JPS60200141A - 鏡面物体の表面形状検出方式 - Google Patents
鏡面物体の表面形状検出方式Info
- Publication number
- JPS60200141A JPS60200141A JP5604584A JP5604584A JPS60200141A JP S60200141 A JPS60200141 A JP S60200141A JP 5604584 A JP5604584 A JP 5604584A JP 5604584 A JP5604584 A JP 5604584A JP S60200141 A JPS60200141 A JP S60200141A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- screen
- light
- image
- specular object
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、画像処理システムの3次元的な特徴の抽出に
係り、特に鏡面物体の表面形状の詳細な解析が可能な検
出方式に関するものである。
係り、特に鏡面物体の表面形状の詳細な解析が可能な検
出方式に関するものである。
従来の画像処理システムは、スリット元等の光を物体に
あて、その乱反射iを利用して物体の位置・形状の測定
をおこなう方式が中心であった。しかしこの方式では、
元が全反射する鏡面物体の場合、反射光が特定の方向に
決まってしまうため、TVカメラでの入力が困難で、か
つ表面形状の詳細な解析ができないという欠点があった
。
あて、その乱反射iを利用して物体の位置・形状の測定
をおこなう方式が中心であった。しかしこの方式では、
元が全反射する鏡面物体の場合、反射光が特定の方向に
決まってしまうため、TVカメラでの入力が困難で、か
つ表面形状の詳細な解析ができないという欠点があった
。
〔発明の目的]
本発明の目的は、鏡面物体の6次元的な表面形状の解析
が可能な方式を提供することにある。
が可能な方式を提供することにある。
従来の画像処理システムでは、物体に光をあて、その反
射光を利用して物体の3次元的特徴を抽出する方式が中
心であったが、この方式では、光が全反射する鏡面物体
の認諌は、反射光を撮像するのが困難で、かつ表面形状
の詳細な解析が不可能であった。本発明では、スクリー
ンを用いて容易に反射光を撮像し、詳aな特徴を抽出す
るためにスリット元等のパターンを持つ光を投影し、そ
の解析を容易にするものである。
射光を利用して物体の3次元的特徴を抽出する方式が中
心であったが、この方式では、光が全反射する鏡面物体
の認諌は、反射光を撮像するのが困難で、かつ表面形状
の詳細な解析が不可能であった。本発明では、スクリー
ンを用いて容易に反射光を撮像し、詳aな特徴を抽出す
るためにスリット元等のパターンを持つ光を投影し、そ
の解析を容易にするものである。
以下、本発明の一実施例を説明する。
第1図は、本発明の適用される場合の構成例である。
第1図において、光源1、スクリーン2、及びTV左カ
メラは一体化されており、X軸、Y軸、Z軸方向に移動
可能である。光源1には、スリット状、あるいは格子状
等の、ある特定のパターンを持たせてお(。まず、光源
1より、元を作業台5上の鏡面物体4に投光する。元は
全反射し、スクリーン上九映し出される。この際、全反
射した光がスクリーン2上に映るように、光源1、スク
リーン2、及び作業台5の位置関係を調整しておく。ス
クリーン2上に映った像を、TV左カメラで撮像する。
メラは一体化されており、X軸、Y軸、Z軸方向に移動
可能である。光源1には、スリット状、あるいは格子状
等の、ある特定のパターンを持たせてお(。まず、光源
1より、元を作業台5上の鏡面物体4に投光する。元は
全反射し、スクリーン上九映し出される。この際、全反
射した光がスクリーン2上に映るように、光源1、スク
リーン2、及び作業台5の位置関係を調整しておく。ス
クリーン2上に映った像を、TV左カメラで撮像する。
その画像は、先ず画像処理装置6内のメモリに記憶され
、その後モニタ7に映し出される。一体化された光源1
、スクリーン2、TV左カメラをX軸、Y軸方向にスキ
ャンさせることにより、鏡面物体4全体の反射データを
入力することが可能である。
、その後モニタ7に映し出される。一体化された光源1
、スクリーン2、TV左カメラをX軸、Y軸方向にスキ
ャンさせることにより、鏡面物体4全体の反射データを
入力することが可能である。
以下、第2図、第3図に示した形状の鏡面物体に対して
、スリットパターン及び格子パターンの反射光がスクリ
ーン上に映し出された像を、それぞれ第4図、第5図に
示す。第2図は、鏡面状の平面の上に異物が載っている
ことを想定した図であり、スクリーン上には、第4図の
如き像が映し出される。第4図より、像は異物の部分で
不連続になっており、本画像を画像処理装置6で処理す
ることにより、異物の位置・大ぎさ等の検出が可能であ
る。第3図は、表面形状が波形の鏡面物体に格子状の光
をあてた場合の図で、スクリーン上の像は、第5図の如
きパターンとなる。この像のデータを画像処理装置6で
処理することにより、対象物体の形状を認識することか
可能である。
、スリットパターン及び格子パターンの反射光がスクリ
ーン上に映し出された像を、それぞれ第4図、第5図に
示す。第2図は、鏡面状の平面の上に異物が載っている
ことを想定した図であり、スクリーン上には、第4図の
如き像が映し出される。第4図より、像は異物の部分で
不連続になっており、本画像を画像処理装置6で処理す
ることにより、異物の位置・大ぎさ等の検出が可能であ
る。第3図は、表面形状が波形の鏡面物体に格子状の光
をあてた場合の図で、スクリーン上の像は、第5図の如
きパターンとなる。この像のデータを画像処理装置6で
処理することにより、対象物体の形状を認識することか
可能である。
以上のように、本実施例によれば、特定のパターンを持
つ光源を投影してい゛ろので、従来不可能であった鏡面
物体の形状認識あるいは歪、異物の検出等の検査を可能
にするという効果がある。
つ光源を投影してい゛ろので、従来不可能であった鏡面
物体の形状認識あるいは歪、異物の検出等の検査を可能
にするという効果がある。
