JPH04225514A - 投影露光装置及び方法、並びに素子製造方法 - Google Patents

投影露光装置及び方法、並びに素子製造方法

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JPH04225514A
JPH04225514A JP2408096A JP40809690A JPH04225514A JP H04225514 A JPH04225514 A JP H04225514A JP 2408096 A JP2408096 A JP 2408096A JP 40809690 A JP40809690 A JP 40809690A JP H04225514 A JPH04225514 A JP H04225514A
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積素子等の回
路パターン又は液晶素子のパターンの転写に使用される
投影型露光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体等の回路パターン形成には、一般
にフォトリソグラフ技術と呼ばれる工程が必要である。 この工程には通常、レチクル(マスク)パターンを半導
体ウェハ等の試料基板上に転写する方法が採用される。 試料基板上には感光性のフォトレジストが塗布されてお
り、照射光像、すなわちレチクルパターンの透明部分の
パターン形状に応じて、フォトレジストに回路パターン
が転写される。投影型露光装置では、レチクル上に描画
された転写すべき回路パターンが、投影光学系を介して
試料基板(ウェハ)上に投影、結像される。
【0003】また、レチクルを照明する為の照明光学系
中には、フライアイレンズ、ファイバーなどのオプチカ
ルインテグレーターが使用され、レチクル上に照射され
る照明光の強度分布が均一化される。その均一化を最適
に行なう為に、フライアイレンズを用いた場合、レチク
ル側焦点面とレチクル面とはほぼフーリエ変換の関係で
結ばれており、また、レチクル側焦点面と光源側焦点面
ともフーリエ変換の関係で結ばれている。従って、レチ
クルのパターン面と、フライアイレンズの光源側焦点面
(正確にはフライアイレンズの個々のレンズの光源側焦
点面)とは、結像関係(共役関係)で結ばれている。こ
の為レチクル上では、フライアイレンズの各エレメント
(2次光源像)からの照明光がそれぞれ加算(重畳)さ
れることで平均化され、レチクル上の照度均一性を良好
とすることが可能となっている。
【0004】従来の投影型露光装置では、上述のフライ
アイレンズ等のオプチカルインテグレーター入射面に入
射する照明光束の光量分布を、照明光学系の光軸を中心
とするほぼ円形内(あるいは矩形内)でほぼ一様になる
ようにしていた。図13は、上述の従来の投影光学系を
示し、レチクル16の、照明光束L130は、照明光学
系中のフライアイレンズ11,空間フィルター12、及
びコンデンサーレンズ15を介してレチクルパターン1
7を照射する。ここで、空間フィルター12はフライア
イレンズ11のレチクル側焦点面11b、すなわちレチ
クル16に対するフーリエ変換面(以後、瞳面と略す)
、もしくはその近傍に配置され、投影光学系の光軸AX
を中心としたほぼ円形領域の開口を有し、瞳面内にでき
る2次光源(面光源)像を円形に制限する。こうしてレ
チクル16のパターン17を通過した照明光は投影光学
系18を介してウェハ20のレジスト層に結像される。 ここで、光束を表す実線は1点から出た光の主光線を表
している。
【0005】このとき照明光学系(11,12,15)
の開口数と投影光学系18のレチクル側開口数の比、所
謂σ値は開口絞り(例えば空間フィルター12の開口径
)により決定され、その値は0.3〜0.6程度が一般
的である。照明光L130はレチクル16にパターニン
グされたパターン17により回折され、パターン17か
らは0次回折光D0 、+1次回折光DP 、−1次回
折光Dm が発生する。それぞれの回折光  (D0,
Dm ,DP )は投影光学系18により集光されウェ
ハ(試料基板)20上に干渉縞を発生させる。この干渉
縞がパターン17の像である。このとき0次回折光D0
 と±1次回折光DP ,Dm のなす角θ(レチクル
側)はsinθ=λ/P(λ:露光波長、P:パターン
ピッチ)により決まる。
【0006】パターンピッチが微細化するとsinθが
大きくなり、sinθが投影光学系18のレチクル側開
口数(NAR ) より大きくなると±1次回折光DP
 、Dm は投影光学系を透過できなくなる。このとき
ウェハ20上には0次回折光D0 のみしか到達せず干
渉縞は生じない。つまりsinθ>NAR となる場合
にはパターン17の像は得られず、パターン17をウェ
ハ20上に転写することができなくなってしまう。
【0007】以上のことから、今までの露光装置におい
ては、sinθ=λ/P≒NAR となるピッチPは次
式で与えられていた。P≒λ/NAR (1)最小パタ
ーンサイズはピッチPの半分であるから、最小パターン
サイズは0.5・λ/NAR 程度となるが、実際のフ
ォトリソグラフィーにおいてはウェハの湾曲、プロセス
によるウェハの段差等の影響、又はフォトレジスト自体
の厚さの為に、ある程度の焦点深度が必要となる。この
為、実用的な最小解像パターンサイズは、k・λ/NA
として表される。ここでkはプロセス係数と呼ばれ0.
6〜0.8程度となる。レチクル側開口数NAR とウ
ェハ側開口数NAW との比は、投影光学系の結像倍率
と同じであるので、レチクル上における最小解像パター
ンサイズはk・λ/NAR 、ウェハ上の最小パターン
サイズは、k・λ/NAW =k・λ/B・NAR (
ただしBは結像倍率(縮小率))となる。
【0008】従って、より微細なパターンを転写する為
には、より短い波長の露光光源を使用するか、あるいは
より開口数の大きな投影光学系を使用するかを選択する
必要があった。もちろん、波長と開口数の両方を最適化
する努力も考えられる。また、レチクルの回路パターン
の透過部分のうち、特定の部分からの透過光の位相を、
他の透過部分からの透過光の位相よりπだけずらす、い
わゆる位相シフトレチクルが特公昭62−50811号
公報等で提案されている。この位相シフトレチクルを使
用すると、従来よりも微細なパターンの転写が可能とな
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の露
光装置においては、照明光源を現在より短波長化(例え
ば200nm以下)することは、透過光学部材として使
用可能な適当な光学材料が存在しない等の理由により現
時点では困難である。また投影光学系の開口数は、現状
でもすでに理論的限界に近く、これ以上の大開口化はほ
ぼ望めない状態である。
【0010】また、もし現状以上の大開口化が可能であ
るとしても±λ/2NA2 で表わされる焦点深度は開
口数の増加に伴なって急激に減少し、実使用に必要な焦
点深度がますます少なくなるという問題が顕著になって
くる。一方位相シフトレチクルについては、その製造工
程が複雑になる分コストも高く、また検査及び修正方法
