JP2011007759A - 低エネルギーx線画像形成装置 - Google Patents
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 36
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 15
- 239000013076 target substance Substances 0.000 claims description 11
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 8
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 4
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 18
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 6
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000002537 cosmetic Substances 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】X線源10から20keV未満の低エネルギーX線を被写体100に照射し、透過する低エネルギーX線をガス電子増幅器12で電子に変換して増幅し、電子検出器14で検出してX線画像形成装置16により被写体100の低エネルギーX線画像を形成する。この低エネルギーX線画像は、標準X線画像や可視画像と比較して、あるいは異物による低エネルギーX線の吸収端を検出することにより、印刷インクや金属その他の異物等のノイズを除去する。
【選択図】図1
Description
Claims (6)
- 20keV未満の低エネルギーX線を被写体に照射する低エネルギーX線照射手段と、
前記被写体を通過した低エネルギーX線に基づいて電子を発生させ、発生した電子数を増幅する電子増幅手段と、
前記電子増幅手段が増幅した電子数を検出する電子検出手段と、
前記電子検出手段の検出結果に基づいて前記被写体のX線画像を形成するX線画像形成手段と、
を備えることを特徴とする低エネルギーX線画像形成装置。 - 請求項1記載の低エネルギーX線画像形成装置において、前記X線画像形成手段は、予め取得した前記被写体の標準X線画像と前記被写体のX線画像との差分を求め、当該差分値からX線画像を形成することを特徴とする低エネルギーX線画像形成装置。
- 請求項1または請求項2記載の低エネルギーX線画像形成装置において、前記X線画像形成手段は、予め取得した検出対象物質のX線吸収端のデータに基づき前記電子検出手段の検出結果から前記検出対象物質を検出し、前記X線画像に前記検出対象物質の画像のみを残す補正を行うことを特徴とする低エネルギーX線画像形成装置。
- 請求項1記載の低エネルギーX線画像形成装置が、さらに前記被写体の可視画像を撮影する可視画像撮影手段を備え、前記X線画像形成手段は、予め取得した前記被写体の標準可視画像と前記可視画像撮影手段が撮影した可視画像とから被写体表面の異物を検出し、X線画像から前記表面異物の画像を除去することを特徴とする低エネルギーX線画像形成装置。
- 請求項4記載の低エネルギーX線画像形成装置において、前記X線画像形成手段は、前記表面異物の大きさ毎に予め求めた低エネルギーX線の減衰量に基づいてX線画像から前記表面異物を除去することを特徴とする低エネルギーX線画像形成装置。
- 請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の低エネルギーX線画像形成装置が、さらに、20keV以上の高エネルギーX線を被写体に照射する高エネルギーX線照射手段を備え、前記電子増幅手段と、電子検出手段と、X線画像形成手段とにより前記高エネルギーX線に基づくX線画像を形成し、前記高エネルギーX線照射手段と前記低エネルギーX線照射手段とが、互いに反対方向から前記被写体にX線を照射することを特徴とする低エネルギーX線画像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009154254A JP5558746B2 (ja) | 2009-06-29 | 2009-06-29 | X線画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009154254A JP5558746B2 (ja) | 2009-06-29 | 2009-06-29 | X線画像形成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011007759A true JP2011007759A (ja) | 2011-01-13 |
JP5558746B2 JP5558746B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=43564585
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009154254A Active JP5558746B2 (ja) | 2009-06-29 | 2009-06-29 | X線画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5558746B2 (ja) |
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