JPH0444250A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPH0444250A JPH0444250A JP15077690A JP15077690A JPH0444250A JP H0444250 A JPH0444250 A JP H0444250A JP 15077690 A JP15077690 A JP 15077690A JP 15077690 A JP15077690 A JP 15077690A JP H0444250 A JPH0444250 A JP H0444250A
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Links
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Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はコンタクトホール等の開孔部を有する半導体
装置の製造方法に関する。
装置の製造方法に関する。
第2A図及び第2B図はコンタクトホールを有する半導
体装置の従来の製造方法を示す断面工程図である。下地
層1上のコンタクトを取りたい領域にコンタクト抵抗低
減のための金属シリサイド層2を形成する。下地層1は
例えば、図示していないが、シリコン基板上に形成され
たトランジスタ素子を含む。次に、下地層1及び金属シ
リサイド層2上に絶縁膜3を形成し、その上にレジスト
4を形成した後、写真製版工程により金属シリサイド層
2上の絶縁膜3が露出するようにレジスト4をパターニ
ングする(第2A図)。
体装置の従来の製造方法を示す断面工程図である。下地
層1上のコンタクトを取りたい領域にコンタクト抵抗低
減のための金属シリサイド層2を形成する。下地層1は
例えば、図示していないが、シリコン基板上に形成され
たトランジスタ素子を含む。次に、下地層1及び金属シ
リサイド層2上に絶縁膜3を形成し、その上にレジスト
4を形成した後、写真製版工程により金属シリサイド層
2上の絶縁膜3が露出するようにレジスト4をパターニ
ングする(第2A図)。
次にバターニングされたレジスト4をマスクとして絶縁
膜3エツチングを施すと第2B図に示すようにコンタク
トホール5が形成される。このとき、コンタクトホール
5の設計寸法が小さい場合、コンタクトホール5を設計
寸法通りに形成するためにオーバーエツチングを施す必
要がある。その後、アルミニウム膜を堆積させて配線を
行う等の工程を行う。
膜3エツチングを施すと第2B図に示すようにコンタク
トホール5が形成される。このとき、コンタクトホール
5の設計寸法が小さい場合、コンタクトホール5を設計
寸法通りに形成するためにオーバーエツチングを施す必
要がある。その後、アルミニウム膜を堆積させて配線を
行う等の工程を行う。
コンタクトホールを有する従来の半導体装置は以上のよ
うな工程で製造されており、コンタクトホール5の設計
寸法が小さい場合、オーバーエツチング量を大きくしな
ければならない。このとき、第2B図に示すように金属
シリサイド層2もエツチングされてしまい、金属シリサ
イド層2の膜厚が薄くなるという問題点があった。
うな工程で製造されており、コンタクトホール5の設計
寸法が小さい場合、オーバーエツチング量を大きくしな
ければならない。このとき、第2B図に示すように金属
シリサイド層2もエツチングされてしまい、金属シリサ
イド層2の膜厚が薄くなるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、開孔部を有するレジストをマスクとして第2
の層にエツチングを施し、レジストの開孔部下の第2の
層をレジストの開孔部に応じた大きさに開孔する場合、
第2の層の下に形成された第1の層の厚さが薄くならな
い半導体装置の製造方法を得ることを目的とする。
たもので、開孔部を有するレジストをマスクとして第2
の層にエツチングを施し、レジストの開孔部下の第2の
層をレジストの開孔部に応じた大きさに開孔する場合、
第2の層の下に形成された第1の層の厚さが薄くならな
い半導体装置の製造方法を得ることを目的とする。
この発明に係る半導体装置の製造方法は、第1の層を準
備する工程と、前記第1の層上に第2の層を形成する工
程と、前記第2の層上に開孔部を有するレジストを形成
する工程と、前記レジストをマスクとして前記第2の層
に処理を施し、前記レジストの開孔部下の第2の層のエ
ツチングレートを高くする工程と、前記レジストをマス
クとして前記第2の層にエツチングを施し、前記レジス
トの開孔部下の第2の層を前記レジストの開孔部の大き
さに応じた大きさに開孔する工程とを備えている。
備する工程と、前記第1の層上に第2の層を形成する工
程と、前記第2の層上に開孔部を有するレジストを形成
する工程と、前記レジストをマスクとして前記第2の層
に処理を施し、前記レジストの開孔部下の第2の層のエ
ツチングレートを高くする工程と、前記レジストをマス
クとして前記第2の層にエツチングを施し、前記レジス
トの開孔部下の第2の層を前記レジストの開孔部の大き
さに応じた大きさに開孔する工程とを備えている。
この発明においては、開孔部を有するレジストをマスク
として第2の層に処理を施し、レジストの開孔部下の第
2の層のエツチングレートを高くする工程を設けている
ので、レジストをマスクとして第2の層にエツチングを
施し、レジストの開孔部下の第2の層をレジストの開孔
部に応した大きさに開孔する場合、オーバーエツチング
量を減らすことができ、第1の層がエツチングされない
。
として第2の層に処理を施し、レジストの開孔部下の第
2の層のエツチングレートを高くする工程を設けている
ので、レジストをマスクとして第2の層にエツチングを
施し、レジストの開孔部下の第2の層をレジストの開孔
部に応した大きさに開孔する場合、オーバーエツチング
量を減らすことができ、第1の層がエツチングされない
。
第1A図及び第1B図はこの発明に係る半導体装置の製
造方法の一実施例を示す断面工程図である。
造方法の一実施例を示す断面工程図である。
絶縁膜3上にバターニングされたレジスト4を形成する
までの工程は従来と同様である。次にバターニングされ
たレジスト4をマスクとして不純物10を絶縁膜3のコ
ンタクトポール5を形成する部分に注入することにより
第1A図に示すように不純物注入領域3aを形成する。
までの工程は従来と同様である。次にバターニングされ
たレジスト4をマスクとして不純物10を絶縁膜3のコ
ンタクトポール5を形成する部分に注入することにより
第1A図に示すように不純物注入領域3aを形成する。
例えば絶縁膜3がシリコン酸化膜の場合は注入される不
純物10はシリコンイオンである。この不純物注入領域
3aは結晶構造が乱され、エツチングレートが他の部分
の絶縁膜3よりも高くなっている。
純物10はシリコンイオンである。この不純物注入領域
3aは結晶構造が乱され、エツチングレートが他の部分
の絶縁膜3よりも高くなっている。
次に、レジスト4をマスクとして絶縁膜3にエツチング
を施し、第2B図に示すようにレジスト4の開孔部下の
絶縁膜3(不純物注入領域3a)をレジスト4の開孔部
に応じた大きさに開孔する。
を施し、第2B図に示すようにレジスト4の開孔部下の
絶縁膜3(不純物注入領域3a)をレジスト4の開孔部
に応じた大きさに開孔する。
不純物注入領域3aはエツチングレートが高いので、従
来よりもオーバーエツチング量を減少させることができ
、従来のように金属シリサイド層2の膜厚が薄くなるこ
とがない。
来よりもオーバーエツチング量を減少させることができ
、従来のように金属シリサイド層2の膜厚が薄くなるこ
とがない。
なお、上記実施例では絶縁膜3のエツチングレートを高
めるのに不純物注入を用いたが、エツチングレートを選
択的に高められるのであれば不純物注入に限らずいかな
る方法を用いてもよい。
めるのに不純物注入を用いたが、エツチングレートを選
択的に高められるのであれば不純物注入に限らずいかな
る方法を用いてもよい。
また、上記実施例では第1の層として金属シリサイド層
2を示し、第2の層として絶縁膜3を示したが、これら
に限定されず、第1の層上に第2の層を形成し、バター
ニングされたレジストをマスクとしてエツチングを施す
ことにより第2の層に開孔部を設ける場合すべてにこの
発明は適用できる。
2を示し、第2の層として絶縁膜3を示したが、これら
に限定されず、第1の層上に第2の層を形成し、バター
ニングされたレジストをマスクとしてエツチングを施す
ことにより第2の層に開孔部を設ける場合すべてにこの
発明は適用できる。
以上のようにこの発明によれば、開孔部を有するレジス
トをマスクとして第2の層に処理を施し、レジストの開
孔部下の第2の層のエツチングレートを高くする工程を
設けているので、レジストをマスクとして第2の層にエ
ツチングを施し、レジストの開孔部下の第2の層をレジ
ストの開孔部に応した大きさに開孔する場合、オーバー
エツチング量を減らすことができ、第1の層がエツチン
グされない。その結果、第1の層の厚さが減少すること
がないという効果がある。
トをマスクとして第2の層に処理を施し、レジストの開
孔部下の第2の層のエツチングレートを高くする工程を
設けているので、レジストをマスクとして第2の層にエ
ツチングを施し、レジストの開孔部下の第2の層をレジ
ストの開孔部に応した大きさに開孔する場合、オーバー
エツチング量を減らすことができ、第1の層がエツチン
グされない。その結果、第1の層の厚さが減少すること
がないという効果がある。
第1A図及び第1B図はこの発明に係る半導体装置の製
造方法の一実施例を示す断面工程図、第2A図及び第2
B図は従来の半導体装置の製造方法を示す断面工程図で
ある。 図において、2は金属シリサイド層、3は絶縁膜、3a
は不純物注入領域、4はレジスト、5はコンタクトホー
ル、10は不純物である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第1A図
造方法の一実施例を示す断面工程図、第2A図及び第2
B図は従来の半導体装置の製造方法を示す断面工程図で
ある。 図において、2は金属シリサイド層、3は絶縁膜、3a
は不純物注入領域、4はレジスト、5はコンタクトホー
ル、10は不純物である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第1A図
Claims (1)
- (1)第1の層を準備する工程と、 前記第1の層上に第2の層を形成する工程と、前記第2
の層上に開孔部を有するレジストを形成する工程と、 前記レジストをマスクとして前記第2の層に処理を施し
、前記レジストの開孔部下の第2の層のエッチングレー
トを高くする工程と、 前記レジストをマスクとして前記第2の層にエッチング
を施し、前記レジストの開孔部下の第2の層を前記レジ
ストの開孔部に応じた大きさに開孔する工程とを備えた
半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15077690A JPH0444250A (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15077690A JPH0444250A (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0444250A true JPH0444250A (ja) | 1992-02-14 |
Family
ID=15504178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15077690A Pending JPH0444250A (ja) | 1990-06-07 | 1990-06-07 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0444250A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6624860B1 (en) | 1998-01-26 | 2003-09-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Color filter layer providing transmitted light with improved brightness and display device using same |
US6850298B2 (en) | 2001-10-02 | 2005-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transflective liquid crystal display device with substrate having greater height in reflective region |
-
1990
- 1990-06-07 JP JP15077690A patent/JPH0444250A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6624860B1 (en) | 1998-01-26 | 2003-09-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Color filter layer providing transmitted light with improved brightness and display device using same |
US6850298B2 (en) | 2001-10-02 | 2005-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transflective liquid crystal display device with substrate having greater height in reflective region |
US7030948B2 (en) | 2001-10-02 | 2006-04-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device with color filter substrate height greater in reflection region than transmission region |
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