JPH04122881A - シンチレーシヨンカメラ - Google Patents
シンチレーシヨンカメラInfo
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- JPH04122881A JPH04122881A JP24243090A JP24243090A JPH04122881A JP H04122881 A JPH04122881 A JP H04122881A JP 24243090 A JP24243090 A JP 24243090A JP 24243090 A JP24243090 A JP 24243090A JP H04122881 A JPH04122881 A JP H04122881A
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、γ線の入射位置を計算する位置計算回路で計
算された位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシン
チレーションカメラの改良に関するものである。
算された位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシン
チレーションカメラの改良に関するものである。
画像をディジタルデータとして保存可能なシンチレーシ
ョンカメラの構成例を第３図に示す。第３図において、
１は被検体（図示せず）に投与した放射性同位元素（以
下、ＲＩと記す。）から放射されるγ線を検出する検出
器、２は検出器１で検出されたγ線の入射位置を計算す
る位置計算回路、３は位置計算回路２で計算された位置
信号の歪を補正する補正回路である。４は補正回路３で
補正された位置信号に対応した位置に入射γ線の数を蓄
積記憶するメモリ、５はメモリ４に記憶したＲＩ分布像
をＣＲＴ６に表示させる表示制御回路、７はこれら一連
の処理をコントロールする中央処理装置（以下、ＣＰＵ
と記す。）、８及び９はＣＰＵ７を動作させるプログラ
ム及び前記補正回路３の補正データなどを蓄えるフロッ
ピディスク及び磁気デイグである。
ョンカメラの構成例を第３図に示す。第３図において、
１は被検体（図示せず）に投与した放射性同位元素（以
下、ＲＩと記す。）から放射されるγ線を検出する検出
器、２は検出器１で検出されたγ線の入射位置を計算す
る位置計算回路、３は位置計算回路２で計算された位置
信号の歪を補正する補正回路である。４は補正回路３で
補正された位置信号に対応した位置に入射γ線の数を蓄
積記憶するメモリ、５はメモリ４に記憶したＲＩ分布像
をＣＲＴ６に表示させる表示制御回路、７はこれら一連
の処理をコントロールする中央処理装置（以下、ＣＰＵ
と記す。）、８及び９はＣＰＵ７を動作させるプログラ
ム及び前記補正回路３の補正データなどを蓄えるフロッ
ピディスク及び磁気デイグである。
ここで、前記補正回路３の機能につき第４図を併用して
説明する。第４図の外形は、シンチレーションカメラの
有効視野を示している。図中、破線で示すような曲りの
ない格子状の線源を用いてγ線のイメージングを行うと
、あるいは格子状にスリットをもつ鉛板ファントムを用
い、そのスリットを通過するγ線のイメージングを行う
と、検出器１及び位置計算回路２がもつ空間直線歪によ
って実線で示すような曲り（ΔＸ、ΔＹ）を生ずる。そ
こで、予めこの曲り（ΔＸ、ΔＹ）を補正データとして
収集しておき、これに基づいて位置計算回路２からの位
置信号Ｘ、Ｙに与える補正量（位置信号歪補正データ）
をテーブルとしてフロッピディスク８や磁気ディスク９
に記憶しておく。
説明する。第４図の外形は、シンチレーションカメラの
有効視野を示している。図中、破線で示すような曲りの
ない格子状の線源を用いてγ線のイメージングを行うと
、あるいは格子状にスリットをもつ鉛板ファントムを用
い、そのスリットを通過するγ線のイメージングを行う
と、検出器１及び位置計算回路２がもつ空間直線歪によ
って実線で示すような曲り（ΔＸ、ΔＹ）を生ずる。そ
こで、予めこの曲り（ΔＸ、ΔＹ）を補正データとして
収集しておき、これに基づいて位置計算回路２からの位
置信号Ｘ、Ｙに与える補正量（位置信号歪補正データ）
をテーブルとしてフロッピディスク８や磁気ディスク９
に記憶しておく。
そして、実際の被検体のデータ収集時には、補正回路３
において、位置計算回路２からの位置信号Ｘ、Ｙに前記
位置信号歪補正データ（以下、補正データと略記する。
において、位置計算回路２からの位置信号Ｘ、Ｙに前記
位置信号歪補正データ（以下、補正データと略記する。
