JPH0264496A - トリプルコインシデンス計数回路 - Google Patents
トリプルコインシデンス計数回路Info
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- JPH0264496A JPH0264496A JP21689888A JP21689888A JPH0264496A JP H0264496 A JPH0264496 A JP H0264496A JP 21689888 A JP21689888 A JP 21689888A JP 21689888 A JP21689888 A JP 21689888A JP H0264496 A JPH0264496 A JP H0264496A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、ポジトロンＥＣＴ装置に好適なトリプルコ
インシデンス計数回路に関する。
インシデンス計数回路に関する。
ポジトロンＥＣＴ装置は、ポジトロン放出性核種のＲ１
（放射性同位元素）を被検者に投与して、被検者の外部
に放出されてくる放射線を検出し、そのデータをコンピ
ュータで処理することにより、ある断面におけるＲ１の
濃度分布像（断層像）を得るものである。ポジトロン放
出性核種では、ポジトロンが消滅するときに１８０°方
向に２つのγ線を放出するため、被検者身体の周囲３６
０゜に放射線検出器を多数リング型に並べ、これら２つ
のγ線が２つの検出器へ同時に入射したことを検出する
必要がある。 ところで、このリング型に並べられた多数の放射線検出
器に、１つの消滅ポジトロンからの２つのγ線と、他の
無関係な１つのγ線とがたまたま同時に入射することが
ある。このようなトリプルコインシデンスの場合、従来
ではマルチプルイベントとじてリジェクトし、わざと計
数しない（数え落とす）ようにしている。
（放射性同位元素）を被検者に投与して、被検者の外部
に放出されてくる放射線を検出し、そのデータをコンピ
ュータで処理することにより、ある断面におけるＲ１の
濃度分布像（断層像）を得るものである。ポジトロン放
出性核種では、ポジトロンが消滅するときに１８０°方
向に２つのγ線を放出するため、被検者身体の周囲３６
０゜に放射線検出器を多数リング型に並べ、これら２つ
のγ線が２つの検出器へ同時に入射したことを検出する
必要がある。 ところで、このリング型に並べられた多数の放射線検出
器に、１つの消滅ポジトロンからの２つのγ線と、他の
無関係な１つのγ線とがたまたま同時に入射することが
ある。このようなトリプルコインシデンスの場合、従来
ではマルチプルイベントとじてリジェクトし、わざと計
数しない（数え落とす）ようにしている。
しかしながら、トリプルコインシデンスも消滅ポジトロ
ンの位置情報を含んでいるわけであるから、これを−律
に捨て去ることはＳ／Ｎ比の点で不利を招くことを意味
する。とくに、高計数率時には、偶発同時計数が増える
とともにトリプルコインシデンスが起こる確率も増すの
で、数え落しが多くなり、感度が低下したり、定量性（
リニアリティ）が悪化したりする原因になっている。 といって、このトリプルコインシデンスをすべて計数す
るのでは、偶発的なトリプルコインシデンスをも取り入
れてしまうことになってかえってＳ／Ｎ比が低下する。 この発明は、ｌ・リブリコインシデンスを計数するとと
もに、それから偶発的なトリプルコインシデンスを差し
引いて真の１へりプルコインシデンスの計数を得ること
ができる、トリプルコインシデンス計数回路を提供する
ことを目的とする。
ンの位置情報を含んでいるわけであるから、これを−律
に捨て去ることはＳ／Ｎ比の点で不利を招くことを意味
する。とくに、高計数率時には、偶発同時計数が増える
とともにトリプルコインシデンスが起こる確率も増すの
で、数え落しが多くなり、感度が低下したり、定量性（
リニアリティ）が悪化したりする原因になっている。 といって、このトリプルコインシデンスをすべて計数す
るのでは、偶発的なトリプルコインシデンスをも取り入
れてしまうことになってかえってＳ／Ｎ比が低下する。 この発明は、ｌ・リブリコインシデンスを計数するとと
もに、それから偶発的なトリプルコインシデンスを差し
引いて真の１へりプルコインシデンスの計数を得ること
ができる、トリプルコインシデンス計数回路を提供する
ことを目的とする。
