JPH04121646A - 電子部品極性検査装置 - Google Patents

電子部品極性検査装置

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JPH04121646A
JPH04121646A JP2244165A JP24416590A JPH04121646A JP H04121646 A JPH04121646 A JP H04121646A JP 2244165 A JP2244165 A JP 2244165A JP 24416590 A JP24416590 A JP 24416590A JP H04121646 A JPH04121646 A JP H04121646A
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Japan
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polarity
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parts
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JP2244165A
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Takashi Tamura
尚 田村
Toshio Nakagawa
中川 敏夫
Toshihiro Kawahara
河原 敏弘
Hideya Ohata
大畑 秀弥
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Sanyo Electric Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (()産業上の利用分野 本発明は、プリント基板上に装着された電子部品の極性
を検査する電子部品極性検査装置に関する。
(ロ)従来の技術 従来、プリント基板上に装着されたパッケージ型IC素
子などのフラットパッケージ型電子部品は、表裏反転・
極性違い 品種違いなどの検査を目視により行っていた
一方、画像認識によって、表面と裏面の輝度が異なる電
子部品の表裏反転を検査する方法として特開平2−21
247公報の「電子部品の表裏反転検出方法」が開示さ
れている。
そして、画像認識によって、部品輪郭に凹凸を持つ電子
部品の極性を検査する方法として、特開平1−2026
78公報の「部品検査装置」が開示されている。
(ハ)発明が解決しようとする課題 まず、作業者の目視検査では、見逃し等を避けられず、
作業能率の面で6自ずと限界があった次に、上記の[電
子部品の表裏反転検出方法Jでは、部品の表面と裏面の
輝度差が少ないフラットパッケージ型IC素子など、表
裏判定を精度良く行えない場合がある。
さらに、上記の「部品検査装置」では、部品輪郭に切り
欠き等がなく、かつ極性マークと他の部品表面との輝度
差が少ないフラットパッケージ型IC素子など、極性判
定を精度良く行えない場合がある。
(ニ)課題を解決するための手段 このため本発明は、マスター基板を用いたディーチング
の際に、検査エリアとして、フラットパッケージ型電子
部品表面の、極性識別機能を有する一部分に画像認識エ
リアを設定し、同時に部品中心に関し点対称の位置に同
じ大きさの比較用画像認識エリアを設定する0次に、こ
の対をなす検査エリア内の画像情報を比較処理し、数項
目の特徴量につき各相違点を記憶しておく、そして、検
査実行時に、被検査基板のフラットパッケージ型電子部
品の対をなす検査エリアから求めた数項目の特徴量の各
相違点と、当該部品のマスターデータとを比較判断して
極性の検査を行う。
(ホ)作用 上記のような構成により、プリント基板上に装着された
フラットパッケージ型電子部品の極性などを、極性識別
部分及びそれと部品中心に関し点対称部分の画像を認識
してその特徴量の相違点を算出し、この相違点に対する
一致度合いで判断するため、精度良く部品の極性を判定
できる。
(へ)実施例 第1図は、本発明の電子部品極性検査装置の一実施例を
示す構成図である。1はIC素子等のフラットパッケー
ジ型電子部品で、プリント基板2上に装着されている。
4はプリント基板2の真上に設ける照明装置で、この照
明装置4より高い位置に設けるテレビカメラ等の撮像手
段3とともに一体をなしてX−Yテーブル5に取り付け
る。
7は、同じプリント基板2でも、マスター基板を使用し
たティーチング時に、撮像手段3が取り込んだ部品画像
の一部分と、同時にそれと部品中心に関して点対称に位
置する部分とを画像認識させる検査エリア設定手段であ
る。そして8は、その一対の検査エリア内の画像を認識
し、平均濃度、平均濃度分散、白画素数、重心など数項
目の特徴量を比較処理して各相違点を算出する画像処理
手段であり、9はその相違点を記憶しておく記憶手段で
ある。さらに10は、ティーチング時においては、前記
各相違点が極性判定できるだけの有意差を持つかどうか
を判定し、検査実行時においては、被検査部品の一対の
検査エリアから求めた数項目の特徴量についての各相違
点と、記憶手段9の当該マスターデータとを比較・判定
する判定手段である。11はティーチング時における判
定手段10の判定結果により、前記各相違点が極性判定
できるだけの有意差を持たない場合に、CRT等の表示
手段6により作業者に警告を発する警告手段である。ま
た12は、撮像手段3及び照明装置4を、所望の位置に
移動させるX−Yテーブルを駆動する駆動手段である。
次に、このような構成を有する本発明装置における検査
方法を、第2図に基づいて説明する。
まず、ティーチング時に検査エリア設定を行うため、プ
リント基板2としてマスター基板を用意し、X−Yテー
ブル駆動手段12により設定する部品1の真上に撮像手
段3を位置させ、照明装置4を点灯する。そして、撮像
手段3の画像情報は画像処理手段8に取り込まれ、かつ
表示手段6に映し出される。同時に、検査エリア設定手
段7によって表示画面に四角形のウィンド(検査エリア
)も映し出される。さらに作業者は、第2図に示すよう
に、検査エリア設定手段7によってウィンドWaの位置
を操作し、部品1の極性を識別するに足る文字あるいは
マークのある部分にそのウィンドを設定し、記憶手段9
にその位置を記憶させる。この時検査エリア設定手段7
は、作業者が設定したウィンドWaと部品1の中心に関
して点対称の位置に、同じ大きさのウィンドwbを自動
的に設定する。その後、この2つの検査エリア内の画像
情報を画像処理手段8で比較処理して、平均濃度、平均
濃度分散、白画素数、重心など数項目の特徴量につき各
相違点を算出し、判定手段10によってその算出した各
相違点が、極性を判別できるだけの有意差を持つかどう
かを判定する。そして、有意差を持つ場合には、その算
出した各相違点を当該部品のマスターデータとして、記
憶手段9に記t0する。また、有意差を持たない場合に
は、警告手段11が表示手段6を介して、作業者に判定
不可の警告を発する。この場合作業者は、特徴量により
大きな差のある他の部分に、ウィンドWaを移動して設
定を変更することとなる。
次に、プリント基板2として被検査基板を置いて、被検
査部品lの画像を取り込み検査を実行する。当該部品に
ついて記憶手段9に記憶された位置に検査エリアが設定
され、それに付随して部品中心に関し点対称の位置に比
較用検査エリアも設定される。そして、この2つの検査
エリア内の画像情報を画像処理手段8で比較処理し前記
数項目の特徴量につき各相違点を算出する。さらに、判
定手段lOが検査データとこの部品に関して記憶手段9
が記憶している当該マスターデータとを比較し、各相違
点の値があらかじめ規定しておいた許容範囲内にあるか
どうかを判定して、装着された部品の極性を検査する。
本実施例においては、プリント基板上に装着されたフラ
ットパッケージ型電子部品の極性を判定する場合につい
て述べたが、本発明は部品の表裏反転や品種違いなどの
判別にも、適当な検査エリアを設定することにより適用
可能である。
())発明の効果 以上のように、本発明電子部品極性検査装置により、部
品の極性を現す文字・マーク等が他の部分と視覚認識上
顕著な差がない場合においても、フラットパッケージ型
電子部品等の極性違い・表裏反転などの装着形態検査を
、精度良く行うことができる。また、ティーチング段階
で極性判定できる部品かどうかを吟味しているため、検
査実行段階で誤判定が発生せず、従って、再ティーチン
グなどのロス低減を期待できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す装置構成図、第2図
は本実施例による検査方法の説明図である。 1 ・・フラットパッケージ型電子部品、2プリント基
板、3 ・ 撮像手段、4 ・ 照明装置5・・X−Y
テーブル、6 ・ 表示手段、7・検査エリア設定手段
、8・ 画像処理手段、9・ 記憶手段、10・・・判
定手段、11 ・ 警告手段、12   X−Yテーブ
ル駆動手段。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電子部品表面の極性マークや印刷文字を画像認識
    の対象として電子部品の極性を判別するものにおいて、 前記電子部品表面の、極性識別機能を有する一部分に画
    像認識エリアを設定し、同時に部品中心に関し点対称の
    位置に同じ大きさの比較用画像認識エリアを設定する検
    査エリア設定手段と、マスター基板を用いたティーチン
    グ時に、前記の対をなす検査エリアの画像情報を比較処
    理し、特徴量の相違点を算出する画像処理手段と、前記
    特徴量の相違点を記憶する記憶手段と、検査実行時に、
    被検査部品の対をなす検査エリアから求めた特徴量の相
    違点と、対応する前記記憶手段のマスターデータを比較
    ・判定する判定手段とを備えることを特徴とする電子部
    品極性検査装置。
  2. (2)電子部品表面の極性マークや印刷文字を画像認識
    の対象として電子部品の極性を判別する特許請求の範囲
    第1項記載の電子部品極性検査装置において、 マスター基板を用いたティーチング時に、前記画像処理
    手段で算出された特徴量の相違点が、極性判定できるだ
    けの有意差を持つかどうかを判定する判定手段と、 前記判定手段の判定結果により、有意差を持つ場合にの
    みその特徴量の相違点を記憶する記憶手段と、 前記判定手段の判定結果により、有意差を持たない場合
    、作業者に判定不可を警告する警告手段とを備えること
    を特徴とする電子部品極性検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109470702A (zh) * 2018-12-18 2019-03-15 精进电动科技(正定)有限公司 一种检测磁钢装配极性的装置
WO2019106832A1 (ja) * 2017-12-01 2019-06-06 株式会社Pfu 画像処理装置、特徴量生成方法及びプログラム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019106832A1 (ja) * 2017-12-01 2019-06-06 株式会社Pfu 画像処理装置、特徴量生成方法及びプログラム
CN109470702A (zh) * 2018-12-18 2019-03-15 精进电动科技(正定)有限公司 一种检测磁钢装配极性的装置
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