）を用いて補正を行い、直線歪のない像を得るようにす
るものである。
るものである。
従来のこの種の補正回路を第５図に示す。図示するよう
に従来の補正回路３は、補正データテーブル１０及び加
算回路１１．１２で構成されている。ここで補正データ
テーブル１０は、予め収集しである前記補正データが前
記フロッピディスク８又は磁気ディスク９よりＣＰＵ７
を介して書き込まれてなる。
に従来の補正回路３は、補正データテーブル１０及び加
算回路１１．１２で構成されている。ここで補正データ
テーブル１０は、予め収集しである前記補正データが前
記フロッピディスク８又は磁気ディスク９よりＣＰＵ７
を介して書き込まれてなる。
いま、位置計算回路２よりγ線入射位置に対応したＸ、
Ｙ信号が出力されると、補正データテーブル１０からは
、そのアドレス（Ｘ、Ｙ）に対応した補正データ （Δ
Ｘ、ΔＹ）が出力され、加算回路１１．１２の一方の入
力に送られる。加算回路１１．１２のもう一方の入力に
は、位置信号Ｘ。
Ｙ信号が出力されると、補正データテーブル１０からは
、そのアドレス（Ｘ、Ｙ）に対応した補正データ （Δ
Ｘ、ΔＹ）が出力され、加算回路１１．１２の一方の入
力に送られる。加算回路１１．１２のもう一方の入力に
は、位置信号Ｘ。
Ｙが与えられており、この加算回路１１．１２により直
線歪が補正された位置信号（Ｘ＋ΔＸ、Ｙ＋ΔＹ）が出
力される。そして、この補正後の位置信号によって指示
されるメモリ４のアドレスにγ線入射１個が計数記憶さ
れる。
線歪が補正された位置信号（Ｘ＋ΔＸ、Ｙ＋ΔＹ）が出
力される。そして、この補正後の位置信号によって指示
されるメモリ４のアドレスにγ線入射１個が計数記憶さ
れる。
このような動作をγ線が検出器１に入射する毎に行うこ
とにより、被検体から放射されたγ線の正しい位置を検
出し、被検体内の正確なＲＩ分布像をメモリ４上に蓄積
することができる。
とにより、被検体から放射されたγ線の正しい位置を検
出し、被検体内の正確なＲＩ分布像をメモリ４上に蓄積
することができる。
ところで、検出器１及び位置計算回路２の物理的要因（
検出器１のシンチレータや光電子増倍管の経時的特性劣
化など）、電気的要因（位置計算回路２の経時的特性変
化など）による位置信号の空間直線歪の大きさは時間経
過とともに変化している。
検出器１のシンチレータや光電子増倍管の経時的特性劣
化など）、電気的要因（位置計算回路２の経時的特性変
化など）による位置信号の空間直線歪の大きさは時間経
過とともに変化している。
通常、病院で使用されるＲＩは５〜７種類に及び、また
、各ＲＩによってγ線のエネルギが異なるため、実際の
データ収集に当っては、全てのＲＩ （γ線のエネルギ
）についての補正データを収集しておかなければならな
い。しかしこの作業は、収集された補正データによる補
正が正しく働いているか評価する時間も含めて１５〜２
０時間に達することもあり、そのために要する時間及び
労力、更にはＲＩ使用量は多大である。
、各ＲＩによってγ線のエネルギが異なるため、実際の
データ収集に当っては、全てのＲＩ （γ線のエネルギ
）についての補正データを収集しておかなければならな
い。しかしこの作業は、収集された補正データによる補
正が正しく働いているか評価する時間も含めて１５〜２
０時間に達することもあり、そのために要する時間及び
労力、更にはＲＩ使用量は多大である。
以上のように従来技術では、検出器や位置計算回路の経
時的変化があるため、定期的に補正データを収集する必
要があり、補正データの収集に、多くの時間、労力及び
ＲＩを要するという問題点があった。
時的変化があるため、定期的に補正データを収集する必
要があり、補正データの収集に、多くの時間、労力及び
ＲＩを要するという問題点があった。
本発明の目的は、経時的に変化する特性を補正するため
の補正データの収集の頻度をより少なくでき、その結果
ＲＩの使用量を少なくできるシンチレーションカメラを
提供することにある。
の補正データの収集の頻度をより少なくでき、その結果
ＲＩの使用量を少なくできるシンチレーションカメラを
提供することにある。
上記目的は、γ線の入射位置を計算する位置計算回路で
計算された位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシ
ンチレーションカメラにおいて、前記補正回路を、同一
エネルギのγ線で収集時期の異なる少なくとも２種類以
上の以前の位置信号歪補正データからシンチレーション
カメラを使用する時点での位置信号歪補正データを類推
