1図において、1は近赤外域
の波長(例えばλ”” 780nm)のコヒーレントビ
ームを発する半導体レーザを用いた光源である。2は光
軸外に同一の次数で焦点の異なる複数の回折波面を生成
するフレネルゾーンプレート状パターンを相互に非重畳
的に形成したホログラム素子を用いた回折素子、3は開
口数N A = 0゜45程度の対物レンズを用いた集
光光学系、4はCDあるいはトランク溝を有する光ディ
スク等の記憶媒体、12.13は前記回折波面の各々を
受光する複数の分割領域を有してフォーカス誤差信号お
よびトラッキング誤差信号を差動検出する一対の光検出
器系である。
し、集光光学系3で微小スポットに収束されて記憶媒体
40ビット面6上の集光点7に入射される。このとき回
折素子2は往路における0次回折光のみを利用しており
、−1次回折光のややデフォーカスしたビーム9a等は
利用されない。
ムは集光光学系3を介して回折素子2に入射し、回折素
子2の〜1次回折光により光軸外に焦点の異なる複数の
ビーム15.16の回折波面1.0.11を生成するや
これらの回折波面が一1次回折光の焦点の近傍で一対の
光検出器系12゜13に入射する。
14を有するアクチエエータ(図示せず)の駆動部、3
5は光源1および光検出器系12゜13を保持する保持
部である。x、y、zは方向を表す。
の矩形開口による分割領域からなり、その幅W9分割線
方向の長さhである。また各光検出器はリニア型のシリ
コン光検出器を用いでおり、光源1のマウント17の上
面に固定され、かつ発光点5から高さgだけ離れた面に
位置する。なお高さgはフレネルゾーンプレート状パタ
ーンの設計によって任意に設定できる。610〜612
は光検出器系12の各分割領域の出力端、620〜62
2は光検出器系13の各分割領域の出力端である。第1
図で示す回折波面10.11は光検出器系12.13の
受光面36の表、裏側方向に各々距離δ1.δ2だけ離
れた位置にビット面6を反射または屈折した光が収束す
る焦点を各々有し、集光光学系3が合焦点のときは受光
面14上に各ビーム15.16は等しいビームサイズと
なるが、焦点外れのときにはビームサイズに差を生じる
。
信号により検出され、アクチュエータの可動部14に帰
還させて集光光学系3のフォーカス調整を行う。
3に面する側にフレネルゾーンプレート状パターンを形
成し、集光光学系3と共にアクチュエータの可動部に固
定されるが、固定に先立ち、回折素子5もしくはその筒
部18を発光点5を中心として微小角度回転(矢印19
a、19b)L。
12.13に対して丁度図のように最適となるように調
整する。i!、、62は光検出器系12゜】3と発光点
5との距離、θは発光点から一対の光検出器系12.1
3を見た角度である。
j(=P、〜Pn)で交互に配列される格子状領域A、
Bには各々長焦点のりニアフレネルゾーンプレート状パ
ターン(off−axis HnearFresnel
zone plate)が角度θで交差するように層
状に非連続的ムこ配置されており、第4図に示すような
断面形状で深さeのブレーズ化された位相格子をなして
いる。また、第3図に示す領域A。
子周期に対応する1次回折光の生成を実質的に抑圧して
いる。
本設計を示す、1次元であるリニアフレネルゾーンプレ
ート状パターン20.21は中心線上の点0.,02に
中心を有し、それぞれ第6図に示すような断面の位相構
造をなし、2次元のフレネル輸帯板で知られるのと同様
の関係式%式% によって与えられ、第5図の破線で囲む円22内のパタ
ーンを用いる。ただし、λは光源1の主波長、jは各フ
レネルゾーンプレート状パターンの中心0..02から
数えた格子の順序番号、fzは焦点距離(1次元方向で
の回折波面が有する凸および凹レンズ作用における)で
ある。これらのパターンはレーザ干渉縞で記録するか、
もしくはコンピュータでパターンを計算して生成するか
のいずれでも目的を達することができる。
.21は相互に角度θで交差するが、第5図に示すよう
に重畳した構成で用いるのでなく、第3図に示すように
格子状領域Aは第5図のフレネルゾーンプレート状パタ
ーン20を輻Pjの層状格子を通して見るごとく半分だ
け描いたものに相当し、格子状領域Bはリニアフレネル
ゾーンプレート状パターン21の半分を描いたものに相
当し、互いに重なり合わずに非重畳的に配置されている
。ここで開口22の中心とリニアゾーンパターンの軸中
心01.02との距離り、、L2は第1図および第2図
に示した距離βI= 7!2およびH(回折素子2と
検出面14との距離)が与えられたとき、 L、に)f H,X I 2 (/ HL2#12×f
z2/H となる、fz、、fz2は一対のりニアフレネルゾーン
プレート状パターン20.21の焦点距離であり、δ1
#δ2となるごとく、かつgの値を考慮しで設計してい
るが、詳細は略する。
620〜622からの出力信号5610〜5612,5
620〜5622として表せば、フォーカス誤差信号F
Eは FE−3610−3620 あるいは、もっと光利用効率を向上させてFE= +3
610− (S611+S61.2)1−f562(1
(S621+3622)1によって与えられる。またこ
の実施例では記憶媒体4のトラック方向を光検出器系1
2.13の分割線の方向Yと一致させ、プッシュプル方
式によるトラッキング誤差信号 TE= (3611−3612) + (S6
21を得ることが可能である。
621→5622 で与えられる。
グ誤差信号が@になるようにアクチュエータを駆動する
。
6十で反射後の復路で回折素−72により回折された一
1次光の集光を示し、光検出器系1213には影響を及
ぼさない、、32は往路の一1次光のビーr9aがビッ
ト面6で反射後の復路で回折素子2により回折された0
次光の集光であり、まったく開扉ない。
、トからの出射光が回折素子2により−・対の回折光を
住成しこれを一対の光検出器系】213の各分割領域で
受光してトラッキング誤差信号およびフォーカス誤差信
号を差動検出する構成のため、光源lと光検出器系12
.1.3の相対的位置誤差を大きく許容することかでき
る。すなわち、SSD方弐のフォーカス検出であるため
、機械的調V誤差を5〜10倍許容できる。
ーンを非重畳的に形成し7ているため、重畳した場合に
伴うビート光の発生が避けられるとともに、フレネルゾ
ーンプレート状パターンであるのでブレーズ化が容易で
あり、このため不要な回折光成分を抑圧できるとともC
ご回折素子2を集光光学系3の近傍に一体化できる。L
7かも一対の回折光を一対の光学4系の各分割領域で受
光して差動検出するため、ピ・7トの深さの小さい記憶
媒体に対して1.トラッキングおよびフォーカスともに
安定なサーボ信号の検出が可能となる。
方向にのみ形成されたりニアフレネルゾーンプレート状
パターンであるため、光検出器系の検出面には細幅状の
ビーム断面となるので、リニアフレネルゾーンプレート
状パターンのパターン列方向の寸法を短縮できる。すな
わち、第2図に示すように光検出器系12.13のづ゛
法h<wと設定できる。したがって、光tA1および光
検出器系1.2.13を集積化した基板であるマウント
17の寸法を小型化できるとともに、応答周波数域を広
げることが容易になり、たとえば光源の波長変動の大き
い記録消去型光ディスク等に対してもトラ・7キングお
よびフォーカスともに安定なサーボ信号の検出が可能に
なる。さらにフレネルゾーンプレート状パターンのリニ
ア化によりブレーズ化が一層容易になり、また回折素子
2を集光光学系3に一体化して駆動することにより一層
サーボ検出の安定化が図れる。
素子は、表裏2面に格子を形成する必要があったが、こ
の実施例では一面に形成したレリーフパターンだけで目
的を達し得るので、量産性および信頼性に優れる。特に
ボログラム素子の回折素子?、がレリーフパターンの犬
I複製を特徴とすくことを考えると、その効果が大きい
。
ニアフレネルゾーンプレート状パターンを用いたが、円
形や楕円形による2次元フレネルゾーンパターン(たと
えば特願昭62−251025号および同62−251
026号参照)を用いてもよい。
、第6図に示すように鋸歯状であったが、第7図に示す
ような階段状にブレーズ化して、1次回指光tこ対する
→】次回指光の比を抑圧したものでもよい。この第7図
の設計例として4段のレベル差を等しくして、深さe=
870nm、素子基板の屈折率n=1.455、波長λ
−788nm、往復光路の光利用効率η。xri−,1
=IO%、n、1/n−、=7%を実現、できる。n−
、は−1次回折光に対する屈折率、n。、は+1次回折
光に対する屈折率である。
、回折素子2の一対のフレネルゾーンプレート状パター
ンは同じ幅で交互に複数配列されている。また一対の光
検出器系29.30は、一対のフレネルゾーンプレート
状パターンによる回折波面15.16を検出するフォー
カス用の検出部37.38と、一対のフレネルゾーンプ
レート状パターンを等しい幅Pで交互に配列することに
よりその配列方向に生成する回折波面25〜28を検出
するトラッキング用の検出部39〜42からなる。
べて等しい[PjEPとしたときには、副ビームとして
、幅Pの格子周期に対応する新たな1次回折光を生じる
。往路における回折素子2による副ビームはビット面6
上の集光点24a。
復路で回折素子20より回折しζ復路の副ビーム25.
26および27.28を生成する。
差信号を検出でき、副ビーム25〜・28で3ビーム法
のトラッキング誤差信号を検出できる。
の矩形開口を有する領域で分割構成し、それぞれ差動型
のリニア光検出器を用いている。光検出器37.38の
出力端81..82、光検出器39〜42の出力端91
.92とし、その出力信号S81.S82.S91.3
92とすると、フォーカス誤差信号FEおよびトラッキ
ング誤差信号TEは、 FE=381−382 TE=39iS92 として与えられる。
と回折素子2の領域A、Bの配列の方向Xとの関係はほ
ぼ平行であり、いわゆる3ビーム法によるトラッキング
検出系と同様にして副ビームの位置調整を行っている。
ビームの回折素子2による往路の 1次回折光が記憶媒
体4上で反射後、回折素子2で回折された一1次回折光
の中心である。
パターンの等しい幅Pの配列による回折光がトラッキン
グ検出用の検出部39〜42で差動検出され、3ビーム
法によるトラッキング誤差信号を得ることができる。こ
の場合、光検出器系29.30は回折素子2の焦点の近
傍で正しい信号が得られればよいので、各回折光のビー
ム開路11mdを極めて小さくできる。mは集光光学系
3の結合倍率で0.2程度、dはビット面6上の点7と
24aおよび24bの距離で10〜15μm程度に設計
している。したがってたとえば、コンパクトディスクの
ようムこビット列深さがλ15程度の記憶媒体4から溝
付きディスク媒体まで、広範に適用されている3ビ一ム
トラツキング方式を発展すせ、主副ビームのスポット間
隔を12ミクロン以下に設計して他の特性を犠牲とする
ことなくディスク傷によるトラッキング誤差信号の異常
の影響を抑圧可能とすることができる。またビーム間隔
を小さくできることにより、フレネルゾーンプレート状
パターンの幅Pを大きくすることができ、したがって回
折素子2の製造が容易になる。
.38とトラッキング用の検出部39〜42の並び方向
を記憶媒体4のトラック方向X。
方向Yとトランク方向X。とを直交したため、記憶媒体
4に集光した微小スポットが記憶媒体4のトラック溝ま
たはビット列を横断するときに生じるファーフィールド
パターン変化がフォーカス誤差信号に影響を与えないの
で安定なサーボ信号が検出できる。
実施例および第2の実施例に準じて、回折素子2を反射
型位相格子として設計し、しかもその格子を鋸歯状形に
ブレーズ化してもよい。また回折素イ2のブレーズ化の
各実施例に共通する技術として、たとえば石英基板上に
矩形波状格子をフナ1−レジストパターンとして成形後
、斜方よりイオンビームでエツチングしたり、電子ビー
ム描画法で非対称形の格子を形成することによって実現
可能である。この場合、フレネルゾーンプレート状パタ
ーンからの往路の回折で生じる回折光成分の一方(+1
次光)は微弱光であり、たとえその一部分が復路での0
次光として光検出器系1213.29.30上に混入し
7でも一1次光に対する強度比は15%以rとすること
ができ、その影響は実質的に無視できる。
小スボソI・からの出射光が回折素子により一対の回折
光を生成しこれを一対の光検出器系の各分割領域で受光
してトラッキング誤差信号およびフォーカス誤差信号を
差動検出する構成のため、光源と光検出器系の相月的位
置誤差を大きく許容することができるとともに、ビット
の深さの小さい記憶媒体に対して安定な検出が可能とな
る。また回折素子は一対のフレネルゾーンプレー1パタ
ーンを非重畳的に形成しているため、重畳した場合に伴
・)ビート光の発住が避けられるとともに、フレネルゾ
ーンプレート・状パターンであるのでブレーズ化が容易
であり、このため不要な回折光成分を抑圧できるととも
に回折素子を集光光学系の近傍に一体化できるという効
果がある。
ネルゾーンプレート状パターンは同し幅で交互に複数配
列されており、また光検出器系が前記一対のフレネルゾ
ーンプレート状パターンによる回折波面を検出するフォ
ーカス用の検出部と、前記一対のフレネルゾーンプレー
ト状パターンを等しい幅で交互に配列することによりそ
の配列方向に生成する回折波面を検出するトラッキング
用の検出部を有するため、−・対のフレネルゾーンプレ
ー[状パターンの等しい幅の配列による回折光がトラッ
キング検出用の検出部で差動検出され、3ビーム法によ
るトラッキング誤差信号を得ることができる。この場合
、光検出器系は回折素子の焦点の近傍で正しい信号が得
られればよいので、各回折光のビーム間距離を極めて小
さくでき、かつフレネルゾーンプレート状パターンの幅
間隔を大きくすることができ、回折素子の製造が容易に
なる。その他、請求項(1)と同効果を有する。
求項(2)の前記フレネルゾーンプレート状パターンを
1次元方向にのみ形成されたリニアフレネルゾーンプレ
ート状パターンとしたため、請求項(1)または請求項
(2)の効果のほか、検出器系の検出面には細幅状のビ
ーム断面となるので、リニアフレネルゾーンプレート状
パターンのパターン列方向の寸法を短縮でき、したがっ
て小型化が可能になるとともに、応答周波数域を広げる
ことが容易になり、たとえば光源の波長変動の大きい記
録消去型光ディスク等に対してもトラッキングおよびフ
ォーカスともに安定なサーボ信号の検出が可能になる。
よりブレーズ化が一層容易になり、また回折素子を集光
光学系に一体化して駆動することにより一層サーボ検出
の安定化が図れる。
検出器系の前記フォーカス用の検出部と前記トラッキン
グ用の検出部の並び方向を前記記憶媒体のトランク方向
と平行にしたため、請求項(2)の効果のほか、記憶媒
体に集光した微小スポットが記憶媒体のトラック溝また
はビット列を横断するときに生じるファーフィールドパ
ターン変化がフォーカス誤差信号に影響を与えないので
安定なサーボ信号が検出できる。
は光検出器系および光源を示す説明図、第3図は回折素
子の模式図、第4図はそのIV−IV線断面説明閏、第
5図はフレネルゾーンプレート状パターンの説明図、第
6図はその断面説明図、第7図は他の断面形状を示す説
明図、第8図は第2の実施例の概略構成図、第9図は光
検出器系および光源を示す説明図、第10閏は従来例の
概略構成図である。 1・・・光源、2・・・回折素子、3・・・集光光学系
、・・光記憶媒体、 13・・・光検出器糸、 ・・・アクチュエータの可動部 第 図 第 閃 第 図 第 の 藪 [う −/″
Claims (4)
- (1)光源と、 この光源の光を微小スポットに収束して記憶媒体に入射
させる集光光学系と、 前記微小スポットの前記記憶媒体による出射光を前記集
光光学系を介して入射して、相互に焦点が異なる複数の
同一次数の回折波面を前記集光光学系の光軸外に生成す
る一対のフレネルゾーンプレート状パターンが、相互に
非重畳的に形成された回折素子と、 前記回折波面の各々を受光する複数の分割領域を有して
フォーカス誤差信号およびトラッキング誤差信号を差動
検出する一対の光検出器系と、前記微小スポットが前記
記憶媒体上を走査するように前記光検出器系の信号に応
じて前記集光光学系を制御するアクチュエータとを備え
た光ヘッド装置。 - (2)光源と、 この光源の光を微小スポットに収束して記憶媒体に入射
させる集光光学系と、 前記微小スポットの前記記憶媒体による出射光を前記集
光光学系を介して入射して、相互に焦点が異なる複数の
同一次数の回折波面を前記集光光学系の光軸外に生成す
る一対のフレネルゾーンプレート状パターンが、同じ幅
で交互に複数配列された回折素子と、 前記一対のフレネルゾーンプレート状パターンによる前
記回折波面を検出するフォーカス用の検出部と、前記一
対のフレネルゾーンプレート状パターンを等しい幅で交
互に配列することによりその配列方向に生成する回折波
面を検出するトラッキング用の検出部とを有する光検出
器系と、前記微小スポットが前記記憶媒体上を走査する
ように前記光検出器系の信号に応じて前記集光光学系を
制御するアクチュエータとを備えた光ヘッド装置。 - (3)前記フレネルゾーンプレート状パターンは、1次
元方向にのみ形成されたリニアフレネルゾーンプレート
状パターンである請求項(1)または請求項(2)記載
の光ヘッド装置。 - (4)前記光検出器系の前記フォーカス用の検出部と前
記トラッキング用の検出部の並び方向が前記記憶媒体の
トラック方向と平行である請求項(2)記載の光ヘッド
装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2161760A JP2683293B2 (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 光ヘッド装置 |
DE69128808T DE69128808T2 (de) | 1990-04-12 | 1991-04-10 | Optischer Kopf mit hologrammverbundener Objektivlinse |
EP91105688A EP0452793B1 (en) | 1990-04-12 | 1991-04-10 | Optical head having a hologram associated with the objective lens |
US08/415,764 US5648951A (en) | 1990-04-12 | 1995-04-03 | Movable optical head integrally incorporated with objective lens and hologram element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2161760A JP2683293B2 (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 光ヘッド装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0453031A true JPH0453031A (ja) | 1992-02-20 |
JP2683293B2 JP2683293B2 (ja) | 1997-11-26 |
Family
ID=15741375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2161760A Expired - Lifetime JP2683293B2 (ja) | 1990-04-12 | 1990-06-19 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2683293B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08136215A (ja) * | 1994-11-10 | 1996-05-31 | Ricoh Co Ltd | 変位測定装置および光ピックアップ |
KR100501785B1 (ko) * | 1995-10-17 | 2005-10-05 | 탈레스 | 발광-수광장치및광학적판독시스템 |
JP2011198463A (ja) * | 2000-06-29 | 2011-10-06 | Panasonic Corp | 回折光学素子、光ヘッド装置および光情報処理装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6297141A (ja) * | 1985-10-17 | 1987-05-06 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 光学走査装置 |
-
1990
- 1990-06-19 JP JP2161760A patent/JP2683293B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6297141A (ja) * | 1985-10-17 | 1987-05-06 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 光学走査装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08136215A (ja) * | 1994-11-10 | 1996-05-31 | Ricoh Co Ltd | 変位測定装置および光ピックアップ |
KR100501785B1 (ko) * | 1995-10-17 | 2005-10-05 | 탈레스 | 발광-수광장치및광학적판독시스템 |
JP2011198463A (ja) * | 2000-06-29 | 2011-10-06 | Panasonic Corp | 回折光学素子、光ヘッド装置および光情報処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2683293B2 (ja) | 1997-11-26 |
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