JPH0989843A - 渦流探傷方法及び渦流探傷装置 - Google Patents
渦流探傷方法及び渦流探傷装置Info
- Publication number
- JPH0989843A JPH0989843A JP7246229A JP24622995A JPH0989843A JP H0989843 A JPH0989843 A JP H0989843A JP 7246229 A JP7246229 A JP 7246229A JP 24622995 A JP24622995 A JP 24622995A JP H0989843 A JPH0989843 A JP H0989843A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eddy current
- flaw
- current flaw
- flaw detection
- difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 単発系疵や二次コイルの配列方向と直角方向
に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配列方向と同一方
向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの疵の区別ができ
る渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供する。 【解決手段】 E型の渦流探傷センサ11〜13を、各
磁極の並びと直角方向に複数配列し、各渦流探傷センサ
毎の二つの二次コイル11bと11c、12bと12
c、13bと13cの出力の差分信号と、異なる渦流探
傷センサの二次コイル同士11cと12c、12cと1
3cの出力の差分信号との双方を検出し、これらの差分
信号に基づいて被検査材の疵の検出を行う。
に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配列方向と同一方
向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの疵の区別ができ
る渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供する。 【解決手段】 E型の渦流探傷センサ11〜13を、各
磁極の並びと直角方向に複数配列し、各渦流探傷センサ
毎の二つの二次コイル11bと11c、12bと12
c、13bと13cの出力の差分信号と、異なる渦流探
傷センサの二次コイル同士11cと12c、12cと1
3cの出力の差分信号との双方を検出し、これらの差分
信号に基づいて被検査材の疵の検出を行う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、渦電流を利用して
導電体の表層に存在する疵を検出する方法及び装置に関
する。
導電体の表層に存在する疵を検出する方法及び装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】導電体の表層に存在する疵を検出する方
法として、渦流探傷方法が広く使用されている。渦流探
傷方法は、励磁コイルにより導電体の表層に渦電流を発
生させ、その渦電流によって検出コイルに発生する誘導
電圧を検出することにより疵を検出するものである。被
検出体の表面に疵があった場合には、渦電流の流れに変
化が起き、それに伴って励磁電圧が変化するので、疵が
検出できる。
法として、渦流探傷方法が広く使用されている。渦流探
傷方法は、励磁コイルにより導電体の表層に渦電流を発
生させ、その渦電流によって検出コイルに発生する誘導
電圧を検出することにより疵を検出するものである。被
検出体の表面に疵があった場合には、渦電流の流れに変
化が起き、それに伴って励磁電圧が変化するので、疵が
検出できる。
【0003】渦流探傷方法に使用されるセンサ(プロー
ブ)として、E型をしたセンサが一般的に使用されてい
る。E型センサを使用した渦流探傷の原理を図6に示
す。図6において、1はセンサ、1aは一次コイル、1
b、1cは二次コイル、3は被検査体、4は単発系(ピ
ット状)の疵を示す。一次コイル1aには交流電流が供
給され、これによって被検査体3には、矢印で示される
ような渦電流が発生する。この渦電流により二次コイル
1b、1cには誘導電圧が発生する。
ブ)として、E型をしたセンサが一般的に使用されてい
る。E型センサを使用した渦流探傷の原理を図6に示
す。図6において、1はセンサ、1aは一次コイル、1