演算により求めて前記位置計算回路からの位置信号の歪
を補正する構成とすることにより達成される。
計算された位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシ
ンチレーションカメラにおいて、前記補正回路を、同一
エネルギのγ線で収集時期の異なる少なくとも２種類以
上の以前の位置信号歪補正データからシンチレーション
カメラを使用する時点での位置信号歪補正データを類推
演算により求めて前記位置計算回路からの位置信号の歪
を補正する構成とすることにより達成される。
位置計算回路からの位置信号の歪を補正する補正回路は
、少なくとも２種類以上の収集時期の異なる以前の位置
信号歪補正データから類推演算により求められた使用す
る時点での位置信号歪補正データを用いて位置計算回路
からの位置信号の歪を補正する。
、少なくとも２種類以上の収集時期の異なる以前の位置
信号歪補正データから類推演算により求められた使用す
る時点での位置信号歪補正データを用いて位置計算回路
からの位置信号の歪を補正する。
これにより、シンチレーションカメラを使用しようとし
ている現時点での補正データが計算によって推定でき、
補正データの収集間隔を広げ、長時間を要する補正デー
タ収集作業の頻度を少なくすることができる。
ている現時点での補正データが計算によって推定でき、
補正データの収集間隔を広げ、長時間を要する補正デー
タ収集作業の頻度を少なくすることができる。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第１図
は本発明によるシンチレーションカメラの一実施例の要
部を示すブロック図で、図中２及び４は第３図と同様で
ある。３も第１図と同様に、位置計算回路２で計算され
た位置信号の歪を補正する補正回路であるが、ここでは
、補正データ（位置信号歪補正データ）を類推して演算
により求める演算機能を備えている。すなわち本発明の
補正回路３は、以前に収集された少なくとも２種類以上
の以前の位置信号歪補正データから推類演算により求め
られた使用時点での位置信号歪補正データにより、前記
位置計算回路２からの位置信号の歪を補正するように構
成されている。
は本発明によるシンチレーションカメラの一実施例の要
部を示すブロック図で、図中２及び４は第３図と同様で
ある。３も第１図と同様に、位置計算回路２で計算され
た位置信号の歪を補正する補正回路であるが、ここでは
、補正データ（位置信号歪補正データ）を類推して演算
により求める演算機能を備えている。すなわち本発明の
補正回路３は、以前に収集された少なくとも２種類以上
の以前の位置信号歪補正データから推類演算により求め
られた使用時点での位置信号歪補正データにより、前記
位置計算回路２からの位置信号の歪を補正するように構
成されている。
本実施例では、補正回路３は、第１補正データテーブル
１３Ａと第２補正データテーブル１３Ｂと演算回路１４
と加算回路１１．１２よりなる。
１３Ａと第２補正データテーブル１３Ｂと演算回路１４
と加算回路１１．１２よりなる。
ここで、補正データテーブル１３Ａと１３Ｂには、収集
時期の異なる同一エネルギのγ線の補正データを書き込
んでおく。
時期の異なる同一エネルギのγ線の補正データを書き込
んでおく。
なお、その他の構成は第１図と同様である。
次に動作を説明する。γ線が１個、検出器１（第３図参
照）に入射すると、その入射位置の計算が位置計算回路
２で行われる。その位置信号Ｘ。
照）に入射すると、その入射位置の計算が位置計算回路
２で行われる。その位置信号Ｘ。
Ｙが第１補正データテーブル１３Ａと及び第２補正デー
タテーブル１３Ｂのアドレスを指示すると、各々の補正
量ΔＸ １．ΔＹｌ、ΔＸ２．ΔＹ２を補正データとし
て出力し、演算回路１４に送る。
タテーブル１３Ｂのアドレスを指示すると、各々の補正
量ΔＸ １．ΔＹｌ、ΔＸ２．ΔＹ２を補正データとし
て出力し、演算回路１４に送る。
演算回路１４では、送られてきた補正データにより、Ｃ
ＰＵ７ （第１図参照）から送られてくる補正データ収
集日時ＴＩ、Ｔ２と現在の日時Ｔｃに基づいて演算を行
い、求められた補正量ΔＸ ｃ 。
ＰＵ７ （第１図参照）から送られてくる補正データ収
集日時ＴＩ、Ｔ２と現在の日時Ｔｃに基づいて演算を行
い、求められた補正量ΔＸ ｃ 。
ΔＹｃ を加算回路１１．１２に送る。
加算回路１１．１２では補正量ΔＸ ｃ 、ΔＹｃと位
置計算回路出力Ｘ、Ｙが加算され、補正された位置信号
Ｘ十ΔＸｃ、Ｙ＋ΔＹｃで指示されるメモリ４上にγ線
１個入射を計数蓄積する。これをγ線が入射する毎に行
