JPH04315120A - 顕微鏡用光源 - Google Patents
顕微鏡用光源Info
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- JPH04315120A JPH04315120A JP8227391A JP8227391A JPH04315120A JP H04315120 A JPH04315120 A JP H04315120A JP 8227391 A JP8227391 A JP 8227391A JP 8227391 A JP8227391 A JP 8227391A JP H04315120 A JPH04315120 A JP H04315120A
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 abstract 1
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 6
- 240000007320 Pinus strobus Species 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡に用いる光源に
関するものであり、特に高速に移動する被写体を撮影す
るのに適した光源に関するものである。
関するものであり、特に高速に移動する被写体を撮影す
るのに適した光源に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、高速に移動する被写体を顕微鏡で
撮影するには、ストロボが用いられていた。特に周期的
運動を行なっている物体に、ストロボ光を当て、物体の
運動周期とパルス光の周期が一致すると、物体は静止し
ているように見える。また、両者に差があると、実際の
動きよりおそいスローモーション像として観察される。 このストロボ光を、顕微鏡用光源に用いるとモータの回
転、磁壁の移動といった微少な物体の高速な変化が観察
できる。
撮影するには、ストロボが用いられていた。特に周期的
運動を行なっている物体に、ストロボ光を当て、物体の
運動周期とパルス光の周期が一致すると、物体は静止し
ているように見える。また、両者に差があると、実際の
動きよりおそいスローモーション像として観察される。 このストロボ光を、顕微鏡用光源に用いるとモータの回
転、磁壁の移動といった微少な物体の高速な変化が観察
できる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】近年の電子機器の進歩
に伴い数MHzから数GHzといった非常に高速に変化
する物体を観察したいというニーズが増えてきた。しか
し、ストロボはコンデンサに電荷をためて、発光させる
ため1μs以下の周期的な発光が難しい。すなわち発光
周期が早くなると、電荷が十分たまらないため光量が落
ち、光量をおおきくするため大電力の光源を用いると、
大きなスパークノイズが発生し、周辺の回路系に重大な
悪影響をもたらすといった問題が発生していた。
に伴い数MHzから数GHzといった非常に高速に変化
する物体を観察したいというニーズが増えてきた。しか
し、ストロボはコンデンサに電荷をためて、発光させる
ため1μs以下の周期的な発光が難しい。すなわち発光
周期が早くなると、電荷が十分たまらないため光量が落
ち、光量をおおきくするため大電力の光源を用いると、
大きなスパークノイズが発生し、周辺の回路系に重大な
悪影響をもたらすといった問題が発生していた。
【0004】また、光源にレーザを用いたレーザ顕微鏡
は、レーザ光の干渉によるスペックルノイズを避けるた
め、共焦点光学を用いている。この方式だと、スペック
ルノイズは減るが、光を音響光学素子等を用いて走査す
るため高速の面測定ができない。レーザ光源の中でも、
半導体レーザは、1MHz以上の高周波の矩形波駆動に
対応でき、高速に変化する物体を静止画像として観察す
るのに適した光源であるが単にレーザ光を光源として用
いて白色光に置き換え、面状態の観察を行うと上述した
ように、レーザ光の時間的、空間的コヒーレンスのため
、白黒のまだら模様であるスペックルノイズが発生し、
対象物の測定ができない。これは、光学系間の干渉、ゴ
ミ、あるいは測定物体の持つ表面粗度によって起こる、
レーザ光特有の本質的な問題である。
は、レーザ光の干渉によるスペックルノイズを避けるた
め、共焦点光学を用いている。この方式だと、スペック
ルノイズは減るが、光を音響光学素子等を用いて走査す
るため高速の面測定ができない。レーザ光源の中でも、
半導体レーザは、1MHz以上の高周波の矩形波駆動に
対応でき、高速に変化する物体を静止画像として観察す
るのに適した光源であるが単にレーザ光を光源として用
いて白色光に置き換え、面状態の観察を行うと上述した
ように、レーザ光の時間的、空間的コヒーレンスのため
、白黒のまだら模様であるスペックルノイズが発生し、
対象物の測定ができない。これは、光学系間の干渉、ゴ
ミ、あるいは測定物体の持つ表面粗度によって起こる、
レーザ光特有の本質的な問題である。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め本発明の顕微鏡用光源は、レーザへのDC入力に高い
周波数のサイン波等を重畳して干渉性を低減したレーザ
光を用いることを特徴とするものである。
め本発明の顕微鏡用光源は、レーザへのDC入力に高い
周波数のサイン波等を重畳して干渉性を低減したレーザ
光を用いることを特徴とするものである。
【0006】
【作用】本発明は上記した構成によりスペクトルがサイ