b、1cは二次コイル、3は被検査体、4は単発系(ピ
ット状)の疵を示す。一次コイル1aには交流電流が供
給され、これによって被検査体3には、矢印で示される
ような渦電流が発生する。この渦電流により二次コイル
1b、1cには誘導電圧が発生する。
【0004】被検査体に疵がないときは、二次コイル1
b、1cに発生する誘導電圧は同じであるため、二つの
二次コイルの誘導電圧の差分をとればゼロになる。図6
に示されるように二次コイル1cの近傍にのみ疵4が存
在する場合には、二つの二次コイルに発生する誘導電圧
に差が発生するので、両コイルの誘導電圧の差分がゼロ
でなくなる。従って、この差分を検出することにより疵
の発生を検出できる。
b、1cに発生する誘導電圧は同じであるため、二つの
二次コイルの誘導電圧の差分をとればゼロになる。図6
に示されるように二次コイル1cの近傍にのみ疵4が存
在する場合には、二つの二次コイルに発生する誘導電圧
に差が発生するので、両コイルの誘導電圧の差分がゼロ
でなくなる。従って、この差分を検出することにより疵
の発生を検出できる。
【0005】このように、E型の渦流探傷センサにおい
ては、二つの二次コイルの差分信号により疵の存在の判
定を行っているので、センサの温度変化に伴うドリフト
や、被検査体の成分値変化等に伴う透磁率や非抵抗の変
化に起因する二次コイルの出力の変化が相殺されて、疵
信号のみが得られるという長所を有する。
ては、二つの二次コイルの差分信号により疵の存在の判
定を行っているので、センサの温度変化に伴うドリフト
や、被検査体の成分値変化等に伴う透磁率や非抵抗の変
化に起因する二次コイルの出力の変化が相殺されて、疵
信号のみが得られるという長所を有する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、E型の
渦流探傷センサは、ピンホール状の疵や二次コイルの配
列方向と直角方向に伸びる疵を感度良く検出することは
できるが、二次コイルの配列方向と同一方向に伸びる疵
に対して検出感度が悪いという問題点を有する。
渦流探傷センサは、ピンホール状の疵や二次コイルの配
列方向と直角方向に伸びる疵を感度良く検出することは
できるが、二次コイルの配列方向と同一方向に伸びる疵
に対して検出感度が悪いという問題点を有する。
【0007】図7にこのような疵がE型のセンサの下に
位置する場合を示す。図7において、図6と同じ部分に
は同じ符号を付す。5は、各コイル1a、1b、1cと
同じ方向に伸びる長い疵をしめす。図7に示されるよう
に長い疵5がセンサ1の中心に対して対称の位置にある
場合には、疵5の大きさが大きくても、二つの二次コイ
ル1b、1cに誘起される誘起電圧はほぼ同じとなり、
差分出力がゼロに近いため、欠陥が検出できない。
位置する場合を示す。図7において、図6と同じ部分に
は同じ符号を付す。5は、各コイル1a、1b、1cと
同じ方向に伸びる長い疵をしめす。図7に示されるよう
に長い疵5がセンサ1の中心に対して対称の位置にある
場合には、疵5の大きさが大きくても、二つの二次コイ
ル1b、1cに誘起される誘起電圧はほぼ同じとなり、
差分出力がゼロに近いため、欠陥が検出できない。
【0008】図8に、このような二次コイルの配列方向
に長い疵と単発系(ピット状)の疵を有する被検査体を
E型センサで検査した場合の出力の例を示す。図8にお
いても、図6と同じ部分には同じ符号を付す。矢印は被
検査体の進行方向を示す。また、Vは二つの二次コイル
の出力の差分信号を位相検波した出力、tは時間を示
す。長い疵5がセンサ1の下を通過し始めるとき、2つ
の検出コイルの出力の間に小さなアンバランスが生じる
ため、出力Vは少し変化する。その後疵5の深さが次第
に深くなり、続いて浅くなっていくが、その変化の割合
が小さいため、二つの二次コイルの出力の間にはあまり
差がなく、出力Vの変化は小さい。疵5の終端がセンサ
1の下を通過するとき、再びやや大きめな出力Vの変化
が得られる。これに対し、単発系疵4がセンサ1の下を
通過する場合には、大きな出力が得られる。
に長い疵と単発系(ピット状)の疵を有する被検査体を
E型センサで検査した場合の出力の例を示す。図8にお
いても、図6と同じ部分には同じ符号を付す。矢印は被
検査体の進行方向を示す。また、Vは二つの二次コイル
の出力の差分信号を位相検波した出力、tは時間を示
す。長い疵5がセンサ1の下を通過し始めるとき、2つ
の検出コイルの出力の間に小さなアンバランスが生じる
ため、出力Vは少し変化する。その後疵5の深さが次第
に深くなり、続いて浅くなっていくが、その変化の割合
が小さいため、二つの二次コイルの出力の間にはあまり
差がなく、出力Vの変化は小さい。疵5の終端がセンサ
1の下を通過するとき、再びやや大きめな出力Vの変化
が得られる。これに対し、単発系疵4がセンサ1の下を
通過する場合には、大きな出力が得られる。
【0009】このように実際には疵5の方が疵4よりも
大きいにもかかわらず、疵4から得られる信号の方が大
きいので、疵5を微小疵と判断してしまうという問題点
がある。また、出力信号Vをみただけでは、疵5が長い
疵であることが判別できない。
大きいにもかかわらず、疵4から得られる信号の方が大
きいので、疵5を微小疵と判断してしまうという問題点
がある。また、出力信号Vをみただけでは、疵5が長い
疵であることが判別できない。
【0010】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたものであり、単発系疵や二次コイルの配列
方向と直角方向に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配
列方向と同一方向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの
疵の区別ができる渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供
することを目的とする。
めになされたものであり、単発系疵や二次コイルの配列
方向と直角方向に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配
列方向と同一方向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの
疵の区別ができる渦流探傷方法及び渦流探傷装置を提供
することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題は、強磁性体で
あるE型コアの中央磁極を一次コイルとし両側の各磁極
を二次コイルとした渦流探傷センサの一次コイルに交流
電圧を印加して被検査体に渦電流を発生させ、この渦電
流により各二次コイルに生じる誘起電圧を検出信号とす
る渦流探傷法であって、前記渦流探傷センサを、各磁極
の並びと直角方向に複数配列し、各渦流探傷センサ毎の
二つの二次コイルの出力の差分信号と、異なる渦流探傷
センサの二次コイル同士の出力の差分信号との双方を検
出し、これらの差分信号に基づいて被検査材の疵の検出
を行うことを特徴とする渦流探傷方法により解決され
る。
あるE型コアの中央磁極を一次コイルとし両側の各磁極
を二次コイルとした渦流探傷センサの一次コイルに交流
電圧を印加して被検査体に渦電流を発生させ、この渦電
流により各二次コイルに生じる誘起電圧を検出信号とす
る渦流探傷法であって、前記渦流探傷センサを、各磁極
の並びと直角方向に複数配列し、各渦流探傷センサ毎の
二つの二次コイルの出力の差分信号と、異なる渦流探傷
センサの二次コイル同士の出力の差分信号との双方を検
出し、これらの差分信号に基づいて被検査材の疵の検出
を行うことを特徴とする渦流探傷方法により解決され
る。
【0012】各渦流探傷センサの各磁極の配列方向に長
い疵の場合、前述したように当該センサの二つの二次コ
イル間の出力の差はほとんどない。しかしながら、この
ような疵の場合、あるセンサの下に疵がある場合には他
のセンサの下には疵がないので、異なるセンサの二次コ
イル同士の出力信号の間には差が生じ、差分信号を検出
することにより、疵の検出が可能となる。また、前記2
種類の差分信号に基づいて、疵の形状を判別することが
できる。
い疵の場合、前述したように当該センサの二つの二次コ
イル間の出力の差はほとんどない。しかしながら、この
ような疵の場合、あるセンサの下に疵がある場合には他
のセンサの下には疵がないので、異なるセンサの二次コ
イル同士の出力信号の間には差が生じ、差分信号を検出
することにより、疵の検出が可能となる。また、前記2
種類の差分信号に基づいて、疵の形状を判別することが
できる。
【0013】この渦流探傷方法は、強磁性体であるE型
コアの中央磁極を一次コイルとし両側の各磁極を二次コ
イルとした渦流探傷センサを各磁極の並びと直角方向に
複数配列した渦流探傷センサ群と、各渦流探傷センサに
交流電流を供給する電源装置と、各々の渦流探傷センサ
毎の二つの二次コイルの出力の差分を演算して増幅する
差動増幅器と、異なる渦流探傷センサの二次コイル同士
の出力の差分を演算して増幅する差動増幅器と、これら
の差動増幅器の信号を位相検波する位相検波回路と、位
相検波された信号をフィルタリングするフィルタ回路を
有してなる渦流探傷装置を用いて実現することができ
る。
コアの中央磁極を一次コイルとし両側の各磁極を二次コ
イルとした渦流探傷センサを各磁極の並びと直角方向に
複数配列した渦流探傷センサ群と、各渦流探傷センサに
交流電流を供給する電源装置と、各々の渦流探傷センサ
毎の二つの二次コイルの出力の差分を演算して増幅する
差動増幅器と、異なる渦流探傷センサの二次コイル同士
の出力の差分を演算して増幅する差動増幅器と、これら
の差動増幅器の信号を位相検波する位相検波回路と、位
相検波された信号をフィルタリングするフィルタ回路を
有してなる渦流探傷装置を用いて実現することができ
る。
【0014】各々の渦流探傷センサ毎の二つの二次コイ
ルの出力及び異なる渦流探傷センサの二次コイル同士の
出力は、それぞれ差動増幅器で差動増幅されて位相検波
回路に供給される。位相検波回路は、一次コイルへの励
磁電流の位相と一定の位相差を持った波形を基準にして
同期検波を行うことにより、疵の信号のみを取り出すも
ので、渦流探傷装置において通常使用されている公知の
ものである。同期検波された信号はフィルタ回路に供給
される。フィルタ回路は、特定範囲の周波数の信号のみ
を通過させることによって疵の種類を判別するために使
用されるものであり、位相検波回路同様、渦流探傷装置
において通常使用されている公知のものである。
ルの出力及び異なる渦流探傷センサの二次コイル同士の
出力は、それぞれ差動増幅器で差動増幅されて位相検波
回路に供給される。位相検波回路は、一次コイルへの励
磁電流の位相と一定の位相差を持った波形を基準にして
同期検波を行うことにより、疵の信号のみを取り出すも
ので、渦流探傷装置において通常使用されている公知の
ものである。同期検波された信号はフィルタ回路に供給
される。フィルタ回路は、特定範囲の周波数の信号のみ
を通過させることによって疵の種類を判別するために使
用されるものであり、位相検波回路同様、渦流探傷装置
において通常使用されている公知のものである。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の一例
について、図1、図2を用いて説明する。図1におい
て、11、12、13はE型センサ、11a、12a、
13aはそれぞれのE型センサの一次コイル、11b、
11c、12b、12c、13b、13cは、それぞれ
のE型センサの二次コイルを示す。3つのE型センサ1
1、12、13は、各磁極(コイル)の並びと直角方向
に配列されている。
について、図1、図2を用いて説明する。図1におい
て、11、12、13はE型センサ、11a、12a、
13aはそれぞれのE型センサの一次コイル、11b、
11c、12b、12c、13b、13cは、それぞれ
のE型センサの二次コイルを示す。3つのE型センサ1
1、12、13は、各磁極(コイル)の並びと直角方向
に配列されている。
【0016】図2において、21〜25は差動増幅器、
31〜35は位相検波回路、41〜45はフィルタを示
す。E型センサ11の二次コイル11b、11cからの
出力電圧が差動増幅器21に、E型センサ12の二次コ
イル12b、12cからの出力電圧が差動増幅器22
に、E型センサ13の二次コイル13b、13cからの
出力電圧が差動増幅器23にそれぞれ入力されると共
に、E型センサ11の二次コイル11cとE型センサ1
2の二次コイル12cからの出力が差動増幅器24に、
E型センサ12の二次コイル12cとE型センサ13の
二次コイル13cからの出力が差動増幅器25にそれぞ
れ入力されている。
31〜35は位相検波回路、41〜45はフィルタを示
す。E型センサ11の二次コイル11b、11cからの
出力電圧が差動増幅器21に、E型センサ12の二次コ
イル12b、12cからの出力電圧が差動増幅器22
に、E型センサ13の二次コイル13b、13cからの
出力電圧が差動増幅器23にそれぞれ入力されると共
に、E型センサ11の二次コイル11cとE型センサ1
2の二次コイル12cからの出力が差動増幅器24に、
E型センサ12の二次コイル12cとE型センサ13の
二次コイル13cからの出力が差動増幅器25にそれぞ
れ入力されている。
【0017】差動増幅器21〜23から得られる差分信
号は、E型センサの長さ方向(縦方向)の差分であるの
で縦差分と称し、差動増幅器24、25から得られる差
分信号は、E型センサの幅方向(横方向)の差分である
ので横差分と称する。
号は、E型センサの長さ方向(縦方向)の差分であるの
で縦差分と称し、差動増幅器24、25から得られる差
分信号は、E型センサの幅方向(横方向)の差分である
ので横差分と称する。
【0018】なお、図2においては、横差分を発生させ