も未だ確立されていないなど、多くの問題が残されてい
る。
【0011】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
で、通常のレチクルを使用しても、高解像度かつ大焦点
深度が得られる投影型露光装置の実現を目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の投影型露光装置
に於ては、原理的に図12に示すように構成される。図
12において従来と同じ部材には同一の符号をつけてあ
る。図12において、フライアイレンズ(11A,11
B)  は、そのレチクル側焦点面11bがレチクル1
6上の回路パターン(レチクルパターン)17に対して
ほぼフーリエ変換面の位置(投影レンズ18の瞳面19
と共役な位置)となる様に配置され、かつ、上記のフラ
イアイレンズ(11A,11B)は、複数のフライアイ
レンズ群に分散して配列される。また、フライアイレン
ズ11A,11Bのレチクル側焦点面11bにおける照
明光量分布を、上記複数のフライアイレンズ群11A,
11Bの個々のフライアイレンズ位置以外ではほぼ零と
するために、フライアイレンズの光源側に遮光部材10
を設ける。このためフライアイレンズ11A,11Bの
レチクル側焦点面11bにおける照明光量分布は各フラ
イアイレンズ群11A、11Bの位置でのみ存在し、そ
れ以外ではほぼ零となる。
【0013】フライアイレンズ群11A,11Bのレチ
クル側焦点面11bはレチクルパターン17に対するフ
ーリエ変換面にほぼ等しいので、フライアイレンズ群1
1A,11Bのレチクル側焦点面11bでの光量分布(
光束の位置座標)は、レチクルパターン17に対する照
明光束の入射角度ψに対応することになる。従って、フ
ライアイレンズ群11A、11Bの個々の位置(光軸に
垂直な面内での位置)に応じて、レチクルパターン17
に入射する照明光束の入射角を調整することができる。
【0014】ここで、フライアイレンズ群11A,11
Bは光軸AXと対称に配置するのが望ましく、また各フ
ライアイレンズ群は少なくとも1つ以上のレンズエレメ
ントで構成される。さらに本発明に於ては上記フライア
イレンズ群11A、11Bをそれぞれ独立に、光軸と垂
直な面内方向に可動とする構成としたため、個々のフラ
イアイレンズ群をそれぞれ移動、位置調整することによ
り、レチクル16に入射するそれぞれの照射光束(複数
本)の入射角度を任意に制御することが可能である。
【0015】
【作用】レチクル(マスク)上に描画された回路パター
ン17は、一般に周期的なパターンを多く含んでいる。 従って1つのフライアイレンズ群11Aからの照明光が
照射されたレチクルパターン17からは0次回折光成分
D0 及び±1次回折光成分DP 、Dm 及びより高
次の回折光成分が、パターンの微細度に応じた方向に発
生する。
【0016】このとき、照明光束(主光線)が、傾いた
角度でレチクル16に入射するから、発生した各次数の
回折光成分も、垂直に照明された場合に比べ、傾き(角
度ずれ)をもってレチクルパターン17から発生する。 図12中の照明光L120は、光軸に対してψだけ傾い
てレチクル16に入射する。照明光L120はレチクル
パターン17により回折され、光軸AXに対してψだけ
傾いた方向に進む0次回折光D0 、0次回折光に対し
てθP だけ傾いた+1次回折光DP 、及び0次回折
光D0 に対してθm だけ傾いて進む−1次回折光D
m を発生する。しかしながら、照明光L120は両側
テレセントリックな投影光学系18の光軸AXに対して
角度ψだけ傾いてレチクルパターンに入射するので、0
次回折光D0 もまた投影光学系の光軸AXに対して角
度ψだけ傾いた方向に進行する。
【0017】従って、+1次光DP は光軸AXに対し
てθP +ψの方向に進行し、−1次回折光Dm は光
軸AXに対してθm −ψの方向に進行する。このとき
回折角θP 、θm はそれぞれ sin(θP +ψ)− sinψ=λ/P  (2)
sin(θm −ψ)+ sinψ=λ/P  (3)
である。
【0018】ここでは、+1次回折光DP 、−1次回
折光Dm の両方が投影光学系18の瞳19を透過して
いるものとする。レチクルパターン17の微細化に伴っ
て回折角が増大すると先ず角度θP +ψの方向に進行
する+1次回折光DP が投影光学系18の瞳19を透
過できなくなる。すなわちsin(θP +ψ)>NA
R の関係になってくる。しかし照明光L120が光軸
AXに対して傾いて入射している為、このときの回折角
でも−1次回折光Dm は、投影光学系18に入射可能
となる。すなわちsin(θm −ψ)<NAR の関
係になる。
【0019】従って、ウェハ20上には0次回折光D0
 と−1次回折光Dm の2光束による干渉縞が生じる
。この干渉縞はレチクルパターン17の像であり、レチ
クルパターン17が1:1のラインアンドスペースの時
、約90%のコントラストとなってウェハ20上に塗布
されたレジストに、レチクルパターン17の像をパター
ニングすることが可能となる。
【0020】このときの解像限界は、 sin(θm −ψ)=NAR   (4)となるとき
であり、従って NAR +sinψ=λ/P P=λ/(NAR +sinψ)  (5)が転写可能
な最小パターンのレチクル側でのピッチである。
【0021】一例として今sinψを0.5×NAR 
程度に定めるとすれば、転写可能なレチクル上のパター
ンの最小ピッチは となる。
【0022】一方、図13に示したように、照明光の瞳
19上での分布が投影光学系18の光軸AXを中心とす
る円形領域内である従来の露光装置の場合、解像限界は
(1)式に示したようにP≒λ/NAR であった。従
って、従来の露光装置より高い解像度が実現できること
がわかる。次に、レチクルパターンに対して特定の入射
方向と入射角で露光光を照射して、0次回折光成分と1
次回折光成分とを用いてウェハ上に結像パターンを形成
方法によって、焦点深度も大きくなる理由について説明
する。
【0023】図12のようにウェハ20が投影光学系1
8の焦点位置(最良結像面)に一致している場合には、
レチクルパターン17中の1点を出てウェハ20上の一
点に達する各回折光は、投影光学系18のどの部分を通
るものであってもすべて等しい光路長を有する。このた
め従来のように0次回折光成分が投影光学系18の瞳面
19のほぼ中心(光軸近傍)を貫通する場合でも、0次
回折光成分とその他の回折光成分とで光路長は相等しく
、相互の波面収差も零である。しかし、ウェハ20が投
影光学系18の焦点位置に一致していないデフォーカス
状態の場合、斜めに入射する高次の回折光の光路長は光
軸近傍を通る0次回折光に対して焦点前方(投影光学系
18から遠ざかる方)では短く、焦点後方(投影光学系
18に近づく方)では長くなりその差は入射角の差に応
じたものとなる。従って、0次、1次、…の各回折光は
相互に波面収差を形成して焦点位置の前後におけるボケ
を生じることとなる。
【0024】前述のデフォーカスによる波面収差は、ウ
ェハ20の焦点位置からのずれ量をΔF、各回折光が−
