JPH0335624B2 - - Google Patents
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- JPH0335624B2 JPH0335624B2 JP57102600A JP10260082A JPH0335624B2 JP H0335624 B2 JPH0335624 B2 JP H0335624B2 JP 57102600 A JP57102600 A JP 57102600A JP 10260082 A JP10260082 A JP 10260082A JP H0335624 B2 JPH0335624 B2 JP H0335624B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
-
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
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- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、金属材料の表面疵探傷方法およびそ
の装置に関するものである。
の装置に関するものである。
現在、金属材料の表面疵探傷方法として種々の
非破壊検査法が実用化されており、存在が予想さ
れる欠陥に応じて一種あるいは複数種の方法が適
用されている。例えば予想される欠陥の方向があ
る程度定まつている場合の割れ状欠陥の検出には
漏洩磁束探傷法や又は表面波を用いた超音波探傷
法等を採用する。そして、方向性のないピツト状
欠陥の検出には渦流探傷法が適用されている。と
ころでこのうち、漏洩磁束探傷法と渦流探傷法に
ついてとりあげその特長を述べると以下に示す通
りである。前者の磁気探傷法は、一般に鉄鋼材
料等の強磁性体の表面欠陥の検出に優れている。
割れが開口していない地きずのような欠陥でも
検出できる。等の長所を有しているが、反面、鉄
鋼材料でもオーステナイトステンレス鋼のような
非磁性材料には適用出来ず、又欠陥の位置、表面
上の長さがわかるが、深さはわからず、内部欠陥
の検出が困難であるという短所も併せもつてい
る。また後者の渦探傷法は、探傷結果が直接的
に電気的出力として得られる。非接触的方法で
試験速度が速い。表面欠陥の検出に適してい
る。欠陥、材質変化、寸法変化等適用範囲が広
い。信号と欠陥体積とが略比例関係になる。等
の長所を有しているが、以下に列挙する短所も併
せもつている。材料形状が単純なものでないと
適用しにくい。表面下の深い位置にある欠陥の
検出が出来ない。試験対象以外の材料的因子の
影響が雑音の因子となる場合が多い。
非破壊検査法が実用化されており、存在が予想さ
れる欠陥に応じて一種あるいは複数種の方法が適
用されている。例えば予想される欠陥の方向があ
る程度定まつている場合の割れ状欠陥の検出には
漏洩磁束探傷法や又は表面波を用いた超音波探傷
法等を採用する。そして、方向性のないピツト状
欠陥の検出には渦流探傷法が適用されている。と
ころでこのうち、漏洩磁束探傷法と渦流探傷法に
ついてとりあげその特長を述べると以下に示す通
りである。前者の磁気探傷法は、一般に鉄鋼材
料等の強磁性体の表面欠陥の検出に優れている。
割れが開口していない地きずのような欠陥でも
検出できる。等の長所を有しているが、反面、鉄
鋼材料でもオーステナイトステンレス鋼のような
非磁性材料には適用出来ず、又欠陥の位置、表面
上の長さがわかるが、深さはわからず、内部欠陥
の検出が困難であるという短所も併せもつてい
る。また後者の渦探傷法は、探傷結果が直接的
に電気的出力として得られる。非接触的方法で
試験速度が速い。表面欠陥の検出に適してい
る。欠陥、材質変化、寸法変化等適用範囲が広
い。信号と欠陥体積とが略比例関係になる。等
の長所を有しているが、以下に列挙する短所も併
せもつている。材料形状が単純なものでないと
適用しにくい。表面下の深い位置にある欠陥の
検出が出来ない。試験対象以外の材料的因子の
影響が雑音の因子となる場合が多い。
また、上記磁気探傷法では、欠陥と直角な方向
に磁化した場合には有効であるが、平行な方向に
磁化した場合には、欠陥部に磁極が生じないので
欠陥の探傷が不可能であるが、現在では、下記に
示す方法で欠陥の方法に関係なく探傷出来るよう
になつてきた。
に磁化した場合には有効であるが、平行な方向に
磁化した場合には、欠陥部に磁極が生じないので
欠陥の探傷が不可能であるが、現在では、下記に
示す方法で欠陥の方法に関係なく探傷出来るよう
になつてきた。
例えば、棒鋼1の軸方向欠陥を(a)、周方向の欠
陥を(b)とすれば、電源(A)を用いて棒鋼1に軸通電
法による円周方向磁化を、又電源(B)を用いて棒鋼
1に軸方向磁化をコイル法で行なわせしめこれら
夫々の磁化で欠陥(a)、(b)を探傷する方法(第1図
参照)や、又スラブ等の平板状被検査体2では、
コイル(C)および(D)を交差状に配置せしめ、これら
コイル(C)および(D)によつて長手方向欠陥(a)′と幅
方向欠陥(b)′を連続的に探傷する方法(第2図イ
参照)や、更に管材1′では、この管材1′が貫通
する磁化コイル(E)、(E)′と、この管材1′を直径方
向より磁化する一対の磁化マグネツト(F)を夫々ダ
ンデム配置せしめ、これら磁化コイル(E)、(E)′お
よび磁化マグネツト(F)で軸方向欠陥(a)と円方向欠
陥(b)を連続的に探傷する方法(第2図ロ)等であ
る。
陥を(b)とすれば、電源(A)を用いて棒鋼1に軸通電
法による円周方向磁化を、又電源(B)を用いて棒鋼
1に軸方向磁化をコイル法で行なわせしめこれら
夫々の磁化で欠陥(a)、(b)を探傷する方法(第1図
参照)や、又スラブ等の平板状被検査体2では、
コイル(C)および(D)を交差状に配置せしめ、これら
コイル(C)および(D)によつて長手方向欠陥(a)′と幅
方向欠陥(b)′を連続的に探傷する方法(第2図イ
参照)や、更に管材1′では、この管材1′が貫通
する磁化コイル(E)、(E)′と、この管材1′を直径方
向より磁化する一対の磁化マグネツト(F)を夫々ダ
ンデム配置せしめ、これら磁化コイル(E)、(E)′お
よび磁化マグネツト(F)で軸方向欠陥(a)と円方向欠
陥(b)を連続的に探傷する方法(第2図ロ)等であ
る。
一方、金属材料の表面に発生する疵は割れ状の
欠陥以外に穴状のピツト疵と呼ばれるものもあり
通常磁気探傷ではピツト疵を検出し難い事は良く
知られており、よつて、現在実用されている探傷
方法では、一種類の探傷方法で全ての種類の疵を
検出することは至難である。
欠陥以外に穴状のピツト疵と呼ばれるものもあり
通常磁気探傷ではピツト疵を検出し難い事は良く
知られており、よつて、現在実用されている探傷
方法では、一種類の探傷方法で全ての種類の疵を
検出することは至難である。
今、丸棒鋼を例にとつてみると、割れ状の欠陥
は磁気探傷法の一つである磁粉探傷法での検出能
が良好であり、又ピツト状の疵は渦流探傷法での
検出能が良好である為、通常は検査目的に応じて
最良の探傷方法を採択し、使用しているのが現状
である。このため、疵の性状によつては、どちら
か一種類のみの探傷では、検出能が低下するため
数種類の探傷を併用しなければならないという問
題点があつた。
は磁気探傷法の一つである磁粉探傷法での検出能
が良好であり、又ピツト状の疵は渦流探傷法での
検出能が良好である為、通常は検査目的に応じて
最良の探傷方法を採択し、使用しているのが現状
である。このため、疵の性状によつては、どちら
か一種類のみの探傷では、検出能が低下するため
数種類の探傷を併用しなければならないという問
題点があつた。
本発明は、上記問題点に鑑みて成されたもので
あつて、一回の探傷で欠陥の性状および被探傷材
の種類(磁性材料又は非磁性材料)に影響される
ことがなく、かつ良好なる検出能を有する金属材
料の表面疵探傷方法およびその装置を提供せんと
するものである。
あつて、一回の探傷で欠陥の性状および被探傷材
の種類(磁性材料又は非磁性材料)に影響される
ことがなく、かつ良好なる検出能を有する金属材
料の表面疵探傷方法およびその装置を提供せんと
するものである。
すなわち、本発明の特徴は、被検査材表面に、
これに沿う方向と被検査材表面に対し垂直方向の
二方向から同時に磁場を与えることにより、被検
査材表面付近に直交する磁場を形成せしめ、表面
疵からの漏洩磁場と、表面に誘起される渦電流の
表面疵による乱れに起因する磁場の合成磁場を測
定し、欠陥の存在、情報を得る方法及び装置であ
る。
これに沿う方向と被検査材表面に対し垂直方向の
二方向から同時に磁場を与えることにより、被検
査材表面付近に直交する磁場を形成せしめ、表面
疵からの漏洩磁場と、表面に誘起される渦電流の
表面疵による乱れに起因する磁場の合成磁場を測
定し、欠陥の存在、情報を得る方法及び装置であ
る。
以下、本発明を第3図以降の添付図面に示す一
実施例に基づいて説明する。
実施例に基づいて説明する。
本発明は、被検査材11表面に沿う方向の磁場
を発生させる第1の磁場発生器12と、被検査材
11表面に垂直方向の磁場を発生させる第2の磁
場発生器13とから成る交流磁場発生装置14を
用いて被検査材11表面に沿う第1の磁場イと、
該磁場に直交するような被検査材11表面に垂直
な第2の磁場ロとを同時に被検査材11に与えて
第8図に一例を示す様に被検査材11表面付近に
表面に直交し時間的にその方向が変化する合成磁
場を形成せしめると、被検査材11上に存在する
欠陥によつて、合成磁場の時間経過に伴なう渦流
の乱れによる磁場乱れと、漏洩磁場の合成磁場が
あらわれ、この合成磁場を前記被検査材11表面
に近接した磁場検出器15で検出することにより
被検査材11の表面疵を探傷するもので、検査対
象とする欠陥の形状、方向等により信号処理は変
わる。例えば、磁場検出器を被検査材11表面に
近接配置し、被検査材11表面に垂直な磁場を検
出するとして、第9図イに示す様な角溝欠陥を対
象とする場合、磁場検出器の出力を、励磁合成磁
場の磁場方向が被検査材11表面に平行になつた
瞬間の出力を取出せば精度よく欠陥信号を得るこ
とができる。また、第9図ロの如きV溝状の欠陥
を対象とする場合、磁場検出器の出力を励磁合成
磁場の磁場方向が被検査材11表面に垂直になつ
た瞬間の出力を取出せは精度よく欠陥信号を得る
ことができる。更に、第9図ハの如き傾きを有す
る欠陥の場合、同様に時間的にその方向が変化す
る励磁合成磁場の磁場方向が欠陥に直角になつた
瞬間の出力を取り出せば精度よく欠陥信号を得る
ことができる。
を発生させる第1の磁場発生器12と、被検査材
11表面に垂直方向の磁場を発生させる第2の磁
場発生器13とから成る交流磁場発生装置14を
用いて被検査材11表面に沿う第1の磁場イと、
該磁場に直交するような被検査材11表面に垂直
な第2の磁場ロとを同時に被検査材11に与えて
第8図に一例を示す様に被検査材11表面付近に
表面に直交し時間的にその方向が変化する合成磁
場を形成せしめると、被検査材11上に存在する
欠陥によつて、合成磁場の時間経過に伴なう渦流
の乱れによる磁場乱れと、漏洩磁場の合成磁場が
あらわれ、この合成磁場を前記被検査材11表面
に近接した磁場検出器15で検出することにより
被検査材11の表面疵を探傷するもので、検査対
象とする欠陥の形状、方向等により信号処理は変
わる。例えば、磁場検出器を被検査材11表面に
近接配置し、被検査材11表面に垂直な磁場を検
出するとして、第9図イに示す様な角溝欠陥を対
象とする場合、磁場検出器の出力を、励磁合成磁
場の磁場方向が被検査材11表面に平行になつた
瞬間の出力を取出せば精度よく欠陥信号を得るこ
とができる。また、第9図ロの如きV溝状の欠陥
を対象とする場合、磁場検出器の出力を励磁合成
磁場の磁場方向が被検査材11表面に垂直になつ
た瞬間の出力を取出せは精度よく欠陥信号を得る
ことができる。更に、第9図ハの如き傾きを有す
る欠陥の場合、同様に時間的にその方向が変化す
る励磁合成磁場の磁場方向が欠陥に直角になつた
瞬間の出力を取り出せば精度よく欠陥信号を得る
ことができる。
上記の如く、本方法の信号処理は対象とする欠
陥の形状、方向等を予め想定し、経時的に変化す
る励磁合成磁場方向の最も精度よく得られる瞬間
の出力値を取出すのである。
陥の形状、方向等を予め想定し、経時的に変化す
る励磁合成磁場方向の最も精度よく得られる瞬間
の出力値を取出すのである。
第4図に示す第1実施例では、被検査材11表
面に発生する垂直の磁束の検出を行なわせる磁場
検出器15を、第2の磁場発生器13の直下に備
えたものを示している。また、第5図では被検査
材11の大きさに対応可能な様に、第1の磁場発
生器12を、左右逆ねじを有するねじ軸27に螺
合せしめた支持部材28,28′に取付け、前記
ねじ軸27を正逆回転させることにより、被検査
材11に対して接離移動するよう構成したものを
示している。
面に発生する垂直の磁束の検出を行なわせる磁場
検出器15を、第2の磁場発生器13の直下に備
えたものを示している。また、第5図では被検査
材11の大きさに対応可能な様に、第1の磁場発
生器12を、左右逆ねじを有するねじ軸27に螺
合せしめた支持部材28,28′に取付け、前記
ねじ軸27を正逆回転させることにより、被検査
材11に対して接離移動するよう構成したものを
示している。
第6図は、本発明に係る表面疵探傷装置におけ
る処理装置の構成を示す第1ブロツク図であり、
この第1ブロツク図に基づいて、更に説明する。
る処理装置の構成を示す第1ブロツク図であり、
この第1ブロツク図に基づいて、更に説明する。
先ず被検査材表面に、水平磁場用マグネツト1
6(周波数sinωt)および垂直磁場用コイル17
(周波数sin(ωt+))を用いて直交する磁場を形
成する。
6(周波数sinωt)および垂直磁場用コイル17
(周波数sin(ωt+))を用いて直交する磁場を形
成する。
ここで、被検査材11に欠陥が存在すると、こ
の欠陥により漏洩磁場と渦流の乱れによる磁場の
合成磁場が生じる。
の欠陥により漏洩磁場と渦流の乱れによる磁場の
合成磁場が生じる。
磁場検出器はこの合成磁場を検出し、この検出
値を夫々サンプルホールド回路18,18′に供
給し、各励振磁場の周波数に同期してサンプルホ
ールドし、信号を弁別する。サンプルホールド回
路18,18′出力はレコーダ19,19′および
比較器20,20′に送り、前記レコーダ19,
19′で記録すると共に比較器20,20′で予め
設定された有害疵と判定される信号レベルと比較
され、更に夫々のカウンター21,21′やマー
カ22,22′に送られ、欠陥数のカウントやマ
ーキングが施される。
値を夫々サンプルホールド回路18,18′に供
給し、各励振磁場の周波数に同期してサンプルホ
ールドし、信号を弁別する。サンプルホールド回
路18,18′出力はレコーダ19,19′および
比較器20,20′に送り、前記レコーダ19,
19′で記録すると共に比較器20,20′で予め
設定された有害疵と判定される信号レベルと比較
され、更に夫々のカウンター21,21′やマー
カ22,22′に送られ、欠陥数のカウントやマ
ーキングが施される。
なお、上記した直交する磁場を被検査材11表
面に形成させるには、位相だけずらせて同期せ
しめた第1および第2の発振器23,24で作ら
れた交流を、夫々のパワーアンプ25,25′を
介して水平磁場用マグネツト16および垂直磁場
用コイル17に流せばよい。
面に形成させるには、位相だけずらせて同期せ
しめた第1および第2の発振器23,24で作ら
れた交流を、夫々のパワーアンプ25,25′を
介して水平磁場用マグネツト16および垂直磁場
用コイル17に流せばよい。
このように位相をずらせる理由は、本発明方法
では欠陥に作用する磁場が水平磁場と垂直磁場と
の合成である為、位相をずらせることで合成磁場
の取り得る角度が垂直方向から水平方向にまで全
ての方向に亘つて可能となり、欠陥の角度に関係
なく一定の磁場の乱れを得ることができるからで
ある。
では欠陥に作用する磁場が水平磁場と垂直磁場と
の合成である為、位相をずらせることで合成磁場
の取り得る角度が垂直方向から水平方向にまで全
ての方向に亘つて可能となり、欠陥の角度に関係
なく一定の磁場の乱れを得ることができるからで
ある。
第7図は同じく本発明装置における処理装置の
構成を示す第2ブロツク図であり、この場合に
は、磁場検出器15により同時に検出された検出
値は2つの同調アンプ26,26′に送られる。
ここでこの同調アンプ26,26′の同調周波数
は、夫々水平磁場用マグネツト16および垂直磁
場用コイル17に供給される電流と同じ周波数で
ある。そして上記同調アンプ26,26′の出力
は夫々水平磁場用マグネツト16、垂直磁場用コ
イル17に供給される電流に同期して検波され、
欠陥信号が復調されて夫々の比較器20,20′
に送られ第1ブロツク図の場合と同じように処理
される。
構成を示す第2ブロツク図であり、この場合に
は、磁場検出器15により同時に検出された検出
値は2つの同調アンプ26,26′に送られる。
ここでこの同調アンプ26,26′の同調周波数
は、夫々水平磁場用マグネツト16および垂直磁
場用コイル17に供給される電流と同じ周波数で
ある。そして上記同調アンプ26,26′の出力
は夫々水平磁場用マグネツト16、垂直磁場用コ
イル17に供給される電流に同期して検波され、
欠陥信号が復調されて夫々の比較器20,20′
に送られ第1ブロツク図の場合と同じように処理
される。
なお、この第2ブロツク図の場合には水平磁場
用マグネツト16および垂直磁場用コイル17に
流す交流の発振器23′,24′の位相は同じでよ
い。なぜならコイル及びマグネツトに同位相の電
流を流す事によりそれぞれの磁場に90°位相差が
生じるからである。
用マグネツト16および垂直磁場用コイル17に
流す交流の発振器23′,24′の位相は同じでよ
い。なぜならコイル及びマグネツトに同位相の電
流を流す事によりそれぞれの磁場に90°位相差が
生じるからである。
以上述べた如く本発明によれば、従来の探傷方
法の様に、数種類の探傷を行なうことなく、一回
の探傷のみで、非磁性材料、磁性材料を問わず、
かつ欠陥の性状に影響されることなく、高精度な
探傷が行なえる産業上益するところ大なる発明で
ある。
法の様に、数種類の探傷を行なうことなく、一回
の探傷のみで、非磁性材料、磁性材料を問わず、
かつ欠陥の性状に影響されることなく、高精度な
探傷が行なえる産業上益するところ大なる発明で
ある。
第1図および第2図は磁粉探傷法の説明図、第
3図は本発明法の概念図、第4図は本発明装置の
第1実施例を示す概略説明図、第5図は同じく第
2実施例を示す正面図、第6図は本発明装置にお
ける処理装置の構成を示す第1ブロツク図、第7
図は同じく第2ブロツク図、第8図は垂直磁場
(sinωt)および水平磁場(cosωt)と励振合成磁
場との関係図、第9図は各欠陥における励振合成
磁場の取出し方向を説明する図面で、同図イは角
溝欠陥、同図ロはV溝欠陥、同図ハは傾きを有す
る欠陥の場合である。 11は被検査材、12は第1の磁場発生器、1
3は第2の磁場発生器、14は交流磁場発生装
置、15は磁場検出器。
3図は本発明法の概念図、第4図は本発明装置の
第1実施例を示す概略説明図、第5図は同じく第
2実施例を示す正面図、第6図は本発明装置にお
ける処理装置の構成を示す第1ブロツク図、第7
図は同じく第2ブロツク図、第8図は垂直磁場
(sinωt)および水平磁場(cosωt)と励振合成磁
場との関係図、第9図は各欠陥における励振合成
磁場の取出し方向を説明する図面で、同図イは角
溝欠陥、同図ロはV溝欠陥、同図ハは傾きを有す
る欠陥の場合である。 11は被検査材、12は第1の磁場発生器、1
3は第2の磁場発生器、14は交流磁場発生装
置、15は磁場検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検査材表面に、これに沿う方向と垂直方向
の二方向から同時に磁束を与えることにより、被
検査材表面付近に直交する磁場を形成せしめ、前
記表面に沿う方向の磁束によつて得られる表面疵
からの漏洩磁場と、表面に垂直方向の磁束によつ
て得られる渦電流の表面疵による乱れに起因する
磁場との合成磁場を一つの磁場検出器で検出する
ことを特徴とする金属材料の表面疵探傷方法。 2 被検査材表面に、これに沿う方向と垂直方向
の二方向から同時に磁束を与えることにより、被
検査表面付近に直交する磁場を形成せしめ、前記
表面に沿う方向の磁束によつて得られる表面疵か
らの漏洩磁場と、表面に垂直方向の磁束によつて
得られる渦電流の表面疵による乱れに起因する磁
場との合成磁場を一つの磁場検出器で検出した
後、前記磁場検出器の出力を励磁磁場に対応した
信号に弁別し、これら各信号により表面疵探傷の
評価を行なうことを特徴とする金属材料の表面疵
探傷方法。 3 被検査材表面に沿う方向の磁束を発生させる
第1の磁場発生器と、被検査材表面に垂直方向の
磁束を発生させる第2の磁場発生器とから成る交
流磁場発生器と、該交流磁場発生器により形成さ
れる被検査材表面付近の直交磁場の垂直方向の磁
場を検出する磁場検出器と、該磁場検出器での検
出値を、表面に沿う方向の磁場と、表面に垂直方
向の磁場変化とに弁別し、これら弁別した夫々の
値を処理する処理装置とを具備して成ることを特
徴とする金属材料の表面疵探傷装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57102600A JPS58218644A (ja) | 1982-06-14 | 1982-06-14 | 金属材料の表面疵探傷方法及びその装置 |
US06/502,547 US4602212A (en) | 1982-06-14 | 1983-06-09 | Method and apparatus including a flux leakage and eddy current sensor for detecting surface flaws in metal products |
DE19833321375 DE3321375C2 (de) | 1982-06-14 | 1983-06-14 | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Oberflächenfehlstellen an Metallen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57102600A JPS58218644A (ja) | 1982-06-14 | 1982-06-14 | 金属材料の表面疵探傷方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58218644A JPS58218644A (ja) | 1983-12-19 |
JPH0335624B2 true JPH0335624B2 (ja) | 1991-05-28 |
Family
ID=14331724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57102600A Granted JPS58218644A (ja) | 1982-06-14 | 1982-06-14 | 金属材料の表面疵探傷方法及びその装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
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DE (1) | DE3321375C2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018169361A (ja) * | 2017-03-30 | 2018-11-01 | 国立大学法人名古屋大学 | 磁気計測装置 |
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DE9011477U1 (de) * | 1990-08-07 | 1990-12-20 | Nukem GmbH, 63755 Alzenau | Anordnung zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung |
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DE102022213259A1 (de) | 2022-12-08 | 2024-06-13 | Zf Friedrichshafen Ag | Prüfstand zum Erfassen von Wirbelstromverlusten in einem permanentmagnetischen Probenkörper |
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JPS5667747A (en) * | 1979-11-08 | 1981-06-08 | Denshi Jiki Kogyo Kk | Magnetic powder flaw detector for steel pipe |
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1982
- 1982-06-14 JP JP57102600A patent/JPS58218644A/ja active Granted
-
1983
- 1983-06-14 DE DE19833321375 patent/DE3321375C2/de not_active Expired
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JP2018169361A (ja) * | 2017-03-30 | 2018-11-01 | 国立大学法人名古屋大学 | 磁気計測装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58218644A (ja) | 1983-12-19 |
DE3321375C2 (de) | 1987-04-02 |
DE3321375A1 (de) | 1983-12-22 |
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