JPH04258784A - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置Info
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- JPH04258784A JPH04258784A JP3018819A JP1881991A JPH04258784A JP H04258784 A JPH04258784 A JP H04258784A JP 3018819 A JP3018819 A JP 3018819A JP 1881991 A JP1881991 A JP 1881991A JP H04258784 A JPH04258784 A JP H04258784A
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- rays
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Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 11
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】[発明の目的]
【0002】
【産業上の利用分野】この発明は、空港などにおいて荷
物にX線を照射してその内容物を検査する場合などに用
いるX線検査装置に関する。
物にX線を照射してその内容物を検査する場合などに用
いるX線検査装置に関する。
【0003】
【従来の技術】特開昭63−25537号公報には図1
に示すようなX線検査装置が開示されている。被検体8
がコンベア6により搬送されてきて、検査装置の設置場
所を通過する。X線管1から放射されたX線ビーム2は
コリメータ3と回転スリット4とによって飛点走査X線
ビームとなって被検体8に照射される。被検体8にあた
って後方(ビーム照射方向と反対方向)側に散乱する後
方散乱X線がX線検出器5で検出され、被検体8を透過
するX線がX線検出器7で検出され、被検体8の前方(
透過X線の方向)側に散乱する前方散乱X線がX線検出
器11で検出される。
に示すようなX線検査装置が開示されている。被検体8
がコンベア6により搬送されてきて、検査装置の設置場
所を通過する。X線管1から放射されたX線ビーム2は
コリメータ3と回転スリット4とによって飛点走査X線
ビームとなって被検体8に照射される。被検体8にあた
って後方(ビーム照射方向と反対方向)側に散乱する後
方散乱X線がX線検出器5で検出され、被検体8を透過
するX線がX線検出器7で検出され、被検体8の前方(
透過X線の方向)側に散乱する前方散乱X線がX線検出
器11で検出される。
【0004】各X線検出器5,7,11の出力信号はそ
れぞれ画像再生装置9で処理され、後方散乱X線画像、
前方散乱X線画像、透過X線画像がそれぞれ生成される
。これらの画像を見て被検体8の内に例えばプラスチッ
ク爆弾や麻薬が隠されているのを発見しようという訳で
ある。
れぞれ画像再生装置9で処理され、後方散乱X線画像、
前方散乱X線画像、透過X線画像がそれぞれ生成される
。これらの画像を見て被検体8の内に例えばプラスチッ
ク爆弾や麻薬が隠されているのを発見しようという訳で
ある。
【0005】図1の装置では、前方散乱X線による良好
な画像が得られないという問題があった。被検体8によ
るX線の吸収が大きいので、透過方向(前方)への散乱
は少なく、前方散乱X線の検出信号で生成した画像は非
常に不鮮明であった。そのため被検体8のX線検出器1
1側の検査が不充分にしか行えない。
な画像が得られないという問題があった。被検体8によ
るX線の吸収が大きいので、透過方向(前方)への散乱
は少なく、前方散乱X線の検出信号で生成した画像は非
常に不鮮明であった。そのため被検体8のX線検出器1
1側の検査が不充分にしか行えない。
【0006】前記の問題を解決するために、従来は図2
の構成で対処していた。図2の装置は、図1における前
方散乱X線検出器11のない装置を2セット設け、それ
ぞれ被検体8の反対側からX線を照射して、被検体8の
両方の面から後方散乱X線を検出している。
の構成で対処していた。図2の装置は、図1における前
方散乱X線検出器11のない装置を2セット設け、それ
ぞれ被検体8の反対側からX線を照射して、被検体8の
両方の面から後方散乱X線を検出している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】図2のように、被検体
8の左右両側からそれぞれX線を照射して両面を検査す