に入射するときの入射角θw の正弦をr(r=sin
θw )とすると、ΔFr2 /2で与えられる量であ
る。 (このときrは各回折光の、瞳面19での光軸AXから
の距離を表わす。従来の図13に示した投影型露光装置
では、0次回折光D0 は光軸AXの近傍を通るので、
r(0次)=0となり、一方±1次回折光DP 、Dm
 は、r(1次)=M・λ/Pとなる(Mは投影光学系
の倍率)。
【0025】従って、0次回折光D0 と±1次回折光
DP 、Dm のデフォーカスによる波面収差はΔF・
M2(λ/P)2/2となる。 一方、本発明における投影型露光装置では、図12に示
すように0次回折光成分D0 は光軸AXから角度ψだ
け傾いた方向に発生するから、瞳面19における0次回
折光成分の光軸AXからの距離はr(0次)=M・si
nψである。
【0026】一方、−1次回折光成分Dm の瞳面にお
ける光軸からの距離はr(−1次)=M・sin(θm
 −ψ)となる。そしてこのとき、sinψ=sin(
θm −ψ)となれば、0次回折光成分D0 と−1次
回折光成分Dm のデフォーカスによる相対的な波面収
差は零となり、ウェハ20が焦点位置より光軸方向に若
干ずれてもパターン17の像ボケは従来程大きく生じな
いことになる。すなわち、焦点深度が増大することにな
る。また、(3)式のように、sin(θm −ψ)+
sinψ=λ/Pであるから、照明光束L120のレチ
クル16への入射角ψが、ピッチPのパターンに対して
、sinψ=λ/2Pの関係にすれば焦点深度をきわめ
て増大することが可能である。
【0027】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例による投影型露
光装置(ステッパー)を示し、フライアイレンズ群11
A、11Bの夫々の光源側焦点面11aに照明光の光量
分布を集中せしめる光学部材(本発明のインプット光学
系の一部)として、回折格子状パターン5を設けるよう
にした。
【0028】水銀ランプ1より発生した照明光束は、楕
円鏡2の第2焦点f0 に集光した後、ミラー3、リレ
ー系等のレンズ系4を介して回折格子状パターン5に照
射される。このときの照明方法は、ケーラー照明法であ
ってもクリチカル照明であっても良いが、強い光量を得
るためにはクリチカル照明法の方が望ましい。回折格子
状パターン5から発生した回折光は、リレーレンズ9に
よりフライアイレンズ群11A、11Bの夫々に集中し
て入射する。このとき、フライアイレンズ群11A、1
1Bの光源側焦点面11aと、回折格子状パターン5と
は、リレーレンズ9を介して、ほぼフーリエ変換の関係
となっている。尚、図1では、回折格子状パターン5へ
の照明光を平行光束として図示したが、実際は発散光束
となっているため、フライアイレンズ群11A,11B
への入射光束はある大きさ(太さ)を持っている。
【0029】一方、フライアイレンズ群11A、11B
のレチクル側焦点面11bは、レチクルパターン17の
フーリエ変換面(瞳共役面)とほぼ一致する様に、光軸
AXと垂直な面内方向に配置されている。また、個々の
フライアイレンズ群11A、11Bは光軸AXと垂直な
面内方向にそれぞれ独立に可動であり、かつ、可動なら
しめる可動部材(本発明の位置調整部材)に保持されて
いるが、その詳細は後述する。
【0030】個々のフライアイレンズ群11A、11B
は同一の形状、同一の材質(屈折率)のものであること
が望ましい。また図1に示した個々のフライアイレンズ
群11A、11Bの各レンズエレメントは、両凸レンズ
とし、かつ光源側焦点面11aと入射面、レチクル側焦
点面11bと射出面がそれぞれ一致する場合の例であっ
たが、フライアイのレンズエレメントはこの関係を厳密
に満たさなくても良く、また平凸レンズや、凸平レンズ
或いは平凹レンズであってもよい。
【0031】尚、フライアイレンズ群の光源側焦点面1
1aと、レチクル側焦点面11bとは当然ながらフーリ
エ変換の関係である。従って図1の例の場合、フライア
イレンズ群のレチクル側焦点面11b、すなわちフライ
アイレンズ群11A,11Bの射出面は、回折格子状パ
ターン5と、結像関係(共役)になっている。さて、フ
ライアイレンズ群11A,11Bのレチクル側焦点面1
1bより射出される光束は、コンデンサーレンズ13、
15、ミラー14を介して、レチクル16を均一な照度
分布で照明する。本実施例では、フライアイレンズ群1
1A,11Bの射出側に遮光部材12を配置し、回折格
子状パターン5からの0次回折光等をカットする。遮光
部材12はフライアイレンズ群に合わせて開口部をくり
抜いた金属板、あるいはガラス、石英基板等に金属等の
不透明物質がパターニングされたものである。遮光部材
12の開口部は、それぞれフライアイレンズ群11A、
11Bの各位置に対応している。この為、フライアイレ
ンズ群11A、11Bのレチクル側焦点面11b近傍に
おける照明光量分布をそれぞれのフライアイレンズ群1
1A、11Bの位置以外では零とすることができる。
【0032】この為レチクルパターン17に照明される
照明光は、各フライアイレンズ群11A、11Bより射
出される光束(2次光源像からの光束)のみとなり、従
って、レチクルパターン17への入射角も特定の入射角
(複数)を持つ光束(複数)のみに制限される。尚、実
施例においては、フライアイレンズ群11A、11Bは
、それぞれ可動であるから、遮光部材12の開口部もこ
れに応じて可動であるか、或いは遮光部材12自体が交
換できなければならない(遮光部材12については後述
する)。
【0033】こうして照明されたレチクル16上のレチ
クルパターン17から発生した回折光は、図12で説明
したのと同様に、テレセントリックな投影光学系18に
より集光、結像され、ウェハ20上にレチクルパターン
17の像が転写される。前述の回折格子状パターン5を
使って照明光束を回折させて、その回折光をフライアイ
レンズ群11A,11Bの光源側焦点面内の特定の位置
(フライアイレンズ群)に集中させる際、その集中位置
は、回折格子状パターン5のピッチや方向性によって変
化する。従って、各フライアイレンズ11A、11Bの
位置に照明光を集中させるべく、回折格子状パターン5
のピッチや方向性を決定する。
【0034】また、前述の如く、フライアイレンズ11
のレチクル側焦点面11bには回折格子状パターン5の
像ができており、かつ、レチクルパターン面17と、フ
ライアイレンズ群11A,11Bのレチクル側焦点面1
1bとは、フーリエ変換面の関係となっているので、レ
チクル16上での照明強度分布は、回折格子状パターン
5の欠陥や、ゴミ等により不均一化されることがない。 また、回折格子状パターン5そのものがレチクル16に
結像して照度均一性を劣化させることもない。回折格子
状パターン5は、透過性の基板、例えばガラス基板の表
面に、Cr等の遮光膜がパターニングさせたものであっ
ても良いし、SiO2 等の誘電体膜がパターニングさ
れた、いわゆる位相グレーティングであってよい。位相
グレーティングの場合、0次回折光の発生を押さえるこ
とができる。
【0035】また、回折格子状パターン5は透過性のパ