上記目的を達成するため、この発明によるトリプルコイ
ンシデンス計数回路においては、３つの信号が入力され
、それらが一定の時間間隔内に生じたものであるときに
検出出力を生じる第１の同時検出回路と、上記の３つの
信号のうちの２つを異なる遅延時間で遅延させた後の３
つの信号が入力され、それらが一定の時間間隔内に生じ
たものであるときに検出出力を生じる第２の同時検出回
路と、第１、第２の同時検出回路の検出出力の差を計数
する計数回路とが備えられる。
ンシデンス計数回路においては、３つの信号が入力され
、それらが一定の時間間隔内に生じたものであるときに
検出出力を生じる第１の同時検出回路と、上記の３つの
信号のうちの２つを異なる遅延時間で遅延させた後の３
つの信号が入力され、それらが一定の時間間隔内に生じ
たものであるときに検出出力を生じる第２の同時検出回
路と、第１、第２の同時検出回路の検出出力の差を計数
する計数回路とが備えられる。
第１の同時検出回路には、３つの信号がそのまま入力さ
れるので、真のトリプルコインシデンス（ポジトロン消
滅γ線の同時入射をきむもの）と全く偶然に３つのγ線
が入射したときとが検出される。 他方、第２の同時検出回路には、上記の３つの信号のう
ちの２つを異なる遅延時間で遅延させた後の３つの信号
が入力されるので、偶然に３つのγ線が入射した場合に
のみ検出出力が生じ、真のトリプルコインシデンスの場
合は検出出力は生じない。 そこで、第１、第２の同時検出回路の検出出力の差を計
数すれば、偶発的なトリプルコインシデンスを除き真の
トリプルコインシデンスのみ計数することができる。 このように真のトリプルコインシデンスを計数すること
ができるため、とくに高計数率時のＳ／Ｎ比を高めるこ
とができる。 すなわち、ポジトロンＥＣＴ装置における計数率特性は
第５図に示すようになっている。ここで、曲線Ｔは真の
同時計数くつまりポジ１−ロン消滅γ線の同時計数）に
関するもので、曲線Ｒは偶発同時計数、曲線ＴＣは真の
トリプルコインシデンス（真の同時計数を陰むもの）を
それぞれ示す。この第５図に示すように高い計数率にな
ると、偶発同時計数が支配的になるとともにトリプルコ
インシデンスも増加する。このトリプルコインシデンス
には真の同時計数がかまれるため、この情報を利用する
ことによりＳ／Ｎ比を高めることができる。とくに高計
数率時には感度低下を防ぎ、定量性を改善することがで
きる。
れるので、真のトリプルコインシデンス（ポジトロン消
滅γ線の同時入射をきむもの）と全く偶然に３つのγ線
が入射したときとが検出される。 他方、第２の同時検出回路には、上記の３つの信号のう
ちの２つを異なる遅延時間で遅延させた後の３つの信号
が入力されるので、偶然に３つのγ線が入射した場合に
のみ検出出力が生じ、真のトリプルコインシデンスの場
合は検出出力は生じない。 そこで、第１、第２の同時検出回路の検出出力の差を計
数すれば、偶発的なトリプルコインシデンスを除き真の
トリプルコインシデンスのみ計数することができる。 このように真のトリプルコインシデンスを計数すること
ができるため、とくに高計数率時のＳ／Ｎ比を高めるこ
とができる。 すなわち、ポジトロンＥＣＴ装置における計数率特性は
第５図に示すようになっている。ここで、曲線Ｔは真の
同時計数くつまりポジ１−ロン消滅γ線の同時計数）に
関するもので、曲線Ｒは偶発同時計数、曲線ＴＣは真の
トリプルコインシデンス（真の同時計数を陰むもの）を
それぞれ示す。この第５図に示すように高い計数率にな
ると、偶発同時計数が支配的になるとともにトリプルコ
インシデンスも増加する。このトリプルコインシデンス
には真の同時計数がかまれるため、この情報を利用する
ことによりＳ／Ｎ比を高めることができる。とくに高計
数率時には感度低下を防ぎ、定量性を改善することがで
きる。
つぎにこの発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第１図において、ＡＮＤゲート１には３つの
信号Ａ、Ｂ、Ｄがそのまま入力されており、この３つの
信号Ａ、Ｂ、Ｄのパルス幅をτとするとき、３τの時間
間隔内でこれらが同時に入力されたときにＡＮＤゲート
１より同時検出信号を得る。他方、ＡＮＤゲート２には
、遅延されないそのままの信号Ａと、遅延回路３を経た
信号Ｂと、遅延回路４．５を経た信号りとが入力されて
いる。遅延回路３．４．５の遅延時間はたとえば６τに
設定される。これにより信号Ｂは時間６τだけ、信号り
はその２倍の時間、それぞれ遅延された後ＡＮＤゲート
２に入力される。ＡＮＤゲート１．２の出力はメモリ６
．７に送られ、それらが生じたときにメモリ６．７の内
容が＋１ずつ加算される。このメモリ６．７の内容つま
りＡＮＤゲート１．２の出力の計数値は演算回路８に送
られてメモリ６の計数値からメモリ７の計数値が差し引
かれる。 上記の信号Ａ、Ｂ、Ｄは第２図のグループＡ。 Ｂ、Ｄより送られる。すなわち、多数の放射線検出器９
がリング型に配列されるが、それを６つのグループＡ〜
Ｆに分けてそれらのグループに属する検出器９のどれか
１つにγ線が入射して出力が生じると、それがそのグル
ープの信号として送られる。 第２図に示すように、点Ｐでポジトロンが消滅し、２つ
のγ線２１．２２が１８０°方向に同時に放出され、グ
ループＡに属する１つの検出器９及びグループＤに属す
る１つの検出器９に同時に入射したとする。このとき偶
然、まったく無関係な１つのγ線２３がグループＢに属
する１つの検出器９にも同時に入射したとすると、ＡＮ
Ｄゲート１より出力が生じ、これによりメモリ６の内容
が＋１加算される。すなわち、図では省略しているが、
メモリ６は放射線検出器９のそれぞれの組合せで指定さ
れるアドレスを有し、そのアドレスに上記のような計数
が行なわれる。こうして、第４図に示すように同時入射
した３つの検出器９を結ぶ直線４１．４２．４３に対応
するアドレスにおいて加算される。 これに対して、第３図に示すようにまったく相互に無関
係な３つのγ線３１．３２．３３が偶然同時にグループ
Ａ、Ｂ、Ｄに属する各１つの検出器９に入射した場合も
、ＡＮＤゲート１より出力が生じ、メモリ７の内容が上
記のメモリ６と同様に＋１加算される。 第２図の場合はポジトロン消滅γ線の同時入射を含んだ
ものとなるので、これを真のトリプルコインシデンスと
呼び、第３図の場合はポジトロン消滅γ線の同時入射を
まったく含まないものであるため偶発トリプルコインシ
デンスと呼ぶと、メモリ６ではこれら真のトリプルコイ
ンシデンスと偶発トリプルコインシデンスとの両者の計
数がなされることになる。 他方、ＡＮＤゲー１−２は偶発トリプルコインシデンス
にのみ対応して出力を生じる。すなわち、第２図のよう
な真のトリプルコインシデンスの場合には、３つの信号
のうちの２つの信号がそれぞれ異なる遅延時間で遅延さ
せられるので、ＡＮＤゲート２への３の入力信号の同時
性が満たされることなく、ＡＮＤゲート２がら出力は生
じない。 ＡＮＤゲート２から出力が生じるのは、第３図のように
まったく無関係に３つのγ線が入射した場合で、しかも
そのうちの２つの信号Ｂ、Ｄをそれぞれ異なる時間たけ
遅延させることによって３つの信号の同時性が満たされ
たときである。そして、このように遅延させることによ
って偶然に同時性が満たされる場合の頻度は、３つのγ
線が偶然に同時性を満たす場合の頻度と同じであると考
えられる。したがって、メモリ７の計数値は偶発トリプ
ルコインシデンスの計数値ということになり、演算回路
８で、メモリ６の計数値からメモリ７の計数値を引くこ
とにより、偶発トリプルコインシデンスを除いた真のト
リプルコインシデンスの計数値を得ることができる。 実際のポジトロンＥＣＴ装置では６つのグループＡ〜Ｆ
のあらゆる３つの組合せごとに第１図の回路が設けられ
、６つのグループＡ〜Ｆの間での同時入射のあらゆる３
つの組合せに関して真のトリプルコインシデンスの計数
が行なわれる。したがって、得られるデータは第４図に
示すような３本の直線で表わされる位置情報の集頂とな
り、そのうちの２本はポジトロンの位置を表わさない。 そこで、この収集データからの画像再構成は通常とは異
なる画像再構成アルゴリズムを用いる必要がある。たと
えば、つぎのようなものが考えらる（もちろんこれに限
定されるわけではない）。まず点線源を用いてトリプル
コインシデンスデータを収集し、これを単純に逆投影し
てみる。すると、その画像はもとの点線源の画像に対し
て空間的に広がったぼけたものとなるので、これを既知
の点線源の画像と比較してもとの画像に戻すだめの広が
り逆関数く２次元フィルタ）を予め求めておく。 そして、実際の被検者に関して収集したトリプルコイン
シデンスデータを単純に逆投影し、上記の広がり逆関数
を作用させる６ 通常のポジｌ−ロンＥＣＴ装置では、２つのグループ間
の同時計数データを求める構成が備えられていて、その
データから画像が再構成されるようになっているため、
この画像に対して上記のようなトリプルコインシデンス
データによる画像を加えれば、高計数率時の画像の感度
を向上させ、Ｓ／Ｎ比を向上させるとともに定量性（リ
ニアリティ）も高めることができる。 なお、上記の実施例では、ＡＮＤゲート１の出力の計数
をメモリ６で行ない、ＡＮＤゲート２の出力の計数をメ
モリ７で行なって、後に演算回路８で前者の計数値から
後者の計数値を差し引くようにしているが、１つのメモ
リを用い、このメモリに対して、ＡＮＤゲート１の出力
があったとき＋１加算し、ＡＮＤゲート２の出力があっ
たときに一１減算するという構成とすることもできる。 また、同時検出回路としてＡＮＤゲート１．２以外にフ
リップフロップを使用した回路やＦ？、ＯＭを使用した
回路などが考えられる。 【発明の効果） この発明のトリプルコインシデンス計数回路によれば、
偶発的なトリプルコインシデンスを除いた真のトリプル
コインシデンスのみを計数することができるので、高計
数率時の画像の感度を向上させ、Ｓ／Ｎ比を向上させる
とともに定量性も高めることができる
説明する。第１図において、ＡＮＤゲート１には３つの
信号Ａ、Ｂ、Ｄがそのまま入力されており、この３つの
信号Ａ、Ｂ、Ｄのパルス幅をτとするとき、３τの時間
間隔内でこれらが同時に入力されたときにＡＮＤゲート
１より同時検出信号を得る。他方、ＡＮＤゲート２には
、遅延されないそのままの信号Ａと、遅延回路３を経た
信号Ｂと、遅延回路４．５を経た信号りとが入力されて
いる。遅延回路３．４．５の遅延時間はたとえば６τに
設定される。これにより信号Ｂは時間６τだけ、信号り
はその２倍の時間、それぞれ遅延された後ＡＮＤゲート
２に入力される。ＡＮＤゲート１．２の出力はメモリ６
．７に送られ、それらが生じたときにメモリ６．７の内
容が＋１ずつ加算される。このメモリ６．７の内容つま
りＡＮＤゲート１．２の出力の計数値は演算回路８に送
られてメモリ６の計数値からメモリ７の計数値が差し引
かれる。 上記の信号Ａ、Ｂ、Ｄは第２図のグループＡ。 Ｂ、Ｄより送られる。すなわち、多数の放射線検出器９
がリング型に配列されるが、それを６つのグループＡ〜
Ｆに分けてそれらのグループに属する検出器９のどれか
１つにγ線が入射して出力が生じると、それがそのグル
ープの信号として送られる。 第２図に示すように、点Ｐでポジトロンが消滅し、２つ
のγ線２１．２２が１８０°方向に同時に放出され、グ
ループＡに属する１つの検出器９及びグループＤに属す
る１つの検出器９に同時に入射したとする。このとき偶
然、まったく無関係な１つのγ線２３がグループＢに属
する１つの検出器９にも同時に入射したとすると、ＡＮ
Ｄゲート１より出力が生じ、これによりメモリ６の内容
が＋１加算される。すなわち、図では省略しているが、
メモリ６は放射線検出器９のそれぞれの組合せで指定さ
れるアドレスを有し、そのアドレスに上記のような計数
が行なわれる。こうして、第４図に示すように同時入射
した３つの検出器９を結ぶ直線４１．４２．４３に対応
するアドレスにおいて加算される。 これに対して、第３図に示すようにまったく相互に無関
係な３つのγ線３１．３２．３３が偶然同時にグループ
Ａ、Ｂ、Ｄに属する各１つの検出器９に入射した場合も
、ＡＮＤゲート１より出力が生じ、メモリ７の内容が上
記のメモリ６と同様に＋１加算される。 第２図の場合はポジトロン消滅γ線の同時入射を含んだ
ものとなるので、これを真のトリプルコインシデンスと
呼び、第３図の場合はポジトロン消滅γ線の同時入射を
まったく含まないものであるため偶発トリプルコインシ
デンスと呼ぶと、メモリ６ではこれら真のトリプルコイ
ンシデンスと偶発トリプルコインシデンスとの両者の計
数がなされることになる。 他方、ＡＮＤゲー１−２は偶発トリプルコインシデンス
にのみ対応して出力を生じる。すなわち、第２図のよう
な真のトリプルコインシデンスの場合には、３つの信号
のうちの２つの信号がそれぞれ異なる遅延時間で遅延さ
せられるので、ＡＮＤゲート２への３の入力信号の同時
性が満たされることなく、ＡＮＤゲート２がら出力は生
じない。 ＡＮＤゲート２から出力が生じるのは、第３図のように
まったく無関係に３つのγ線が入射した場合で、しかも
そのうちの２つの信号Ｂ、Ｄをそれぞれ異なる時間たけ
遅延させることによって３つの信号の同時性が満たされ
たときである。そして、このように遅延させることによ
って偶然に同時性が満たされる場合の頻度は、３つのγ
線が偶然に同時性を満たす場合の頻度と同じであると考
えられる。したがって、メモリ７の計数値は偶発トリプ
ルコインシデンスの計数値ということになり、演算回路
８で、メモリ６の計数値からメモリ７の計数値を引くこ
とにより、偶発トリプルコインシデンスを除いた真のト
リプルコインシデンスの計数値を得ることができる。 実際のポジトロンＥＣＴ装置では６つのグループＡ〜Ｆ
のあらゆる３つの組合せごとに第１図の回路が設けられ
、６つのグループＡ〜Ｆの間での同時入射のあらゆる３
つの組合せに関して真のトリプルコインシデンスの計数
が行なわれる。したがって、得られるデータは第４図に
示すような３本の直線で表わされる位置情報の集頂とな
り、そのうちの２本はポジトロンの位置を表わさない。 そこで、この収集データからの画像再構成は通常とは異
なる画像再構成アルゴリズムを用いる必要がある。たと
えば、つぎのようなものが考えらる（もちろんこれに限
定されるわけではない）。まず点線源を用いてトリプル
コインシデンスデータを収集し、これを単純に逆投影し
てみる。すると、その画像はもとの点線源の画像に対し
て空間的に広がったぼけたものとなるので、これを既知
の点線源の画像と比較してもとの画像に戻すだめの広が
り逆関数く２次元フィルタ）を予め求めておく。 そして、実際の被検者に関して収集したトリプルコイン
シデンスデータを単純に逆投影し、上記の広がり逆関数
を作用させる６ 通常のポジｌ−ロンＥＣＴ装置では、２つのグループ間
の同時計数データを求める構成が備えられていて、その
データから画像が再構成されるようになっているため、
この画像に対して上記のようなトリプルコインシデンス
データによる画像を加えれば、高計数率時の画像の感度
を向上させ、Ｓ／Ｎ比を向上させるとともに定量性（リ
ニアリティ）も高めることができる。 なお、上記の実施例では、ＡＮＤゲート１の出力の計数
をメモリ６で行ない、ＡＮＤゲート２の出力の計数をメ
モリ７で行なって、後に演算回路８で前者の計数値から
後者の計数値を差し引くようにしているが、１つのメモ
リを用い、このメモリに対して、ＡＮＤゲート１の出力
があったとき＋１加算し、ＡＮＤゲート２の出力があっ
たときに一１減算するという構成とすることもできる。 また、同時検出回路としてＡＮＤゲート１．２以外にフ
リップフロップを使用した回路やＦ？、ＯＭを使用した
回路などが考えられる。 【発明の効果） この発明のトリプルコインシデンス計数回路によれば、
偶発的なトリプルコインシデンスを除いた真のトリプル
コインシデンスのみを計数することができるので、高計
数率時の画像の感度を向上させ、Ｓ／Ｎ比を向上させる
とともに定量性も高めることができる
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図は真
のトリプルコインシデンスを示す模式図、第３図は偶発
トリプルコインシデンスを示す模式図、第４図は１〜リ
プルコインシデンスの検出によって得られるデータを示
す模式図、第５図は計数率特性を示すグラフである。 １．２・・・ＡＮＤゲート、３．４．５・・・遅延回路
、６．７・・・メモリ、８・・・演算回路、９・・・放
射線検出器、２１〜２３．３１〜３３・・・γ線。
のトリプルコインシデンスを示す模式図、第３図は偶発
トリプルコインシデンスを示す模式図、第４図は１〜リ
プルコインシデンスの検出によって得られるデータを示
す模式図、第５図は計数率特性を示すグラフである。 １．２・・・ＡＮＤゲート、３．４．５・・・遅延回路
、６．７・・・メモリ、８・・・演算回路、９・・・放
射線検出器、２１〜２３．３１〜３３・・・γ線。
Claims (1)
- （１）３つの信号が入力され、それらが一定の時間間隔
内に生じたものであるときに検出出力を生じる第１の同
時検出回路と、上記の３つの信号のうちの２つを異なる
遅延時間で遅延させた後の３つの信号が入力され、それ
らが一定の時間間隔内に生じたものであるときに検出出
力を生じる第２の同時検出回路と、第１、第２の同時検
出回路の検出出力の差を計数する計数回路とからなるト
リプルコインシデンス計数回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21689888A JP2629872B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | トリプルコインシデンス計数回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21689888A JP2629872B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | トリプルコインシデンス計数回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264496A true JPH0264496A (ja) | 1990-03-05 |
| JP2629872B2 JP2629872B2 (ja) | 1997-07-16 |
Family
ID=16695643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21689888A Expired - Lifetime JP2629872B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | トリプルコインシデンス計数回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2629872B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271428A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Hitachi Ltd | ガンマ線の同時計数方法および核医学診断装置 |
| JP2007529750A (ja) * | 2004-03-19 | 2007-10-25 | トライアンフ，オペレーティング アズ ア ジョイント ヴェンチャー バイ ザ ガバナーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ アルバータ，ザ ユニバーシティ オブ ブリティッシュ コロンビア，カールトン | 陽電子放出断面撮影におけるランダム同時発生を否認する方法および機器 |
| JP2013083580A (ja) * | 2011-10-11 | 2013-05-09 | Toshiba Corp | 陽電子放射断層撮影装置及び方法 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP21689888A patent/JP2629872B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007529750A (ja) * | 2004-03-19 | 2007-10-25 | トライアンフ，オペレーティング アズ ア ジョイント ヴェンチャー バイ ザ ガバナーズ オブ ザ ユニバーシティ オブ アルバータ，ザ ユニバーシティ オブ ブリティッシュ コロンビア，カールトン | 陽電子放出断面撮影におけるランダム同時発生を否認する方法および機器 |
| JP4695640B2 (ja) * | 2004-03-19 | 2011-06-08 | アドバンスト アプライド フィジックス ソリューションズ，インコーポレイテッド | 陽電子放出断面撮影におけるランダム同時発生を否認する方法および機器 |
| JP2007271428A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Hitachi Ltd | ガンマ線の同時計数方法および核医学診断装置 |
| JP4681487B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-05-11 | 株式会社日立製作所 | ガンマ線の同時計数方法および核医学診断装置 |
| JP2013083580A (ja) * | 2011-10-11 | 2013-05-09 | Toshiba Corp | 陽電子放射断層撮影装置及び方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2629872B2 (ja) | 1997-07-16 |
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