る装置では、図1の装置に比べて、装置の占有スペース
が非常に大きくなるという問題があった。特に図2に示
すように、コンベア6の幅方向の装置設置寸法Lが非常
に大きく、占有床面積が大きかった。
8の左右両側からそれぞれX線を照射して両面を検査す
る装置では、図1の装置に比べて、装置の占有スペース
が非常に大きくなるという問題があった。特に図2に示
すように、コンベア6の幅方向の装置設置寸法Lが非常
に大きく、占有床面積が大きかった。
【0008】この発明の目的は、被検体の両面検査を正
確に行なえ、しかも装置の設置スペース(特に占有床面
積)が小さいX線検査装置を提供することにある。
確に行なえ、しかも装置の設置スペース(特に占有床面
積)が小さいX線検査装置を提供することにある。
【0009】[発明の構成]
【0010】
【課題を解決するための手段】(第1の発明) 設置
スペースの小さいな図1のX線光学系を採用し、前方散
乱X線データを透過X線データにより補正することで、
前方散乱X線データによる画像の質を向上させるように
した。
スペースの小さいな図1のX線光学系を採用し、前方散
乱X線データを透過X線データにより補正することで、
前方散乱X線データによる画像の質を向上させるように
した。
【0011】(第2の発明) ほぼ水平方向に搬送さ
れる被検体に対して上方からX線を照射し、その後方散
乱X線を検出して画像を生成する第1の系と、被検体に
対して下方からX線を照射し、その後方散乱X線および
透過X線を検出してそれぞれ画像を生成する第2の系と
を設けた。
れる被検体に対して上方からX線を照射し、その後方散
乱X線を検出して画像を生成する第1の系と、被検体に
対して下方からX線を照射し、その後方散乱X線および
透過X線を検出してそれぞれ画像を生成する第2の系と
を設けた。
【0012】
【作用】(第1の発明) 図1のX線光学系では前方
散乱X線データだけでは鮮明な画像を得るのが困難であ
るが、そのデータを透過X線データで補正することで画
像品質を向上させることができる。
散乱X線データだけでは鮮明な画像を得るのが困難であ
るが、そのデータを透過X線データで補正することで画
像品質を向上させることができる。
【0013】(第2の発明) 第1の系では被検体の
上面側についての散乱X線画像が得られる。第2の系で
は被検体の下面側についての散乱X線画像と、透過X線
画像とが得られる。これでデータの質の悪い前方散乱X
線を利用せずに、被検体の上下両面について正確な検査
を行うことができる。
上面側についての散乱X線画像が得られる。第2の系で
は被検体の下面側についての散乱X線画像と、透過X線
画像とが得られる。これでデータの質の悪い前方散乱X
線を利用せずに、被検体の上下両面について正確な検査
を行うことができる。
【0014】
【実施例】(第1の発明) 図1のX線光学系はこの
発明の実施例にも共通する。つまり、コンベア6の一側
部に配置されたX線管1、コリメータ3、回転スリット
4によってコンベア6上の被検体8が横方向からフライ
ングスポット走査される。この光源系の側に設置された
後方散乱X線検出器5で被検体8からの後方散乱X線が
検出され、コンベア6を挾んで反対側に置かれた前方散
乱X線検出器11および透過X線検出器7でそれぞれ被
検体8からの前方散乱X線と透過X線が検出される。こ
れらX線検出器5,7,11の出力データは図3のデー
タ処理系で処理される。
発明の実施例にも共通する。つまり、コンベア6の一側
部に配置されたX線管1、コリメータ3、回転スリット
4によってコンベア6上の被検体8が横方向からフライ
ングスポット走査される。この光源系の側に設置された
後方散乱X線検出器5で被検体8からの後方散乱X線が
検出され、コンベア6を挾んで反対側に置かれた前方散
乱X線検出器11および透過X線検出器7でそれぞれ被
検体8からの前方散乱X線と透過X線が検出される。こ
れらX線検出器5,7,11の出力データは図3のデー
タ処理系で処理される。
【0015】図3に示すように、後方散乱X線検出器5
と透過X線検出器7の出力はそれぞれ画像演算部12,
13で処理されて後方散乱X線画像データ、透過X線画
像データに変換され、それぞれ表示部15,16に表示
される。
と透過X線検出器7の出力はそれぞれ画像演算部12,
13で処理されて後方散乱X線画像データ、透過X線画
像データに変換され、それぞれ表示部15,16に表示
される。
【0016】前方散乱X線検出器11の出力は画像演算
部14で画像データに変換された後、掛算器19で以下
のように補正されてから表示部17に表示される。この
掛算器19のもう一方の入力として、画像演算部13か
らの透過画像データが重み関数アンプ18を経て供給さ
れる。
部14で画像データに変換された後、掛算器19で以下
のように補正されてから表示部17に表示される。この
掛算器19のもう一方の入力として、画像演算部13か
らの透過画像データが重み関数アンプ18を経て供給さ
れる。
【0017】図4に重み関数アンプ18の入出力特性を
示している。透過X線画像データ(入力)は反転され、
一定以下のデータは固定値αとし、一定値以上のデータ
は固定値βとする。この重み関数をφとする。前方散乱
X線画像データf(x,y)と透過X線画像データT(
x,y)とは同一タイミングパルスでトリガすることに
より各画素の番地(x,y)を合わすことができる。 掛算器19では次式に示す演算が行われ、透過X線画像
データによって補正された前方散乱X線画像データF(
x,y)が得られ、これが表示部17に表示される。
示している。透過X線画像データ(入力)は反転され、
一定以下のデータは固定値αとし、一定値以上のデータ
は固定値βとする。この重み関数をφとする。前方散乱
X線画像データf(x,y)と透過X線画像データT(
x,y)とは同一タイミングパルスでトリガすることに
より各画素の番地(x,y)を合わすことができる。 掛算器19では次式に示す演算が行われ、透過X線画像
データによって補正された前方散乱X線画像データF(
x,y)が得られ、これが表示部17に表示される。
【0018】
F(x,y)=f(x,y)×φ{T(x,y)}なお
、以上の実施例では3つの画像演算部12,13,14
および重み関数アンプ18と掛算器19をそれぞれ独立
したブロックとしたが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、これらの機能を1つのコンピュータで処理す
ることもできる。
、以上の実施例では3つの画像演算部12,13,14
および重み関数アンプ18と掛算器19をそれぞれ独立
したブロックとしたが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、これらの機能を1つのコンピュータで処理す
ることもできる。
【0019】(第2の発明) 図5は第2の発明の実
施例を示している。コンベア6の上方に第1の系を配置
している。つまりX線管1a、コリメータ3、回転スリ
ット4aによってコンベア6上の被検体8を上面側から
フライングスポット走査し、やはりコンベア6の上方に
配したX線検出器5aでもって被検体8からの後方散乱
X線を検出し、そのデータによる後方散乱X線画像(上
面側検査画像とする)を画像再生装置9aで生成し表示
する。
施例を示している。コンベア6の上方に第1の系を配置
している。つまりX線管1a、コリメータ3、回転スリ
ット4aによってコンベア6上の被検体8を上面側から
フライングスポット走査し、やはりコンベア6の上方に
配したX線検出器5aでもって被検体8からの後方散乱
X線を検出し、そのデータによる後方散乱X線画像(上
面側検査画像とする)を画像再生装置9aで生成し表示
する。
【0020】また、コンベア6の切れ目の部分の下方に
第2の系の光源系を配置する。つまりX線管1b、コリ
メータ3b、回転スリット4bによってコンベア6上の
被検体8をコンベア6の切れ目を通して下面側からフラ
イングスポット走査し、やはりコンベア6の下方に配し
たX線検出器5bでもって被検体8からの後方散乱X線
を検出し、そのデータによる後方散乱X線画像(下面側
検査画像とする)を画像再生装置9bで生成し表示する
。またコンベア6の切れ目上方に配したX線検出器7b
によって被検体8からの透過X線を検出し、そのデータ
による透過X線画像を画像再生装置で生成し表示する。
第2の系の光源系を配置する。つまりX線管1b、コリ
メータ3b、回転スリット4bによってコンベア6上の
被検体8をコンベア6の切れ目を通して下面側からフラ
イングスポット走査し、やはりコンベア6の下方に配し
たX線検出器5bでもって被検体8からの後方散乱X線
を検出し、そのデータによる後方散乱X線画像(下面側
検査画像とする)を画像再生装置9bで生成し表示する
。またコンベア6の切れ目上方に配したX線検出器7b
によって被検体8からの透過X線を検出し、そのデータ
による透過X線画像を画像再生装置で生成し表示する。
【0021】
【発明の効果】(第1の発明) X線光源系が1つで
被検体からの前方散乱X線、透過X線、後方散乱X線を
それぞれ検出して3種の画像を表示するものにおいて、
前方散乱X線データを透過X線データによって補正する
ので、前方散乱X線画像の質が向上し、コンパクトな装
置構成で両面検査を良好に行える。
被検体からの前方散乱X線、透過X線、後方散乱X線を
それぞれ検出して3種の画像を表示するものにおいて、
前方散乱X線データを透過X線データによって補正する
ので、前方散乱X線画像の質が向上し、コンパクトな装
置構成で両面検査を良好に行える。
【0022】(第2の発明) 被検体の上面側から走
査する系と下面側から走査する系の2つを設けているの
で、装置の左右方向の設置スペースは非常に小さくなり
、かつ高精度な両面検査を行うことができる。
査する系と下面側から走査する系の2つを設けているの
で、装置の左右方向の設置スペースは非常に小さくなり
、かつ高精度な両面検査を行うことができる。
【図1】従来例と第1の発明に共通するX線光学系の斜
視図。
視図。
【図2】第2の従来例のX線光学系の斜視図。
【図3】第1の発明のデータ処理系の実施例のブロック
図。
図。
【図4】図3における重み関数アンプの特性図。
【図5】第2の発明の実施例を示す斜視図。
1,1a,1b X線管
2 X線ビーム
3,3a,3b コリメータ
4,4a,4b 回転スリット
5,5a,5b 後方散乱X線検出器6 コンベア
7,7b 透過X線検出器
8 被検体
9a,9b,9c 画像再生装置
11 前方散乱X線検出器
Claims (2)
- 【請求項1】 搬送される被検体を一側方からX線で
走査し、被検体からの後方散乱X線、透過X線、前方散
乱X線をそれぞれ検出して、それぞれの画像を生成して
表示する装置において、透過X線データによって前方散
乱X線データを補正し、その補正されたデータによる前
方散乱X線画像を表示することを特徴とするX線検査装
置。 - 【請求項2】 搬送される被検体を上方からX線で照
射し、その後方散乱X線を検出して画像を生成・表示す
る第1の系と、被検体を下方からX線で走査し、被検体
からの後方散乱X線および透過X線をそれぞれ検出して
、それぞれの画像を生成・表示する第2の系とより構成
されるX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3018819A JPH04258784A (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3018819A JPH04258784A (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | X線検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04258784A true JPH04258784A (ja) | 1992-09-14 |
Family
ID=11982177
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3018819A Pending JPH04258784A (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04258784A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011007759A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Scienergy Co Ltd | 低エネルギーx線画像形成装置 |
JP2012513023A (ja) * | 2008-12-19 | 2012-06-07 | クロメック リミテッド | 材料の特性評価のための装置及び方法 |
-
1991
- 1991-02-12 JP JP3018819A patent/JPH04258784A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012513023A (ja) * | 2008-12-19 | 2012-06-07 | クロメック リミテッド | 材料の特性評価のための装置及び方法 |
US8781072B2 (en) | 2008-12-19 | 2014-07-15 | Kromek Limited | Apparatus and method for characterisation of materials |
JP2011007759A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Scienergy Co Ltd | 低エネルギーx線画像形成装置 |
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