JPH04131759U - 偏形透光体の異物検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】不透明な材料のパレット２は，不定形かつ透光
性の偏形透光体１を搭載し，そのエッジ１３をマスクす
るエッジマスク部２１を周辺に配設した切欠２２を有す
る。光源３はパレットに搭載した偏形透光体１を下方か
ら照射し，エッジ１３をマスクした状態でカメラ４１に
よってパレット２ならびに偏形透光体１の重合画像を撮
像し，画像処理装置４によって異物１２の存在を判定す
る。 【効果】エッジ１３による影，照射状態の不定による誤
認識を排除できる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は偏形透光体の異物検査装置に関し，特に透明もしくは半透明な不定形 の偏形透光体に含まれている異物の有無を検査する偏形透光体の異物検査装置に 関する。

【０００２】

【従来の技術】

透明もしくは半透明な不定形の偏形透光体としては，たとえば半透明な扇風機 ファンなどがある。

【０００３】 このような偏形透光体に含まれる気泡などの異物を検査する方法として光学的 な方法がある。この方法では，検査物体に光を当てて撮像カメラによる画像をと り，この画像データを分析することによって異物の有無判定が行なわれていた。

【０００４】 このような光学的処理の場合，検査物体の輪郭を示すエッジの影も画像データ として出力することが多く，これが異物有無判定に誤りをもたらす原因となるた め，エッジは非検査エリアとして投光に対して遮蔽するマスク処理が行なわれて いる。

【０００５】 従来，非検査エリアのマスク処理は，検査物体の画像を取得する画像処理装置 にマスク用のメモリを備え，マスク領域を記憶しておいて，非検査エリアに含ま れる不透明部分は電気回路的に排除するようにしていた。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

上述した従来のマスク領域処理方法では，画像処理装置の電気回路にマスク用 のメモリが必要となり回路も複雑化するという欠点がある。また，撮像カメラと 検査物体の位置関係がずれてしまうと正しいマスク効果が得られないという欠点 がある。

【０００７】 本考案の目的は上述した欠点を除去し，簡素な構成で，かつ撮像カメラと検査 物体の相対位置関係のずれの影響を大幅に抑圧しうる偏形透光体の異物検査装置 を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

本考案の装置は，外形が不定形状で透光性のある透明もしくは半透明の偏形透 光体に含まれる異物の有無を検査する偏形透光体の異物検査装置であって，前記 偏形透光体のエッジならびに所定の範囲のエッジ外囲を光学的に不透明状態にマ スクして搭載するパレットと，前記パレットに搭載した前記偏形透光体を下方か ら照射する光源と，前記光源による照射光景を撮像して前記偏形透光体の異物の 有無を判定する画像処理装置とを備えて構成される。

【０００９】 また本考案の装置は，前記パレットに，前記偏形透光体を平面的に嵌入して保 持する段付き構造の不透明なエッジマスク部ならびに前記エッジマスク部を境界 とする切欠を配設した構成を有する。

【００１０】

【実施例】

次に，本考案について図面を参照して説明する。

【００１１】 図１は，本考案の一実施例の偏形透光体の異物検査装置の構成図である。

【００１２】 図１に示す実施例は，検査物体としての不定形外形を有する半透明な偏形透光 体１，偏形透光体１を安定に搭載する不透明なエッジマスク部２１と，エッジマ スク部２１を境界とする切欠２２を配設した，搬送機能（図示せず）で保持され たパレット２，パレット２に下方から光を照射する光源３，光源３で照射された 偏形透光体１搭載のパレット２を撮像するカメラ４を含む画像の連結性解析可能 な画像処理装置４１とを備えて成る。

【００１３】 次に，本実施例の動作について説明する。

【００１４】 パレット２は，異物１１，キズ１２を含むエッジ１３の外形をもつ偏形透光体 １を水平に搭載する不透明なエッジマスク部２１が配設され，さらに，このエッ ジマスク部２１に搭載してエッジをマスクした偏形透光体１に光源３から照射光 を直射しうる切欠２２を有する。