ってＲＩ分布像を得る。
置計算回路出力Ｘ、Ｙが加算され、補正された位置信号
Ｘ十ΔＸｃ、Ｙ＋ΔＹｃで指示されるメモリ４上にγ線
１個入射を計数蓄積する。これをγ線が入射する毎に行
ってＲＩ分布像を得る。
ここで上記演算について第２図を併用して詳述する。第
２図において、Ｔ １（日時）とＴ２（日時）は以前に
補正データを収集した時期を示し、ＴｓはＴ２より以前
の日時である。ＴＣ（日時）はデータを収集しようとし
ている使用時点の日時を示す。
２図において、Ｔ １（日時）とＴ２（日時）は以前に
補正データを収集した時期を示し、ＴｓはＴ２より以前
の日時である。ＴＣ（日時）はデータを収集しようとし
ている使用時点の日時を示す。
いま、入射した１個のγ線の位置信号（Ｘ、Ｙ）のＴ
１ （日時）でのＸ方向の補正量をΔＸ１＋ Ｔ２（日
時）でのＸ方向の補正量をΔＸ２とすると、現在のＴｃ
（日時）でのＸ方向の補正量ΔＸｃ、Δｘ１とΔＸ２の
２点を結ぶ直線の延長線上にあると数推すると、次式（
１）で表わせる。
１ （日時）でのＸ方向の補正量をΔＸ１＋ Ｔ２（日
時）でのＸ方向の補正量をΔＸ２とすると、現在のＴｃ
（日時）でのＸ方向の補正量ΔＸｃ、Δｘ１とΔＸ２の
２点を結ぶ直線の延長線上にあると数推すると、次式（
１）で表わせる。
Ｙ方向についても同様に次式（２）式で表わせる。
Δｙ ｃ ＝−（ΔＹｌ（Ｔ２−Ｔｃ）＋ΔＹ２（ＴＣ
−ＴＩ）） −（２）Ｔ ２−Ｔ １ これを演算回路１４で計算し、 加算回路１１゜ １２にて補正前のＸ、Ｙ信号に加算すれば、使用時点Ｔ
ｃ（日時）についての位置計算回路２からの位置信号の
歪補正が行われたことになる。
−ＴＩ）） −（２）Ｔ ２−Ｔ １ これを演算回路１４で計算し、 加算回路１１゜ １２にて補正前のＸ、Ｙ信号に加算すれば、使用時点Ｔ
ｃ（日時）についての位置計算回路２からの位置信号の
歪補正が行われたことになる。
この演算は、単なる加減算９乗除算にて行うことができ
るので、それぞれ専用のＩＣ素子を組合せた回路構成で
容易に達成できる。
るので、それぞれ専用のＩＣ素子を組合せた回路構成で
容易に達成できる。
なお上述実施例では、演算回路１４を設けて構成した例
を述べているが、演算回路１４に代えて補正テーブルを
設け、予めＣＰＵ７にて使用時点Ｔｃ用の補正演算を行
い、上記補正テーブル上に演算された補正データを書込
んでおき、γ線入射毎に入射位置信号に対応する補正デ
ータを読み出すようにしてもよい。
を述べているが、演算回路１４に代えて補正テーブルを
設け、予めＣＰＵ７にて使用時点Ｔｃ用の補正演算を行
い、上記補正テーブル上に演算された補正データを書込
んでおき、γ線入射毎に入射位置信号に対応する補正デ
ータを読み出すようにしてもよい。
また上述実施例では、２種類の収集時期の異なる補正デ
ータから使用時点の補正データを求めたが、より正確な
補正を必要とする場合には、３種類以上の収集時期の異
なる補正データによって使用時点の補正データを求める
ことが好ましい。演算方法も、直線補間のみに限らず、
その他、曲線補間などを用いてもよい。
ータから使用時点の補正データを求めたが、より正確な
補正を必要とする場合には、３種類以上の収集時期の異
なる補正データによって使用時点の補正データを求める
ことが好ましい。演算方法も、直線補間のみに限らず、
その他、曲線補間などを用いてもよい。
本発明によれば、以前に収集した少なくとも２種類の収
集時期の異なる補正データがあれば、使用時点の補正デ
ータを類推演算できるので、補正データの収集頻度をよ
り少なくでき、その結果ＲＩの使用量を少なくできると
いう効果が得られる。
集時期の異なる補正データがあれば、使用時点の補正デ
ータを類推演算できるので、補正データの収集頻度をよ
り少なくでき、その結果ＲＩの使用量を少なくできると
いう効果が得られる。
第１図は本発明のシンチレーションカメラの一実施例の
要部を示すブロック図、第２図は第１図中の演算回路に
よる直線補間を説明するための図、第３図は画像をディ
ジタルデータとして保存可能なシンチレーションカメラ
の構成例を示すブロック図、第４図は第３図中の補正回
路の機能を説明するための図、第５図は従来の補正回路
を示すブロック図である。 １・・・検出器、２・・・位置計算回路、３・・補正回
路、４・・・メモリ、５・・表示制御回路、６・・ＣＲ
Ｔ、７・・・ＣＰＵ、８・・フロンピディスク、９・・
・磁気ディスク、１０，１３Ａ、１３Ｂ・・補正データ
テープ輩 田 第２ 第 図 ＄４０
要部を示すブロック図、第２図は第１図中の演算回路に
