JPH0412261A - ガス分析計の自動校正装置 - Google Patents
ガス分析計の自動校正装置Info
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- JPH0412261A JPH0412261A JP2116581A JP11658190A JPH0412261A JP H0412261 A JPH0412261 A JP H0412261A JP 2116581 A JP2116581 A JP 2116581A JP 11658190 A JP11658190 A JP 11658190A JP H0412261 A JPH0412261 A JP H0412261A
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- Japan
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- calibration
- gas
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 39
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はガス分析計の自動スパン校正を行うための自動
校正装置の改良に関する。
校正装置の改良に関する。
（従来の技術〕
一般に、ガス分析計などの各種分析計は検出部、増幅部
などの温度ドリフトあるいは経時変化によって生ずる誤
差を補正するために、測定を行うに際してはその測定作
業に先立って、分析計のゼロ調整およびスパン校正を行
う必要がある。而して、従来からのゼロ調整およびスパ
ン校正は次のような手段で行われていた。
などの温度ドリフトあるいは経時変化によって生ずる誤
差を補正するために、測定を行うに際してはその測定作
業に先立って、分析計のゼロ調整およびスパン校正を行
う必要がある。而して、従来からのゼロ調整およびスパ
ン校正は次のような手段で行われていた。
即ち、先ず、分析計にゼロガスを導入し、そのときの分
析計における表示器の表示値がゼロとなるようにゼロ調
整を行う。次いで分析計に連設されたマイクロコンピュ
ータを含む自動校正装置に校正用ガス（所定の既知濃度
の測定対象ガス）の濃度設定を行うとともに分析計の校
正レンジを校正用ガス濃度に適したレンジに設定し、そ
の後校正用ガスを分析計に供給する。そして表示器に表
示されたガス濃度が自動校正装置に入力した校正用ガス
の既知濃度に対応する値となるように前記マイクロコン
ピュータにおいて演算処理され、自動的にスパン校正を
おこなっていた。
析計における表示器の表示値がゼロとなるようにゼロ調
整を行う。次いで分析計に連設されたマイクロコンピュ
ータを含む自動校正装置に校正用ガス（所定の既知濃度
の測定対象ガス）の濃度設定を行うとともに分析計の校
正レンジを校正用ガス濃度に適したレンジに設定し、そ
の後校正用ガスを分析計に供給する。そして表示器に表
示されたガス濃度が自動校正装置に入力した校正用ガス
の既知濃度に対応する値となるように前記マイクロコン
ピュータにおいて演算処理され、自動的にスパン校正を
おこなっていた。
〔発明が解決しようとする課題］
ところで一般に、校正用ガスを供給するガスボンベは製
造上の問題から全く同一の濃度のものを製作することは
不可能であるため、ガスボンベを交換するごとに新しい
校正用ガスの濃度設定と分析計の校正レンジの設定をそ
れぞれ独立して行っていた。そのため校正レンジの設定
ミスによる校正精度の低下あるいは校正不能といった事
態が起こることがあった。
造上の問題から全く同一の濃度のものを製作することは
不可能であるため、ガスボンベを交換するごとに新しい
校正用ガスの濃度設定と分析計の校正レンジの設定をそ
れぞれ独立して行っていた。そのため校正レンジの設定
ミスによる校正精度の低下あるいは校正不能といった事
態が起こることがあった。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、簡単な操作によって確実にスパン
校正が行えるガス分析計の自動校正装置を提供すること
にある。
目的とするところは、簡単な操作によって確実にスパン
校正が行えるガス分析計の自動校正装置を提供すること
にある。
上述の目的を達成するため、本発明に係るガス分析計の
自動校正装置は、校正用ガスの濃度設定に連動して自動
的に校正時の最適レンジを選択するよう構成した点に特
徴がある。
自動校正装置は、校正用ガスの濃度設定に連動して自動
的に校正時の最適レンジを選択するよう構成した点に特
徴がある。
上記特徴構成によれば、自動校正装置に設定するのは校
正用ガス濃度のみでよく、分析計の校正レンジの設定の
必要がないため、校正レンジの設定ミスによる校正精度
の低下あるいは校正不能といった事態が無くなるため、
常に高精度な測定が可能となる。
正用ガス濃度のみでよく、分析計の校正レンジの設定の
必要がないため、校正レンジの設定ミスによる校正精度
の低下あるいは校正不能といった事態が無くなるため、
常に高精度な測定が可能となる。
〔実施例］
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例を示し、同図において、１は
校正用ガスＫを供給するためのガスボンベであり、３は