ターンのみでなく、反射性のパターンであっても良い。 例えばガラス等の平面反射鏡の表面に、高反射率膜、す
なわちAl等の金属膜や、誘電体多層膜を回折格子状に
パターニングしたものでも良く、また、反射光に位相差
を与えるための段差が回折格子状にパターニングされた
高反射率鏡であっても良い。
【0036】回折格子状パターン5が反射性のものであ
る場合には図2に示す様に、反射性回折格子状パターン
5Aにリレーレンズ系4からの照明光束を照射し、そこ
で反射回折された回折光をリレーレンズ9を介してフラ
イアイレンズ群11A、11B近傍に集中させればよい
。なお、個々のフライアイレンズ群11A、11Bが移
動した場合にもそれぞれのフライアイレンズ11A、1
1B近傍に照明光を集中できるように、回折格子状パタ
ーン5又は5Aはピッチの異なるものに交換可能である
ものとする。また、回折格子状パターン5又は5Aは光
軸AXと垂直な面内で任意の方向に回転可能であっても
よい。
【0037】このようにすると、レチクルパターン17
中のラインアンドスペースパターンのピッチ方向がX,
Y方向と異なる場合にも対応できる。またリレーレンズ
9を複数枚のレンズより成るズームレンズ系(アフォー
カルズームエキスパンダ等)とし、焦点距離を変えるこ
とにより集光位置を変えることもできる。ただし、この
ときは回折格子状パターン5又は5Aと、フライアイレ
ンズ群11A,11Bの光源側焦点面11aとがほぼフ
ーリエ変換の関係になることをくずさないようにする。
【0038】ところで、図1には装置を統括制御する主
制御系50と、レチクル16が投影光学系18の直上に
搬送される途中でレチクルパターン17の脇に形成され
た名称を表すバーコードBCを読み取るバーコードリー
ダ52と、オペレータからのコマンドやデータを入力す
るキーボード54と、フライアイレンズ群11A,11
Bを動かす可動部材の駆動系(モータ,ギャトレン等)
56が設けられている。主制御系50内には、このステ
ッパーで扱うべき複数枚のレチクルの名称と、各名称に
対応したステッパーの動作パラメータとが予め登録され
ている。そして、主制御系50はバーコードリーダ52
がレチクルバーコードBCを読み取ると、その名称に対
応した動作パラメータの1つとして、予め登録されてい
るフライアイレンズ群11A,11Bの移動位置(瞳共
役面内の位置)の情報を、駆動系56に出力する。これ
によって各フライアイレンズ群11A,11Bは第12
図で説明したように位置調整される。以上の動作はキー
ボード54からオペレータがコマンドとデータを主制御
系50へ直接入力することによっても実行できる。
【0039】以上、第1の実施例について説明したが、
フライアイレンズ群の光源側焦点面での光量分布を、個
々のフライアイレンズ位置近傍に集中させる光学部材は
、回折格子状パターン5,又は5Aのみには限定されな
い。前述の図2に示した、反射性の回折格子状パターン
5Aの代わりに可動平面鏡6を図3のように配置し、か
つ平面鏡6を回転可動ならしめるモーター等の駆動部材
6aを設ける。そして駆動部材6aにより、平面鏡6を
回転又は振動させれば、フライアイレンズ群11A,1
1Bの光源側焦点面(入射面)11a内での光量分布を
時間によって変更することができる。露光動作中に平面
鏡6を適当な複数の角度位置に回動させれば、フライア
イレンズ群11A,11Bの光源側焦点面11a内での
光量分布を複数のフライアイレンズ群のうちいずれか1
つのフライアイレンズ群の位置近傍のみに集中させるこ
とができる。なお、このような可動反射鏡6を使う場合
はリレーレンズ系9を省略してしまっても良い。
【0040】さらに、個々のフライアイレンズ群11A
、11Bが移動した場合には、前述の平面鏡6の複数の
角度位置の角度座標を変更し、新しい位置のフライアイ
レンズ群の近傍に反射光束を集中させればよい。ところ
で、図3中に示した遮光部材12はフライアイレンズ群
11A,11Bの入射面側に設けたが、図1と同様に射
出面側に設けてもよい。
【0041】図4は、フライアイレンズ群の夫々に、照
明光束を集光させる光学部材として、光ファイバー束7
を用いた場合の略図である。リレーレンズ系4より光源
側、及びフライアイレンズ群11よりレチクル側は図1
と同じ構成であるとする。光源から発生し、リレーレン
ズ系4を透過した照明光は、光ファイバー束7の入射部
7aに所定の開口数(NA)に調整されて入射する。光
ファイバー束7は射出部7bに至る間に、フライアイレ
ンズ群の数に対応した複数の束に分割され、それぞれの
射出部7bは、フライアイレンズ群11A、11Bの光
源側焦点面11a近傍に各フライアイレンズ群と一体と
なるように配置される。またこのとき、光ファイバー束
7の各射出部7bとフライアイレンズ群11の間に、そ
れぞれレンズ(例えばフィールドレンズ)を設けても良
いし、また、そのレンズにより、フライアイレンズ群1
1の光源側焦点面11aと、光ファイバー射出部7bの
光射出面とをフーリエ変換の関係としても良い。
【0042】また、各射出部7b(又は射出部7bとフ
ライアイレンズ群11bとの間のレンズ)は、モーター
等の駆動部材により、光軸と垂直な面内で一次元,又は
二次元に可動とすれば、個々のフライアイレンズ群11
A、11Bが移動した場合にも、照明光束を移動後の各
フライアイレンズ群の位置近傍に集中させることができ
る。
【0043】図5は各フライアイレンズ群に照明光束を
集中させる光学部材として、複数の屈折面を有するプリ
ズム8を用いた例である。図5中のプリズム8は光軸A
Xを境界として2つの屈折面に分割されており、光軸A
Xより上方に入射した照明光は上方へ屈折し、光軸AX
より下方に入射した照明光は下方へ屈折させる。従って
、フライアイレンズ群11A、11Bの光源側焦点面1
1a上で、プリズム8の屈折角に応じて、個々のフライ
アイレンズ群11A、11B近傍に照明光を集中させる
ことができる。
【0044】プリズム8の屈折面の分割数は2面に限っ
たものではなく、フライアイレンズ群の数に応じて何面
に分割されていてもよい。また、分割される位置は光軸
AXと対称な位置にはこだわらなくとも良い。プリズム
8を交換することにより、個々のフライアイレンズ群1
1A、11Bが移動した場合にも、それぞれのフライア
イレンズ群11A、11Bの位置に照明光を適確に集中
させることができる。
【0045】またこのときのプリズム8はウォラストン
プリズム等の偏光性の光分割器であっても良い。ただし
この場合、分割された光束同志の偏光方向が異なるため
、ウェハ20のレジストの偏光特性を考慮して、その偏
光特性は1方向に揃えた方がよい。また、プリズム8の
代わりに複数の角度の異なる反射面を持つ反射鏡を図3
の様に配置すれば、駆動部材6aは不用となる。装置内
に、このプリズム等の交換機能を有していると良いこと
は言うまでもない。また、このようなプリズム等を使う
場合も、リレーレンズ系9を省略することができる。
【0046】図6は各フライアイレンズ群へ照明光束を
集中させる光学部材として、複数のミラー8a、8b、
8c、8dを用いた例である。リレーレンズ系4を透過
した照明光は、1次ミラー8b、8cにより2方向に分
離されるように反射され、2次ミラー8a、8dに導か
れ、再び反射してフライアイレンズ群11の光源側焦点
面11aに達する。各ミラー8a、8b、8c、8dに
位置調整機構及び光軸AXの回りの回転角度調整機構を
設けておけば、個々のフライアイレンズ群11A、11
Bの移動後も、照明光束をそれぞれのフライアイレンズ
11A、11Bの近傍に集中させることができる。また
、各ミラー8a、8b、8c、8dは平面ミラーであっ
ても凸面あるいは凹面ミラーであっても良い。
【0047】また、2次ミラー8a、8dとフライアイ
レンズ群11の夫々の間に、レンズを設けても良い。 
 図6では1次ミラー8b、8c、2次ミラー8a、8
d共に2コずつとしたが、数量はこれに限定されるもの
ではなく、フライアイレンズ群の数によって適宜ミラー
を配置すればよい。以上の各実施例に於ては、フライア
イレンズ群をすべて2個としたが、フライアイレンズ群
の個数は3個以上であってももちろん良い。また、個々
のフライアイレンズ群に照明光を集中させる光学部材に
ついても、主に2ヶ所への光の集中を述べたが、フライ
アイレンズ群の数に応じて複数の位置へ照明光を集中せ
しめることは言うまでもない。以上の実施例はすべて任
意の位置(フライアイレンズ群の位置に対応する)への
照明光の集中が可能である。また、各フライアイレンズ
群へ照明光を集中させる光学部材は、実施例に挙げた型
式にはとどまらず、他のいかなるものであっても良い。
【0048】また遮光部材12は前述の図12の如く、
フライアイレンズの光源側焦点面11a近傍に設けられ
た遮光部材10に置換してもよいし、図1から図5に示
される各実施例と、図12に示した遮光部材10を組み
合わせて使用しても良い。また遮光部材10,12は、
フライアイレンズ群のレチクル側焦点面11bや、光源
側焦点面11aに限らず、任意の位置に配置することが
できるが、例えば、上記2つの焦点面11a,11bの
間などは好適な場所である。
【0049】また、個々のフライアイレンズ群11A、
11Bの近傍のみへ照明光を集中させる光学部材は、レ
チクル16を照明する照明光量の損失を防止する為のも
のであり、本発明の投影型露光装置の特徴である高解像
度及び大焦点深度の効果を得るための構成とは直接関連
するものではない。従って、上記光学部材は位置調整後
の各フライアイレンズ群の夫々に照明光をフラッドに入
射させるだけの大きな径のレンズ系だけでもよい。
【0050】図7は本発明の他の実施例による投影型露
光装置の構成を示す図であって、ミラー14、コンデン
サーレンズ15、レチクル16、投影光学系18は図1
と同様である。またフライアイレンズ群11A、11B
より光源側は前述の図1から図5、あるいは図12に示
した構成のいずれかとなっている。フライアイレンズ群
11A、11Bのレチクル側焦点面11b近傍に任意の
開口部(透過部)を有する遮光部材12aが設けられ、
フライアイレンズ群11A、11Bから射出される照明
光束を制限する。
【0051】リレーレンズ13aに対するフライアイレ
ンズ群11のレチクル側焦点面11bのフーリエ変換は
レチクルパターン17と共役面となるので、ここに可変
視野絞り(レチクルブラインド)13dを設ける。そし
て再びリレーレンズ13bによりフーリエ変換され、フ
ライアイレンズ群11のレチクル側焦点面11bの共役
面(フーリエ面)12bに到る。先の遮光部材12aは
このフーリエ面12bに設けても良い。
【0052】各フライアイレンズ群11A,11Bから
の照明光束はさらにコンデンサーレンズ13C、15、
ミラー14によってレチクル16に導かれる。なお、各
フライアイレンズ群11A,11Bに入射する照明光束
が有効にそこのみに集中できる系であれば、遮光部材を
12a、または12bの位置に設けなくても全く問題な
い。この場合でも、視野絞り(レチクルブラインド)1
3dの使用が可能である。
【0053】以上のいずれの実施例においても、遮光部
材10,12,12aの開口部1つあたりの径(又はフ
ライアイレンズ群の夫々の射出端面積)は、その開口部
を透過する照明光束のレチクル16に対するの開口数と
投影光学系18のレチクル側開口数(NAR )との比
、いわゆるσ値が0.1〜0.3程度になるように設定
することが望ましい。σ値が0.1より小さいと、転写
像のパターン忠実度が劣化し、0.3より大きいと、解
像度向上や、焦点深度増大の効果が弱くなってしまう。
【0054】また、フライアイレンズ群の1つによって
決まるσ値の条件(0.1<σ<0.3程度)を満たす
為に、個々のフライアイレンズ群11A、11Bの射出
端面積の大きさ、(光軸と垂直な面内方向の大きさ)を
、照明光束(射出光束)にあわせて決定しても良い。 また、各フライアイレンズ群11A、11Bのレチクル
側焦点面11b近傍に、それぞれ可変開口絞り(遮光部
材12と同等のもの)を設けて、各フライアイレンズ群
からの光束の開口数を可変として、σ値を変えても良い
。それとあわせて、投影光学系18内の瞳(入射瞳、も
しくは射出瞳)19近傍に可変開口絞り(NA制限絞り
)を設けて、投影系としてのNAもσ値をより最適化す
ることもできる。
【0055】また、各フライアイレンズ群に入射する光
束は、各フライアイレンズ群の入射端面よりもある程度
外側まで広く照明されており、かつ、各フライアイレン
ズ群に入射する光量分布が均一であると、レチクルパタ
ーン面での照度均一性を一層高められるので好ましい。 次に、フライアイレンズ群を可動する可動部の実施例を
図8及び図9を用いて説明する。
【0056】図8は可動部を光軸方向から見た図であり
、図9は光軸と垂直な方向から見た図である。複数のフ
ライアイレンズ群として図8では4個のフライアイレン
ズ群11A,11B,11C,11Dを光軸からほぼ等
距離に配置する。また、フライアイレンズ群11A,1
1B,11C,11Dの夫々は、図8に示したように3
2個のレンズエレメントで構成されるが、これに限定さ
れるものではなく、極端な場合1個のレンズエレメント
で構成されたフライアイレンズ群としてもよい。さて図
8、図9において、フライアイレンズ群11A、11B
、11C、11Dは治具80A、80B、80C、80
Dにより保持され、これら治具80A,80B,80C
,80Dはさらに支持棒70A、70B、70C、70
Dを介して可動部材71A、71B、71C、71Dに
より支持される。この支持棒70A,70B,70C,
70Dは可動部材71A、71B、71C、71Dに含
まれるモーター及びギア等の駆動素子により光軸方向に
伸縮可能となっている。また、可動部材71A、71B
、71C、71D自体も、固定ガイド72A、72B、
72C、72Dに沿って可動であり、従って個々のフラ
イアイレンズ群11A、11B、11C、11Dは光軸
と垂直な面内方向に、それぞれ独立に可動となっている
【0057】図8、及び図9に示したフライアイレンズ
群11A、11B、11C、11Dの各位置(光軸と垂
直な面内での位置)は、転写すべきレチクルパターンに
応じて決定(変更)するのが良い。この場合の位置決定
方法は作用の項で述べたとおり、各フライアイレンズ群
からの照明光束が転写すべきパターンの微細度(ピッチ
)に対して最適な解像度、及び焦点深度の向上効果を得
られるようにレチクルパターンに入射する位置(入射角
ψ)とすればよい。次に各フライアイレンズ群の位置決
定の具体例を、図10、図11(A)、(B)、(C)
、(D)を用いて説明する。図10はフライアイレンズ
群11A、11Bからレチクルパターン17までの部分
を模式的に表わす図であり、フライアイレンズ群11の
レチクル側焦点面11bが、レチクルパターン17のフ
ーリエ変換面12cと一致している。またこのとき両者
をフーリエ変換の関係とならしめるレンズ、またはレン
ズ群を、一枚のレンズ15として表わしてある。 さらに、レンズ15のフライアイレンズ側主点からフラ
イアイレンズ群11のレチクル側焦点面11bまでの距
離と、レンズ15のレチクル側主点からレチクルパター
ン17までの距離は共にfであるとする。
【0058】図11(A)、(C)は共にレチクルパタ
ーン17中に形成される一部分のパターンの例を表わす
図であり、図11(B)は図11(A)のレチクルパタ
ーンの場合に最適なフライアイレンズ群の中心のフーリ
エ変換面(又は投影光学系の瞳面)での位置を示し、図
11(D)は図11(C)のレチクルパターンの場合に
最適な各フライアイレンズ群の位置(最適な各フライア
イレンズ群の中心の位置)を表わす図である。
【0059】図11(A)は、いわゆる1次元ラインア
ンドスペースパターンであって、透過部と遮光部が等し
い幅でY方向に帯状に並び、それらがX方向にピッチP
で規則的に並んでいる。このとき、個々のフライアイレ
ンズ群の最適位置は図11(B)に示すようにフーリエ
変換面内に仮定したY方向の線分Lα上、及び線分Lβ
上の任意の位置となる。図11(B)はレチクルパター
ン17に対するフーリエ変換面12c(11b)を光軸
AX方向から見た図であり、かつ、面12c内の座標系
X,Yは、同一方向からレチクルパターン17を見た図
11(A)と同一にしてある。さて、図11(B)にお
いて光軸AXが通る中心Cから、各線分Lα、Lβまで
の距離α、βはα=βであり、λを露光波長としたとき
、α=β=f・(1/2)・(λ/P)に等しい。この
距離α,βをf・sinψと表わせれば、sinψ=λ
/2Pであり、これは作用の項で述べた数値と一致して
いる。従って各フライアイレンズ群の各中心(各フライ
アイレンズ群の夫々によって作られる2次光源像の光量
分布の各重心)位置が線分Lα、Lβ上にあれば図11
(A)に示す如きラインアンドスペースパターンに対し
て、各フライアイレンズからの照明光により発生する0
次回折光と±1次回折光のうちのどちらか一方との2つ
の回折光は、投影光学系瞳面19において光軸AXから
ほぼ等距離となる位置を通る。従って前述の如く、ライ
ンアンドスペースパターン(図11(A))に対する焦
点深度を最大とすることができ、かつ高解像度を得るこ
とができる。
【0060】次に図11(C)は、レチクルパターンが
いわゆる孤立スペースパターンである場合であり、かつ
、パターンのX方向(横方向)ピッチがPx、Y方向(
縦方向)ピッチがPyとなっている。図11(D)はこ
の場合の各フライアイレンズ群の最適位置を表わす図で
あり、図11(C)との位置、回転関係は図11(A)
,(B)の関係と同じである。図11(C)の如き、2
次元パターンに照明光が入射するとパターンの2次元方
向の周期性(X:Px、Y:Py)に応じた2次元方向
に回折光が発生する。図11(C)の如き2次元パター
ンにおいても回折光中の0次回折光と±1次回折光のう
ちのいずれか一方とが投影光学系瞳面19において光軸
AXからほぼ等距離となるようにすれば、焦点深度を最
大とすることができる。図11(C)のパターンではX
方向のピッチはPxであるから図11(D)に示す如く
、α=β=f・(1/2)・(λ/Px)となる線分L
α、Lβ上に各フライアイレンズ群の中心があれば、パ
ターンのX方向成分について焦点深度を最大とすること
ができる。同様に、γ=ε=f・(1/2)・(λ/P
y)となる線分Lγ、Lε上に各フライアイレンズ群の
中心があれば、パターンY方向成分について焦点深度を
最大とすることができる。
【0061】以上、図11(B)、又は(D)に示した
各位置に配置したフライアイレンズ群からの照明光束が
レチクルパターン17に入射すると、0次光回折光成分
D0 と、+1次回折光成分DR または−1次回折光
成分Dm のいずれか一方とが、投影光学系18内の瞳
面19では光軸AXからほぼ等距離となる光路を通る。 従って作用の項で述べたとおり、高解像及び大焦点深度
の投影型露光装置が実現できる。以上、レチクルパター
ン17として図11(A)、又は(C)に示した2例の
みを考えたが、他のパターンであってもその周期性(微
細度)に着目し、そのパターンからの+1次回折光成分
または−1次回折光成分のいずれか一方と0次回折光成
分との2光束が、投影光学系内の瞳面19では光軸AX
からほぼ等距離になる光路を通る様な位置に各フライア
イレンズ群の中心を配置すればよい。また図11(A)
、(C)のパターン例は、ライン部とスペース部の比(
デューティ比)が1:1のパターンであった為、発生す
る回折光中では±1次回折光が強くなる。このため、±
1次回折光のうちの一方と0次回折光との位置関係に着
目したが、パターンがデューティ比1:1から異なる場
合等では他の回折光、例えば±2次回折光のうちの一方
と0次回折光との位置関係が、投影光学系瞳面19にお
いて光軸AXからほぼ等距離となるようにしてもよい。
【0062】また、レチクルパターン17が図11(D
)の如く2次元の周期性パターンを含む場合、特定の1
つの0次回折光成分に着目したとき、投影光学系の瞳面
19上ではその1つの0次回折光成分を中心としてX方
向(第1方向)に分布する1次以上の高次回折光成分と
、Y方向(第2方向)に分布する1次以上の高次回折光
成分とが存在し得る。そこで、特定の1つの0次回折光
成分に対して2次元のパターンの結像を良好に行うもの
とすると、第1方向に分布する高次回折光成分の1つと
、第2方向に分布する高次回折光成分の1つと、特定の
0次回折光成分との3つが、瞳面19上で光軸AXから
ほぼ等距離に分布するように、特定の0次回折光成分(
1つのフライアイレンズ群)の位置を調節すればよい。 例えば、図11(D)中でフライアイレンズ中心位置を
点Pζ、Pη、Pκ、Pμのいずれかと一致させるとよ
い。点Pζ、Pη、Pκ、Pμはいずれも線分Lαまた
はLβ(X方向の周期性について最適な位置、すなわち
0次回折光とX方向の±1次回折光の一方とが投影光学
系瞳面19上で光軸からほぼ等距離となる位置)及び線
分Lγ、Lε(Y方向の周期性について最適な位置)の
交点であるためX方向、Y方向のいずれのパターン方向
についても最適な光源位置である。
【0063】なお、以上において2次元パターンとして
レチクル上の同一箇所に2次元の方向性を有するパター
ンを仮定したが、同一レチクルパターン中の異なる位置
に異なる方向性を有する複数のパターンが存在する場合
にも上記の方法を適用することが出来る。レチクル上の
パターンが複数の方向性又は微細度を有している場合、
フライアイレンズ群の最適位置は、上述の様にパターン
の各方向性及び微細度に対応したものとなるが、或いは
各最適位置の平均位置にフライアイレンズ群を配置して
もよい。また、この平均位置は、パターンの微細度や重
要度に応じた重みを加味した荷重平均としてもよい。
【0064】以上、複数のフライアイレンズ群の位置決
定の例を示したが、照明光束は、前述の光学部材(回折
格子状パターン、可動ミラー、プリズム或いはファイバ
ー等)により、各フライアイレンズ群の移動位置に対応
して集中させたが、この様な集中化のための光学部材は
設けなくても良い。また、各フライアイレンズ群を射出
した光束は、それぞれレチクルに対して傾いて入射する
。このときこれらの傾いた入射光束(複数)の光量重心
の方向がレチクルに対して垂直でないと、ウェハ20の
微小デフォーカス時に、転写像の位置がウェハ面内方向
にシフトするという問題が発生する。これを防止する為
に、各フライアイレンズ群からの照明光束(複数)の光
量重心の方向は、レチクルパターンと垂直、すなわち光
軸AXと平行である様にする。
【0065】つまり、各フライアイレンズ群に光軸(中
心線)を仮定したとき投影光学系18の光軸AXを基準
としたその光軸(中心線)のフーリエ変換面内での位置
ベクトルと、各フライアイレンズ群から射出される光量
との積のベクトル和が零になる様にすればよい。また、
より簡単な方法としては、フライアイレンズ群を2m個
(mは自然数)とし、そのうちのm個の位置を前述の最
適化方法(図12)により決定し、残るm個は前記m個
と光軸AXについて対称となる位置に配置すればよい。
【0066】さらに装置が、例えばn個(nは自然数)
のフライアイレンズ群を有している場合に、必要なフラ
イアイレンズ群の数がn個より少ないm個である場合、
残る(n−m)個のフライアイレンズ群は使用しなくて
良い。(n−m)個のフライアイレンズ群を使用しなく
する為には、(n−m)個のフライアイレンズ群の位置
に遮光部材10、又は12を設けておけばよい。またこ
のとき各フライアイレンズ群の位置に照明光を集中する
光学部材は、この(n−m)個のフライアイレンズへは
集中を行なわない様にしておくとよい。
【0067】遮光部材10、又は12は各フライアイレ
ンズ群の移動に応じて開口部の位置が可変であることが
望ましい。あるいは各フライアイレンズの位置に応じて
遮光部材10、12を交換とする機構を設け、かつ何種
類かの遮光部材を装置内に有していてもよい。また、図
9に示したとおり、各フライアイレンズ群11A、11
B、11C,11Dを保持する治具80A、80B、8
0C、80Dがそれぞれ遮光羽根81A、81Bを有し
ていると、遮光部材12の開口は、フライアイレンズ径
よりかなり大きくて良く、従って1つの遮光部材12で
、種々の各フライアイレンズ位置に対応できる。また、
各遮光羽根81A、81Bは、光軸方向にわずかずつず
れていると、各フライアイレンズ群の移動範囲に与える
制限が減少される。
【0068】以上の実施例に於て、光源は水銀ランプ1
を用いて説明したが、他の輝線ランプやレーザー(エキ
シマ等)、あるいは連続スペクトルの光源であっても良
い。また照明光学系中の光学部材の大部分をレンズとし
たが、ミラー(凹面鏡、凸面鏡)であっても良い。投影
光学系としては屈折系であっても、反射系であっても、
あるいは反射屈折系であってもよい。また、以上の実施
例においては両側テレセントリックな投影光学系を使用
したが片側テレセントリック系でも、非テレセントリッ
ク系でもよい。さらに、光源から発生する照明光のうち
、特定の波長の光のみを利用する為に、照明光学系中に
干渉フィルター等の単色化手段を設けてもよい。
【0069】また、フライアイレンズ群11A、11B
、11C、11Dの光源側焦点面11a近傍に、拡散板
や光ファイバー束等の光散乱部材を用いることで、照明
光の均一化を行なっても良い。あるいは本発明の実施例
で使用されたフライアイレンズ群11とは別に、さらに
フライアイレンズ(以後、別フライアイレンズ)等のオ
プチカルインテグレーターを用いて、照明光の均一化を
行なっても良い。このとき別フライアイレンズは、上記
フライアイレンズ群11の光源側焦点面11a近傍での
照明光量分布を可変とする光学部材、例えば図1,図2
に示した回折格子状パターン5、又は6よりも光源(ラ
ンプ)1側であることが望ましい。
【0070】さらに別フライアイレンズのレンズエレメ
ントの断面形状は正方形(矩形)よりも正六角形にする
のが望ましい。図14は本発明の各実施例に適用される
投影露光装置のウェハステージ周りの構成を示し、投影
光学系18のウェハ20上での投影視野領域内に向けて
斜めにビーム100Aを照射し、その反射ビーム100
Bを受光する斜入射式のオートフォーカスセンサーを設
ける。このフォーカスセンサーは、ウェハ20の表面と
投影光学系18の最良結像面との光軸AX方向のずれを
検出するもので、そのずれが零となるように、ウェハ2
0を載置するZステージ110のモータ112をサーボ
制御する。これによってZステージ110はXYステー
ジ114に対して上下方向(光軸方向)に微動し、常に
ベストフォーカス状態で露光が行なわれる。このような
フォーカス制御が可能な露光装置においては、そのZス
テージ110を露光動作中に光軸方向に制御された速度
特性で移動させることで、さらに見かけ上の焦点深度を
拡大させることができる。この手法は、投影光学系18
の像側(ウェハ側)がテレセントリックであれば、どの
ようなタイプのステッパーでも実現可能である。
【0071】図15(A)は、Zステージ110の露光
中の移動に伴ってレジスト層内に得られる光軸方向の光
量(dose)分布、或いは存在確率を表し、図15(
B)は図15(A)のような分布を得るためのZステー
ジ110の速度特性を表す。図15(A)、(B)とも
縦軸はZ(光軸)方向のウェハ位置を表し、図15(A
)の横軸は存在確率を表し,図15(B)の横軸はZス
テージ110の速度Vを表す。また同図中、位置Z0 
はベストフォーカス位置である。
【0072】ここでは位置Z0 から上下に投影光学系
18の理論的な焦点深度±ΔD0 fだけ離れた2つの
位置+Z1 ,−Z1 で存在確率をほぼ等しい極大値
にし、その間の位置+Z3 〜−Z3 の範囲では存在
確率を小さな値に押さえるようにした。そのために、Z
ステージ110は、照明系内部のシャッターの開放開始
時の位置−Z2 で、低い速度V1 で等速に上下へ移
動し、シャッターが全開になった直後に、高い速度V2
 まで加速する。速度V2 でZステージ110が等速
に上下移動している間、存在確率は低い値に押されられ
、位置+Z3 に達した時点でZステージ110は低い
速度V1 に向けて減速を始め、位置+Z1 で存在確
率が極大値になる。このときほぼ同時にシャッターの閉
成指令が出力され、位置+Z2 でシャッターが完全に
閉じる。
【0073】このように、ウェハ20のレジスト層に与
えられる露光量の光軸方向に関する光量分布(存在確率
