JPH04186818A - X線露光装置用の基板把持装置 - Google Patents

X線露光装置用の基板把持装置

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JPH04186818A
JPH04186818A JP2314134A JP31413490A JPH04186818A JP H04186818 A JPH04186818 A JP H04186818A JP 2314134 A JP2314134 A JP 2314134A JP 31413490 A JP31413490 A JP 31413490A JP H04186818 A JPH04186818 A JP H04186818A
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wafer
vacuum exhaust
pressure
substrate
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Kazunori Iwamoto
岩本 和徳
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manipulator (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、X線露光装置用の基板把持装置に関し、特に
、ウェハ、マスクおよびレチクルなどの基板の裏面を真
空吸着して該基板を把持するX線露光装置用の基板把持
装置に関するものである。
[従来の技術] 半導体装置、特に半導体メモリの大容量化に伴ない、半
導体製造装置における微細化技術の向上が叫ばれている
該微細化技術の向上の一手段として、シンクロトロン放
射光を光源とするX線露光装置が提案されている(たと
えば、特願昭63−252991号)。なお、該X線露
光装置では、従来の遠紫外光などを光源とする露光装置
と異なり、ウェハやマスクなどを縦に配置して露光する
構成となっている。
このようなX線露光装置を構成する場合に、マスクパタ
ーンをウェハに転写する際、該ウェハを把持するために
用いるウェハ把持装置としては、一般に、ウニへの裏面
をウェハチャックのチャック面に真空吸着して把持する
真空吸着式のウェハ把持装置(たとえば、特公平1−1
4703号公報)が考えられる。
しかし、該真空吸着式のウェハ把持装置をそのまま用い
ると、真空吸着後、ウェハの裏面とウェハチャックのチ
ャック面(ウェハと対向する面)との間に形成される微
小空間に、熱を逃がすための熱媒体である気体が存在し
なくなるため、次に示すような問題が生じる。
ウェハ把持装置でウェハを把持したとき、該ウェハとウ
ェハチャックとの間の接触熱抵抗が大きいと、マスクパ
ターンを前記ウェハに転写する際の露光エネルギーが該
ウェハから前記ウェハチャックに逃げていかないため、
該ウェハの温度上昇および熱変形を招きパターン転写精
度が悪化する。
この問題を解決する一手段として、たとえば、特開昭6
3−98119号公報に記載されているように、温度調
節された水(以下、「温調水」と称する。)をウェハ把
持装置のウェハチャック内に設けた流路に流すことによ
り、露光中のウェハの温度管理を行うものが考えられる
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した温調水を用いてウェハの温度管
理を行う真空吸着式のウェハ把持装置においても、該ウ
ェハ把持装置をシンクロトロン放射光を光源とするX線
露光装置に使用しようとすると、信頼性およびウニへ〇
熱歪に対して以下に示すような問題点がまだ存在する。
(1)信頼性に対する問題点 ウェハを真空吸着するための真空排気系が一つしかない
ため、該真空排気系を構成する真空ポンプの破損または
真空排気管のはずれなどの故障が生じた場合、ウェハを
把持するために十分な真空度か得られず、該ウニへのず
れ、または前記X線露光装置では該ウェハを縦にして把
持するため該ウニへの落下を招く。
(2)ウェハの熱歪に対する問題点 前記X線露光装置においては、露光に用いるX線の減衰
を防止するため、通常ウェハ把持装置は、200 [T
orrl程度に減圧されたHeガスで内部が満たされた
チャンバ内に設置される。したがって、真空吸着後のウ
ェハの表面の圧力(200[Torrl )と裏面の圧
力との差を大きくして、大きな吸着力を得るために、到
達真空度が10−2[Torr]程度の排気能力を有す
るロータリーポンプを真空ポンプとして使用して、ウェ
ハの裏面の圧力(すなわち、前記微小空間の圧力)カ月
0 [Torr]以下になるまでロータリーポンプて該
微小空間内のHeガスを排気する。しかし、該微小空間
内の圧力を10 [Torr]以下にすると、第8図に
示す、該微小空間の高さをパラメータとして、該微小空
間の圧力と熱伝導率との関係を求めた一実験結果からも
わかるように、このときの熱伝導率は、たとえば約2X
 10−2[W/m−K]となり、前記微小空間の真空
吸着前(圧力が200 [Torrl)の熱伝導率であ
