JPH04108675A - セラミックス―金属接合体 - Google Patents

セラミックス―金属接合体

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JPH04108675A
JPH04108675A JP22966890A JP22966890A JPH04108675A JP H04108675 A JPH04108675 A JP H04108675A JP 22966890 A JP22966890 A JP 22966890A JP 22966890 A JP22966890 A JP 22966890A JP H04108675 A JPH04108675 A JP H04108675A
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JP
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ceramic
stress
bonded body
metal
ceramics
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Shunichiro Tanaka
俊一郎 田中
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はセラミックス部材と金属部材とを接合したセラ
ミックス−金属接合体に関する。
(従来の技術) セラミックスは、軽量で高硬度であるという特徴を有し
、この硬さによる高強度、耐摩耗性が積極的に利用され
ている。
さらに、セラミックスの優れた点は、1000℃以上の
高温領域で発揮される。たとえば窒化ケイ素では120
0℃、炭化ケイ素では1500℃近くまで耐熱性を有し
、金属では耐えられない温度領域での適用により熱効率
の大幅な向上が期待できる。
しかし、セラミックスは本来脆性材料であるため単体で
は使用し難く、特性が必要な部位にのみセラミックスを
用い、他の材料と組合せて用いる方法が合理的である。
このようなセラミックスの接合技術としては、機械的結
合や有機接着剤を用いた手法、または界面における構成
元素の拡散、固溶、反応生成物形成などなんらかの反応
を伴う化学的接合法が、試みられている。
セラミックスの化学的接合法としては、構造用セラミッ
クスの場合、介在物なしに直接的に接合する固相接合法
や、セラミックスと反応しやすいインサート材を用いる
活性金属法等が主流であり、半導体基板などにはメタラ
イズ法か用いられている。
たとえば、代表的な構造用セラミックスである窒化ケイ
素を金属部材と接合するには、Tiなとの活性金属を介
在させて、この活性金属との共晶を利用して接合する方
法や、接合時の応力を緩和するためにセラミックスと金
属との間に緩衝材として延性を有する金属(通常Cuな
と)を配置し、Ag−Cu−Tj系等のろう材でろう接
する金属ろう接法が多用されている。
(発明が解決しようとする課題) しかし、セラミックスは金属に比較して熱膨張が小さく
、なかでも構造用セラミックスとして有用な耐熱性の高
い窒化ケイ素、炭化ケイ素は非常に小さい。
このため、セラミックスと金属材料との接合に際して、
接合後の冷却過程で熱膨張差に起因する残留応力が発生
し、様々な問題を引起こす原因となっている。
すなわち、接合部近傍、特に接合界面における特異点近
傍に大きな残留応力が生し、外部応力との相乗によって
接合強度か大幅に低下したり、接合後の冷却過程、ある
いは熱サイクルによって応力の最大点からクラックが発
生し、セラミックスの破壊が引きおこされるのである。
このような現状において、セラミックス表面の残留応力
を低減してセラミックスと金属部材との接合強度を向上
させ、セラミックスの優れた特性を活かすことのできる
セラミックス−金属接合体が望まれている。
本発明はこのような課題を解決するためになされたもの
で、セラミックスと金属部材との接合強度が高く、クラ
ック等の発生がない、健全で安定なセラミックス−金属
接合体を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明における第1の発明のセラミックス−金属接合体
は、セラミックス部材と金属部材との接合体であり、前
記セラミックス部材の表面には機械加工によって無方向
性圧縮応力を付与する応力低減処理が施されたことを特
徴としている。
第2の発明のセラミックス−金属接合体は、セラミック
ス部材と金属部材との接合体であり、この接合体の最大
主応力点を含む接合体の表面にはエネルギービーム照射
による応力解放処理が施されたことを特徴としている。
第1の発明において、応力低減処理を行う方法としては
、たとえばバレル研磨、ショットピーニング、ホーニン
グなど、機械加工による方法が挙げられ、これらの機械
加工によって接合前接合後のセラミックス部材に対して
無方向性の圧縮応力を付与するような応力低減処理を施
す。
応力低減処理は、セラミックス部材全面に施してもよい
し、または最も応力のかかる部分に局部的に施してもよ
い。
このような無方向性の圧縮応力が内部に残留しているセ
ラミックス部材は、金属部材との接合時にセラミックス
表面に生じる引張り応力を低減することかでき、接合状
態の健全なセラミックス−金属接合体を得ることができ
る。
第2の発明において、応力解放処理に使用するエネルギ
ービームとしては、電子線、遠赤外線、レーザ、イオン
ビーム、SOR光、X線などのエネルギービーム細束が
挙げられる。
これらのエネルギービームは、接合後のセラミックス−
金属接合体表面における最大主応力点を含む部位に局部
的に照射され、接合体のセラミックス部材側のみ、また
は金属部材側のみ、あるいは接合体の接合界面を挾んで
セラミックス部材と金属部材の両方にまたがる最大主応
力点を含めた接合部位に照射される。
本発明において、これらエネルギービームの照射はアニ
ーリングの効果を発揮するものである。
アニーリングは素材の熱変形温度よりも低い温度で長時
間加熱することにより成形体の残留応力を低減させる処
理方法で、本発明においては、たとえば窒化ケイ素セラ
ミックス部材に対しては500〜800℃で063〜2
時間の照射、窒化ケイ素セラミックスと鋼材とにまたが
る場合には4aO〜600℃で0.1〜5時間の照射が
好ましい。
このようなエネルギービーム照射による応力解放処理に
よって、接合時の熱膨張差から接合体に残留した応力が
緩和、解放される。
特に、局所的な処理は接合体の各構成部材の性質を損う
ことがなく、コスト削減にもつながるため有効である。
また、本発明に使用するセラミックス部材および金属部
材は特に限定されず、セラミックスとしては窒化ケイ素
、炭化ケイ素、アルミナ、ジルコニア、サイアロンなど
、金属としては鋼材、銅板、耐熱合金、超硬合金、W 
SNo、 Nfなどの純金属など、種々の部材に対して
適用可能である。
(作 用) セラミックスル金属接合体における残留応力分布の一例
を第9図に示す。
これは、Sf3 N 4−Cu−8teel平板状接合
体(Cuは緩衝材として介挿されている)のSi3N4
部における測定結果であり、第9図の(a)はy−0,
1mm、(b)はy−0,5txtx接合界面から離れ
た線上における垂直応力およびせん断応力の分布を示し
ている。
接合体の特異点である最側端においてはσR8、σ2.
いずれの垂直応力も引張応力となり、特に、σRYが2
00MPaを超える大きな値を示している。
つまり、この引張応力は、第10図に示すようにセラミ
ックス部材1と金属部材2との接合界面Aに対して垂直
方向(矢印Y方向)に働く応力が大きいことを意味して
いる。
これに対して、第1の発明のセラミックス−金属接合体
には、接合前のセラミックス部材に対して機械加工によ
る応力低減処理が施され、セラミックス部材に無方向性
の圧縮応力が付与される。
この圧縮応力は矢印Y方向の引張応力と相殺しあって、
接合後の残留応力を低減させる。
また、第2の発明のセラミックス−金属接合体には、接
合後の最大主応力点を含む接合体表面にエネルギービー
ム照射による応力解放処理が施され、残留した応力を解
放して接合体の健全化を図る。
これらによって、セラミックス−金属接合体の残留応力
が低減され、接合強度が向上する。
(実施例) 次に、本発明の実施例について説明する。
実施例1 第1図は、本発明の一実施例のセラミックス金属接合体
を示す図である。
同図に示すセラミックス−金属接合体11は、サイズが
断面125mX1.2m■、長さ20mmである窒化ケ
イ素セラミックス12と、これと同サイズの545C鋼
材13とが、活性金属ろう付性によって接合されたもの
であり、窒化ケイ素セラミックス12の表面には、バレ
ル研磨による応力低減処理が施されている。
このセラミックス−金属接合体11は、次のようにして
作製する。
まず、あらかじめ窒化ケイ素セラミックス12に対して
湿式遠心バレル研磨機を用い、回転数1100rp、研
磨時間1hrのバレル研磨を全面に行う。
この応力低減処理によって窒化ケイ素セラミックス12
の表面粗さはRmax4μmとなり、80MPaの方向
性のない圧縮残留応力を付与した。
次いで、この窒化ケイ素セラミックス12と545C鋼
材13とを830℃、6分、真空でCuを緩衝材として
活性金属ろう付は接合する。
この実施例によるセラミックス−金属接合体の曲げ強度
を測定したところ、370MPaという結果が得られた
一方、比較のため、窒化ケイ素セラミックスに対するバ
レル研磨を行わず、その他の条件はこの実施例と同一で
あるセラミックス−金属接合体を作製し、曲げ強度を測
定した。すると、この比較例の接合体は320MPaと
低い値であった。
実施例2 第2図は、本発明の他の実施例のセラミックス−金属接
合体を示す図である。
同図に示すセラミックス−金属接合体21は、サイズが
断面が10m厘×3−■、長さ20−■である窒化ケイ
素セラミックス22と、同サイズの5US304材23
とか、活性金属ろう付性によって接合されたものであり
、窒化ケイ素セラミックス22の表面には、ホーニング
による応力低減処理が施されている。
このセラミックス−金属接合体21は、次のようにして
作製する。
まず、あらかじめ窒化ケイ素セラミックス22に対して
、直径0.5−層のノズルから吹付は量100g/分、
吹付は速度15■/秒の条件でガラスピーズを用いたw
etホーニングを行う。
この応力低減処理によって窒化ケイ素セラミックス22
の表面粗さはRsax8μsとなり、120MPaの方
向性のない圧縮残留応力を付与した。
次いで、この窒化ケイ素セラミックス22と5US30
4材23とを830℃、6分、真空中で活性金属ろう付
接合する。
この実施例によるセラミックス−金属接合体の曲げ強度
を測定したところ、150MPaという結果が得られた
一方、比較のため、窒化ケイ素セラミックスに対するホ
ーニングを行わず、その他の条件はこの実施例と同一で
あるセラミックス−金属接合体を作製し、曲げ強度を測
定した。すると、この比較例の接合体は2つの部材の接
合界面近傍でクラックが発生し、製品としては使用でき
ない欠陥品となってしまった。
実施例3 第3図は、本発明の実施例の一つであるセラミックス−
金属接合体を示す図である。
同図に示すセラミックス−接合体31は、サイズが断面
が2hi X  3mm、長さ20m1である窒化ケイ
素セラミックス32aと32bとの間に、断面が20m
*X  3+g@、長さ 31Ilである545C鋼材
33が挾まれた接合体である。
窒化ケイ素セラミックス32aおよび32bと545C
鋼材33との間には、緩衝金属として銅板34が介挿さ
れている。
また、銅板34を中心として窒化ケイ素セラミックス3
2aおよび32bと545C鋼材33とにまたがる接合
界面部にはレーザ照射による応力解放処理か施されてい
る。
このセラミックス−金属接合体31は、あらかじめ各構
成部材を通常の方法で接合した後、その接合体の最大主
応力点を含む接合特異点近傍および接合界面中央部周辺
に、直径2,0■の大きさで計5箇所に5K11のCO
2レーザを5分間照射して部分アニーリングを行ったも
のである。
最大主応力は、第4図に示すように、接合両端部の軸方
向に緩衝金属であるCuと窒化ケイ素との接合界面から
約0.51m窒化ケイ素側に入った部位に現れ、この部
位を含むようレーザ照射を行う。
このような応力解放処理後、上述した接合界面に沿う最
大主応力ライン上での残留応力分布を測定した。その結
果、最大点での残留応力値は120MPaであった。
一方、レーザ照射を行わない場合の最大主応力値は3]
0MPaであった。
これらの結果を第5図に示す。実施例の結果は実線で、
比較例の結果は点線で示した。
実施例4 第6図は、本発明の実施例の−っであるセラミックス−
金属接合体を示す図である。
同図に示すセラミックス−接合体41は、アルミナ基板
42上にCu板43がDBC法によって接合されたもの
である。
Cu板43の各コーナ一部に5にνのCO2レーザ(直
径1.5mm)を第6図44に示すように走査しながら
10分間ずつ照射してアニールを施した。
その後の熱衝撃テスト(300’C−水中焼き入れ0℃
)にも耐えた。
これに対して、アニール処理のないものはCu板に、は
がれが生じた。
実施例5 ′M7図は、本発明の実施例の一つであるセラミックス
−金属接合体を示す図である。
同図に示すセラミックス−接合体51は、窒化アルミニ
ウム基板52上に4枚のCu板53が直接接合法によっ
て分散して接合されたものである。
このCu板53の各コーナ一部には直径2■1の大きさ
で3KVのYAGレーザを20分間照射して部分アニー
リングか施されている。
このように応力解放処理を行った窒化アルミニウム基板
と、応力解放処理を行わない窒化アルミニウム基板とに
ついて熱サイクルテストを行った。
すると、レーザ照射を行った基板は、行わない基板より
 2倍の寿命を有していた。
実施例6 第8図は、本発明の実施例の一つであるセラミックス−
金属接合体を示す図である。
同図に示すセラミックス−金属接合体61は、遠赤外線
照射が施されたものである。
これはAIN 8層構造のPGAであり、AINにメタ
ライズ処理後、N1メツキ、Agろう付けし、KOvリ
ード62を接合している。接合部周辺63は遠赤外線照
射が施され、この処理の施されていないものよりもAI
N破断などの不良が生じなかった。
また、同図中64は接合部周辺63の拡大図であり、K
OVリード62を中心に同心円状にアニル部65が存在
している。
これらの結果から明らかなように、応力低減処理または
応力解放処理を施されたセラミックス−金属接合体は、
セラミックス部材に付与された無方向性圧縮応力か接合
体接合時の熱膨張差によって生じる残留応力を吸収して
低減させることができ、また残留応力を有する接合後の
接合体においてもエネルギービームを用いた部分アニー
リングにより応力を緩和し、接合強度の向上を図ること
ができた。
[発明の効果コ 以上説明したように、本発明のセラミックス−金属接合
体によれば、セラミックス部材の表面に、無方向性圧縮
応力を付与したり、接合体の最大主応力点を含む部位に
エネルギービーム照射を行うことにより、接合体に発生
する残留応力を低減して接合強度を向上させ、クラック
等の欠陥発生率の低い健全なセラミックス−金属接合体
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のセラミックス−金属接合体
を示す図、第2図および第3図は本発明の他の実施例の
セラミックス−金属接合体を示す図、第4図は接合界面
近傍の最大主応力の平面分布を示す図、第5図はセラミ
ックス−金属接合体における残留応力分布の測定結果を
示す図、第6図から第8図は本発明のさらに他の実施例
を示す図、第9図は従来のセラミックス−金属接合体に
おける残留応力分布の一例を示す図、第10図は従来の
セラミックス−金属接合体を説明するための図である。 11.21・・・セラミックス−金属接合体、12.2
2・・・窒化ケイ素セラミックス、13.23・・・金
属部材、 34・・・銅板、35・・・照射跡、 42・・・アルミナ基板、43・・・銅板、52・・・
窒化アルミニウム基板、 61・・・セラミックス−金属接合体、A・・・接合界
面。 第1図 出願人      株式会社 東芝

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)セラミックス部材と金属部材との接合体であり、
    前記セラミックス部材の表面には機械加工によって無方
    向性圧縮応力を付与する応力低減処理が施されたことを
    特徴とするセラミックス−金属接合体。
  2. (2)セラミックス部材と金属部材との接合体であり、
    この接合体の最大主応力点を含む接合体の表面にはエネ
    ルギービーム照射による応力解放処理が施されたことを
    特徴とするセラミックス−金属接合体。
JP22966890A 1990-08-30 1990-08-30 セラミックス―金属接合体 Pending JPH04108675A (ja)

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JP22966890A JPH04108675A (ja) 1990-08-30 1990-08-30 セラミックス―金属接合体

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JP22966890A JPH04108675A (ja) 1990-08-30 1990-08-30 セラミックス―金属接合体

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013111581A (ja) * 2011-11-24 2013-06-10 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 接合体及び接合体からなる車両、接合体の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013111581A (ja) * 2011-11-24 2013-06-10 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 接合体及び接合体からなる車両、接合体の製造方法

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