)を焦点深度の幅(2・ΔD0 f)程度だけ離れた2
点で極大値となるように、Zステージ110の速度を制
御すると、レジスト層に形成されるパターンのコントラ
ストは若干低下するものの、光軸方向の広い範囲に渡っ
て一様な解像力が得られる。
【0074】以上の累進焦点露光方法は、本発明の各実
施例に示したような特別な照明方式を採用した投影露光
装置でも全く同じように使用することができ、見かけ上
の焦点深度は、本発明の照明方式によって得られる拡大
分と、累積焦点露光方式によって得られる拡大分とのほ
ぼ積に応じた量だけ拡大される。しかも特別な照明方式
を採用していることから、解像力そのものも高くなる。 例えば、従来の1/5縮小のi線ステッパー(投影レン
ズのNA0.42)に位相シフトレチクルを組み合わせ
て露光できる最小線幅は0.3〜0.35μm程度であ
り、焦点深度の拡大率は最大40%程度である。これに
対して本発明のような特別な照明方式を同じi線ステッ
パーに組み込んで、普通のレチクルで実験したところ、
最小線幅は0.25〜0.3μm程度が得られ、焦点深
度の拡大率も位相シフトレチクルの使用時と同程度に得
られた。
【0075】
【発明の効果】以上の様に本発明によれば、通常のマス
クを使用しながら、従来よりも高解像度、大焦点深度の
投影型露光装置を実現することが可能である。しかも本
発明によれば、すでに半導体生産現場で稼働中の投影型
露光装置の照明系部分を替えるだけでよく、稼働中の装
置の投影光学系をそのまま利用して,それまで以上の高
解像力化が可能となる。
【0076】さらに本発明では、照明光学系内のマスク
のフーリエ変換相当面に複数のフライアイレンズ群を互
いに分離して配置したため、それらフライアイレンズ群
を可動としても、マスク又は感光基板上での照明光の均
一性は大きく変動することがないといった利点もある。 また、本発明の各実施例に示したフライアイレンズ群へ
の照明光の集中化方式によれば、光源からの照明光量の
損失を最小とすることができるから、露光装置としての
スループットも極端に低下することがないといった効果
もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例による投影型露光装置の
構成を示す図である。
【図2】フライアイレンズ群への照明光の集中化の第1
の変形例を示す図である。
【図3】フライアイレンズ群への照明光の集中化の第2
の変形例を示す図である。
【図4】フライアイレンズ群への照明光の集中化の第3
の変形例を示す図である。
【図5】フライアイレンズ群への照明光の集中化の第4
の変形例を示す図である。
【図6】フライアイレンズ群への照明光の集中化の第5
の変形例を示す図である。
【図7】図1の装置にレチクルブラインドを組み込んだ
ときの照明系を示す図である。
【図8】4つの可動フライアイレンズ群の配置と、その
可動部材の構成を光軸方向からみた平面図である。
【図9】図8の構成を光軸と垂直な方向からみた図であ
る。
【図10】フライアイレンズ群から投影光学系までの光
路を模式的に表した図である。
【図11】(A)、(C)はマスク上に形成されたレチ
クルパターンの一例を示す平面図である。(B)、(D
)は(A)、(C)の夫々に対応した瞳共役面における
各フライアイレンズ群の配置を説明する図である。
【図12】本発明の原理を説明する図である。
【図13】従来の投影型露光装置の構成を示す図である
【図14】投影型露光装置のウェハステージ回りの構成
を示す図である。
【図15】ウェハステージのうちのZステージを用いて
累進焦点露光方法を実行する際の露光量の存在確率と、
Zステージの速度特性とを示すグラフである。
【符号の説明】
5  回折格子状パターン 9  レンズ系 11A,11B,11C,11D  フライアイレンズ
系10,12  遮光部材(空間フィルター)15  
主コンデンサーレンズ 16  レチクル 17  レチクルパターン 18  投影光学系 19  瞳 20  ウェハ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光源からの照明光をほぼ均一な強度分
    布に成形するとともに、該均一な照明光を周期性のパタ
    ーン部分を有するマスクに照射する照明光学系と、前記
    マスクのパターンの像を感光基板に結像投影する投影光
    学系と、前記感光基板の表面を前記投影光学系の結像面
    近傍に配置するように前記感光基板を保持するステージ
    とを備えた投影型露光装置において、前記照明光学系の
    光路中で、前記マスクのパターンのフーリエ変換相当面
    、もしくはその共役面の位置近傍に、互いに分離した2
    次光源像を形成する複数のフライアイレンズ群と;該複
    数のフライアイレンズ群の夫々の中心を、前記マスク上
    のパターンの周期性に応じて決まる量だけ、前記照明光
    学系、もしくは前記投影光学系の光軸に対して偏心した
    離散的な位置に設定する位置調整部材と;該位置調整部
    材によって設定された後の前記複数のフライアイレンズ
    群のうち、少なくとも2つのフライアイレンズ群に前記
    光源からの照明光を入射させるインプット光学系とを備
    えたことを特徴とする投影型露光装置。
  2. 【請求項2】  前記複数のフライアイレンズ群は2m
    (ただしm≧1)個で構成されるとともに、該2m個の
    フライアイレンズ群のうちm個のフライアイレンズ群の
    各中心は、前記マスクのパターンから発生する0次回折
    光成分と、該0次回折光成分に対して前記パターンの微
    細度に応じた角度で広がる±1次回折光成分のうちの少
    なくとも一方とが、前記投影光学系の瞳面で前記光軸か
    らほぼ等距離に分布するように、前記フーリエ変換相当
    面、あるいはその共役面内で偏心して配置するとともに
    、残りのm個のフライアイレンズ群の各中心は、先のm
    個のフライアイレンズ群の各中心と前記光軸を挟んでほ
    ぼ対称に配置することを特徴とする請求項1に記載の装
    置。
  3. 【請求項3】  前記少なくとも2つのフライアイレン
    ズ群のうち任意の1つのフライアイレンズ群からの照明
    光の照射によって前記マスクから発生する回折光に着目
    したとき、前記投影光学系の瞳面上に分布する0次回折
    光成分と、前記マスクのパターンの2次元的な周期性構
    造に依存して前記0次回折光成分を中心に前記瞳面上で
    第1方向に分布する1次以上の高次回折光成分の1つと
    、前記瞳面上で前記0次回折光成分を中心に前記第1方
    向と交差する第2方向に分布する1次以上の高次回折光
    成分の1つとの3つの回折光成分が、前記瞳面上で前記
    光軸からほぼ等距離に分布するように、前記任意の1つ
    のフライアイレンズ群の中心を前記光軸から偏心させて
    配置したことを特徴とする請求項1に記載の装置。
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