る約10−’[W/m−に1に対して約5分の1となる
ため、露光中にウェハに発生する熱がウェハチャックに
逃げにくくなり、ウェハの熱歪を引き起こす。
上記2つの問題点はウェハを把持するウェハ把持装置に
限らず、マスクまたはレチクルを把持するマスク把持装
置またはレチクル把持装置においても同様である。
本発明の目的は、高い信頼性を有するとともに、基板の
熱歪を引き起こすことのないX線露光装置用の基板把持
装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明のX線露光装置用の基板把持装置は、基板の裏面
が真空吸着されて把持される把持台と、 前記基板を真空吸着するための真空ポンプ、該真空ポン
プと前記把持台のチャック面とを接続する真空排気管、
および該真空排気管の途中に設けられた真空吸着圧力を
調節する調圧手段からなる真空排気系を複数系統有し、 該真空排気系の系統数分の溝が少なくとも一組、互いに
隣接して前記把持台のチャック面に形成されており、 該多溝ごとに、前記各真空排気系を構成する前記真空排
気管が分岐して開口されている。
また、各真空排気系を構成する調圧手段と把持台との間
にそれぞれ設けられた、該各真空排気系を構成する真空
排気管内の圧力を検出する圧力センサーと、 該各圧力センサーの出力信号が供給され、該冬用力信号
が示す前記各真空排気管内の露光中の圧力が所定の値と
なるよう、対応する前記調圧手段の制御を行う制御手段
とを有していてもよい。
[作用〕 本発明のX線露光装置用の基板把持装置は、基板を真空
吸着するための真空ポンプ、該真空ポンプと把持台のチ
ャック面とを接続する真空排気管、および該真空排気管
の途中に設けられた真空吸着圧力を調節する調圧手段か
らなる真空排気系を複数系統有することにより、一つの
真空排気系において真空ポンプの破損または真空排気管
のはずれなどの故障が生じても、他の真空排気系は正常
に動作しているため、基板のずれや基板の落下を防ぐこ
とができる。
また、前記真空排気系の系統数分の溝が少なくとも一組
、互いに隣接して前記把持台のチャック面に形成されて
おり、該多溝ごとに、前記各真空排気系を構成する前記
真空排気管が分岐して開口されていることにより、前記
各真空排気系ごとに、前記基板の裏面を対称性よく把持
することができるため、前記各真空排気系のうち一つで
も正常に動作すれば、前記基板の平面性を維持しつつ該
基板を真空吸着することができる。
さらに、前記各真空排気系ごとにそれぞれ設けられた、
該各真空排気系を構成する前記真空排気管内の圧力を検
出する各圧力センサーの出力信号が供給され、該冬用力
信号が示す前記各真空排気管内の露光中の圧力が所定の
値となるよう、対応する前記調圧手段の制御を行う制御
手段を有することにより、前記微小空間内の露光中の圧
力を所定の熱伝導率が得られる値に保つことができるの
で、露光中にウェハに発生する熱をウェハチャックに逃
がすことができる。
[実施例] 次に、本発明の実施例について図面を参照して明する。
第1図は本発明のX線露光装置用の基板把持装置の第1
の実施例を示すウェハ把持装置の概略構成図、第2図は
第1図のウェハチャック2のチャック面22の構造を示
す概略図である。
このウェハ把持装置は、前述した特願昭63−2529
91号に記載されているX線露光装置に使用できるもの
であり、ウェハ1は縦にされた状態でウェハチャック2
に真空吸着され、露光ビームであるX線は第1図の左側
からウェハ1に対して垂直に照射される。
このウェハ把持装置は、基板であるウェハ1の裏面が真
空吸着されて把持される把持台であるウェハチャック2
と、第1の真空ポンプ41.第1の真空排気管31.第
1のコンダクタンス可変バルブ61および第1のバルブ
71からなる第1の真空排気系と、第2の真空ポンプ4
2.第2の真空排気管3□、第2のコンダクタンス可変
バルブ62および第2のバルブ72からなる第2の真空
排気系と、第1および第2の圧力センサー51,5□と
、演算処理装置8と、駆動装置9とを有する。
ここで、第1および第2の真空ポンプ40.4□は、そ
れぞれたとえばロータリーポンプよりなり、ウェハ1を
真空吸着するために用いられる。
第1の真空排気管31は、ウェハチャック2のチャック
面22(第2図参照)と第1の真空ポンプ41とを接続
し、また、第2の真空排気管3□は、前記チャック面2
2と第2の真空ポンプ4□とを接続する。
第1および第2のコンダクタンス可変バルブ68,6□
は、それぞれ第1および第2の真空排気管31.32の
途中に設けられており、第1および第2の真空ポンプ4
□、4□による真空吸着圧力の調節を行う。また、第1
のバルブ7Iは、第1の真空排気管3Iの第1のコンダ
クタンス可変バルブ61と第1の真空ポンプ4、との間
に介在されており、第1の真空ポンプ4、による真空吸
着のオン/オフを行い、第2のバルブ72は、第2の真
空排気管32の第2のコンダクタンス可変バルブ6□と
第2の真空ポンプ4□との間に介在されており、第2の
真空ポンプ42による真空吸着のオン/オフを行う。な
お、第1および第2のコンダクタンス可変バルブ61.
6□と、第1および第2のバルブ71.72とは、本発
明の真空吸着圧力を調節する調圧手段として動作する。
第1の圧力センサー51は、第1の真空排気管31のウ
ェハチャック2と第1のコンダクタンス可変バルブ6I
との間に設けられており、第1の真空排気管31内の圧
力を検出する。また、第2の圧力センサー5□は、第2
の真空排気管3□のウェハチャック2と第2のコンダク
タンス可変バルブ6□との間に設けられており、第2の
真空排気管32内の圧力を検出する。
駆動装置9は、第1および第2のコンダクタンス可変バ
ルブ61,6□のコンダクタンス値(開閉度)をそれぞ
れ独立に変化させるとともに、第1および第2のバルブ
70.7□の開閉をそれぞれ独立に行う。また、演算処
理装置8は、第1および第2の圧力センサー5..52
の各出力信号が供給され、該多出力信号が示す第1およ
び第2の真空排気管33,3□内の露光中の圧力に応じ
て駆動装置9を制御し、該露光中の圧力を所定の値に保
つ。ここで、演算処理装置8および駆動装置9は、本発
明の制御手段として動作する。
また、ウェハチャック2のチャック面22の近傍には、
流路10が配管されており、露光中のウェハ1の温度上
昇を防ぐための温調水が不図示の恒温槽から循環されて
いる。
さらに、第2図に示すように、ウェハチャック2のチャ
ック面22には、第1および第2の溝21+、’21□
が互い隣接して、かつ同心円状に6本ずつ形成されてい
る。ここで、第1および第2の真空排気管31.32は
、それぞれ各第1および各第2の溝21..21□の同
図上下に1個ずつまた左右に1個ずつ分岐して開口され
ている。
次に、このウェハ把持装置の動作について説明する。
真空吸着されるウェハ1が公知の搬送ハント(不図示)
により第1図図示の位置まで搬送されてくると、演算処
理装置8は駆動装置9を制御して、第1および第2のコ
ンダクタンス可変バルブ6+、6zを全開状態にさせる
とともに、第1および第2のバルブ71.7□を開状態
にさせる。その結果、第1の真空排気管31と第1の真
空ポンプ4、とが連通されるとともに、第2の真空排気
管32と第2の真空ポンプ4□とが連通され、微小空間
(ウェハ1の裏面と、ウェハチャック2のチャック面2
2.各第1の溝21□および各第2の溝21□との間に
形成される空間)内に存在するHeガスが吸引されて、
該微小空間の圧力が減少し、これによって生じるウェハ
1の表面と裏面との圧力差によってウェハ1はウェハチ
ャック2に吸着・把持される。
その後、演算処理装置8は所定のタイミングで第1およ
び第2の圧力センサー5..5□の各出力信号を取込ん
で、該多出力信号が示す第1および第2の真空排気管3
1.32内の各圧力を監視して、該2つの圧力が把持の
信頼性を確保てきる値である約10’[Torr]にな
っているか否かを調へる。
ここで、たとえば、第1の真空排気管3.に異常が発生
した場合、演算処理装置8は、第1の圧力センサー5.
から取込んだ出力信号より第1の真空排気管3□内の圧
力が所定の時間内にlO[Torr]にならないことを
確認すると、第1のバルブ7、を閉じるよう駆動装置9
を制御して、前記第2の真空排気系のみでウェハ1の真
空吸着を行わせる。
したがって、このウェハ把持装置は、演算処理装置8で
第1および第2の真空排気管31.3□内の各圧力が約
10[Torr]になっているか否かを監視する点、ま
た前記第1および第2の真空排気系のいずれか一方に異
常が生じてもウェハlを真空吸着することができる点か
ら、従来のものに比べて信頼性の向上が図れる。
以上のようにして、第1および第2の真空排気管31.
3□内の少なくとも一方の圧力がlO[Torr]以下
であることを確認すると、演算処理装置8はウェハlへ
の露光開始を不図示の制御装置に指示するとともに、露
光中のウェハ1の温度上昇を防ぐため、所定のタイミン
グで第1および第2の圧力センサー51.5□の各出力
信号を取込んで、該冬山力信号が示す第1および第2の
真空排気管3+ 、32内の各圧力に応じて駆動装置9
を制御して、第1および第2のコンダクタンス可変バル
ブ61.62のコンダクタンス値(開閉度)を調節する
ことにより、前記微小空間内の圧力を50〜+00 [
Torr]程度に保つ。このときの前記微小空間の熱伝
導率は第8図より約10−’[W/m・に1となり、照
射される露光ビームのエネルギーが変換されてウェハl
に生じる熱を前記微小空間内に残存するHeガスを介し
て、温調水で温度調節されたウェハチャック2に効率よ
く逃がすことができるため、ウェハ1の熱歪な防止する
ことができる。
このときにも、たとえば第1の真空排気管31に異常が
発生した場合、演算処理装置8は、第1の圧力センサー
5、から取込んだ出力信号より第1の真空排気管3.内
の圧力が所定の時間内に50〜loO[Torr] に
ならないことを確認すると、第1のバルブ71を閉じる
よう駆動装置9を制御する。その後、前記第2の真空排
気系のみでウェハ1の真空吸着を行っても、前記微小空
間内の圧力を同様にして50〜100 [Torr] 
に保つことができるため、ウェハ1の熱歪を防止するこ
とができる。
さらに、このウェハ把持装置では、前述したように第1
および第2の真空排気管31.3□は、ウェハチャック
2のチャック面22に形成された第1および第2の溝2
1.,21□に対称性よくそれぞれ分岐して開口されて
いるので、前記第1および第2の真空排気系のうちいず
れか一方に異常が発生しても、ウェハ1の平面性を保つ
ことができ、ウェハ1の露光を続けることができる。
第3図は本発明のX線露光装置用の基板把持装置の第2
の実施例を示すウェハ把持装置の概略構成図である。
このウェハ把持装置は、基板であるウェハ31の裏面が
真空吸着されて把持される把持台であるウェハチャック
32と、第1の真空ポンプ34□、第1の真空排気管3
31.第1のコンダクタンス可変バルブ36.および第
1の切換えバルブ371からなる第1の真空排気系と、
第2の真空ポンプ342.第2の真空排気管332.第
2のコンダクタンス可変バルブ36□および第2の切換
えバルブ37□からなる第2の真空排気系とを有する。
ここで、第1および第2の真空ポンプ34.。
342は、それぞれたとえばロータリーポンプよりなり
、ウェハ31を真空吸着するために用いられる。
第1および第2の真空排気管33□、33□は、それぞ
れウェハチャック32の外側で2分岐されており、一方
は、第1および第2の切換えバルブ37..37□を介
して、他方は、第1および第2のコンダクタンス可変バ
ルブ36+ 、36□と第1および第2の切換えバルブ
37..372とを介して、ウェハチャック32のチャ
ック面(第2図に示した構造を有する。)と第1および
第2の真空ポンプ34+、342とを接続する。
第1および第2のコンダクタンス可変バルブ36、.3
6□は、それぞれ第1および第2の真空ポンプ34+、
34□による真空吸着圧力の調節を行う。なお、第1お
よび第2のコンダクタンス可変バルブ361.36□は
、それぞれ真空吸着したのちの微小空間内の圧力が50
〜100 [Torr] となるように、予めそのコン
ダクタンス値(開閉度)が調整されている。
第1の切換えバルブ37.は、第1の真空ポンプ34 
Iによる真空吸着を、第1のコンダクタンス可変バルブ
361を介して行うか否かの切換えを行い、第2の切換
えバルブ372は、第2の真空ポンプ342による真空
吸着を、第2のコンダクタンス可変バルブ36□を介し
て行うか否かの切換えを行う。なお、第1および第2の
切換えバルブ37..37□は、第1および第2のコン
ダクタンス可変バルブ36..36□とともに、本発明
の真空吸着圧力を調節する調圧手段として動作する。
また、ウェハチャック32のチャック面の近傍には流路
39が配管されており、露光中のウェハ31の温度上昇
を防ぐための温調水が不図示の恒温槽から循環されてい
る。
さらに、ウェハチャック32のチャック面には、第2図
に示したウェハチャック2のチャック面22と同様に、
第1および第2の溝が互いに隣接して、かつ同心円状に
6本ずつ形成されており、第1および第2の真空排気管
33□、33□が、それぞれ該各第1および各第2の溝
に4個ずつ対称性よく分岐して開口されている。
次に、このウェハ把持装置の動作について説明する。
真空吸着されるウェハ31が公知の搬送ハント(不図示
)により第3図図示の位置まで搬送されてくると、第1
の切換えバルブ37 jは、第1の真空排気管33.と
第1の真空ポンプ34.とを直接連通するように、また
第2の真空ポンプ372は、第2の真空排気管33□と
第2の真空ポンプ342とを直接連通するように、不図
示の制御装置によりそれぞれ切換えられる。その結果、
微小空間(ウェハ31の裏面と、ウェハチャック32の
チャック面、各第1の溝および各第2の溝との間に形成
される空間)内に存在するtieガスが吸引されて、該
微小空間の圧力が減少し、これによって生じるウェハ3
1の表面と裏面との圧力差によってウェハ31はウェハ
チャック32に吸着・把持される。このとき、前記微小
空間内の圧力が約10[Torr]になるまで前記He
ガスを吸引することにより、ウェハ31を把持する際の
信頼性の向上を図っている。
以上のようにして、ウェハ31がウェハチャック32に
真空吸着されると、第1の切換えバルブ37+は、第1
の真空排気管33、と第1の真空ポンプ341とを第1
のコンダクタンス可変バルブ36.を介して連通ずるよ
うに、また第2の真空ポンプ37□は、第2の真空排気
管33□と第2の真空ポンプ34□とを第2のコンダク
タンス可変バルブ362を介して連通ずるように、前記
制御装置によりそれぞれ切換えられる。その後、露光が
開始されるが、第1および第2のコンダクタンス可変バ
ルブ36..36□は、それぞれ真空吸着後の前記微小
空間内の圧力が50〜100 [Torr]となるよう
に、予めそのコンダクタンス値(開閉度)が調整されて
いるため、露光中の前記微小空間内の圧力は50〜+0
0 [Torr]に保たれるので、ウェハ31の温度上
昇を防止することができる。
以上の説明において、ウェハチャックのチャック面に形
成される第1および第2の溝の形状は、第2図に示すよ
うに同心円状としたが、これに限らず、たとえば第4図
に示すように放射線状としてもよい。すなわち、第4図
に示すウェハチャック40では、そのチャック面42に
、第1および第2の溝411.41□が12本ずつ互い
に隣接して周方向等間隔に形成されている。また、第1
および第2の真空排気管43 I、 43 zは、それ
ぞれ各第1および各第2の溝41..412に3個ずつ
対称性よく分岐して開口されている。
このウェハチャック40でも、2つの真空排気系のうち
いずれか一方に異常が発生しても、ウェハの平面性を保
ちつつ該ウェハを真空吸着することができる。
第5図は本発明のX線露光装置用の基板把持装置の第3
の実施例を示すマスク把持装置の概略構成図である。
このマスク把持装置は、第1図に示したウェハ把持装置
と同様に、第1の真空ポンプ541.第1の真空排気管
531.第1のコンダクタンス可変バルブ56、および
第1のバルブ57□からなる第1の真空排気系と、第2
の真空ポンプ54□、第2の真空排気管53□、第2の
コンダクタンス可変バルブ562および第2のバルブ5
7□からなる第2の真空排気系と、第1および第2の圧
力センサー551,552と、演算処理装置58と、駆
動装置59とを有するものである。
なお、基板であるマスク51の裏面が真空吸着されて把
持される把持台であるマスクチャック52は、第6図に
示すように、マスク51の外周部の裏面のみを真空吸着
するためにトーナツツ状の形状をしており、そのチャッ
ク面62には、同心円状の第1および第2の溝611.
612が1本ずつ互いに隣接して形成されている。また
、第1および第2の溝61.,61□には、第1および
第2の真空排気管53..53□がそれぞれ図示上下お
よび左右に1個ずつ分岐して開口されている。
このマスク把持装置では、真空吸着されるマスク51が
公知の搬送ハンド(不図示)により第5図図示の位置ま
で搬送されてくると、演算処理装置58は駆動装置59
を制御して、第1および第2のコンダクタンス可変バル
ブ56i、56□を全開状態にさせるとともに、第1お
よび第2のバルブ57..57□を開状態にさせる。そ
の結果、第1の真空排気管53.と第1の真空ポンプ5
4、とが連通されるとともに、第2の真空排気管532
と第2の真空ポンプ54□とが連通され、微小空間(マ
スク51の裏面と、マスクチャック52のチャック面6
2.各第1の溝61、および各第2の溝612との間に
形成される空間)内に存在する)Ieガスが吸引されて
、該微小空間の圧力が減少し、これによって生じるマス
ク51の表面と裏面との圧力差によってマスク51はマ
スクチャック52に吸着・把持される。
その後、演算処理装置58は所定のタイミングで第1お
よび第2の圧力センサー55..55□の各出力信号を
取込んで、該冬用力信号が示す第1および第2の真空排
気管531.532内の圧力を監視して、該2つの圧力
が把持の信頼性を確保できる値である約10[Torr
lになっているか否かを調へる。
ここで、たとえば、第1の真空排気管53、に異常が発
生した場合、演算処理装置58は、第1の圧力センサー
551から取込んだ出力信号より第1の真空排気管53
、内の圧力が所定の時間内に10’[Torrlになら
ないことを確認すると、第1のバルブ57.を閉じるよ
うに駆動装置59を制御して、前記第2の真空排気系の
みでマスク51の真空吸着を行わせる。
以上のようにして、第1および第2の真空排気管53.
.532内の少なくとも一方の圧力が10[Torr]
以下であることを確認すると、演算処理装置58はマス
ク51への露光開始を不図示の制御装置に指示するとと
もに、露光中のマスク51の温度上昇を防ぐため、所定
のタイミングで第1および第2の圧力センサー55□、
55□の各出力信号を取込んで、該冬用力信号が示す第
1および第2の真空排気管531.532内の各圧力に
応じて駆動装置59を制御して第1および第2のコンダ
クタンス可変バルブ56z 、56□のコンダクタンス
値(開閉度)を調節させることにより、前記微小空間内
の圧力を50〜100 [Torr]程度に保つ。
このときにも、たとえば、第1の真空排気管531に異
常が発生した場合、演算処理装置58は、第1の圧力セ
ンサー551から取込んだ出力信号より第1の真空排気
管531内の圧力が所定の時間内に50〜100 [T
orrlにならないことを確認すると、第1のバルブ5
71を閉じるように駆動装置59を制御する。その後、
前記第2の真空排気系のみでマスク51の真空吸着を行
っても、前記微小空間内の圧力を同様にして50〜10
0[Torrlに保つことができるため、マスク51の
熱歪を防止することができる。
さらに、このマスク把持装置では、前述したように第1
および第2の真空排気管53..53□は、マスクチャ
ック52のチャック面62に形成された第1および第2
の溝611,612に対称性よくそれぞれ分岐して開口
されているので、前記第1および第2の真空排気系のう
ちいずれか一方に異常が発生しても、マスク51の平面
性を保つことができ、露光を続けることができる。
したがって、このマスク把持装置においても、第1図に
示したウェハ把持装置と同様に、従来のものにくらべて
信頼性の向上が図れるとともに、マスクの熱歪を防止す
ることができる。
なお、レチクルを把持する場合にも、該レチクルの外周
部の裏面を真空吸着するため、本実施例と同様の構成と
することにより、レチクル把持装置を構成することかで
きる。
第7図は、本発明のX線露光装置用の基板把持装置の第
4の実施例を示すウェハ把持装置の概略構成図である。
このウェハ把持装置は、基板であるウェハ101の裏面
が真空吸着されて把持される把持台であるウェハチャッ
ク102と、第1の真空ポンプI04+。
第1の真空排気管1031および第1の三方弁1061
からなる第1のウェハチャック用真空排気系と、第2の
真空ポンプ104□、第2の真空排気管103□および
第2の三方弁1062からなる第2のウェハチャック用
真空排気系と、第1.第2.第3.第4の圧力センサー
1051.1052.1053.1054と、演算処理
装置108と、第1の駆動装置1091とを有する。
ここで、第1および第2の真空ポンプ104.。
104□は、それぞれ油回転ポンプよりなり、ウェハ1
01を真空吸着するために用いられる。
ウェハチャック102は、第1図に示したウェハチャッ
ク2と同じ構成のものである(流路は不図示)。また、
第1の真空排気管1031はウェハチャック102のチ
ャック面(第2図参照)と第1の真空ポンプ104□と
を接続するためのものであり、第2真空排気管+03□
は前記チャック面と第2の真空ポンプ104□とを接続
するためのものである。
第1および第2の三方弁106.、1062は、それぞ
れ第1および第2の真空排気管1031. +03゜の
途中に設けられており、第1および第2の真空ポンプ1
04、、1042による真空吸着、雰囲気開放または閉
状態のいずれかに切換えられる。
第1の圧力センサー105、は、第1の真空排気管10
31のウェハチャック102と第1の三方弁106.と
の間のウェハチャック102寄りに設けられており、第
3の圧力センサー1053は、第1の真空排気管103
.のウェハチャック102と第1の三方弁1061との
間の第1の三方弁1061寄りに設けられており、とも
に第1の真空排気管1031内の圧力を検出する。また
、第2の圧力センサー105□は、第2の真空排気管1
03□のウェハチャック102と第2の三方弁106□
との間のウェハチャック+02寄りに設けられており、
第4の圧力センサー1054は、第2の真空排気管10
3□のウェハチャック102と第2の三方弁106□と
の間の第2の三方弁1062寄りに設けられており、と
もに第2の真空排気管1032内の圧力を検出する。
なお、第1の真空排気管103.は、ウェハチャック+
02と第1の三方弁106、とにねじ締結されており、
はずれない構造となっている。第2の真空排気管103
□についても同様である。
第1の駆動装置109.は、第1および第2の三方弁1
06..106□の切換えをそれぞれ独立に行う。また
、演算処理装置108は、前記4つの圧力センサー10
5.〜1054の各出力信号Put〜PU4が供給され
、各出力信号P1.+1〜PLI4が示す第1および第
2の真空排気管103.、103□内の露光中の圧力に
応じて第1の駆動装置1091を制御するとともに、第
1および第2の電磁弁1111.1112の開閉を制御
する。
また、このウェハ把持装置では、第1および第2の真空
ポンプ+04..104□を用いて搬送ハント120に
おけるウェハ101の把持を行うために、第1の真空ポ
ンプ104+、第1のハント用排気管1121および第
3の三方弁1063からなる第1のハント用真空排気系
と、第2の真空ポンプ1042.第2のハンド用排気管
+12□および第4の三方弁1064からなる第2のハ
ント用真空排気系と、第5.第6.第7、第8の圧力セ
ンサー1055.1056.105..105゜と、第
2の駆動装置109□とを有する。
ここで、第1の真空ポンプ1041は、第1の電磁弁1
11、と第1のディストリビュータ110+とを介して
第1の真空排気管1031と第1のハンド用排気管11
2、とに接続されており、また、第2の真空ポンプ10
4□は、第2の電磁弁1112と第2のディストリビュ
ータ110□とを介して第2の真空排気管1032と第
2のハント用排気管112□とに接続されている。
第3および第4の三方弁1063.106.は、それぞ
れ第1および第2のハンド用排気管112+、112□
の途中に設けられており、第1および第2の真空ポンプ
104.、104□による真空吸着、雰囲気開放または
閉状態のいずれかに切換えられる。
第5の圧力センサー105.は、第1のハント用排気管
1121の搬送ハント120と第3の三方弁1063と
の間の搬送ハント120寄りに設けられており、第7の
圧力センサー1057は、第1のハント用排気管112
、の搬送ハンド120と第3の三方弁1063との間の
第3の三方弁1063寄りに設けられており、ともに第
1のハンド用排気管1121内の圧力を検出する。また
、第6の圧力センサー1056は、第2のハンド用排気
管112□の搬送ハント120と第4の三方弁1064
との間の搬送ハント120寄りに設けられており、第8
の圧力センサー1058は、第2のハンド用排気管11
22の搬送ハント120と第4の三方弁1064との間
の第4の三方弁1064寄りに設けられており、ともに
第2のハント用排気管112□内の圧力を検出する。
なお、第1のハント用排気管112.は、搬送ハンド1
20と第3の三方弁106.とにねじ締結されており、
はずれない構造となっている。第2のハント用排気管1
12□についても同様である。
第2の駆動装置109□は、第3および第4の三方弁1
063.1064の切換えをそれぞれ独立に行う。また
、演算処理装置108は、前記4つの圧力センサー10
55〜1058の各出力信号PHI〜PH4が供給され
、各出力信号PHI〜PH4が示す第1および第2のハ
ント用排気管112□、112□内の露光中の圧力に応
じて第2の駆動装置1092を制御する。
次に、このウェハ把持装置における搬送ハント120か
らウェハチャック102ヘウエハ!01を受渡すときの
動作について説明する。
搬送ハント120でウェハ101をウェハチャック10
2まで搬送する際には、第1の駆動装置1091は第1
および第2の三方弁106..106□を雰囲気開放側
に切換えるように不図示の制御装置により制御されてお
り、一方、第2の駆動装置109□は第3および第4の
三方弁1063.1064を真空吸着側に切換えるよう
に前記制御装置により制御されている。
搬送ハント120によりウェハ101がウェハチャック
102まで搬送されてくると、第1の駆動装置109□
は第1および第2の三方弁106□、 1062を真空
吸着側に切換えるように前記制御装置により制御され、
ウェハチャック102をウェハ101把持可能状態とす
る。
このとき、前記第1.第2のウェハチャック用真空排気
系および前記第1.第2のハント用真空排気系がともに
正常に動作している場合には、前記8つの圧力センサー
1051〜1058の各出力信号Pill〜P U4+
 P H1〜PH4は、以下に示す関係を満たしている
PUI>PLI3           (1)Puz
>Pu4          (2)PHI>P)+3
           (3)PH2>PH4(4) したがって、演算処理装置108は、前記8つの圧力セ
ンサー1051〜1058の各出力信号Put〜Pυ4
.PHI〜PH4を常時モニタし、上記(1)弐〜(4
)式の関係が満たされていることを確認しつつ、ウェハ
101の前記受渡し動作を続行させる。
一方、たとえば上記(1)式の関係が満たされていない
ことを確認すると、演算処理装置108は、前記第1の
ウェハチャック用真空排気系に異常が発生したと判断し
て、第1の三方弁106Iを閉状態に切換えるように第
1の駆動装置109.を制御し、ウェハチャック102
のチャック面(第2図参照)に連通ずる第1の真空排気
管103、に雰囲気ガスが流入することを防ぐとともに
、第1の電磁弁+11□を閉状態にして、第1の真空ポ
ンプ1041の大気圧近傍の無負荷運転を防止する。な
お、このとき、前記第2のウェハチャック用真空排気系
と第2のハント用真空排気系とは正常に動作しているた
め、ウェハ101の前記受渡し動作は続行される。
以下同様にして、演算処理装置108は、上記(2)式
の関係より前記第2のウェハチャック用真空排気系の異
常を確認すると、第2の三方弁106□を閉状態とする
ように第1の駆動装置109、を制御するとともに、第
2の電磁弁1112を閉状態にする。また、上記(3)
式の関係より前記第1のハント用真空排気系の異常を確
認すると、第3の三方弁1063を閉状態とするように
第2の駆動装置109□を制御するとともに、第1の電
磁弁1111を閉状態にする。さらに、上記(4)式の
関係より前記第2のハント用真空排気系の異常を確認す
ると、第4の三方弁1064を閉状態とするように第2
の駆動装置1092を制御するとともに、第2の電磁弁
1112を閉状態にする。
したがって、このウェハ把持装置では、露光雰囲気の圧
力によらず、前記第1.第2のウェハチャック用真空排
気系と前記第1.第2のハント用真空排気系の異常を見
つけることができるとともに、前記4つの真空排気系の
いずれか一つに異常が発生しても、ウェハ101の前記
受渡し動作を続行することができる。
以上の説明においては、本発明の基板把持装置が有する
真空排気系の系統数を2系統としたが、それ以上の系統
数であってもよい。
また、基板の把持台のチャック面に形成される第1およ
び第2の溝の本数、該第1および第2の溝に分岐して開
口される第1および第2の真空排気管の分岐数も、第2
図および第4図に示すものに限るものではなく、基板を
真空吸着するのに十分な吸着力が得られる本数1分岐数
であればよい。
[発明の効果] 本発明は、上述のとおり構成されているので、次に記載
する効果を奏する。
請求項第1項記載のX線露光装置用の基板把持装置は、
基板を真空吸着するための真空ポンプ。
該真空ポンプと把持台のチャック面とを接続する真空排
気管、および該真空排気管の途中に設けられた真空吸着
圧力を調節する調圧手段からなる真空排気系を複数系統
有することにより、少なくとも一つの真空排気系が正常
に動作すれば、基板のずれや基板の落下を防ぐことがで
きるので、信頼性の向上が図れるという効果があるとと
もに、前記真空排気系の系統数分の溝が少なくとも一組
、互いに隣接して前記把持台のチャック面に形成されて
おり、該谷溝ごとに、前記真空排気系を構成する前記真
空排気管が分岐して開口されていることにより、前記各
真空排気系ごとに、前記基板の裏面を対称性よく把持す
ることができるため、前記各真空排気系のうち一つでも
正常に動作すれば、前記基板の平面性を維持しつつ該基
板を真空吸着することができるという効果がある。