ドバンドをもつために、レーザー光のコヒーレンスが著
しく低下し、スペックルノイズのない鮮明な画像が得ら
れる。
ドバンドをもつために、レーザー光のコヒーレンスが著
しく低下し、スペックルノイズのない鮮明な画像が得ら
れる。
【0007】
【実施例】以下本発明の一実施例の顕微鏡用光源につい
て、図面を参照しながら説明する。
て、図面を参照しながら説明する。
【0008】(図1)は、本発明の一実施例の顕微鏡用
光源を用いた測定装置の構成例である。(図2)は、(
図1)の要部の信号波形を示す図である。(図1)にお
いて1は半導体レーザ、2はRF重畳回路、3はパルス
ジェネレータ、4はハーフミラー、5は対物レンズ、6
はビデオカメラ、7はモニター、8はモータ、9はモー
タによって回転される円盤、10は同期回路、11は遅
延回路である。(図2)において、(a)はモータの同
期信号出力、(b)は遅延回路出力、(c)はパルスジ
ェネレータ出力、(d)はRF重畳回路出力である。
光源を用いた測定装置の構成例である。(図2)は、(
図1)の要部の信号波形を示す図である。(図1)にお
いて1は半導体レーザ、2はRF重畳回路、3はパルス
ジェネレータ、4はハーフミラー、5は対物レンズ、6
はビデオカメラ、7はモニター、8はモータ、9はモー
タによって回転される円盤、10は同期回路、11は遅
延回路である。(図2)において、(a)はモータの同
期信号出力、(b)は遅延回路出力、(c)はパルスジ
ェネレータ出力、(d)はRF重畳回路出力である。
【0009】半導体レーザー1としては波長780nm
、出力40mWのものを用いた。用いる半導体レーザは
、用いるビデオカメラの持つ波長特性、観察したい対象
物が何かによって青色レーザから赤外レーザまで適当な
波長と出力の半導体レーザを選べば良い。ガスレーザ等
はRF重畳することによりスペクトルが広がらない、発
信が安定しない等の理由で適当でない。RF重畳回路は
矩形波パルスに800MHzのサイン波が重畳できる回
路である。RF周波数は矩形波の周波数より高周波であ
れば良く、100MHzから10GHzが適当である。 ビデオカメラ6を用いたのは、肉眼で半導体レーザ光の
測定を行うのは危険なためである。モータ8は毎分45
00回転で回転しているものに直径12.5cmの円盤
9を取り付けた。
、出力40mWのものを用いた。用いる半導体レーザは
、用いるビデオカメラの持つ波長特性、観察したい対象
物が何かによって青色レーザから赤外レーザまで適当な
波長と出力の半導体レーザを選べば良い。ガスレーザ等
はRF重畳することによりスペクトルが広がらない、発
信が安定しない等の理由で適当でない。RF重畳回路は
矩形波パルスに800MHzのサイン波が重畳できる回
路である。RF周波数は矩形波の周波数より高周波であ
れば良く、100MHzから10GHzが適当である。 ビデオカメラ6を用いたのは、肉眼で半導体レーザ光の
測定を行うのは危険なためである。モータ8は毎分45
00回転で回転しているものに直径12.5cmの円盤
9を取り付けた。
【0010】モータ8によって高速に回転する円盤9上
の微少な形状を測定するため、半導体レーザ1を発光さ
せハーフミラー4で反射させ、対物レンズ5で円盤上に
焦点を合わせる。その像をビデオカメラ6で撮影し、モ
ニター7で観察する。円盤上の静止画像を得るため、モ
ータの回転から同期回路10で同期信号(図2a)を取
り出す。そして遅延回路11で円盤9の任意の点を観察
するため、モータの同期信号よりΔtだけ時間を遅らし
た遅延信号(図2b)を得る。そして、パルスジェネレ
ータ3で静止画像を得るための発光時間であるパルス幅
t1を決め、整形した出力信号(図2c)を得る。出力
にDCバイアスをかけてもよい。本実施例では100n
sの発光時間とした。そしてRF重畳回路2により、半
導体レーザの入力信号となるRF出力(図2d)を得る
。本発明ではRF周波数を800MHzとした。これに
よりサイドバンドの広がったレーザ発光が得られる。 通常半導体レーザの半値幅は0.5nm以下であるがR
F重畳をかけることにより5nm程度に広げることがで
きる。これにより、周波数的にコヒーレンスが落ち、ス
ペックルノイズの少ない面画像を得ることができた。従
来のストロボ法ではこのような、短時間のパルス幅の設
定はできず、パルス幅が長いと画像が流れて不鮮明にな
る。
の微少な形状を測定するため、半導体レーザ1を発光さ
せハーフミラー4で反射させ、対物レンズ5で円盤上に
焦点を合わせる。その像をビデオカメラ6で撮影し、モ
ニター7で観察する。円盤上の静止画像を得るため、モ
ータの回転から同期回路10で同期信号(図2a)を取
り出す。そして遅延回路11で円盤9の任意の点を観察
するため、モータの同期信号よりΔtだけ時間を遅らし
た遅延信号(図2b)を得る。そして、パルスジェネレ
ータ3で静止画像を得るための発光時間であるパルス幅
t1を決め、整形した出力信号(図2c)を得る。出力
にDCバイアスをかけてもよい。本実施例では100n
sの発光時間とした。そしてRF重畳回路2により、半
導体レーザの入力信号となるRF出力(図2d)を得る
。本発明ではRF周波数を800MHzとした。これに
よりサイドバンドの広がったレーザ発光が得られる。 通常半導体レーザの半値幅は0.5nm以下であるがR
F重畳をかけることにより5nm程度に広げることがで
きる。これにより、周波数的にコヒーレンスが落ち、ス
ペックルノイズの少ない面画像を得ることができた。従
来のストロボ法ではこのような、短時間のパルス幅の設
定はできず、パルス幅が長いと画像が流れて不鮮明にな
る。
【0011】さらに、コヒーレンスを落とすためには、