よる直線補間を説明するための図、第３図は画像をディ
ジタルデータとして保存可能なシンチレーションカメラ
の構成例を示すブロック図、第４図は第３図中の補正回
路の機能を説明するための図、第５図は従来の補正回路
を示すブロック図である。 １・・・検出器、２・・・位置計算回路、３・・補正回
路、４・・・メモリ、５・・表示制御回路、６・・ＣＲ
Ｔ、７・・・ＣＰＵ、８・・フロンピディスク、９・・
・磁気ディスク、１０，１３Ａ、１３Ｂ・・補正データ
テープ輩 田 第２ 第 図 ＄４０
Claims (1)
- １、γ線の入射位置を計算する位置計算回路で計算され
た位置信号の歪を補正する補正回路を備えたシンチレー
シヨンカメラにおいて、前記補正回路が、同一エネルギ
ーのγ線で収集時期の異なる少なくとも２種類以上の以
前の位置信号歪補正データからシンチレーシヨンカメラ
を使用する時点での位置信号歪補正データを類推演算に
より求めて、前記位置計算回路からの位置信号の歪を補
正する手段を具備することを特徴とするシンチレーシヨ
ンカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24243090A JP3012675B2 (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | シンチレーシヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24243090A JP3012675B2 (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | シンチレーシヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04122881A true JPH04122881A (ja) | 1992-04-23 |
| JP3012675B2 JP3012675B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=17088984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24243090A Expired - Fee Related JP3012675B2 (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | シンチレーシヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3012675B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010064693A1 (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-10 | 国立大学法人東北大学 | 放射線の位置を２次元で検出する半導体検出器及びそれを用いた放射線の２次元位置検出方法 |
-
1990
- 1990-09-14 JP JP24243090A patent/JP3012675B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010064693A1 (ja) * | 2008-12-03 | 2010-06-10 | 国立大学法人東北大学 | 放射線の位置を２次元で検出する半導体検出器及びそれを用いた放射線の２次元位置検出方法 |
| US8785865B2 (en) | 2008-12-03 | 2014-07-22 | Tohoku University | Semiconductor detector for two-dimensionally detecting radiation positions and method for two-dimensionally detecting radiation positions using the same |
| JP5622339B2 (ja) * | 2008-12-03 | 2014-11-12 | 国立大学法人東北大学 | 放射線の位置を２次元で検出する半導体２次元位置検出器及びそれを用いた陽電子断層撮影装置並びに放射線の２次元位置検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3012675B2 (ja) | 2000-02-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |