JPH0452642Y2 - - Google Patents
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- JPH0452642Y2 JPH0452642Y2 JP1983038916U JP3891683U JPH0452642Y2 JP H0452642 Y2 JPH0452642 Y2 JP H0452642Y2 JP 1983038916 U JP1983038916 U JP 1983038916U JP 3891683 U JP3891683 U JP 3891683U JP H0452642 Y2 JPH0452642 Y2 JP H0452642Y2
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- Japan
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- tapered
- measured
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- taper
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 55
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はテーパ状加工部品におけるテーパ計測
装置に関する。
装置に関する。
従来テーパ状の軸および穴が形成された加工部
品(以下「テーパ状体」という。)においてテー
パの基準径における軸線方向の寸法精度を測定す
るには、テーパ状体の嵌合すべきテーパ部を有す
るテーパゲージに該テーパ状体を嵌合した場合に
おける高さと、テーパ状体と同形に製作したマス
タゲージを同様にテーパゲージに嵌合した場合に
おける基準高さとを比較測定していた。しかし高
い精度が得られず、また計測作業の自動化に対応
できないなどの欠点があつた。
品(以下「テーパ状体」という。)においてテー
パの基準径における軸線方向の寸法精度を測定す
るには、テーパ状体の嵌合すべきテーパ部を有す
るテーパゲージに該テーパ状体を嵌合した場合に
おける高さと、テーパ状体と同形に製作したマス
タゲージを同様にテーパゲージに嵌合した場合に
おける基準高さとを比較測定していた。しかし高
い精度が得られず、また計測作業の自動化に対応
できないなどの欠点があつた。
本考案は上記の事情に鑑みなされたもので、そ
の目的はテーパ状体においてテーパの寸法精度を
効率良く高精度に測定することができ、また簡単
な構造で計測作業の自動化に対応可能なテーパ状
加工部品におけるテーパ計測装置を提供すること
にある。
の目的はテーパ状体においてテーパの寸法精度を
効率良く高精度に測定することができ、また簡単
な構造で計測作業の自動化に対応可能なテーパ状
加工部品におけるテーパ計測装置を提供すること
にある。
以下本考案の実施例について図面に基づき説明
をする。第1図は本考案の一実施例に係るテーパ
計測装置1と被測定物の一例としてテーパ状体2
を示す断面図、第2図は第1図のテーパ計測装置
1の使用状態を表わす断面図である。図中ケーシ
ング3は、その軸線が、測定位置にあるテーパ状
体2のテーパ穴2aの軸線に一致する位置にあつ
て、図示しない案内及び駆動手段により該軸線に
平行に前進および後退移動自在となつている。該
ケーシング3の前面には外筒4が固着されてい
る。ケーシング3及び外筒4が本考案の第1部材
をなす。
をする。第1図は本考案の一実施例に係るテーパ
計測装置1と被測定物の一例としてテーパ状体2
を示す断面図、第2図は第1図のテーパ計測装置
1の使用状態を表わす断面図である。図中ケーシ
ング3は、その軸線が、測定位置にあるテーパ状
体2のテーパ穴2aの軸線に一致する位置にあつ
て、図示しない案内及び駆動手段により該軸線に
平行に前進および後退移動自在となつている。該
ケーシング3の前面には外筒4が固着されてい
る。ケーシング3及び外筒4が本考案の第1部材
をなす。
該外筒4内にはリニアモーシヨンベアリング5
を介して内筒6が前進及び後退移動自在に保持さ
れる。該内筒6の後部にはケーシング3内に位置
するブロツク7が螺合している。該ブロツク7の
後部には取付板8を介してプランジヤ式の電気マ
