JPH04356719A - 磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体およびその製造方法Info
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
性基体上に強磁性金属薄膜を磁性層として形成してなる
、いわゆる強磁性金属薄膜型の磁気記録媒体の改良に関
し、特にハイビジョン用途等の広帯域信号記録および高
密度記録に適した強磁性金属薄膜型の磁気記録媒体に関
するものである。
れ続けている。高密度記録の達成のためには、再生出力
を大きくすること、ノイズを低減させること、或いは両
者を達成していわゆるC/N(再生出力Cとノイズの比
)を高くすることが必要である。
録媒体においても使用する磁性材料を酸化鉄粉末から強
磁性金属粉末にするなど材料自体を変更すると共に、夫
々の材料に於いても磁気特性の向上、微粒子化などの改
良を図り、高密度で高S/Nの磁気記録再生特性を達成
してきた。
布型の記録媒体では高密度記録に限界が見られ始め、次
の高密度記録達成のための新たな材料として金属薄膜型
媒体の開発が進められている。金属磁性薄膜の作成方法
としては、高分子フィルム等の基体上に強磁性金属をス
パッタリング法、イオンプレーティング法、電子ビーム
蒸着法などの真空中で薄膜を形成する真空成膜方法、お
よび水溶液中で基体上に薄膜を形成するいわゆるメッキ
方法などが知られている。
テープ媒体の一部は8ミリビデオシステム用の磁気テー
プ、いわゆる「Hi−8ME」として実用に供され始め
ている。しかしながら近年、更なる高記録密度達成への
要望は極めて強く、例えば、ハイビジョンシステム用の
記録媒体としての要求など、大容量記録への要求はます
ます強くなってきている。このような要請に応えるため
に、強磁性金属薄膜型磁気記録媒体に於いても、その特
性改良研究が進められてきている。
良方法としては、Co−Niを採用した電子ビーム蒸着
法によるものでは、■ 磁性膜粒子構造の改良、例え
ば真空蒸着時の酸素導入による保磁力の増大とノイズの
低減、耐蝕性を向上させる技術(例えば、特公昭57−
23931号公報、特開昭58−32234号公報に開
示されている。)、■ 強磁性金属蒸気流を非磁性基
体上に斜めに導入して成膜する斜方入射蒸着法により、
磁気特性を改良する方法(例えば、特公昭41−148
12号公報、特公昭56−52377号公報に開示され
ている。)、■ 複数層の蒸着膜を多層構造化するこ
とによるノイズの低減および磁性膜の磁気特性改良によ
る記録再生特性を改善させる方法(非磁性中間層を設け
ることも含む)(例えば、特公昭57−3133号公報
に開示されている。)、■ 斜方入射蒸着による膜を
多層構造化して、磁性粒子の成長方向を制御することに
より、記録再生特性の方向依存性をなくす技術(例えば
、特開昭54−141608号公報、特開昭57−32
23号公報に開示されている。)等の試みがなされてき
た。
に酸素を導入する方法及び斜方入射蒸着法は磁気特性を
高め電磁変換特性の優れた高密度記録用の磁気記録媒体
の作成技術として注目されている。
信号の周波数帯域に渡って、その再生出力やC/Nを向
上させるには不十分であり、ハイビジョンシステムのよ
うに記録波長が0.4μm以下、トラック幅5μm以下
で、1μm2 /bit以下の高密度記録信号や高転送
レートのデジタル信号を高密度に記録するために必要な
、広い周波数領域、即ち広い記録波長の領域に渡って、
高い再生出力が得られるような磁気記録媒体を得るには
充分でなかった。
来の状況に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は
広い記録周波数領域にわたり、高い再生出力と高いC/
N比を得るため、特に高い周波数領域、即ち短波長にお
いて、再生出力とC/N比の向上を達成しうる強磁性金
属薄膜型の磁気記録媒体を提供するものである。
基体上に、真空成膜法で形成された薄膜を2層以上積層
してなる層構成を有し、かつ該層構成は1層以上の強磁
性薄膜を含むものである磁気記録媒体において、前記層
構成の最上層の薄膜は、その残留磁束密度(Br(ガウ
ス))と抗磁力(Hc(エルステッド))の積(Br×
Hc)が6.5×106 (ガウス・エルステッド)以
上の高磁気エネルギー層であり、且つ前記高磁気エネル
ギー層は酸素を含有し、その表面側における酸素濃度の
方が非磁性基体側における酸素濃度よりも高いことを特
徴とする磁気記録媒体、および非磁性基体上に、少なく
とも1層以上の強磁性薄膜もしくは非磁性薄膜を真空成
膜法で形成した後、該強磁性薄膜もしくは該非磁性薄膜
の上に強磁性金属蒸気流の前記非磁性基体に対する入射
角が最大入射角(θmax )から最小入射角(θmi
n )へと連続的に変化し、且つ前記最大入射角(θm
ax )近傍よりも最小入射角(θmin )近傍の方
が酸素の導入量が多くなるように、前記強磁性金属気流
中に酸化性ガスを導入する斜方入射蒸着法により高磁気
エネルギー層を形成する磁気記録媒体の製造方法により
達成できる。
とも一層の非磁性薄膜の層もしくは強磁性薄膜の層を真
空成膜法により設けた上に、同じく真空成膜法により膜
厚方向の酸素分布をその表面側における酸素濃度の方が
非磁性基体側における酸素濃度よりも高くなるように制
御した強磁性薄膜を設けることにより、その強磁性薄膜
のBrとHcの積を6.5×106 (ガウス・エルス
テッド)以上にすることができることを特徴とするもの
である。
Br×Hcが大きい高磁気エネルギー層を有するので、
広帯域信号記録に対応すると共に記録波長が小さい、例
えば、0.4μm以下程度の磁気記録方式にあっても高
出力が維持できる。このことは、磁気記録の原理に基づ
くものである。
る機構の詳細は不明であるが、およそ次のように考えら
れる。非磁性基体に強磁性薄膜を直接成膜した場合、表
面が高温に晒されることによりポリエチレンフタレート
のような高分子フィルムの表面から発生する低分子量成
分、水分等の気体成分により強磁性結晶粒子の初期の成
長に対し何等かのゆらぎを誘発しこの成長が乱されるが
、本発明のように高磁気エネルギー層の下部に強磁性薄
膜または非磁性薄膜が設けられているとこれを防止でき
ること、およびこの高磁気エネルギー層の酸素分布を上
記の如く規定することにより前記と同様に強磁性結晶粒
子の初期成長の乱れを最小限に抑えることができること
によると考えられる。
磁気記録媒体を製造するための具体的方法は特に制限は
ないが、高磁気エネルギー層をその成膜後期(高磁気エ
ネルギー層の表面形成時)に酸素の導入量を多くするこ
とにより製造できる。具体的には、上述の通り高磁気エ
ネルギー層を形成する強磁性金属蒸気流を非磁性基体に
対する入射角が最大入射角(θmax )から最小入射
角(θmin )へと連続的に変化し、且つ前記最大入
射角(θmax )近傍よりも最小入射角(θmin
)近傍の方が酸素の導入量が多くなるように、前記強磁
性金属気流中に酸化性ガスを導入する斜法入射蒸着法に
より製造できる。
非磁性基体上に単一の磁性層、下地層+磁性層、下層磁
性層+非磁性中間層+上層磁性層などの様々な層構成よ
りなる強磁性金属薄膜型磁気記録媒体を数多く作製し、
基体より最も離れた強磁性薄膜層AのBr×Hcおよび
膜中酸素分布状態と短波長領域でのC/Nとの関係を調
べた。前述のように本発明は強磁性薄膜層A、即ち高磁
気エネルギー層と非磁性基体との間に少なくとも一層以
上の強磁性薄膜もしくは非磁性薄膜を有し、高磁気エネ
ルギー層の残留磁束密度Br(ガウス)と抗磁力Hc(
エルステッド)との積Br×Hcが6.5×106 (
ガウス・エルステッド)以上であり、高磁気エネルギー
層の表面側に含まれる酸素濃度がその基体側に含まれる
酸素濃度よりも高いことが、短波長領域で高いC/Nを
得るために重要であることを見出した。
素を含む場合、Br×Hcを大きくするには成膜時の導
入酸素量を少なくして、Brを大きくする方法が有効で
あるが、導入酸素量が少なくなると磁性層を形成してい
る粒子の大きさが増大し、それに伴ってノイズレベルが
急激に大きくなり、Br増大により出力レベルが上がっ
てもC/Nとしては大きくならないのに対し、本発明に
おける高磁気エネルギー層の如く強磁性薄膜層Aと該基
体との間に少なくとも一層以上の強磁性薄膜もしくは非
磁性薄膜があり且つ基体側に含まれる酸素が少ない場合
、導入酸素量を特に少なくしなくとも比較的容易にBr
を大きくすることができ、その結果ノイズレベルを上げ
ることなく出力レベルを上げることができ、C/Nが大
きくなるのである。
ルギー層の磁気特性の測定は、非磁性基体上に非磁性層
を真空成膜法で成膜し、その上に高磁気エネルギー層と
同じ構成の磁性層を同一条件で成膜した測定用試料を、
別途、作成して行った。該磁気特性は、振動試料型磁力
計(VSM)により測定した。
膜層(即ち基体よりも最も離れた所に位置する磁性層で
ある高磁気エネルギー層)の膜中酸素分布は、該磁性層
の表面側に含まれる酸素濃度が該層の基体側に含まれる
酸素濃度よりも高いことを満たしていればよく、酸素濃
度の絶対値を制限するものではないが、上記磁気特性が
得られ、且つ実用的な耐久性を得るためには、該磁性層
の表面側の酸素濃度は10原子%〜50原子%が好まし
く、基体側の酸素濃度は5原子%〜30原子%が好まし
い。ここで、表面側及び基体側の酸素濃度とは、例えば
、該磁性層の厚みをdとすると、表面からd/10の厚
さでの酸素濃度の平均を表面側酸素濃度の、該磁性層と
それに隣接する層との界面からd/10の厚さでの酸素
濃度の平均を基体側または界面側酸素濃度の各々目安と
するとよいであろう。
エネルギー層の積(Br×Hc)は6.5×106 以
上、好ましくは7.0×106以上、更に好ましくは8
.0×106 エルステッド・ガウス以上である。
ではないが、Brが3000ガウス以下と小さすぎると
高密度記録に十分な出力が得られず、Hcが800エル
ステッド以下と小さすぎても高密度記録に十分な出力が
得られない。従ってBrは3000ガウス以上が好まし
く、特に4500ガウス以上が好ましい。また、Hcは
800エルステッド以上が好ましく、特に1300エル
ステッド以上が好ましい。
するものではないが、上記特性の強磁性薄膜をえるため
には厚み300乃至5000Å、好ましくは600乃至
3500Å、更に好ましくは800乃至2500Åであ
る。
確保することは実質的に困難である。また厚みが300
0Å以上になると、表面粗さが粗くなりスペーシングロ
スの増大に伴い出力が低下すると共に、柱状粒子の大き
さが大きくなり再生時のノイズが増加して実用的でない
。
層とする層構成は、非磁性基体と該高磁気エネルギー層
との間に少なくとも1層以上の磁性および/または非磁
性の薄膜層を有した構成で真空成膜法により形成したも
のであれば、積層させる層の数や各々の層の材質、厚み
、作製方法については何等制限するものではない。例え
ば、高磁気エネルギー層を形成するために予め設けられ
る層が極端な場合組成的に高磁気エネルギー層と同じで
あってもよい。即ち、非磁性基体上に少なくとも2層以
上の薄膜が形成されており、しかも該基体より最も離れ
た所に位置する高磁気エネルギー層と非磁性基体との間
に少なくとも1層以上の非磁性層もしくは真空成膜法で
形成された磁性層が存在するという条件を満たしていれ
ばよい。
例としては、図1、2の構成が例示できる。図1の例で
は、非磁性基体1の上に非磁性下地層2を形成した後、
高磁気エネルギー層3を形成した構造であり、図2の例
は、非磁性基体1の上に下層磁性層4、非磁性中間層5
、高磁気エネルギー層6を順次積層した構成である。
メッキ法、スパッタリング法、蒸着法、イオンプレーテ
ィング法、CVD法等が例示される。本発明の目的を更
に効果的に達成するためには、高磁気エネルギー層の形
成手段として斜方入射蒸着法が好ましく、これにより形
成される斜方柱状粒子からなる強磁性金属薄膜がよい。
徴を述べれば、微結晶の集合体である柱状粒子が斜めに
折り重なって配列しているもの等が挙げられる。斜方入
射蒸着とは、移動する基体に対して蒸発源からそれらの
金属の蒸発原子を最大入射角(θmax )から最小入
射角(θmin )へと連続的に変化させながら基体上
に蒸着させることにより形成するもので、基体を円筒状
のキャンに沿わせて搬送する場合は、蒸着された強磁性
金属薄膜は湾曲した柱状の強磁性金属結晶よりなる。
の範囲としては、60〜90度、好ましくは80〜90
度が、該θmin の範囲としては、20〜60度、好
ましくは30〜50度が挙げられる。
方法においては、該斜方入射蒸着中に真空槽に酸素を含
む酸化性ガスもしくは酸化性ガスと不活性ガスとの混合
ガスを導入して酸化物を含む柱状の粒子形態の膜を形成
することができる。
過酸化水素等が使用できる。また、不活性ガスとしては
、ヘリウム、アルゴン等が挙げられる。特に、強磁性金
属蒸気流の該θmax 近傍からよりも該θmin 近
傍からの酸素導入量を多くすることにより、前記高磁気
エネルギー層内の酸素の分布を基体に近い方よりも表面
に近い方を多くなるようにすることが出来るので好まし
い。該θmax 近傍、該θmin 近傍とは、θma
x 、θmin をも包含する意味である。
における強磁性金属蒸気流への酸素導入量の具体的量と
しては、特に制限はなく、蒸着装置の大きさ規模等によ
り適宜調整される。
射蒸着法で成膜する際の酸化性ガスの導入を低入射角側
のみから行ってもよい。これら酸化性ガスを導入して得
た膜では特に、磁気特性に優れ、再生出力やノズルに優
れると共に、磁気テープとした場合の耐久性の向上がで
きる。
膜層または非磁性層の形成方法は、真空成膜法によるも
のであれば特に制限されない。例えば、真空蒸着法、ス
パッタリング法、イオンプレーティング法、CVD法等
が挙げられる。
は、真空槽内で連続して行うことが好ましく、また、連
続した非磁性基体上に高速で成膜可能な方法が望ましい
。前記高磁気エネルギー層と非磁性基体との間の非磁性
層を蒸着法で成膜する場合には、基本的に強磁性金属薄
膜を作製するための真空蒸着装置が使用できる。即ち、
蒸着させる金属材料を例えばCu、Pt、Ti、Al、
Cr、Biなどの非磁性金属材料を用いること、或いは
これらの金属材料の蒸発を酸素含有ガスを導入しつつ行
うことなどによって作製できる。或いは、本発明の実施
にあたっては非磁性層は実質的に非磁性であればよいの
で、磁性金属材料を使用する場合には、蒸着時に酸素含
有ガスを導入しつつ行うことによって非磁性酸化物とし
て作製することができる。好ましい金属単体としては、
Cu、Ti、Au及びAl等が、好ましい金属酸化物と
しては、Co、Ni、Si及びTi等の酸化物が挙げら
れる。
装置例の概略を示す。この装置は図示しない真空ポンプ
によって所定の真空度、例えば、1×10−4Torr
以下にする。酸素ガスを導入して磁性膜を形成する時は
圧力を1×10−3Torr以下にする。また、非磁性
層を金属酸化物で形成する時は1×10−3Torr以
上にする。真空槽7の内部に、20KeV程度の電子ビ
ーム加熱装置8等の加熱手段によって加熱される蒸発源
9、蒸着原子の入射角θmin を規制するための遮蔽
板10、冷却用の円筒状キャン11、基体の表面洗浄及
び帯電除去に使用されるグロー放電処理室12、酸素等
ガスのガス導入部13、14、巻出しロール15及び巻
取りリール16などが配置されている。巻出しロール1
5より供給される非磁性基体1を上記キャン11に沿わ
せて連続的に走行させながら、上記蒸発源9からの蒸発
原子を上記基体に被着させ、この蒸発原子の連続膜を磁
性層または非磁性層として形成する。
本発明を製造する場合には同一装置にて複数回繰り返し
蒸着することによって図1もしくは図2に示すような構
造の磁気記録媒体を得ることができる。この場合、蒸発
源9の金属種は交換してもしなくともよい。
としては、特にFe、Co、Ni等の金属、或いはこれ
らの合金、或いはこれらの金属にCu、Pt、Crなど
が添加された合金が望ましい。
ポリエチレンテレフタレートフィルム(PET)、ポリ
エチレンナフタレートフィルム(PEN)、ポリアラミ
ドフィルム、ポリイミドフィルム、ポリアミドフィルム
などのベースが使用される。それらの厚みは磁気テープ
用途としては数ミクロンから十数ミクロンのものが主と
して用いられる。これらの材料、その厚みなどは磁気記
録媒体システムに適合するものを選択するべき事項であ
り、本発明を規定するものではない。これらベースの表
面には、山状突起やしわ状突起などの突起を一種以上設
けてもよい。これらを設けることによって磁性層表面に
微小突起を形成して磁気記録媒体としての耐久性を向上
させることができる。上記山状あるいは粒状突起は、高
分子フィルム成膜時に有機粒子あるいは無機粒子を内添
したり、フィルム表面に有機粒子あるいは無機粒子を塗
布するなどによって得られる。しわ状突起は例えば樹脂
の希薄溶液を塗布・乾燥することによって形成すること
ができる。これらの高さ、分布、密度などは適宜選択す
れば良いが、突起の高さは30〜200Å、密度は1×
104 〜3×107 個/mm2 程度のものが好ま
しい。
体上から多くの成分の脱ガスがある。本発明では高磁気
エネルギー層を形成する前に他の層を非磁性基体上に形
成しておくので、高磁気エネルギー層の成膜には、この
脱ガスは影響を受けない。従って、前記のように非磁性
基体上に該塗布層を形成した場合には本発明の磁気記録
媒体は特に有利である。
、磁性膜の耐食性や耐久性などを向上させるための保護
膜や潤滑剤或いは両者を設けることができる。保護膜と
しては、酸化物の薄膜、窒化物の薄膜及びカーボン系の
薄膜等が挙げられる。潤滑剤としては、各種脂肪酸、そ
のエステル、パーフルオロポリエーテル等が挙げられ、
通常、2〜40mg/m2 、好ましくは、3〜20m
g/m2 の範囲でそのままもしくは有機溶剤等にて希
釈して塗布される。
10〜500Åの高さの突起を有している場合、特に走
行性・耐久性に優れる。
カード、ディスク等いずれでもよいが、特に好ましいの
はテープ状、ディスク状である。本発明の磁気記録媒体
の走行耐久性を更に高めるため磁性層がある面とは反対
側の面に非磁性粒子と結合剤樹脂からなるバック層を設
けることができる。
明する。ここに示す成分、割合、操作順序等は本発明の
精神から逸脱しない範囲において変更しうるものである
ことは本業界に携わるものにとっては容易に理解される
ことである。
るべきではない。図3にその概略を示す蒸着装置を用い
て、図1にその断面図を示す構成の実施例について説明
する。非磁性基体1として強磁性金属薄膜が被着される
側の表面に高さが約200Å、密度1.2×107 個
/mm2 のSiO2 の微粒子よりなる微小突起が設
けられている厚さ10μmのポリエチレンテレフタレー
トフィルムを使用した。
性基体1を、その中に含まれる水分の除去および該基体
表面のクリーニングのための酸素プラズマによるグロー
放電処理室12を通過させた後、冷却用の円筒状キャン
11に沿って、電子ビーム加熱装置8と蒸発源9と遮蔽
板10およびガス導入部13、14より構成される成膜
部を通過させた。蒸発源9としてCuを用い、電子ビー
ム加熱することによって蒸発させ、該基体に厚さ約20
0Åの非磁性下地層を被着させた。
に、非磁性下地層2が設けられた基体を上記と同様に搬
送しつつ、蒸発源としてCo80%、Ni20%の組成
の合金を用い、電子ビーム加熱することによって蒸発さ
せ、該基体に下層磁性層を被着させた。この時、電子ビ
ームの強度・2箇所のガス導入部13、14から導入さ
れる酸素ガスの量・非磁性基体の搬送速度・遮蔽板10
と蒸発源9の相対位置、即ち、θmax 、θmin
を適当に選ぶことにより、高磁気エネルギー層の厚さが
約1000〜2000Åで、磁気特性および膜中酸素分
布を調整した。この時の酸素ガス導入量500〜150
0SCCM(Standard Cubic cc p
er Minuttes)は、表1に記載した。また、
電子ビームの強度は、20keV、非磁性基体の搬送速
度は0.5m/秒、θmax は90度、θmin は
40度とした。
で、磁気特性および膜中酸素分布の異なる高磁気エネル
ギー層3を有する2層構造の磁性膜を持つ磁気テープサ
ンプル#1〜#7を作製した。#1、2、3、4は高磁
気エネルギー層作製時にガス導入部13のみより酸素を
導入して作製し、#5、6、7は高磁気エネルギー層作
製時にガス導入部13および14より酸素を導入して作
製した。また、比較のため非磁性下地層2が無く、厚み
が約2000Åである強磁性単層膜をサンプル#8をガ
ス導入部13および14より酸素を導入して作製した。 #2、3、4は本発明の実施例であり、#1、5、6、
7、8は比較例である。
又はサンプル#8の強磁性単層膜に関する特性として、
厚み、面内長手方向の磁気特性、表面近傍100Åおよ
び非磁性下地層2(#1〜#7の場合)もしくは非磁性
基体(#8の場合)との界面近傍100Åでの平均酸素
濃度とを表1に示す。
OEI社製VSMP−1)を用いた。ここで面内長手方
向とは膜面内にあって基体搬送方向と平行な方向である
。平均酸素濃度の測定は、オージェ電子分光法により、
作製した膜に含まれるCo、Ni、O、Cuの深さ方向
の濃度分布を求めその内の酸素濃度について表面より1
00Åおよび非磁性下地層または非磁性基体との界面よ
り100Åでの平均値を算出した。測定には、アルバッ
クファイ社製PHI660型を用い、1次電子の加速電
圧は3kVで電流値は50nAであり、アルゴンイオン
によるエッチングは加速電圧3.5kV、電流値0.5
μAで2mm×2mmをラスタスキャンで行った。
側の基体面にバック層を塗布すると共に、磁性層表面に
丸和物産(株)製KRYTOX−K157SLを20m
g/m2 となるようにエニモント社製FOMBLIN
ZS−100に溶解して塗布した。次いで8mm幅
に裁断して、8ミリビデオ用カセットに組み込み電磁変
換特性を測定した。
製Hi−8ムービーM870HRを改造し、周波数が9
MHzの単波長信号を最適記録電流にて記録し、その時
の再生レベルと6MHzでのノイズレベルをヒューレッ
トパッカード社製スペクトラムアナライザー3585A
を用いて求め、その差をC/Nとした。サンプル#8の
C/Nを測定基準(0dB)とした結果を表1に示す。
の関係に注目してみると、Br×Hcが大きい程、高い
C/Nが得られることが分かる。特にBr×Hcが6.
5×106 Oe・G(エルステッド・ガウス)より大
きい範囲では、Br×Hcの値が同程度でも、表面側の
酸素濃度が界面側の酸素濃度より高くなっている実施例
の方が、界面側の酸素濃度が表面側の酸素濃度より高く
なっている比較例よりも約2dB程高いC/Nが得られ
ている。これは膜中酸素分布によって説明できる。即ち
、比較例のように界面側に多くの酸素を含む場合、Br
×Hcを大きくするには蒸着時の導入酸素量を少なくし
、Brを大きくする方法が有効であるが、導入酸素量が
少なくなると磁性層を形成している粒子の大きさが増大
し、それに伴ってノイズレベルが急激に大きくなり、B
r増大により出力レベルが上がってもC/Nとしては大
きくならないのに対し、実施例のように非磁性下地層が
あり且つ界面側に含まれる酸素の量が少ない場合、導入
酸素量を特に少なくしなくとも比較的容易にBrを大き
くすることができ、その結果ノイズレベルを上げること
なく出力レベルを上げることができ、C/Nが比較例よ
りも大きくなるのである。
変化する機構の詳細についてはまだ不明であるが、界面
での酸素等のガスの存在が強磁性薄膜形成の初期の段階
における結晶成長に対し何らかのゆらぎを誘発し、磁気
特性の劣化を招いているものと考えられる。一方界面近
傍での酸素導入が無く、なお且つCu下地層のような薄
膜層の上に作製された強磁性薄膜では、このようなゆら
ぎが少なく、良好な磁気特性が得られるものと考えられ
る。
層にCuを用いた例で示したが、非磁性下地層に用いる
材料としては、非磁性に近い特性であれば如何なる材料
でも用いることは可能である。また、本発明の実施例で
は非磁性下地層の替わりに強磁性層を設けたり、非磁性
下地層の下に更に一つもしくは複数の強磁性層や非磁性
層を設けることも可能である。必要なのは非磁性基体と
該非磁性基体から最も離れた所に位置する強磁性層との
間に、少なくとも1層以上の磁性および/または非磁性
の薄膜層を有した構成であり、なお且つ該非磁性基体か
ら最も離れた所に位置する強磁性薄膜層、即ち、高磁気
エネルギー層の表面側酸素濃度が界面側酸素濃度よりも
高く、なお且つBr×Hcが6.5×106 (ガウス
・エルステッド)より大きいことである。
置を使用した場合について説明したが、円筒状キャンを
2個、或いは3個を持つ蒸着装置を用いて一度の2層或
いは3層を形成することによって本発明の磁気記録媒体
を作製することも可能である。
体よりも最も離れた強磁性金属薄膜層のBr×Hcが6
.5×106 (ガウス・エルステッド)以上であり、
該薄膜層においてその表面側に含まれる酸素濃度が基体
側に含まれる酸素濃度よりも高いことを特徴とすること
により、特に短波長領域において高い出力と低いノイズ
を得ることができ、C/N比を飛躍的に向上させること
ができる。またこれにより、ハイビジョン用等のビデオ
テープを安価に製造することができる。
示す図である。
示す図である。
真空蒸着装置の具体例を説明するための図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 非磁性基体上に、真空成膜法で形成さ
れた薄膜を2層以上積層してなる層構成を有し、かつ該
層構成は1層以上の強磁性薄膜を含むものである磁気記
録媒体において、前記層構成の最上層の薄膜は、その残
留磁束密度(Br(ガウス))と抗磁力(Hc(エルス
テッド))の積(Br×Hc)が6.5×106 (ガ
ウス・エルステッド)以上の高磁気エネルギー層であり
、且つ前記高磁気エネルギー層は酸素を含有し、その表
面側における酸素濃度の方が非磁性基体側における酸素
濃度よりも高いことを特徴とする磁気記録媒体。 - 【請求項2】 非磁性基体上に、少なくとも1層以上
の強磁性薄膜もしくは非磁性薄膜を真空成膜法で形成し
た後、該強磁性薄膜もしくは該非磁性薄膜の上に強磁性
金属蒸気流の前記非磁性基体に対する入射角が最大入射
角(θmax )から最小入射角(θmin )へと連
続的に変化し、且つ前記最大入射角(θmax )近傍
よりも最小入射角(θmin )近傍の方が酸素の導入
量が多くなるように、前記強磁性金属気流中に酸化性ガ
スを導入する斜方入射蒸着法により高磁気エネルギー層
を形成する磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP3157429A JP2729544B2 (ja) | 1991-06-03 | 1991-06-03 | 磁気記録媒体およびその製造方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH04356719A true JPH04356719A (ja) | 1992-12-10 |
JP2729544B2 JP2729544B2 (ja) | 1998-03-18 |
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Citations (1)
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JPS5798133A (en) * | 1980-12-05 | 1982-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Magnetic recording medium |
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1991
- 1991-06-03 JP JP3157429A patent/JP2729544B2/ja not_active Expired - Fee Related
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