JPH0444818B2 - - Google Patents

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JPH0444818B2
JPH0444818B2 JP1061705A JP6170589A JPH0444818B2 JP H0444818 B2 JPH0444818 B2 JP H0444818B2 JP 1061705 A JP1061705 A JP 1061705A JP 6170589 A JP6170589 A JP 6170589A JP H0444818 B2 JPH0444818 B2 JP H0444818B2
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JP
Japan
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optical disc
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recording
track area
recording film
Prior art date
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Application number
JP1061705A
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English (en)
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JPH027243A (ja
Inventor
Toyoyuki Nunomura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maxell Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Maxell Ltd
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Publication of JPH027243A publication Critical patent/JPH027243A/ja
Publication of JPH0444818B2 publication Critical patent/JPH0444818B2/ja
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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学的に情報を記録し、この記録し
た情報を再生することに用いる光デイスクに関す
るものである。
〔従来の技術〕
第2図は、従来の両面記録形光デイスクの一例
を示す断面図である。同図に示すように、ハブ1
ならびに外周スペーサ2を介して2枚のデイスク
3が対向するように固定されている。このデイス
ク3は、透明なデイスク基板4と、それの片面に
設けられた記録膜5とから構成され、その記録膜
5には同心円状にプリグルーブ5aが形成され、
2枚のデイスク3はこの記録膜5どうしが対向す
るように配置されている。
一方、前記ハブ1は例えば金属などの耐摩耗性
を有する材料でつくられており、それの中央には
ドライブ装置のスピンドル(図示せず)が挿入さ
れて、装置内における光デイスクの位置決めを行
なうためのセンターホール1aが設けられてい
る。図中の6は2枚のデイスク3間に形成された
エアギヤツプである。
第3図ないし第5図は、この光デイスクの製造
工程を示す説明図で、この図に基づいて光デイス
クの製造方法の一例を説明する。
まず第3図に示すように、表面に前記プリグル
ープ5aに対応する同心円状の溝7aを多数有す
るスタンパー7上に、未硬化の流動性を有する紫
外線硬化樹脂8を滴下する。このスタンパー7
は、原盤製造工程によつて製造された原盤を基
に、その後のスタンパー製造工程によつて製造さ
れたものである。そして光デイスク基板4をそれ
の中央部が下になるように若干湾曲させた状態で
前記樹脂8上に圧接し、次に周辺部を徐々にスタ
ンパー7上に降す。このようにしてデイスク基板
4をスタンパー7に圧接すると、両者間で前記紫
外線硬化樹脂8が外周方向へ押し拡げられて、前
記各溝7a内にも充填される。
しかる後、第4図に矢印で示すようにデイスク
基板4の上方から紫外線9を照射し、紫外線硬化
樹脂8を硬化させる。次にデイスク基板4をスタ
ンパー7から剥離すると、硬化した樹脂膜もデイ
スク基板4とともにスタンパー7から離れ、これ
によつてプリグルーブ5aを形成しさらに記録膜
5を形成する。このようにしてレプリカ工程が終
了する。
次に前記プリグルーブ5aを利用してデイスク
基板4の中心位置を光学的に求め、それに基づい
てデイスク基板4に中央透孔4aを設け、これら
にハブ1と外周スペーサ2を接着して組み合わせ
ることにより、第5図に示すような光デイスクを
製作する。
以上の説明から明らかなように、光デイスク
は、種々の工程を経て製造されるため、前記レプ
リカ工程における剥離条件等を含めて数多くの製
造条件がデータとして必要となつてくる。また、
製造途中や製造後に、ハブ1に対するデイスク基
板4の偏心量等をはじめとして数多くの検査が行
なわれ、こ検査結果もデータとして必要になつて
くる。
このように各種製造条件のデータや検査結果の
データは、従来、書類にフアイルされ製造メーカ
側に管理・保管され、市場でのトラブルが発生し
た際に、その原因を究明するためのデータとして
利用される。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、同一の製造条件下で同一の番号
が付与された製造ロツト番号と、種々の製造条件
で製造されたものの中から良品のものに通し番号
として付与される製造番号とは、両者の間に相関
関係はない。しかも前述したように製造条件と検
査結果のデータは非常に情報量が多いため、書類
を用いた従来の保存方法では、原因究明のための
検索に多大な時間を費やすという欠点があつた。
本発明は、かかる従来技術の欠点を解消しよう
とするもので、その目的とするところは、製造条
件や検査結果等の製造履歴のデータを光デイスク
に予め記録された情報を再生することによつて、
迅速に検索することのできる光デイスクならびに
その製造方法を提供するにある。
〔課題を解決するための手段〕
前述の目的を達成るため、本発明は、デイスク
に設けられる記録膜のユーザが情報記録に用いる
記録領域(ユーザトラツク領域)を除くトラツク
領域に、光デイスクを出荷する時点で予め製造履
歴の情報を光学的に記録した点に特徴がある。
〔作用〕
このような構成をとることにより、光デイスク
にトラブルが発生しても、それに記録されている
製造履歴の情報を再生することにより、トラブル
の原因究明を迅速にすることができる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例について図面とともに説
明する。
第1図は、本発明による光デイスクの一実施例
を示す平面図である。図中の10はユーザトラツ
ク領域、11は履歴情報記録トラツク領域、12
は交替トラツク領域、13はガードトラツク領域
であり、第2図に対応する部分には同一符号を付
けてある。
第1図において、デイスク3の記録膜は、ユー
ザトラツク領域10、履歴情報トラツク領域1
1、交替トラツク領域12およびガードトラツク
領域13からなる異なる複数のトラツクを有して
いる。最大幅のユーザトラツク領域10は、ユー
ザが情報の記録・再生用として用いる領域で、該
ユーザトラツク領域10の内側の交替トラツク領
域12は、ユーザトラツク領域10が何らかの障
害で記録不可能な状態になつた時に情報の記録・
再生用として用いられる予備の領域であつて、こ
れら両トラツク10,12でユーザ側の記録領域
を構成している。
また、ユーザトラツク領域10の外側に位置す
る履歴情報トラツク領域11は、製造条件の各種
データならびに検査結果の各種データが記録され
ている領域である。さらに、履歴情報トラツク領
域11の外側と交替トラツク領域12の内側とに
それぞれ位置するガードトラツク領域13は、記
録、再生用として使用されない不使用の領域であ
る。
前記履歴情報トラツク領域11に記録されてい
る履歴情報は、コード情報、コード化された画像
情報あるいはコード化された音声情報として、製
作から検査工程までを含む全ての製造工程が完了
した後に、製造メーカ側によつて前記履歴情報を
光デイスク3に光学的に記録されてから、市場に
出荷される。
履歴情報のうち、製造条件の具体的な内容とし
ては、 1 原盤製造工程時におけるガラスロツト番号、 2 IPA(イソプロピールアルコール)ロツト番
号、 3 接触角、 4 回折法データ、 5 フオトレジストの膜厚、 6 スタンパ製造時におけるポスト露光、 7 ポストベーク、 8 ニツケル蒸着条件、 9 メツキ液のPH値、温度、 10 電流密度、 11 回転数、 12 時間、 13 膜厚、 14 裏打ちの接着条件、 15 UV露光条件、 16 プラズマアツシヤ、 17 保護板接着条件、 18 レプリカ接続工程時におけるガラスロツト番
号、 19 接触角、 20 シランロツト番号、 21 ニトロセルロースロツト番号、 22 UVレジストロツト番号、 23 蒸着時間、 24 蒸着時のスプリツトタイム、 25 剥離の距離、 26 反射率,透過率のデータ、 27 目視検査データ 28 各工程における製造装置の番号等が挙げられ
る。
一方、検査結果の具体的内容としては、 1 偏心、 2 偏心の加速度、 3 上下振れ、 4 上下振れ加速度、 5 データ部の欠陥レート、 6 プリフオマツト部のエラー個数およびアドレ
ス、 7 プリフオマツト部の信号振幅値、 8 グルーブノイズ、 9 トラツクオフセツト、 10 トラツクノイズ、 11 オートフオカスノイズ、 12 トラツク変調度等が挙げられる。
このように構成された光デイスクにあつては、
光デイスクに市場でのトラブルが発生した場合で
も、当該光デイスクの履歴情報トラツク領域11
を示すプリフオマツト部を検索することから、そ
れの製造履歴を再生することができ、トラブルの
原因究明が迅速に行なわれる。
なお前記実施例では、記録領域の外周位置に履
歴情報トラツク領域11を設けた場合について説
明したが、この履歴情報トラツク領域11は記録
領域の内周位置、すなわち、交替トラツク領域1
2と内側のガードトラツク領域13との間に設け
ることも可能である。
また、前記履歴情報トラツク領域11には、光
デイスクを出荷した後であつても、ユーザが使用
した際に発生するトラブル内容を記録することも
可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、光デイ
スクに市場でのトラブルが発生した場合でも、そ
の光デイスクに予め記録されている製造履歴の情
報を再生することにより、トラブルの原因究明を
迅速に行なうことができ、前記従来技術の欠点が
解消され優れた機能の光デイスクが提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による光デイスクの一実施例
を示す平面図、第2図は、従来の光デイスクの一
例を示す断面図、第3図,第4図ならびに第5図
は光デイスクの製造工程の一例を示す断面図であ
る。 1……ハブ、3……デイスク、4……デイスク
基板、5……記録膜、10……ユーザトラツク領
域、11……履歴情報トラツク領域、12……交
替トラツク領域、13……ガードトラツク領域。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光学的に情報を記録し、この記録した情報を
    再生することに用いられる光デイスクにおいて、 記録膜のプリフオマツト部におけるユーザが情
    報記録に用いる記録膜トラツク領域を除く記録膜
    のトラツク領域に、光デイスクの製造工程の履歴
    情報を光学的に記録することによつて完成された
    ことを特徴とする光デイスク。 2 前記光デイスク製造工程の履歴情報は原盤、
    スタンパー、レプリカ、記録膜蒸着、光デイスク
    の組立、光デイスクの検査の各工程の情報である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光
    デイスク。 3 前記履歴情報を記録する記録膜トラツク領域
    は、ユーザ情報記録トラツク領域以外の外周側プ
    リフオマツト領域であることを特徴とする光デイ
    スク。 4 前記履歴情報の記録膜トラツク領域は、ユー
    ザ情報記録トラツク領域以外の内周側プリフオマ
    ツト領域であることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の光デイスク。 5 前記履歴情報の記録トラツク領域は、前記ユ
    ーザが情報記録記録に用いる記録膜トラツク領域
    に隣接していることを特徴とする特許請求の範囲
    第4項記載の光デイスク。 6 前記履歴情報は、コード化された画像情報ま
    たは音声情報であることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の光デイスク。 7 光学的に情報を記録し、この記録した情報を
    再生することに用いられる光デイスクにおいて、 原盤を用いて表面に同心円状の溝とプリフオマ
    ツト部が形成されたスタンパを作成し、該スタン
    パの表面パターンをデイスク基板表面に転写し、
    該スタンパから剥離してレプリカ層を形成し、該
    レプリカ層上に記録膜を形成して光デイスクとす
    る工程と、 該光デイスクの製作から検査するまでに得られ
    た製造工程の情報を、該光デイスクのユーザ情報
    記録領域を除くプリフオマツト部に光学的に記録
    する工程によつて製造されることを特徴とする光
    デイスクの製造方法。 8 前記記録膜プリフオマツト部への製造工程の
    履歴情報の記録は、検査工程後に光デイスクへ光
    学的に記録したことを特徴とする特許請求の範囲
    第7項記載の光デイスクの製造方法。
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