イクロメータ9が取付けられている。該電気マイ
クロメータ9の測定子10はブロツク7内を貫通
して内筒6内に臨んでいる。また前記取付板8と
ケーシング3との間には該ケーシング3の軸線に
平行に第1の付勢部材である圧縮ばね11が介装
される。従つて内筒6、ブロツク7、取付板8及
び電気マイクロメータ9は、前進方向即ち測定位
置にあるテーパ状体2に近付く向きに付勢され
て、常時ブロツク7の端面7aが外筒4の端面4
aに当接している。内筒6の前端には測定作業時
にテーパ状体2の基準面2bに当接する第1の測
定面6aが設けられている。内筒6、ブロツク7
及び取付板8が本考案の第2部材をなす。
を介して内筒6が前進及び後退移動自在に保持さ
れる。該内筒6の後部にはケーシング3内に位置
するブロツク7が螺合している。該ブロツク7の
後部には取付板8を介してプランジヤ式の電気マ
イクロメータ9が取付けられている。該電気マイ
クロメータ9の測定子10はブロツク7内を貫通
して内筒6内に臨んでいる。また前記取付板8と
ケーシング3との間には該ケーシング3の軸線に
平行に第1の付勢部材である圧縮ばね11が介装
される。従つて内筒6、ブロツク7、取付板8及
び電気マイクロメータ9は、前進方向即ち測定位
置にあるテーパ状体2に近付く向きに付勢され
て、常時ブロツク7の端面7aが外筒4の端面4
aに当接している。内筒6の前端には測定作業時
にテーパ状体2の基準面2bに当接する第1の測
定面6aが設けられている。内筒6、ブロツク7
及び取付板8が本考案の第2部材をなす。
内筒6にはスライダ12が前進及び後退移動す
るように摺動自在に嵌合する。このスライダ12
の内面には第2の受座である球座12aを具え、
この球座12aには内筒6の被測定物側であ第1
の測定面6を貫通する接触子、すなわち、ステム
13の後部に具えた球部13aが着座している。
該球部13aの後端には電気マイクロメータ9の
前記測定子10が当接している。前記ステム13
の前部には測定作業時にテーパ状体2の前記テー
パ穴2aに挿入されるための球面からなる第2の
測定面13bが設けられている。ステム13にお
いて第2の測定面13bの後方位置と内筒6との
間には防塵用ベローズ14が装着されている。ま
た前記スライダ12とブロツク7との間には第2
の付勢部材である圧縮ばね15が介装される。従
つて、スライダ12及びステム13は前進方向に
付勢されて、常時ステム13のテーパ面13cが
第1の受座である内筒6のテーパ面6bに当接し
ている。すなわち、非測定時、接触子であるステ
ム13は球部13aがスライダ12の球座12a
に、テーパ部13cが内筒6のテーパ面6bに当
接し、スライダ12が圧縮ばね15によつて前進
方向に付勢されることにより支持されている(第
1図参照)。
るように摺動自在に嵌合する。このスライダ12
の内面には第2の受座である球座12aを具え、
この球座12aには内筒6の被測定物側であ第1
の測定面6を貫通する接触子、すなわち、ステム
13の後部に具えた球部13aが着座している。
該球部13aの後端には電気マイクロメータ9の
前記測定子10が当接している。前記ステム13
の前部には測定作業時にテーパ状体2の前記テー
パ穴2aに挿入されるための球面からなる第2の
測定面13bが設けられている。ステム13にお
いて第2の測定面13bの後方位置と内筒6との
間には防塵用ベローズ14が装着されている。ま
た前記スライダ12とブロツク7との間には第2
の付勢部材である圧縮ばね15が介装される。従
つて、スライダ12及びステム13は前進方向に
付勢されて、常時ステム13のテーパ面13cが
第1の受座である内筒6のテーパ面6bに当接し
ている。すなわち、非測定時、接触子であるステ
ム13は球部13aがスライダ12の球座12a
に、テーパ部13cが内筒6のテーパ面6bに当
接し、スライダ12が圧縮ばね15によつて前進
方向に付勢されることにより支持されている(第
1図参照)。
次にテーパ状体計測装置1を用いる測定作業に
ついて説明をする。テーパ計測装置1を例えばト
ランスフアマシンにおける計測ステーシヨンに設
置する。テーパ穴2aの加工されたテーパ状体2
が、該テーパ計測装置1の前方であつて第2の測
定面13bから所定距離に定められた測定位置に
搬送される。次にケーシング3をテーパ状体2に
向けて前進移動させて、第2の測定面13bをテ
ーパ穴2aに当接させ、第1の測定面6aを基準
面2bに当接させる。そして、内筒6のテーパ面
6bよりステム13のテーパ面13cが、ブロツ
ク7の端面7aより外筒4の端面4aが離れ、ス
テム13はテーパ穴2aと球座12aとで支持さ
れる(第2図参照)。この状態でケーシング3の
前進移動を停止する。このとき、環境温度変化な
どによる計測ステーシヨンとトランスフアマシン
の搬送装置との間に熱変位などが発生して、テー
パ穴2aの軸線とステム13の軸線に微少量の相
対誤差が生じても、ステム13が傾斜可能にステ
ム13が球部13aを支点にして揺動するように
構成している。また、球部13aと第2の測定面
13bとの距離に比し、その誤差による深さ方向
への影響を小さいのでこの軸線不一致による誤差
が軸線方向の変位にほとんど影響を与えず高精度
な計測が行える。この状態における電気マイクロ
メータ9の測定値は、第2の測定面13bの外径
により規定される所定の内径dを有するテーパ穴
2aの位置Qと基準面2bとの距離lに相当す
る。電気マイクロメータ9の測定値として距離l
は指示計に表示され又は電気出力などに変換され
る。この距離lは、機械加工によりテーパ角度が
特定の角度となつているため、工具の取付け誤
差、工具磨耗まどにより生じるテーパ穴2a径の
加工精度に応じて変化するから、正規のテーパ形
状における内径dの位置から基準面までの距離lo
との差l−loによりテーパの寸法精度を判断する
ことができる。測定値を電気的に出力して距離差
l−loによりテーパの寸法精度の合否を自動的に
判断し、不合格である場合に当該テーパ状体を加
工ラインから除去すべき指令を出すと共に、テー
パ穴を加工したステーシヨンにおけるバイトの取
付位置を変更し又は摩耗したバイトを交換すべき
指令を出すようになし得る。
ついて説明をする。テーパ計測装置1を例えばト
ランスフアマシンにおける計測ステーシヨンに設
置する。テーパ穴2aの加工されたテーパ状体2
が、該テーパ計測装置1の前方であつて第2の測
定面13bから所定距離に定められた測定位置に
搬送される。次にケーシング3をテーパ状体2に
向けて前進移動させて、第2の測定面13bをテ
ーパ穴2aに当接させ、第1の測定面6aを基準
面2bに当接させる。そして、内筒6のテーパ面
6bよりステム13のテーパ面13cが、ブロツ
ク7の端面7aより外筒4の端面4aが離れ、ス
テム13はテーパ穴2aと球座12aとで支持さ
れる(第2図参照)。この状態でケーシング3の
前進移動を停止する。このとき、環境温度変化な
どによる計測ステーシヨンとトランスフアマシン
の搬送装置との間に熱変位などが発生して、テー
パ穴2aの軸線とステム13の軸線に微少量の相
対誤差が生じても、ステム13が傾斜可能にステ
ム13が球部13aを支点にして揺動するように
構成している。また、球部13aと第2の測定面
13bとの距離に比し、その誤差による深さ方向
への影響を小さいのでこの軸線不一致による誤差
が軸線方向の変位にほとんど影響を与えず高精度
な計測が行える。この状態における電気マイクロ
メータ9の測定値は、第2の測定面13bの外径
により規定される所定の内径dを有するテーパ穴
2aの位置Qと基準面2bとの距離lに相当す
る。電気マイクロメータ9の測定値として距離l
は指示計に表示され又は電気出力などに変換され
る。この距離lは、機械加工によりテーパ角度が
特定の角度となつているため、工具の取付け誤
差、工具磨耗まどにより生じるテーパ穴2a径の
加工精度に応じて変化するから、正規のテーパ形
状における内径dの位置から基準面までの距離lo
との差l−loによりテーパの寸法精度を判断する
ことができる。測定値を電気的に出力して距離差
l−loによりテーパの寸法精度の合否を自動的に
判断し、不合格である場合に当該テーパ状体を加
工ラインから除去すべき指令を出すと共に、テー
パ穴を加工したステーシヨンにおけるバイトの取
付位置を変更し又は摩耗したバイトを交換すべき
指令を出すようになし得る。
以上説明したテーパ計測装置1は測定位置に搬
送されたテーパ状体2に対し接近移動を行なうだ
けで、テーパの寸法精度を表す測定値として基準
面2bから内径dの位置Qまでの距離lの値を電
気出力にて取出すことができるから、テーパの寸
法精度の測定を短時間で効率良く且つ高精度にな
し得ると共に、この測定作業を自動化することが
できる。さらに、自動計測後次部品のテーパ穴加
工時にバイトの取付位置を自動補正し又はバイト
を自動変換することにより、加工精度の向上と不
良品の減少を図り得る。またテーパ計測装置1の
テーパ状体2に対する前進移動時に、ブロツク7
の端面7aは、第1の測定面6aが基準面2bに
当接すると、端面4aから離れる。ブロツク7の
端面7aが端面4aから離れた後、テーパ計測装
置1がどの位置にあつても、検出器としての電気
マイクロメータ9により、テーパ状体2の基準面
2bから直径dの位置までの距離lを測定可能で
ある。従つて電気マイクロメータ9による測定値
を電気出力すべきテーパ計測装置1の位置を正確
に位置合わせする必要がなく、測定作業の効率化
を図り得る。しかもテーパ計測装置1は簡単な構
造であるから安価で経済的である。内筒6がブロ
ツク7に螺合されているから、内筒6とステム1
3を交換することにより、テーパ穴2aに嵌合し
接触すべき第2の測定面13bの外径d、及び非
測定時における第1の測定面6aと第2の測定面
13bとの距離Lを任意の値にとつて、テーパ形
状寸法の異なるテーパ状体に対処し得る。従つて
テーパ状加工部品におけるテーパ計測装置の汎用
性を拡大することができる。
送されたテーパ状体2に対し接近移動を行なうだ
けで、テーパの寸法精度を表す測定値として基準
面2bから内径dの位置Qまでの距離lの値を電
気出力にて取出すことができるから、テーパの寸
法精度の測定を短時間で効率良く且つ高精度にな
し得ると共に、この測定作業を自動化することが
できる。さらに、自動計測後次部品のテーパ穴加
工時にバイトの取付位置を自動補正し又はバイト
を自動変換することにより、加工精度の向上と不
良品の減少を図り得る。またテーパ計測装置1の
テーパ状体2に対する前進移動時に、ブロツク7
の端面7aは、第1の測定面6aが基準面2bに
当接すると、端面4aから離れる。ブロツク7の
端面7aが端面4aから離れた後、テーパ計測装
置1がどの位置にあつても、検出器としての電気
マイクロメータ9により、テーパ状体2の基準面
2bから直径dの位置までの距離lを測定可能で
ある。従つて電気マイクロメータ9による測定値
を電気出力すべきテーパ計測装置1の位置を正確
に位置合わせする必要がなく、測定作業の効率化
を図り得る。しかもテーパ計測装置1は簡単な構
造であるから安価で経済的である。内筒6がブロ
ツク7に螺合されているから、内筒6とステム1
3を交換することにより、テーパ穴2aに嵌合し
接触すべき第2の測定面13bの外径d、及び非
測定時における第1の測定面6aと第2の測定面
13bとの距離Lを任意の値にとつて、テーパ形
状寸法の異なるテーパ状体に対処し得る。従つて
テーパ状加工部品におけるテーパ計測装置の汎用
性を拡大することができる。
本考案は上記実施例に示された構成に限定され
るものではなく、請求の範囲に記載された本考案
の技術思想を逸脱しない範囲内での変更は予期さ
れるところである。上記実施例では第2の測定面
13bはステム13の球面に設けるものとして示
したが、第2の測定面を回転長円体その他テーパ
穴の所定の内径の位置に当接する形状に設けるこ
とができる。
るものではなく、請求の範囲に記載された本考案
の技術思想を逸脱しない範囲内での変更は予期さ
れるところである。上記実施例では第2の測定面
13bはステム13の球面に設けるものとして示
したが、第2の測定面を回転長円体その他テーパ
穴の所定の内径の位置に当接する形状に設けるこ
とができる。
また上記実施例ではテーパ状体としてテーパ穴
を有するものを測定するものとして説明をした
が、テーパ突部を有するものも測定できる。テー
パ突部を測定する場合には、基準部位として基準
面を、テーパ突部の先端部に設けてもよく、テー
パ突部の基端側に設けてもよい。第3図は第2の
実施例として基準面22bをテーパ突部22aの
基端側に設けたテーパ状体22を本考案のテーパ
計測装置21により測定している状態を表す断面
図である。第3図において第1図及び第2図の実
施例に示したものと同等の部分には同一の符号を
付して、該部分の説明を省略する。26は外筒2
4内にリニアモーシヨンベアリング25を介して
前進及び後退移動自在に保持される内筒である。
第1図及び第2図における内筒6と同様に、内筒
26の後部にはブロツク7が螺合し、ブロツク7
の端面7aが外筒24の端面24aに圧接され、
内筒26の先端の端面が第1の測定面26aをな
す。また33はステムであり、第1図及び第2図
におけるステム13と同様に、該ステム33はそ
の後端の球部33aにおいてスライダ12に球面
対偶をなし、ステム33のテーパ面33cが内筒
26のテーパ面26bに圧接している。ステム3
3の先端部には螺子33dによりソケツト部33
eが着脱自在に取付けられ、該ソケツト部33e
の内周に設けた環状突条33fの表面が第2の測
定面33bをなす。
を有するものを測定するものとして説明をした
が、テーパ突部を有するものも測定できる。テー
パ突部を測定する場合には、基準部位として基準
面を、テーパ突部の先端部に設けてもよく、テー
パ突部の基端側に設けてもよい。第3図は第2の
実施例として基準面22bをテーパ突部22aの
基端側に設けたテーパ状体22を本考案のテーパ
計測装置21により測定している状態を表す断面
図である。第3図において第1図及び第2図の実
施例に示したものと同等の部分には同一の符号を
付して、該部分の説明を省略する。26は外筒2
4内にリニアモーシヨンベアリング25を介して
前進及び後退移動自在に保持される内筒である。
第1図及び第2図における内筒6と同様に、内筒
26の後部にはブロツク7が螺合し、ブロツク7
の端面7aが外筒24の端面24aに圧接され、
内筒26の先端の端面が第1の測定面26aをな
す。また33はステムであり、第1図及び第2図
におけるステム13と同様に、該ステム33はそ
の後端の球部33aにおいてスライダ12に球面
対偶をなし、ステム33のテーパ面33cが内筒
26のテーパ面26bに圧接している。ステム3
3の先端部には螺子33dによりソケツト部33
eが着脱自在に取付けられ、該ソケツト部33e
の内周に設けた環状突条33fの表面が第2の測
定面33bをなす。
テーパ計測装置21は第1図及び第2図に示し
たテーパ状体計測装置1と同様に使用して次のよ
うに測定作業をなし得る。テーパ突部22aの加
工されたテーパ状体22が測定位置に搬送された
後、ケーシング3を前進移動させて、第2の測定
面33bにテーパ突部22aが嵌合し、第1の測
定面26aが基準面22bに当接し、且つテーパ
面33c及び端面7aが夫々テーパ面26b及び
端面24aから離れた状態でケーシング3の前進
移動を停止する。この状態における電気マイクロ
メータ9の測定値は、第2の測定面33bの内径
により規定される所定の内径dを有するテーパ突
部22aの位置Rと基準面22bとの距離lに相
当する。電気マイクロメータ9の測定値は電気出
力に変換され、該テーパ状体22のテーパの寸法
精度を判断すると共に、必要に応じ次部品のテー
パ突部加工時にバイトの取付位置を自動補正し又
はバイトを自動交換することができる。本考案に
係るテーパ計測装置21を上記のように使用し
て、テーパ突部を有するテーパ状体を短時間で効
率良く且つ高精度に測定なし得ると共に、この測
定作業を自動化することができる。なおこの実施
例では、第1図及び第2図に示した実施例と同様
に内筒26とステム33を交換可能である他、ソ
ケツト部33eを交換してテーパ計測装置の汎用
性を高め得る。
たテーパ状体計測装置1と同様に使用して次のよ
うに測定作業をなし得る。テーパ突部22aの加
工されたテーパ状体22が測定位置に搬送された
後、ケーシング3を前進移動させて、第2の測定
面33bにテーパ突部22aが嵌合し、第1の測
定面26aが基準面22bに当接し、且つテーパ
面33c及び端面7aが夫々テーパ面26b及び
端面24aから離れた状態でケーシング3の前進
移動を停止する。この状態における電気マイクロ
メータ9の測定値は、第2の測定面33bの内径
により規定される所定の内径dを有するテーパ突
部22aの位置Rと基準面22bとの距離lに相
当する。電気マイクロメータ9の測定値は電気出
力に変換され、該テーパ状体22のテーパの寸法
精度を判断すると共に、必要に応じ次部品のテー
パ突部加工時にバイトの取付位置を自動補正し又
はバイトを自動交換することができる。本考案に
係るテーパ計測装置21を上記のように使用し
て、テーパ突部を有するテーパ状体を短時間で効
率良く且つ高精度に測定なし得ると共に、この測
定作業を自動化することができる。なおこの実施
例では、第1図及び第2図に示した実施例と同様
に内筒26とステム33を交換可能である他、ソ
ケツト部33eを交換してテーパ計測装置の汎用
性を高め得る。
以上説明をした本考案の各実施例はいずれも、
テーパ状体の基準面に当接する第1の測定面を、
第2部材をなす内周に具え、テーパ状体のテーパ
部の所定径位置に当接する第2の測定面を、第3
部材をなすステムに具えるものであるが、第1の
測定面を第3部材例えばステムに具え、第2の測
定面を第2部材例えば内筒に具えることもでき
る。
テーパ状体の基準面に当接する第1の測定面を、
第2部材をなす内周に具え、テーパ状体のテーパ
部の所定径位置に当接する第2の測定面を、第3
部材をなすステムに具えるものであるが、第1の
測定面を第3部材例えばステムに具え、第2の測
定面を第2部材例えば内筒に具えることもでき
る。
本考案は上記の説明から明らかな如くテーパの
寸法精度を効率良く高精度に測定することができ
また、簡単な構造であつて、計測作業の自動化に
も対応し得るなど実用上の効果に富むものであ
る。更に、テーパ状体のテーパ部軸線と、計測装
置の軸線とに微少量の誤差、すなわち軸線不一致
の状態が生じても、その誤差は軸線方向の寸法計
測に影響を与えず、高精度な計測が可能となる。
寸法精度を効率良く高精度に測定することができ
また、簡単な構造であつて、計測作業の自動化に
も対応し得るなど実用上の効果に富むものであ
る。更に、テーパ状体のテーパ部軸線と、計測装
置の軸線とに微少量の誤差、すなわち軸線不一致
の状態が生じても、その誤差は軸線方向の寸法計
測に影響を与えず、高精度な計測が可能となる。
図面は本考案に実施例を表し、第1図は1実施
例に係るテーパ計測装置及び該装置により測定さ
れるテーパ状体を示す断面図、第2図は第1図の
装置の使用状態を示す断面図、第3図は第2の実
施例を示す断面図である。 1,21……テーパ計測装置、3……ケーシン
グ、4,24……外筒、6,26……内筒、6
a,26a……第1の測定面、7……ブロツク、
9……電気マイクロメータ、11,15……圧縮
ばね、12……スライダ、13,33……ステ
ム、13b,33b……第2の測定面。
例に係るテーパ計測装置及び該装置により測定さ
れるテーパ状体を示す断面図、第2図は第1図の
装置の使用状態を示す断面図、第3図は第2の実
施例を示す断面図である。 1,21……テーパ計測装置、3……ケーシン
グ、4,24……外筒、6,26……内筒、6
a,26a……第1の測定面、7……ブロツク、
9……電気マイクロメータ、11,15……圧縮
ばね、12……スライダ、13,33……ステ
ム、13b,33b……第2の測定面。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被測定物に形成され特定形状を有するテーパ部
の深さを計測するテーパ計測装置であつて、 前記被測定物に形成されたテーパ部の軸線方向
に被測定物に対して相対移動可能に設けられる第
1の部材と、 この第1の部材内に前記軸線方向に移動自在に
設けられ、前記被測定物側である一方の側の端部
に第1の測定面が形成されるとともに、この一方
の側の内周部に第1の受座が形成された第2の部
材と、 前記第1の部材内に設けられ、前記第2の部材
を、常時、前記一方の側に付勢している第1の付
勢部材と、 前記第2の部材内に移動自在に設けられ、内周
部に第2の受座が形成されたスライダと、 前記第2の部材の前記一方の側を貫通して設け
られ、この第2の部材内の前記一方の側より突出
した一端に前記被測定物のテーパ部と接触する所
定の径の球面測定部を有する第2の測定面を形成
し、他端に前記第2の受座面で揺動自在に支持さ
れる球面を形成し、中間部に前記第1の受座と係
合する係合面を形成し、非計測時は前記第1の受
座と前記第2の受座で支持され、計測時は前記被
測定物のテーパ部と前記第2の受座で支持される
接触子と、 前記第2の部材内に設けられ、前記接触子を前
記スライダを介して前記第2の部材に対して相対
的に、常時、前記一方の側に付勢している第2の
付勢部材と、 前記第2の部材に固定され、この第2の部材と
前記接触子との相対変位を計測する検出器とから
なり、 計測に際し、前記被測定物に対して前記第1の
部材を軸線方向に相対移動させて、前記第2の部
材の第1の測定面を被測定物端面に接触させ、前
記接触子の第2の測定面を被測定物のテーパ部に
接触させ、このときの接触子の変位を前記検出器
で検出し、端面位置に対するテーパ部の深さを計
測することを特徴とするテーパ状加工部品におけ
るテーパ計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3891683U JPS59144509U (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | テ−パ状体計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3891683U JPS59144509U (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | テ−パ状体計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59144509U JPS59144509U (ja) | 1984-09-27 |
JPH0452642Y2 true JPH0452642Y2 (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=30169578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3891683U Granted JPS59144509U (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | テ−パ状体計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59144509U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11473904B2 (en) | 2019-10-28 | 2022-10-18 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Measurement probe |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101882081B1 (ko) * | 2016-07-06 | 2018-07-25 | 두산중공업 주식회사 | 선박의 프로펠러 샤프트 검사장치 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5337057A (en) * | 1976-07-28 | 1978-04-05 | Finike Italiana Marposs | Gradient inspecting apparatus |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5277769U (ja) * | 1975-12-08 | 1977-06-10 |
-
1983
- 1983-03-17 JP JP3891683U patent/JPS59144509U/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5337057A (en) * | 1976-07-28 | 1978-04-05 | Finike Italiana Marposs | Gradient inspecting apparatus |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11473904B2 (en) | 2019-10-28 | 2022-10-18 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Measurement probe |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59144509U (ja) | 1984-09-27 |
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