例えば赤外線ガス分析計（以下、分析計と云う）におけ
る分析部であって、校正用ガス供給路２を介して校正用
ガスＫが導入される。
校正用ガスＫを供給するためのガスボンベであり、３は
例えば赤外線ガス分析計（以下、分析計と云う）におけ
る分析部であって、校正用ガス供給路２を介して校正用
ガスＫが導入される。
４はＲ１−Ｒ４等の抵抗を介して例えば５／１０／２０
１５０ ｐｐｍといった測定レンジを設けて、分析部３
に設けられた検出器（図示せず）からの信号量（即ち、
ガス濃度）に適したレンジを設定するための校正レンジ
設定部である。そしてここから出力される信号は自動校
正装置９に内蔵されるＡ／Ｄ変換器６を介してマイクロ
コンピュータ７に入力される。そしてこのマイクロコン
ピュータ７において演算処理を行いスパン校正が自動的
に行われる。そして本発明では校正用ガス濃度設定に連
動して自動的に校正時の最適レンジを選択する機能を備
えている。
１５０ ｐｐｍといった測定レンジを設けて、分析部３
に設けられた検出器（図示せず）からの信号量（即ち、
ガス濃度）に適したレンジを設定するための校正レンジ
設定部である。そしてここから出力される信号は自動校
正装置９に内蔵されるＡ／Ｄ変換器６を介してマイクロ
コンピュータ７に入力される。そしてこのマイクロコン
ピュータ７において演算処理を行いスパン校正が自動的
に行われる。そして本発明では校正用ガス濃度設定に連
動して自動的に校正時の最適レンジを選択する機能を備
えている。
而して、上記構成による自動校正装置９の作用を説明す
ると、先ず、分析部３にゼロガス（窒素または精製空気
）を導入し、表示器１０の表示値がゼロとなるようにゼ
ロ点調整を行う。次いで、スパン校正を行うにあたり、
ガスボンベ１の校正用ガスにの濃度をキーボード８等に
よりマイクロコンピュータ７に入力する。この校正用ガ
スにの濃度をマイクロコンピュータ７で処理して校正レ
ンジ４の最適レンジを判断し、所定の信号を校正レンジ
設定部４に送信することにより、校正用ガス濃度に適し
たレンジを選択する。
ると、先ず、分析部３にゼロガス（窒素または精製空気
）を導入し、表示器１０の表示値がゼロとなるようにゼ
ロ点調整を行う。次いで、スパン校正を行うにあたり、
ガスボンベ１の校正用ガスにの濃度をキーボード８等に
よりマイクロコンピュータ７に入力する。この校正用ガ
スにの濃度をマイクロコンピュータ７で処理して校正レ
ンジ４の最適レンジを判断し、所定の信号を校正レンジ
設定部４に送信することにより、校正用ガス濃度に適し
たレンジを選択する。
例えば、校正用ガス濃度が４ ｐｐｍであれば５ｐｐｍ
レンジを、また、校正用ガス濃度が１８ ｐｐｍであれ
ば２０ ｐｐｍレンジというように常に最大の感度でス
パン校正が行えるように自動的に選択されるのである。
レンジを、また、校正用ガス濃度が１８ ｐｐｍであれ
ば２０ ｐｐｍレンジというように常に最大の感度でス
パン校正が行えるように自動的に選択されるのである。
次いで、ガスボンベ１から校正用ガスＫを分析部３に導
入することにより、表示器１０に表示される検出信号が
マイクロコンピュータ７に入力しておいた校正用ガスに
の濃度に対応する値となるようにマイクロコンピュータ
７において演算処理され、自動的にスパン校正をおこな
うのである。
入することにより、表示器１０に表示される検出信号が
マイクロコンピュータ７に入力しておいた校正用ガスに
の濃度に対応する値となるようにマイクロコンピュータ
７において演算処理され、自動的にスパン校正をおこな
うのである。
なお、上述したようにキーボード８により、マイクロコ
ンピュータ７に校正用ガスにの濃度設定を行う他に、ス
パン校正周期も入力できるようにし、ある一定周期で自
動的にスパン校正を行えるようにしてもよい。
ンピュータ７に校正用ガスにの濃度設定を行う他に、ス
パン校正周期も入力できるようにし、ある一定周期で自
動的にスパン校正を行えるようにしてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、自動校正装置に
校正用ガス濃度のみを設定するだけで、分析計の校正レ
ンジの設定操作の必要がないため、校正レンジ・の設定
ミスによる校正精度の低下あるいは校正不能といった事
態が無くなり、常に高精度な測定が可能となる。
校正用ガス濃度のみを設定するだけで、分析計の校正レ
ンジの設定操作の必要がないため、校正レンジ・の設定
ミスによる校正精度の低下あるいは校正不能といった事
態が無くなり、常に高精度な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明に係るガス分析計の自動校正装置の一実
施例を示す全体構成図である。 １・・・ガスボンベ、４・・・校正レンジ、９・・・自
動校正装置、Ｋ・・・校正用ガス。
施例を示す全体構成図である。 １・・・ガスボンベ、４・・・校正レンジ、９・・・自
動校正装置、Ｋ・・・校正用ガス。
Claims (1)
- ガスボンベからの校正用ガスをガス分析計に供給するこ
とにより前記ガス分析計の自動スパン校正を行うガス分
析計の自動校正装置において、前記校正用ガスの濃度設
定に連動して自動的に校正時の最適レンジを選択するよ
う構成してあるガス分析計の自動校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11658190A JP2689241B2 (ja) | 1990-05-01 | 1990-05-01 | ガス分析計の自動校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11658190A JP2689241B2 (ja) | 1990-05-01 | 1990-05-01 | ガス分析計の自動校正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0412261A true JPH0412261A (ja) | 1992-01-16 |
| JP2689241B2 JP2689241B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=14690672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11658190A Expired - Fee Related JP2689241B2 (ja) | 1990-05-01 | 1990-05-01 | ガス分析計の自動校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2689241B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0590077A1 (en) * | 1991-06-18 | 1994-04-06 | Futrex, Inc. | A method for providing general calibration for near infrared instruments for measurement of blood glucose |
| WO2008111548A1 (ja) * | 2007-03-12 | 2008-09-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | 培養装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52106796A (en) * | 1976-03-03 | 1977-09-07 | Kett Electric Lab | Measuring apparatus for moisture contents |
| JPS531043A (en) * | 1976-06-25 | 1978-01-07 | Toshiba Corp | Automatic range setter of automatic exhausting gas analyzer |
| JPS586128A (ja) * | 1981-07-03 | 1983-01-13 | Hitachi Ltd | フォトマスクの欠落欠陥修正装置 |
| JPS5992337A (ja) * | 1982-11-18 | 1984-05-28 | Mitaka Kogyo Kk | ガス分析計 |
| JPS6140936A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-27 | 末松 大吉 | 暗渠用ブロツク |
-
1990
- 1990-05-01 JP JP11658190A patent/JP2689241B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52106796A (en) * | 1976-03-03 | 1977-09-07 | Kett Electric Lab | Measuring apparatus for moisture contents |
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| EP0590077A1 (en) * | 1991-06-18 | 1994-04-06 | Futrex, Inc. | A method for providing general calibration for near infrared instruments for measurement of blood glucose |
| EP0590077A4 (en) * | 1991-06-18 | 1994-10-26 | Futrex Inc | METHOD FOR GENERAL CALIBRATION OF A CLOSE-INFRARED DEVICE FOR MEASURING BLOOD GLUCOSE. |
| WO2008111548A1 (ja) * | 2007-03-12 | 2008-09-18 | Sanyo Electric Co., Ltd. | 培養装置 |
| JP2008220235A (ja) * | 2007-03-12 | 2008-09-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 培養装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2689241B2 (ja) | 1997-12-10 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |