JP2000088524A - 装着部品確認装置 - Google Patents
装着部品確認装置Info
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- JP2000088524A JP2000088524A JP10259888A JP25988898A JP2000088524A JP 2000088524 A JP2000088524 A JP 2000088524A JP 10259888 A JP10259888 A JP 10259888A JP 25988898 A JP25988898 A JP 25988898A JP 2000088524 A JP2000088524 A JP 2000088524A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プリント基板に装着された部品が定められた
位置に装着されているか否かを高速、且つ正確に判定す
る装着部品確認装置を提供する。 【解決手段】 ４は光源であり、この光源４の上方に光
透過マスク３が設けられている。そしてこの光透過マス
ク３に被検査物であるプリント基板２が載置されてい
る。そして、このプリント基板２の上方にＣＣＤカメラ
８が設けられており、このＣＣＤカメラ８の出力は、画
像処理装置９においてプリント基板２から得られる輝度
値と予め定められた良否判定基準輝度値と直接比較判定
するので、被検査物であるプリント基板２の部品装着の
良否を高速、且つ正確に検査することができる。
位置に装着されているか否かを高速、且つ正確に判定す
る装着部品確認装置を提供する。 【解決手段】 ４は光源であり、この光源４の上方に光
透過マスク３が設けられている。そしてこの光透過マス
ク３に被検査物であるプリント基板２が載置されてい
る。そして、このプリント基板２の上方にＣＣＤカメラ
８が設けられており、このＣＣＤカメラ８の出力は、画
像処理装置９においてプリント基板２から得られる輝度
値と予め定められた良否判定基準輝度値と直接比較判定
するので、被検査物であるプリント基板２の部品装着の
良否を高速、且つ正確に検査することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に装
着された部品が定められた位置に装着されているか否か
を判定する装着部品確認装置に関するものである。
着された部品が定められた位置に装着されているか否か
を判定する装着部品確認装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】以下、従来のプリント基板に装着された
部品の良否の判定について説明する。
部品の良否の判定について説明する。
【０００３】従来のプリント基板の装着部品の良否判定
は、プリント基板に装着された部品が予め定められた位
置に装着されているか否かを人間が目視で検査してい
た。
は、プリント基板に装着された部品が予め定められた位
置に装着されているか否かを人間が目視で検査してい
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この様
な従来の方法によると非常に時間がかかる上に、どうし
ても人間による目視誤りが発生するという問題があっ
た。
な従来の方法によると非常に時間がかかる上に、どうし
ても人間による目視誤りが発生するという問題があっ
た。
【０００５】その対策としては、たとえば、レーザ光を
用いたりカラーＣＣＤカメラを用いて直接に装着部品そ
のものを検査する方法があるが、これらの方式によると
レーザ装置、あるいはカラーＣＣＤカメラそのものが高
価な上、画像処理が複雑になり検査装置は高価なもので
あった。
用いたりカラーＣＣＤカメラを用いて直接に装着部品そ
のものを検査する方法があるが、これらの方式によると
レーザ装置、あるいはカラーＣＣＤカメラそのものが高
価な上、画像処理が複雑になり検査装置は高価なもので
あった。
【０００６】本発明はこのような問題点を解決するもの
でプリント基板に装着された部品を高速に、且つ正確に
検査することを目的にしたものである。
でプリント基板に装着された部品を高速に、且つ正確に
検査することを目的にしたものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の装着部品確認装置は、光源と、この光源の上
方に設けられた光透過マスクと、この光透過マスク上に
載置された被検査物としての部品装着済プリント基板
と、このプリント基板の上方に設けられたＣＣＤカメラ
と、このＣＣＤカメラの出力信号が画像処理装置の比較
手段の一方の入力に接続されるとともに、他方の入力に
は良否判定基準値メモリの出力が接続された比較手段
と、この比較手段の出力に接続されるとともに、この比
較手段の比較結果により、前記プリント基板の良否を判
定する判定手段とを有し、前記光透過マスクは基準プリ
ント基板の部品装着位置に対応して孔を設けるととも
に、前記メモリには基準となる部品未装着プリント基板
と、基準となる部品装着済プリント基板をそれぞれ前記
光透過マスク上に載置したとき得られる輝度値に基づい
て定められた値が格納されたものである。これによりプ
リント基板に装着された部品の良否を高速且つ正確に検
査することができる。
に本発明の装着部品確認装置は、光源と、この光源の上
方に設けられた光透過マスクと、この光透過マスク上に
載置された被検査物としての部品装着済プリント基板
と、このプリント基板の上方に設けられたＣＣＤカメラ
と、このＣＣＤカメラの出力信号が画像処理装置の比較
手段の一方の入力に接続されるとともに、他方の入力に
は良否判定基準値メモリの出力が接続された比較手段
と、この比較手段の出力に接続されるとともに、この比
較手段の比較結果により、前記プリント基板の良否を判
定する判定手段とを有し、前記光透過マスクは基準プリ
ント基板の部品装着位置に対応して孔を設けるととも
に、前記メモリには基準となる部品未装着プリント基板
と、基準となる部品装着済プリント基板をそれぞれ前記
光透過マスク上に載置したとき得られる輝度値に基づい
て定められた値が格納されたものである。これによりプ
リント基板に装着された部品の良否を高速且つ正確に検
査することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、光源と、この光源の上方に設けられた光透過マスク
と、この光透過マスク上に載置された被検査物としての
部品装着済プリント基板と、このプリント基板の上方に
設けられたＣＣＤカメラと、このＣＣＤカメラの出力信
号が画像処理装置の比較手段の一方の入力に接続される
とともに、他方の入力には良否判定基準値メモリの出力
が接続された比較手段と、この比較手段の出力に接続さ
れるとともに、この比較手段の比較結果により、前記プ
リント基板の良否を判定する判定手段とを有し、前記光
透過マスクは基準プリント基板の部品装着位置に対応し
て孔を設けるとともに、前記良否判定基準値メモリには
基準となる部品未装着プリント基板と、基準となる部品
装着済プリント基板をそれぞれ前記光透過マスク上に載
置したとき得られる輝度に基づいて定められた値が格納
された装着部品確認装置であり、これにより被検査物と
しての部品装着済プリント基板は、基準となる部品未装
着プリント基板と基準となる部品装着済基板から得られ
る輝度値を比較手段で直接比較するので、被検査物であ
るプリント基板の部品装着の良否を高速且つ正確に検査
することができる。
は、光源と、この光源の上方に設けられた光透過マスク
と、この光透過マスク上に載置された被検査物としての
部品装着済プリント基板と、このプリント基板の上方に
設けられたＣＣＤカメラと、このＣＣＤカメラの出力信
号が画像処理装置の比較手段の一方の入力に接続される
とともに、他方の入力には良否判定基準値メモリの出力
が接続された比較手段と、この比較手段の出力に接続さ
れるとともに、この比較手段の比較結果により、前記プ
リント基板の良否を判定する判定手段とを有し、前記光
透過マスクは基準プリント基板の部品装着位置に対応し
て孔を設けるとともに、前記良否判定基準値メモリには
基準となる部品未装着プリント基板と、基準となる部品
装着済プリント基板をそれぞれ前記光透過マスク上に載
置したとき得られる輝度に基づいて定められた値が格納
された装着部品確認装置であり、これにより被検査物と
しての部品装着済プリント基板は、基準となる部品未装
着プリント基板と基準となる部品装着済基板から得られ
る輝度値を比較手段で直接比較するので、被検査物であ
るプリント基板の部品装着の良否を高速且つ正確に検査
することができる。
【０００９】また、この装置においては輝度値でプリン
ト基板の部品装着の良否判定をしているので装置の簡易
化ができ、しかも装置を安価にすることができる。
ト基板の部品装着の良否判定をしているので装置の簡易
化ができ、しかも装置を安価にすることができる。
【００１０】更に、光透過マスクからの光をＣＣＤカメ
ラで取り込み、それを直接検査の位置データとしている
ので座標の補正が不要となる。
ラで取り込み、それを直接検査の位置データとしている
ので座標の補正が不要となる。
【００１１】更にまた、輝度だけで検査判定をしている
ので、一度に大面積の検査範囲を取り込むことができ高
速検査が可能となる。
ので、一度に大面積の検査範囲を取り込むことができ高
速検査が可能となる。
【００１２】請求項２に記載の発明の光源は、面光源と
した請求項１に記載の装着部品確認装置であり、面光源
であるので、平行光源が簡単に得られ、光源と光透過マ
スク間の記載を小さくすることができる。従って、装着
部品確認装置の小型化が図れる。
した請求項１に記載の装着部品確認装置であり、面光源
であるので、平行光源が簡単に得られ、光源と光透過マ
スク間の記載を小さくすることができる。従って、装着
部品確認装置の小型化が図れる。
【００１３】また、光透過マスクに光源を近づかせるこ
とができるので強力な輝度が得られる。
とができるので強力な輝度が得られる。
【００１４】請求項３に記載の発明の光源は、ツインツ
ーパラレル蛍光灯を用いた請求項２に記載の装着部品確
認装置であり、面光源としてツインツーパラレル蛍光灯
を使用することにより、装置の低価格化が実現できる。
ーパラレル蛍光灯を用いた請求項２に記載の装着部品確
認装置であり、面光源としてツインツーパラレル蛍光灯
を使用することにより、装置の低価格化が実現できる。
【００１５】請求項４に記載の発明の光透過マスクに設
けられた孔は、装着部品よりも小さくした請求項１に記
載の装着部品確認装置であり、このような孔を設けるこ
とにより装着部品の側面からの光の漏れが少なくなり誤
認識がなくなる。
けられた孔は、装着部品よりも小さくした請求項１に記
載の装着部品確認装置であり、このような孔を設けるこ
とにより装着部品の側面からの光の漏れが少なくなり誤
認識がなくなる。
【００１６】請求項５に記載の発明の光透過マスクは、
ステンレスで形成された請求項１に記載の装着部品確認
装置であり、このように光透過マスクはステンレスで形
成されているので、孔以外は光を確実に遮断すると共に
さびることもない。
ステンレスで形成された請求項１に記載の装着部品確認
装置であり、このように光透過マスクはステンレスで形
成されているので、孔以外は光を確実に遮断すると共に
さびることもない。
【００１７】請求項６に記載の発明のステンレスの厚さ
は略０．２ミリとした請求項５に記載の装着部品確認装
置であり、このようなステンレス厚にすることにより、
適度な強度が得られると共にステンレスの材厚により光
の直進性を阻害することはない。
は略０．２ミリとした請求項５に記載の装着部品確認装
置であり、このようなステンレス厚にすることにより、
適度な強度が得られると共にステンレスの材厚により光
の直進性を阻害することはない。
【００１８】請求項７に記載の発明の光透過マスクの孔
は、エッチングにより形成された請求項６に記載の装着
部品確認装置であり、孔がエッチングにより形成される
ので、孔の個数で光透過マスク製作コストが変化するこ
とはない。また孔の精度も良い。
は、エッチングにより形成された請求項６に記載の装着
部品確認装置であり、孔がエッチングにより形成される
ので、孔の個数で光透過マスク製作コストが変化するこ
とはない。また孔の精度も良い。
【００１９】請求項８に記載の発明の光透過マスクの孔
は、レーザ加工により形成された請求項６に記載の装着
部品確認装置であり、レーザ加工することにより、孔の
個数が少ない場合は光透過マスク製作コストが安価にな
る。
は、レーザ加工により形成された請求項６に記載の装着
部品確認装置であり、レーザ加工することにより、孔の
個数が少ない場合は光透過マスク製作コストが安価にな
る。
【００２０】請求項９に記載の発明は、光透過マスクの
端部にプリント基板と連通する複数個の位置決め孔を設
けた請求項１に記載の装着部品確認装置であり、この位
置決めにより光透過マスクとプリント基板とを簡単にし
かも精度良く合わせることができる。
端部にプリント基板と連通する複数個の位置決め孔を設
けた請求項１に記載の装着部品確認装置であり、この位
置決めにより光透過マスクとプリント基板とを簡単にし
かも精度良く合わせることができる。
【００２１】請求項１０に記載の発明は、プリント基板
の側面近傍を光透過マスク側に押圧する基板押さえを設
けた請求項９に記載の装着部品確認装置であり、この基
板押さえによりプリント基板が光透過マスクに密着し、
プリント基板が浮くことは無いので、輝度検出の精度が
増す。
の側面近傍を光透過マスク側に押圧する基板押さえを設
けた請求項９に記載の装着部品確認装置であり、この基
板押さえによりプリント基板が光透過マスクに密着し、
プリント基板が浮くことは無いので、輝度検出の精度が
増す。
【００２２】請求項１１に記載の発明は、位置決め孔に
連通させた位置決めピンを介して光透過マスク上にプリ
ント基板を載置した後、前記プリント基板を水平方向に
押圧する請求項９に記載の装着部品確認装置であり、プ
リント基板を水平方向に押圧することにより予め定めら
れた位置に精度良く位置決めされるので、輝度検出の精
度が増す。
連通させた位置決めピンを介して光透過マスク上にプリ
ント基板を載置した後、前記プリント基板を水平方向に
押圧する請求項９に記載の装着部品確認装置であり、プ
リント基板を水平方向に押圧することにより予め定めら
れた位置に精度良く位置決めされるので、輝度検出の精
度が増す。
【００２３】請求項１２に記載の発明の良否判定基準値
は、各装着部品のそれぞれに対して基準となる部品未装
着プリント基板から得られた輝度値と、基準となる部品
装着済プリント基板から得られる輝度値の差に予め定め
られた定数を乗じ、これに前記基準となる部品装着済プ
リント基板から得られる輝度値を加えて得られる値とし
た請求項１に記載の装着部品確認装置であり、実際の基
準となるプリント基板から得られるデータを使用するの
で、正確であると共に容易に設定することができる。
は、各装着部品のそれぞれに対して基準となる部品未装
着プリント基板から得られた輝度値と、基準となる部品
装着済プリント基板から得られる輝度値の差に予め定め
られた定数を乗じ、これに前記基準となる部品装着済プ
リント基板から得られる輝度値を加えて得られる値とし
た請求項１に記載の装着部品確認装置であり、実際の基
準となるプリント基板から得られるデータを使用するの
で、正確であると共に容易に設定することができる。
【００２４】請求項１３に記載の発明の予め定められた
定数は略０．５とした請求項１２に記載の装着部品確認
装置であり、部品未装着プリント基板と部品装着済プリ
ント基板の中間の輝度値に設定しているので、部品装着
の良否を最も能率良く且つ正確に検査することができ
る。
定数は略０．５とした請求項１２に記載の装着部品確認
装置であり、部品未装着プリント基板と部品装着済プリ
ント基板の中間の輝度値に設定しているので、部品装着
の良否を最も能率良く且つ正確に検査することができ
る。
【００２５】請求項１４に記載の発明は、プリント基板
のパターン不形成部に対応して光透過マスクに孔を設
け、この孔を通過した光の輝度値で前記プリント基板の
光透過率である補正輝度値を抽出する請求項１３に記載
の装着部品確認装置であり、プリント基板のパターン不
形成部に孔を設けているので、パターンの影響を排除し
たプリント基板そのものの透過率を正確に抽出できる。
のパターン不形成部に対応して光透過マスクに孔を設
け、この孔を通過した光の輝度値で前記プリント基板の
光透過率である補正輝度値を抽出する請求項１３に記載
の装着部品確認装置であり、プリント基板のパターン不
形成部に孔を設けているので、パターンの影響を排除し
たプリント基板そのものの透過率を正確に抽出できる。
【００２６】請求項１５に記載の発明は、被検査物とし
ての部品装着済プリント基板の各装着部品それぞれに対
しての輝度値が、被検査物のプリント基板の補正輝度値
と基準となる部品装着済プリント基板との比に前記被検
査物のプリント基板の各装着部品それぞれに対しての輝
度値を乗じた請求項１４に記載の装着部品確認装置であ
り、プリント基板の透過率の相違による輝度値バラツキ
が補正されるので、部品装着の検査が正確にできる。
ての部品装着済プリント基板の各装着部品それぞれに対
しての輝度値が、被検査物のプリント基板の補正輝度値
と基準となる部品装着済プリント基板との比に前記被検
査物のプリント基板の各装着部品それぞれに対しての輝
度値を乗じた請求項１４に記載の装着部品確認装置であ
り、プリント基板の透過率の相違による輝度値バラツキ
が補正されるので、部品装着の検査が正確にできる。
【００２７】請求項１６に記載の発明は、被検査物であ
る部品装着済プリント基板の各装着部品それぞれに対し
ての輝度値は、良否判定基準値と比較して良否判定する
請求項１５に記載の装着部品確認装置であり、良否判定
基準値は、実際の基準となるプリント基板から得られる
データを使用するので、正確であると共に容易に設定す
ることができる。
る部品装着済プリント基板の各装着部品それぞれに対し
ての輝度値は、良否判定基準値と比較して良否判定する
請求項１５に記載の装着部品確認装置であり、良否判定
基準値は、実際の基準となるプリント基板から得られる
データを使用するので、正確であると共に容易に設定す
ることができる。
【００２８】請求項１７に記載の発明は、被検査物であ
るプリント基板の部品欠品位置と部品欠品数を表示する
請求項１に記載の装着部品確認装置であり、この表示に
より目視で直ぐに確認して欠品部品の修理ができる。
るプリント基板の部品欠品位置と部品欠品数を表示する
請求項１に記載の装着部品確認装置であり、この表示に
より目視で直ぐに確認して欠品部品の修理ができる。
【００２９】請求項１８に記載の発明は、部品欠品位置
と部品欠品数をフロッピーディスクに記録する請求項１
７に記載の装着部品確認装置であり、欠品部品を有する
プリント基板は、別工程で欠品表示をさせ欠品部品の修
理ができるので、装着部品検査工程をスムーズに流すこ
とができる。
と部品欠品数をフロッピーディスクに記録する請求項１
７に記載の装着部品確認装置であり、欠品部品を有する
プリント基板は、別工程で欠品表示をさせ欠品部品の修
理ができるので、装着部品検査工程をスムーズに流すこ
とができる。
【００３０】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いて説明する。図１において、４は光源であり、ツ
インツーパラレル蛍光灯を用いて平行光源を得ている。
この光源４の上方に光透過マスク３が設けられている。
そしてこの光透過マスク３に密着して被検査物である片
面パターンのプリント基板２が載置されている。この光
透過マスク３とプリント基板２とは位置決め孔に連通さ
せた位置決めピン７で位置決めされている。
を用いて説明する。図１において、４は光源であり、ツ
インツーパラレル蛍光灯を用いて平行光源を得ている。
この光源４の上方に光透過マスク３が設けられている。
そしてこの光透過マスク３に密着して被検査物である片
面パターンのプリント基板２が載置されている。この光
透過マスク３とプリント基板２とは位置決め孔に連通さ
せた位置決めピン７で位置決めされている。
【００３１】また、６はプリント基板横押しであり、プ
リント基板２をＡ方向に押圧している。５はプリント基
板２をＢ方向に押圧するものであり、プリント基板２の
反りを強制させ光透過マスク３と密着させるものであ
る。そして、この光透過マスク３には孔３ａが設けられ
ている。また、１はプリント基板２上に装着された部品
である。
リント基板２をＡ方向に押圧している。５はプリント基
板２をＢ方向に押圧するものであり、プリント基板２の
反りを強制させ光透過マスク３と密着させるものであ
る。そして、この光透過マスク３には孔３ａが設けられ
ている。また、１はプリント基板２上に装着された部品
である。
【００３２】そして、このプリント基板２の上方にＣＣ
Ｄカメラ８が設けられており、このＣＣＤカメラ８の出
力は画像処理装置９の比較手段９ａの一方の端子に入力
される。この比較手段９ａの他方の入力には、良否判定
基準値メモリ９ｂから入力されるようになっており、更
に、この比較手段９ａの出力は判定手段９ｃに向かって
出力される。この判定手段９ｃの出力はモニタ１０に表
示されると共に、パソコン１１に出力されてこのパソコ
ン１１のフロッピーディスク１２に記録されるようにな
っている。
Ｄカメラ８が設けられており、このＣＣＤカメラ８の出
力は画像処理装置９の比較手段９ａの一方の端子に入力
される。この比較手段９ａの他方の入力には、良否判定
基準値メモリ９ｂから入力されるようになっており、更
に、この比較手段９ａの出力は判定手段９ｃに向かって
出力される。この判定手段９ｃの出力はモニタ１０に表
示されると共に、パソコン１１に出力されてこのパソコ
ン１１のフロッピーディスク１２に記録されるようにな
っている。
【００３３】図２は光透過マスク３の平面図である。こ
の光透過マスク３には各装着部品の位置及び大きさに応
じて異なる孔３ａ，３ｂ，３ｃが設けられている。そし
て、この各孔から透過された光の輝度情報を光透過マス
ク３上のＣＣＤカメラ８で取込み各孔の座標位置と孔の
大きさを検査ウィンドとして良否判定基準値メモリ９ｂ
に格納されるものである。
の光透過マスク３には各装着部品の位置及び大きさに応
じて異なる孔３ａ，３ｂ，３ｃが設けられている。そし
て、この各孔から透過された光の輝度情報を光透過マス
ク３上のＣＣＤカメラ８で取込み各孔の座標位置と孔の
大きさを検査ウィンドとして良否判定基準値メモリ９ｂ
に格納されるものである。
【００３４】図３は光透過マスク３上に載置されたプリ
ント基板２と、更にそのプリント基板２表面に装着され
た部品１、及びパターン２ａの関係を示した図である。
光透過マスク３に設けられた孔３ａに対応するプリント
基板２上には、パターン２ａが設けられておらず、しか
も孔３ａは部品１より小さくなっている。これは孔３ａ
が部品１の大きさと同じか、部品１より大きければ部品
１の横から光が漏れて誤判定するからである。また、光
透過基準用孔３ｄは部品１の無いところに設けられた孔
であり、この孔３ｄに対応するプリント基板２の表面に
はパターン２ａがあってはならない。このことによりプ
リント基板２の光透過率がパターンの影響を受けること
なく正確に求めることができる。
ント基板２と、更にそのプリント基板２表面に装着され
た部品１、及びパターン２ａの関係を示した図である。
光透過マスク３に設けられた孔３ａに対応するプリント
基板２上には、パターン２ａが設けられておらず、しか
も孔３ａは部品１より小さくなっている。これは孔３ａ
が部品１の大きさと同じか、部品１より大きければ部品
１の横から光が漏れて誤判定するからである。また、光
透過基準用孔３ｄは部品１の無いところに設けられた孔
であり、この孔３ｄに対応するプリント基板２の表面に
はパターン２ａがあってはならない。このことによりプ
リント基板２の光透過率がパターンの影響を受けること
なく正確に求めることができる。
【００３５】図４は部品装着済プリント基板と部品未装
着プリント基板の、部品装着位置における任意で同一位
置の光透過輝度レベルを示しており、図４のように部品
装着済プリント基板に対して部品未装着プリント基板の
方が光の透過輝度レベルが高い。これは部品が装着され
ていれば光の透過が遮断され、部品が未装着であれば光
が透過しやすいからである。
着プリント基板の、部品装着位置における任意で同一位
置の光透過輝度レベルを示しており、図４のように部品
装着済プリント基板に対して部品未装着プリント基板の
方が光の透過輝度レベルが高い。これは部品が装着され
ていれば光の透過が遮断され、部品が未装着であれば光
が透過しやすいからである。
【００３６】次に検査判定方法について（数１）、（数
２）、（数３）に基づいて説明する。
２）、（数３）に基づいて説明する。
【００３７】
【数１】
【００３８】（数１）は、良品見本となる部品装着済プ
リント基板の光透過に対する被検査プリント基板毎の光
透過バラツキを補うために、被検査プリント基板と良品
見本となる部品装着済プリント基板の光透過基準との光
透過率から各検査ウィンド輝度値を補正する式である。
Ｃ÷Ｅはプリント基板毎の透過率を算出するものであ
り、それに被検査プリント基板の各検査ウィンド輝度値
Ｄを乗じたものである。
リント基板の光透過に対する被検査プリント基板毎の光
透過バラツキを補うために、被検査プリント基板と良品
見本となる部品装着済プリント基板の光透過基準との光
透過率から各検査ウィンド輝度値を補正する式である。
Ｃ÷Ｅはプリント基板毎の透過率を算出するものであ
り、それに被検査プリント基板の各検査ウィンド輝度値
Ｄを乗じたものである。
【００３９】
【数２】
【００４０】（数２）は、被検査プリント基板の各検査
ウィンドの良否を判定するための良否判定基準輝度値で
あり、不良見本となる部品未装着プリント基板と良品見
本となる部品装着済プリント基板の各検査ウィンドの輝
度値差（Ａ−Ｂ）に良品見本となる部品装着済プリント
基板の各検査ウィンドの輝度値（Ｂ）を加え、それに任
意の良否設定値定数を乗じたものである。
ウィンドの良否を判定するための良否判定基準輝度値で
あり、不良見本となる部品未装着プリント基板と良品見
本となる部品装着済プリント基板の各検査ウィンドの輝
度値差（Ａ−Ｂ）に良品見本となる部品装着済プリント
基板の各検査ウィンドの輝度値（Ｂ）を加え、それに任
意の良否設定値定数を乗じたものである。
【００４１】
【数３】
【００４２】（数３）は、被検査プリント基板の各検査
ウィンドの良否判定式であり、（数１）の被検査プリン
ト基板の各検査ウィンドの透過率補正済輝度値が（数
２）の良否判定基準輝度値より輝度値が低ければ良品で
あり、高ければ不良品と判定する。
ウィンドの良否判定式であり、（数１）の被検査プリン
ト基板の各検査ウィンドの透過率補正済輝度値が（数
２）の良否判定基準輝度値より輝度値が低ければ良品で
あり、高ければ不良品と判定する。
【００４３】これによりプリント基板の光の透過率のバ
ラツキによる影響を受けず、部品装着の良否を最も能率
良く且つ正確に検査することができる。
ラツキによる影響を受けず、部品装着の良否を最も能率
良く且つ正確に検査することができる。
【００４４】
【発明の効果】以上の様に本発明によれば、光源と、こ
の光源の上方に設けられた光透過マスクと、この光透過
マスク上に載置された被検査物としての部品装着済プリ
ント基板と、このプリント基板の上方に設けられたＣＣ
Ｄカメラと、このＣＣＤカメラの出力信号が画像処理装
置の比較手段の一方の入力に接続されるとともに、他方
の入力には良否判定基準値メモリの出力が接続された比
較手段と、この比較手段の出力に接続されるとともに、
この比較手段の比較結果により、前記プリント基板の良
否を判定する判定手段とを有し、前記光透過マスクは基
準プリント基板の部品装着位置に対応して孔を設けると
ともに、前記良否判定基準値メモリには基準となる部品
未装着プリント基板と、基準となる部品装着済プリント
基板をそれぞれ前記光透過マスク上に載置したとき得ら
れる輝度に基づいて定められた値が格納された装着部品
確認装置であり、これにより被検査物としての部品装着
済プリント基板は、基準となる部品未装着プリント基板
と基準となる部品装着済基板から得られる輝度値を比較
手段で直接比較するので、被検査物であるプリント基板
の部品装着の良否を高速且つ正確に検査することができ
る。
の光源の上方に設けられた光透過マスクと、この光透過
マスク上に載置された被検査物としての部品装着済プリ
ント基板と、このプリント基板の上方に設けられたＣＣ
Ｄカメラと、このＣＣＤカメラの出力信号が画像処理装
置の比較手段の一方の入力に接続されるとともに、他方
の入力には良否判定基準値メモリの出力が接続された比
較手段と、この比較手段の出力に接続されるとともに、
この比較手段の比較結果により、前記プリント基板の良
否を判定する判定手段とを有し、前記光透過マスクは基
準プリント基板の部品装着位置に対応して孔を設けると
ともに、前記良否判定基準値メモリには基準となる部品
未装着プリント基板と、基準となる部品装着済プリント
基板をそれぞれ前記光透過マスク上に載置したとき得ら
れる輝度に基づいて定められた値が格納された装着部品
確認装置であり、これにより被検査物としての部品装着
済プリント基板は、基準となる部品未装着プリント基板
と基準となる部品装着済基板から得られる輝度値を比較
手段で直接比較するので、被検査物であるプリント基板
の部品装着の良否を高速且つ正確に検査することができ
る。
【００４５】また、この装置においては輝度値でプリン
ト基板の部品装着の良否判定をしているので装置の簡易
化ができ、しかも装置を安価にすることができる。
ト基板の部品装着の良否判定をしているので装置の簡易
化ができ、しかも装置を安価にすることができる。
【００４６】更に、光透過マスクをＣＣＤカメラで取り
込み、それを検査位置としているので座標の補正が不要
となる。
込み、それを検査位置としているので座標の補正が不要
となる。
【００４７】更にまた、輝度値だけで検査判定をしてい
るので一度に大面積の検査範囲が取り込めるので高速検
査をすることができる。
るので一度に大面積の検査範囲が取り込めるので高速検
査をすることができる。
【図１】本発明の一実施の形態による装着部品確認装置
の概念図
の概念図
【図２】同、光透過マスクの平面図
【図３】同、プリント基板載置部の断面図
【図４】同、検査ウィンド輝度値グラフ
２ プリント基板 ３ 光透過マスク ３ａ 孔 ３ｄ 光透過基準用孔 ４ 光源 ８ ＣＣＤカメラ ９ 画像処理装置 ９ａ 比較手段 ９ｂ 良否判定基準値メモリ ９ｃ 判定手段
Claims (18)
- 【請求項１】 光源と、この光源の上方に設けられた光
透過マスクと、この光透過マスク上に載置された被検査
物としての部品装着済プリント基板と、このプリント基
板の上方に設けられたＣＣＤカメラと、このＣＣＤカメ
ラの出力信号が画像処理装置の比較手段の一方の入力に
接続されるとともに、他方の入力には良否判定基準値メ
モリの出力が接続された比較手段と、この比較手段の出
力に接続されるとともに、この比較手段の比較結果によ
り、前記プリント基板の良否を判定する判定手段とを有
し、前記光透過マスクは基準プリント基板の部品装着位
置に対応して孔を設けるとともに、前記良否判定基準値
メモリには基準となる部品未装着プリント基板と、基準
となる部品装着済プリント基板をそれぞれ前記光透過マ
スク上に載置したとき得られる輝度に基づいて定められ
た値が格納された装着部品確認装置。 - 【請求項２】 光源は面光源とした請求項１に記載の装
着部品確認装置。 - 【請求項３】 光源はツインツーパラレル蛍光灯を用い
た請求項２に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項４】 光透過マスクに設けられた孔は装着部品
よりも小さくした請求項１に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項５】 光透過マスクはステンレスで形成された
請求項１に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項６】 ステンレスの厚さは略０．２ミリとした
請求項５に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項７】 光透過マスクの孔はエッチングにより形
成された請求項６に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項８】 光透過マスクの孔はレーザ加工により形
成された請求項６に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項９】 光透過マスクの端部にプリント基板と連
通する複数個の位置決め孔を有した請求項１に記載の装
着部品確認装置。 - 【請求項１０】 プリント基板の側面近傍を光透過マス
ク側に押圧する基板押さえを設けた請求項９に記載の装
着部品確認装置。 - 【請求項１１】 位置決め孔に連通させた位置決めピン
を介して光透過マスク上にプリント基板を載置した後、
前記プリント基板を水平方向に押圧する請求項９に記載
の装着部品確認装置。 - 【請求項１２】 良否判定基準値は、各装着部品のそれ
ぞれに対して基準となる部品未装着プリント基板から得
られた輝度値と、基準となる部品装着済プリント基板か
ら得られる輝度値の差に予め定められた定数を乗じ、こ
れに前記基準となる部品装着済プリント基板から得られ
る輝度値を加えて得られる値とした請求項１に記載の装
着部品確認装置。 - 【請求項１３】 予め定められた定数は略０．５とした
請求項１２に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項１４】 プリント基板のパターン不形成部に対
応して光透過マスクに孔を設け、この孔を通過した光の
輝度値で前記プリント基板の光透過率である補正輝度値
を抽出する請求項１３に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項１５】 被検査物としての部品装着済プリント
基板の各装着部品それぞれに対しての輝度値は、被検査
物のプリント基板の補正輝度値と基準となる部品装着済
プリント基板との比に前記被検査物のプリント基板の各
装着部品それぞれに対しての輝度値を乗じた請求項１４
に記載の装着部品確認装置。 - 【請求項１６】 被検査物である部品装着済プリント基
板の各装着部品それぞれに対しての輝度値は、良否判定
基準値と比較して良否判定する請求項１５に記載の装着
部品確認装置。 - 【請求項１７】 被検査物であるプリント基板の部品欠
品位置と部品欠品数を表示する請求項１に記載の装着部
品確認装置。 - 【請求項１８】 部品欠品位置と部品欠品数をフロッピ
ーディスクに記録する請求項１７に記載の装着部品確認
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10259888A JP2000088524A (ja) | 1998-09-14 | 1998-09-14 | 装着部品確認装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10259888A JP2000088524A (ja) | 1998-09-14 | 1998-09-14 | 装着部品確認装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000088524A true JP2000088524A (ja) | 2000-03-31 |
Family
ID=17340340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10259888A Pending JP2000088524A (ja) | 1998-09-14 | 1998-09-14 | 装着部品確認装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000088524A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020006812A (ko) * | 2000-07-13 | 2002-01-26 | 황재학 | 물체의 절단면 검사장치 및 그 방법 |
| JP2009076796A (ja) * | 2007-09-24 | 2009-04-09 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電子部品向き検査装置及び電子部品向き検査方法並びに電子部品装着機 |
| JP2009094375A (ja) * | 2007-10-11 | 2009-04-30 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 部品吸着姿勢判別方法及び部品吸着姿勢判別システム |
| WO2016129355A1 (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 株式会社リコー | 計測用具、校正方法、校正装置及びプログラム |
-
1998
- 1998-09-14 JP JP10259888A patent/JP2000088524A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020006812A (ko) * | 2000-07-13 | 2002-01-26 | 황재학 | 물체의 절단면 검사장치 및 그 방법 |
| JP2009076796A (ja) * | 2007-09-24 | 2009-04-09 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電子部品向き検査装置及び電子部品向き検査方法並びに電子部品装着機 |
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| WO2016129355A1 (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | 株式会社リコー | 計測用具、校正方法、校正装置及びプログラム |
| JPWO2016129355A1 (ja) * | 2015-02-13 | 2017-09-14 | 株式会社リコー | 計測用具、校正方法、校正装置及びプログラム |
| EP3258213A4 (en) * | 2015-02-13 | 2018-03-07 | Ricoh Company, Ltd. | Measurement tool, calibration method, calibration device, and program |
| US10209091B2 (en) | 2015-02-13 | 2019-02-19 | Ricoh Company, Ltd. | Measurement tool, calibration method, calibration apparatus, and computer-readable recording medium |
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