請求項第2項記載のX線露光装置用の基板把持装置は、
前記各真空排気系ごとにそれぞれ設けられた、該各真空
排気系を構成する前記真空排気管内の圧力を検出する各
圧力センサーの出力信号が供給され、該冬用力信号が示
す前記各真空排気管内の露光中の圧力が所定の値となる
よう、対応する前記調圧手段の制御を行う制御手段を有
することにより、前記微小空間内の露光中の圧力を所定
の熱伝導率が得られる値に保つことができるため、露光
中にウェハに発生する熱をウェハチャックに逃がすこと
ができるので、前記基板の熱歪を引き起こすことがない
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のX線露光装置用の基板把持装置の第1
の実施例を示すウェハ把持装置の概略構成図、第2図は
第1図のウェハチャックのチャック面の構造を示す概略
図、第3図は本発明のX線露光装置用の基板把持装置の
第2の実施例を示すウェハ把持装置の概略構成図、第4
図はウェハチャックのチャック面の他の構造を示す概略
図、第5図は本発明のX線露光装置用の基板把持装置の
第3の実施例を示すマスク把持装置の概略構成図、第6
図は第5図のマスクチャックのチャック面の構造を示す
概略図、第7図は本発明のX線露光装置用の基板把持装
置の第4の実施例を示すウェハ把持装置の概略構成図、
第8図は微小空間の高さをパラメータとして、該微小空
間の圧力と熱伝導率との関係を求めたー実験結果を示す
グラフである。 1、31,101 ・・・ウェハ、 2、32.40.102・・・ ウェハチャック、3+
、 3:L、 43+、 53+、 103+ ・・・
 第1の真空排気管、32.33□、43□、53□、
103□・・・ 第2の真空排気管、4、.34□、 
54.、 +04.・・・ 第1の真空ポンプ、42.
342.54□、104□・・・ 第2の真空ポンプ、
5、、55.、105.・・・ 第1の圧力センサー、
52、55□、105□・・・ 第2の圧力センサー、
6+、36+、56+ ・・・第1のコンダクタンス可変バルブ、6□、36□
、56□ ・・・第2のコンダクタンス可変バルブ、7、.57□
・・・第1のバルブ、 7□、57□・・・第2のバルブ、 8、58.108・・・演算処理装置、9.59・・・
駆動装置、 10.39・・・流路、 21□、41..61.・・・第1の溝、212、41
2゜612・・・第2の溝、22、42.62・・・ 
チャック面、37、・・・第1の切換えバルブ、 37□・・・第2の切換えバルブ、 51・・・ マスク、 52・・・ マスクチャック、 1053・・・ 第3の圧力センサー、1054・・・
 第4の圧力センサー、1055・・・ 第5の圧力セ
ンサー、1056・・・ 第6の圧力センサー、105
□・・・ 第7の圧力センサー、1058・・・ 第8
の圧力センサー、106、・・・ 第1の三方弁、 106゜・・・ 第2の三方弁、 1063・・・ 第3の三方弁、 1064・・・ 第4の三方弁、 1091・・・ 第1の駆動装置、 1092・・・ 第2の駆動装置、 110□・・・ 第1のディストリビュータ、110□
・・・ 第2のディストリビュータ、111、・・・ 
第1の電磁弁、 111□・・・ 第2の電磁弁、 1121 ・・・ 第1のハント用排気管、112゜・
・・ 第2のハント用排気管、120・・・搬送ハント
、 Pu+〜P u4.  P Ml〜PH4・・・ 出力
信号。 31第1の真空徘%管 ll′X32第2の真空(非気管

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板の裏面が真空吸着されて把持される把持台と、 前記基板を真空吸着するための真空ポンプ、該真空ポン
    プと前記把持台のチャック面とを接続する真空排気管、
    および該真空排気管の途中に設けられた真空吸着圧力を
    調節する調圧手段からなる真空排気系を複数系統有し、 該真空排気系の系統数分の溝が少なくとも一組、互いに
    隣接して前記把持台のチャック面に形成されており、 該各溝ごとに、前記各真空排気系を構成する前記真空排
    気管が分岐して開口されているX線露光装置用の基板把
    持装置。 2、各真空排気系を構成する調圧手段と把持台との間に
    それぞれ設けられた、該各真空排気系を構成する真空排
    気管内の圧力を検出する圧力センサーと、 該各圧力センサーの出力信号が供給され、該各出力信号
    が示す前記各真空排気管内の露光中の圧力が所定の値と
    なるよう、対応する前記調圧手段の制御を行う制御手段
    とを有することを特徴とする請求項第1項記載のX線露
    光装置用の基板把持装置。
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