本発明によれば、従来測定不可能であった鏡面物体の3
次元的な形状認識が可能になる。
次元的な形状認識が可能になる。
第1図は、本発明を使用する装置構成例、第2図、第3
図は、被検査物の形状と投光した元のパターンを示す図
、第4図、第5図は、スクリーン上に映った像のパター
ンを示す図である。 1・・・光源、2・・・スクリーン、3・・・TV左カ
メラ4・・・鏡面物体、5・・・作業台、6・・・画像
処理装置、7・・・モニタ。 第 t 図
図は、被検査物の形状と投光した元のパターンを示す図
、第4図、第5図は、スクリーン上に映った像のパター
ンを示す図である。 1・・・光源、2・・・スクリーン、3・・・TV左カ
メラ4・・・鏡面物体、5・・・作業台、6・・・画像
処理装置、7・・・モニタ。 第 t 図
Claims (1)
- 光の投影装置と、物体からの反射光な映すスクリーンと
、これを撮像するだめのTVカメラと、TVカメラのと
らえた画像を解析する画像処理装置とからなる、鏡面物
体の表面形状検出装置において、投影される光を特定の
パターンを持った光線とし、そのパターンのスクリーン
上での変形を観測することによって、物体の表面形状の
変IJIJを解析する事を特徴とする鏡面物体の表面形
状検出方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5604584A JPS60200141A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 鏡面物体の表面形状検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5604584A JPS60200141A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 鏡面物体の表面形状検出方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60200141A true JPS60200141A (ja) | 1985-10-09 |
Family
ID=13016112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5604584A Pending JPS60200141A (ja) | 1984-03-26 | 1984-03-26 | 鏡面物体の表面形状検出方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60200141A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62239005A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 表面形状検査装置 |
JPS63226341A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-09-21 | ソフア・ビヨコンセプト | 医学的型取り方法およびその方法を実施する装置 |
WO1989007235A1 (en) * | 1988-01-29 | 1989-08-10 | Ashland Oil, Inc. | Method for evaluating smooth surfaces |
JPH01120606U (ja) * | 1988-02-05 | 1989-08-16 | ||
EP0335035A2 (en) * | 1988-03-31 | 1989-10-04 | Nkk Corporation | Method and apparatus for measuring a three-dimensional curved surface shape |
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JPH06181901A (ja) * | 1992-12-18 | 1994-07-05 | Osaka Gas Co Ltd | 視覚刺激装置 |
US5471307A (en) * | 1992-09-21 | 1995-11-28 | Phase Shift Technology, Inc. | Sheet flatness measurement system and method |
JP2003504217A (ja) * | 1999-07-13 | 2003-02-04 | ヘンツェ,ヨアヒム | ロボット用位置決め補助のための光線の生成 |
WO2004013572A1 (ja) * | 2002-08-01 | 2004-02-12 | Asahi Glass Company, Limited | 湾曲形状検査方法および装置 |
-
1984
- 1984-03-26 JP JP5604584A patent/JPS60200141A/ja active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPH0544725Y2 (ja) * | 1988-02-05 | 1993-11-15 | ||
US5102223A (en) * | 1988-03-31 | 1992-04-07 | Nkk Corporation | Method and apparatus for measuring a three-dimensional curved surface shape |
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US6980291B2 (en) | 2002-08-01 | 2005-12-27 | Asahi Glass Company, Limited | Method of and apparatus for inspecting a curved shape |
JPWO2004013572A1 (ja) * | 2002-08-01 | 2006-06-22 | 旭硝子株式会社 | 湾曲形状検査方法および装置 |
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