半導体レーザから出たRF重畳されて出た光を音響光学
素子(A0素子)、回転式ハーフミラー、回転式プリズ
ム等を用いて光軸を走査することにより、さらに空間変
調をかけることができる。これにより、さらにスペック
ルノイズを低減させることができる。
半導体レーザから出たRF重畳されて出た光を音響光学
素子(A0素子)、回転式ハーフミラー、回転式プリズ
ム等を用いて光軸を走査することにより、さらに空間変
調をかけることができる。これにより、さらにスペック
ルノイズを低減させることができる。
【0012】また、半導体レーザから出たRF重畳され
た光を光ファイバーあるいは非球面レンズ等を通過させ
ることによりレーザ光の位相を乱すことができる。すな
わち、レーザ光に位相変調をかけることができる。この
方法によっても、さらにスペックルノイズを低減するこ
とが可能である。
た光を光ファイバーあるいは非球面レンズ等を通過させ
ることによりレーザ光の位相を乱すことができる。すな
わち、レーザ光に位相変調をかけることができる。この
方法によっても、さらにスペックルノイズを低減するこ
とが可能である。
【0013】さらに、音響光学素子等による空間変調と
光ファイバー等による位相変調を併用しても良い。
光ファイバー等による位相変調を併用しても良い。
【0014】半導体レーザのパルス幅は狭い程、画像が
鮮明になるが、あまり狭いと十分な光量が得られない。 物体の変化速度にもよるがパルス幅は10μs以下が良
く、望ましくは1μs以下である。これより長くなると
、画像がぼけてくる。また多重するRF周波数は、その
逆数が半導体レーザの半値幅を決める。あまり低いと十
分コヒーレンスを落とすことができないため100MH
z以上が良く、望ましくは800MHz以上である。
鮮明になるが、あまり狭いと十分な光量が得られない。 物体の変化速度にもよるがパルス幅は10μs以下が良
く、望ましくは1μs以下である。これより長くなると
、画像がぼけてくる。また多重するRF周波数は、その
逆数が半導体レーザの半値幅を決める。あまり低いと十
分コヒーレンスを落とすことができないため100MH
z以上が良く、望ましくは800MHz以上である。
【0015】矩形波パルスにサイン波を重畳する例につ
いて説明したが、レーザ光のコヒーレンスを落とすため
三角波、サイン2乗波等が用いられても有効なことは言
うまでもない。
いて説明したが、レーザ光のコヒーレンスを落とすため
三角波、サイン2乗波等が用いられても有効なことは言
うまでもない。
【0016】以上、半導体レーザを用いてRF重畳する
事により、高速に回転する物体の顕微鏡画像を得る方法
に付いて述べたが、磁壁の移動といった微小で高速な現
象の観測に、本発明が用いられることは言うまでもない
。
事により、高速に回転する物体の顕微鏡画像を得る方法
に付いて述べたが、磁壁の移動といった微小で高速な現
象の観測に、本発明が用いられることは言うまでもない
。
【0017】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の顕微鏡光
源を用いることにより、微少な物体の高速な運動が観察
できるようになり、極めて産業上の利用価値が高いもの
である。
源を用いることにより、微少な物体の高速な運動が観察
できるようになり、極めて産業上の利用価値が高いもの
である。
【図1】レーザ光による顕微鏡用光源を用いた測定装置
の構成図
の構成図
【図2】信号波形を示す図
(a) モータの同期信号出力
(b) 遅延回路出力
(c) パルスジェネレータ出力
(d) RF重畳回路出力
1 半導体レーザ
2 RF重畳回路
3 パルスジェネレータ
4 ハーフミラー
5 対物レンズ
6 ビデオカメラ
7 モニター
8 モータ
9 モータによって回転される円盤
10 同期回路
11 遅延回路
Claims (5)
- 【請求項1】 干渉性を低減したレーザ光を用いるこ
とを特徴とする顕微鏡用光源。 - 【請求項2】 半導体レーザーへの入力電圧を周波数
多重することによってレーザーの干渉性を低減すること
を特徴とする請求項1記載の顕微鏡用光源。 - 【請求項3】 半導体レーザから出た光を音響光学素
子によって空間変調することを特徴とする請求項2記載
の顕微鏡用光源。 - 【請求項4】 半導体レーザから出た光を光ファイバ
ー、非球面レンズ等透過能を有する光学素子を通過させ
ることにより位相変調することを特徴とする請求項2記
載の顕微鏡用光源。 - 【請求項5】 半導体レーザのパルス幅が10μs以
下であり、多重させる高周波が、100MHz以上であ
ることを特徴とする請求項2記載の顕微鏡用光源。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8227391A JPH04315120A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 顕微鏡用光源 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8227391A JPH04315120A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 顕微鏡用光源 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04315120A true JPH04315120A (ja) | 1992-11-06 |
Family
ID=13769882
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8227391A Pending JPH04315120A (ja) | 1991-04-15 | 1991-04-15 | 顕微鏡用光源 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04315120A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996038757A1 (fr) * | 1995-06-02 | 1996-12-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Appareil optique, source de faisceau laser, equipement a laser et procede de production d'un appareil optique |
JP2001189520A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Sony Corp | 光源装置およびそれを用いた投射型表示装置 |
GB2368743A (en) * | 2000-08-28 | 2002-05-08 | Leica Microsystems | Method for reducing interference by decreasing laser coherence in a confocal scanning microscope. |
JP2009511998A (ja) * | 2005-10-17 | 2009-03-19 | アリックス インク | 空間変調光学力顕微鏡検査を使用して細胞の変形能を検出するための装置および方法 |
-
1991
- 1991-04-15 JP JP8227391A patent/JPH04315120A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7382811B2 (en) | 1995-06-02 | 2008-06-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
US6333943B1 (en) | 1995-06-02 | 2001-12-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
US6914918B2 (en) | 1995-06-02 | 2005-07-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
US7101723B2 (en) | 1995-06-02 | 2006-09-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
US7295583B2 (en) | 1995-06-02 | 2007-11-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
US7339960B2 (en) | 1995-06-02 | 2008-03-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
WO1996038757A1 (fr) * | 1995-06-02 | 1996-12-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Appareil optique, source de faisceau laser, equipement a laser et procede de production d'un appareil optique |
US7570677B2 (en) | 1995-06-02 | 2009-08-04 | Panasonic Corporation | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
US7623559B2 (en) | 1995-06-02 | 2009-11-24 | Panasonic Corporation | Optical device, laser beam source, laser apparatus and method of producing optical device |
JP2001189520A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Sony Corp | 光源装置およびそれを用いた投射型表示装置 |
GB2368743A (en) * | 2000-08-28 | 2002-05-08 | Leica Microsystems | Method for reducing interference by decreasing laser coherence in a confocal scanning microscope. |
GB2368743B (en) * | 2000-08-28 | 2003-03-26 | Leica Microsystems | Method of illuminating an object with laser light |
JP2009511998A (ja) * | 2005-10-17 | 2009-03-19 | アリックス インク | 空間変調光学力顕微鏡検査を使用して細胞の変形能を検出するための装置および方法 |
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