【００１５】 図２は，図１のエッジマスク部２１に対する偏形透光体の搭載状態を示す断面 図である。

【００１６】 パレット２は，偏形透光体１を搭載してカメラ４１と光源３の対向する位置に 移動し，光源３の照射を受けた光景をカメラ４１で撮像される。

【００１７】 カメラ４１で撮像されたデータは画像処理装置で処理され，図３（ａ），（ｂ ）に示すような偏形透光体像１０を出力する。図３（ａ）は，斜線で表現した不 透明なパレット２の影１０３と，エッジ１３の影を排除した偏形透光体像１０１ を有し，さらに偏形透光体像１０の中に異物１１の影１０２を表示している。

【００１８】 図３（ａ）における異物１１の影１０２は画像処理装置４によって抽出される 。

【００１９】 カメラ４１で撮像した画像データを，画像処理装置４で画像データ間の連結性 に着目した連結性解析を行なうと，図３（ｂ）の如く表示される。偏形透光体１ に異物１１が含まれているときは，図３（ｂ）のように画像データ間の連結性が 証明されたもの以外の非連結性のデータはキズを含み異物に対応するものと判定 されて図３（ａ）に示す如く表示される。つまり，エッジを含むマスク領域と偏 形透光体の形状によって得られるあらかじめ既知の連結性データ以外はキズ１２ による形状の乱れとしてのキズ１２の影１０４を含み異物として判定表示し，こ れによって異物混入の有無が容易に検査できる。

【００２０】 図３（ａ），（ｂ）と対比して示すのが図４である。

【００２１】 図４は，パレット２を用いないで撮像した画像であり，この場合には，異物１ １の影１０５と，エッジ１３の影１０６と，キズ１２の影１０７が表示されるが ，エッジ１３の影１０６とキズ１２の影１０７は撮像状態に対応して変動するた め一定ではなく，従って場所データの確認等さらに調査が必要となる。

【００２２】

【考案の効果】

以上説明したように本考案は，検査物体にエッジ撮像を抑圧する不透明物体の パレットを重合して撮像することにより，画面の中に検査物体が入る限り，検査 物体の位置変動に対しても異物の誤検知を行なわずにすみ，かつ不定形マスク機 能をもたなくてすむ画像処理装置が利用できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例の偏形透光体の異物検査装置
の構成図である。

【図２】図１の偏形透光体１をパレット２に搭載した状
態の部分断面図である。

【図３】図１の実施例における異物の含む画像例を示す
（ａ），および異物を含まない画像例を示す（ｂ）であ
る。

【図４】従来の偏形透光体の画像例を示す図である。

【符号の説明】

１ 偏形透光体 ２ パレット ３ 光源 ４ 画像処理装置 １１ 異物 １２ キズ １３ エッジ ２１ エッジマスク部 ２２ 切欠 １０１ 偏形透光体像 １０２ 異物１１の影 １０３ パレット２の影 １０４ キズ１２の影 １０５ 異物１１の影 １０６ エッジ１３の影 １０７ キズ１２の影

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 外形が不定形状で透光性のある透明もし
   くは半透明の偏形透光体に含まれる異物の有無を検査す
   る偏形透光体の異物検査装置であって，前記偏形透光体
   のエッジならびに所定の範囲のエッジ外囲を光学的に不
   透明状態にマスクして搭載するパレットと，前記パレッ
   トに搭載した前記偏形透光体を下方から照射する光源
   と，前記光源による照射光景を撮像して前記偏形透光体
   の異物の有無を判定する画像処理装置とを備えて成るこ
   とを特徴とする偏形透光体の異物検査装置。
2. 【請求項２】 前記パレットに，前記偏形透光体を平面
   的に嵌入して保持する段付き構造の不透明なエッジマス
   ク部ならびに前記エッジマスク部を境界とする切欠を配
   設したことを特徴とする請求項１記載の偏形透光体の異
   物検査装置。