るのに、隣接するE型センサの隣接する二次コイル11
cと12c、12cと13cをそれぞれ差動増幅器2
4、25の入力としているが、多数のE型センサが設け
られる場合には、二次コイル11cと13cの出力を一
組にして差動増幅器の入力とする等、1個以上離れたE
型センサの横差分をとることもできる。
るのに、隣接するE型センサの隣接する二次コイル11
cと12c、12cと13cをそれぞれ差動増幅器2
4、25の入力としているが、多数のE型センサが設け
られる場合には、二次コイル11cと13cの出力を一
組にして差動増幅器の入力とする等、1個以上離れたE
型センサの横差分をとることもできる。
【0019】また、隣接するE型センサの隣接しない二
次コイル11bと12c、12bと13c等を組にして
横差分をとることもできる。しかし、一般には、差分を
とる二次コイルの位置があまり離れると測定条件が同一
でなくなるという問題があるので、なるべく近い二次コ
イル同士で横差分をとることが望ましい。
次コイル11bと12c、12bと13c等を組にして
横差分をとることもできる。しかし、一般には、差分を
とる二次コイルの位置があまり離れると測定条件が同一
でなくなるという問題があるので、なるべく近い二次コ
イル同士で横差分をとることが望ましい。
【0020】差動増幅器21〜25の出力は、それぞれ
位相検波回路31〜35に入力される。位相検波回路3
1〜35には、E型センサの励磁コイルに供給される電
流と同位相の基準電圧が供給されており、各々の位相検
波回路31〜35は、この基準電圧を基準にして設定さ
れた位相差を持った信号を作りだし、この信号を基準に
して同期検波を行うことにより疵の信号成分のみを抽出
している。
位相検波回路31〜35に入力される。位相検波回路3
1〜35には、E型センサの励磁コイルに供給される電
流と同位相の基準電圧が供給されており、各々の位相検
波回路31〜35は、この基準電圧を基準にして設定さ
れた位相差を持った信号を作りだし、この信号を基準に
して同期検波を行うことにより疵の信号成分のみを抽出
している。
【0021】なお、図2においては、一つの差動増幅器
に対して一つの位相検波回路のみが接続されているが、
検出目的とする疵の種類に応じて、異なる検波位相を持
った複数の位相検波回路を接続することもできる。
に対して一つの位相検波回路のみが接続されているが、
検出目的とする疵の種類に応じて、異なる検波位相を持
った複数の位相検波回路を接続することもできる。
【0022】位相検波回路31〜35の出力信号は、フ
ォイルタ回路41〜45に入力される。フィルタ回路4
1〜45は、検出目的とする疵の種類や大きさ、被検出
体の速度等により決定される周波数成分のみを通過させ
ることにより、ノイズ成分を除去し疵信号のみを出力す
る。位相検波回路及びフィルタ回路は、周知のものであ
るため、その詳しい説明は省略する。
ォイルタ回路41〜45に入力される。フィルタ回路4
1〜45は、検出目的とする疵の種類や大きさ、被検出
体の速度等により決定される周波数成分のみを通過させ
ることにより、ノイズ成分を除去し疵信号のみを出力す
る。位相検波回路及びフィルタ回路は、周知のものであ
るため、その詳しい説明は省略する。
【0023】フィルタ回路41〜45の出力は、コンパ
レータ(図示せず)によりしきい値と比較され、しきい
値を越えた信号があった場合に疵があったと判定され
る。
レータ(図示せず)によりしきい値と比較され、しきい
値を越えた信号があった場合に疵があったと判定され
る。
【0024】本発明の実施形態における疵の種類毎の検
出出力を図3、図4により説明する。図3において、
(N−1)は(N−1)番目のE型センサ、NはN番目
のE型センサ、(N+1)は(N+1)番目のE型セン
サを示し、(N−1)b、(N−1)c、Nb、Nc、
(N+1)b、(N+1)cは、それぞれ各E型センサ
の二次コイルを示す。図3は、初期状態を示し、この状
態から被検査体が矢印の方向に移動するものとする。E
型センサ(N+1)の近傍を単発系(ピット状)疵が通
過し、E型センサ(N−1)の近傍を長い疵が通過す
る。
出出力を図3、図4により説明する。図3において、
(N−1)は(N−1)番目のE型センサ、NはN番目
のE型センサ、(N+1)は(N+1)番目のE型セン
サを示し、(N−1)b、(N−1)c、Nb、Nc、
(N+1)b、(N+1)cは、それぞれ各E型センサ
の二次コイルを示す。図3は、初期状態を示し、この状
態から被検査体が矢印の方向に移動するものとする。E
型センサ(N+1)の近傍を単発系(ピット状)疵が通
過し、E型センサ(N−1)の近傍を長い疵が通過す
る。
【0025】図4は、E型センサ(N+1)の縦差分の
出力、E型センサ(N−1)の縦差分の出力、E型セン
サ(N−1)とE型センサNの横差分の出力(いずれも
フィルタ回路の出力)を示すものである。E型センサ
(N+1)の縦差分の出力は、単発系疵が通過するとき
にしきい値を越えている。E型センサ(N−1)の縦差
分の出力は、長い欠陥がE型センサ(N−1)の近傍を
長い疵が通過するにもかかわらず、前述した理由により
しきい値を越えていない。しかし、E型センサ(N−
1)とE型センサNの横差分の出力は、長い欠陥の通過
に応じて大きくなり、ほぼ欠陥の通過する間、しきい値
を越えている。
出力、E型センサ(N−1)の縦差分の出力、E型セン
サ(N−1)とE型センサNの横差分の出力(いずれも
フィルタ回路の出力)を示すものである。E型センサ
(N+1)の縦差分の出力は、単発系疵が通過するとき
にしきい値を越えている。E型センサ(N−1)の縦差
分の出力は、長い欠陥がE型センサ(N−1)の近傍を
長い疵が通過するにもかかわらず、前述した理由により
しきい値を越えていない。しかし、E型センサ(N−
1)とE型センサNの横差分の出力は、長い欠陥の通過
に応じて大きくなり、ほぼ欠陥の通過する間、しきい値
を越えている。
【0026】なお、一般にあるセンサの近傍を図3に示
されるような長い疵が通過する場合には、当該センサの
横差分の出力と共に、当該センサと横差分をとっている
センサの横差分出力も変化するが、変化の向きが逆であ
るので、出力信号の正負を判定すれば、どちらのセンサ
の近傍を疵が通過したのかを判別することができる。こ
のように縦差分と横差分を併用することにより、単発系
欠陥のみならず、E型センサの磁極の配列方向に長い欠
陥も検出することができる。
されるような長い疵が通過する場合には、当該センサの
横差分の出力と共に、当該センサと横差分をとっている
センサの横差分出力も変化するが、変化の向きが逆であ
るので、出力信号の正負を判定すれば、どちらのセンサ
の近傍を疵が通過したのかを判別することができる。こ
のように縦差分と横差分を併用することにより、単発系
欠陥のみならず、E型センサの磁極の配列方向に長い欠
陥も検出することができる。
【0027】また、本発明の方法と装置を使用すれば、
各出力の組み合わせにより疵の種類を判別することがで
きる。即ち、 (1) あるE型センサの縦差分と横差分、及び当該センサ
と横差分をとっているセンサの横差分にのみ同時に短い
出力が現れる場合は、単発系疵である。 (2) 複数の連続するE型センサの縦差分に同時に出力が
現れる場合は、E型センサの配列方向に長い連続性疵で
ある。 (3) あるE型センサの横差分に連続した出力が現れる場
合は、E型センサの磁極の配列方向に長い連続性疵であ
る。
各出力の組み合わせにより疵の種類を判別することがで
きる。即ち、 (1) あるE型センサの縦差分と横差分、及び当該センサ
と横差分をとっているセンサの横差分にのみ同時に短い
出力が現れる場合は、単発系疵である。 (2) 複数の連続するE型センサの縦差分に同時に出力が
現れる場合は、E型センサの配列方向に長い連続性疵で
ある。 (3) あるE型センサの横差分に連続した出力が現れる場
合は、E型センサの磁極の配列方向に長い連続性疵であ
る。
【0028】また、一つのE型センサの縦差分出力と横
差分出力とから、疵の形状は、一般に表1に記載される
ように判断される。
差分出力とから、疵の形状は、一般に表1に記載される
ように判断される。
【0029】
【表1】
【0030】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されているの
で、ピット状の疵や二次コイルの二次コイルの配列方向
と直角方向に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配列方
向と同一方向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの疵の
区別ができる。
で、ピット状の疵や二次コイルの二次コイルの配列方向
と直角方向に伸びる疵のみでなく、二次コイルの配列方
向と同一方向に伸びる疵も検出でき、かつこれらの疵の
区別ができる。
【図1】 本発明の一実施形態におけるE型センサの配
置を示す図である。
置を示す図である。
【図2】 本発明の一実施形態における疵検出回路の構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図3】 本発明の一実施形態において、検出される疵
とE型センサの位置関係を示す図である。
とE型センサの位置関係を示す図である。
【図4】 図3に示す疵が通過した場合の、各差分出力
を示す図である。
を示す図である。
【図5】 従来技術において、渦流探傷法に使用される
E型センサの構成を示す図である。
E型センサの構成を示す図である。
【図6】 E型センサによる渦流探傷の原理を示す図で
ある。
ある。
【図7】 E型センサにより、その磁極の配列方向に長
い疵を探傷する場合の問題点を示す図である。
い疵を探傷する場合の問題点を示す図である。
【図8】 長い疵と単発系欠陥を有する被検出体をE型
センサで探傷した場合の出力波形を示す図である。
センサで探傷した場合の出力波形を示す図である。
11〜13…E型センサ、11a、12a、13a…一
次コイル、11b、12b、13b、11c、12c、
13c…二次コイル、21〜25…差動増幅器、31〜
35…位相検波回路、41〜45…フィルタ回路
次コイル、11b、12b、13b、11c、12c、
13c…二次コイル、21〜25…差動増幅器、31〜
35…位相検波回路、41〜45…フィルタ回路
Claims (3)
- 【請求項1】強磁性体であるE型コアの中央磁極を一次
コイルとし両側の各磁極を二次コイルとした渦流探傷セ
ンサの一次コイルに交流電圧を印加して被検査体に渦電
流を発生させ、この渦電流により各二次コイルに生じる
誘起電圧を検出信号とする渦流探傷法において、前記渦
流探傷センサを、各磁極の並びと直角方向に複数配列
し、各渦流探傷センサ毎の二つの二次コイルの出力の差
分信号と、異なる渦流探傷センサの二次コイル同士の出
力の差分信号との双方を検出し、これらの差分信号に基
づいて被検査材の疵の検出を行うことを特徴とする渦流
探傷方法。 - 【請求項2】前記2種類の差分信号に基づいて、疵の形
状を判別することを特徴とする請求項1に記載の渦流探
傷方法。 - 【請求項3】強磁性体であるE型コアの中央磁極を一次
コイルとし両側の各磁極を二次コイルとした渦流探傷セ
ンサを各磁極の並びと直角方向に複数配列した渦流探傷
センサ群と、各渦流探傷センサに交流電流を供給する電
源装置と、各々の渦流探傷センサ毎の二つの二次コイル
の出力の差分を演算して増幅する差動増幅器と、異なる
渦流探傷センサの二次コイル同士の出力の差分を演算し
て増幅する差動増幅器と、これらの差動増幅器の信号を
位相検波する位相検波回路と、位相検波された信号をフ
ィルタリングするフィルタ回路を有してなる渦流探傷装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7246229A JPH0989843A (ja) | 1995-09-25 | 1995-09-25 | 渦流探傷方法及び渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7246229A JPH0989843A (ja) | 1995-09-25 | 1995-09-25 | 渦流探傷方法及び渦流探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0989843A true JPH0989843A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17145440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7246229A Pending JPH0989843A (ja) | 1995-09-25 | 1995-09-25 | 渦流探傷方法及び渦流探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0989843A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000131287A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Japan Science & Technology Corp | 磁気計測による探傷方法及び装置 |
JP2003240761A (ja) * | 2002-02-15 | 2003-08-27 | Jfe Steel Kk | 磁性金属被検体の表層欠陥又は表面欠陥の検出方法及び装置 |
JP2006234750A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Jfe Steel Kk | 渦流探傷装置の感度校正方法および装置 |
JP2006284191A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Jfe Steel Kk | 渦流式センサによる表面欠陥検出方法 |
JP2007248153A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Jfe Steel Kk | 渦流探傷法方及び渦流探傷装置 |
JP2011191326A (ja) * | 2011-07-08 | 2011-09-29 | Jfe Steel Corp | 渦流式センサによる厚板の表面欠陥検出方法 |
JP2012159439A (ja) * | 2011-02-01 | 2012-08-23 | Jfe Steel Corp | 表層欠陥検出装置 |
JP2013104807A (ja) * | 2011-11-15 | 2013-05-30 | Jfe Steel Corp | ロール表層欠陥検出装置 |
CN105784763A (zh) * | 2016-05-05 | 2016-07-20 | 电子科技大学 | 一种基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置 |
CN110108790A (zh) * | 2019-06-20 | 2019-08-09 | 中国矿业大学 | 一种矿用提升钢丝绳损伤的在役脉冲涡流检测装置及方法 |
-
1995
- 1995-09-25 JP JP7246229A patent/JPH0989843A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000131287A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Japan Science & Technology Corp | 磁気計測による探傷方法及び装置 |
JP2003240761A (ja) * | 2002-02-15 | 2003-08-27 | Jfe Steel Kk | 磁性金属被検体の表層欠陥又は表面欠陥の検出方法及び装置 |
JP2006234750A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Jfe Steel Kk | 渦流探傷装置の感度校正方法および装置 |
JP2006284191A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Jfe Steel Kk | 渦流式センサによる表面欠陥検出方法 |
JP2007248153A (ja) * | 2006-03-14 | 2007-09-27 | Jfe Steel Kk | 渦流探傷法方及び渦流探傷装置 |
JP2012159439A (ja) * | 2011-02-01 | 2012-08-23 | Jfe Steel Corp | 表層欠陥検出装置 |
JP2011191326A (ja) * | 2011-07-08 | 2011-09-29 | Jfe Steel Corp | 渦流式センサによる厚板の表面欠陥検出方法 |
JP2013104807A (ja) * | 2011-11-15 | 2013-05-30 | Jfe Steel Corp | ロール表層欠陥検出装置 |
CN105784763A (zh) * | 2016-05-05 | 2016-07-20 | 电子科技大学 | 一种基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置 |
CN110108790A (zh) * | 2019-06-20 | 2019-08-09 | 中国矿业大学 | 一种矿用提升钢丝绳损伤的在役脉冲涡流检测装置及方法 |
CN110108790B (zh) * | 2019-06-20 | 2022-11-08 | 中国矿业大学 | 一种矿用提升钢丝绳损伤的在役脉冲涡流检测装置的检测方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0260355B1 (en) | Apparatus for detecting inner surface flaw of each pipe constituting pipeline | |
JPH0854375A (ja) | 電磁誘導型検査装置 | |
GB2262346A (en) | Detecting defects in steel material | |
JPH0989843A (ja) | 渦流探傷方法及び渦流探傷装置 | |
JP2003240761A (ja) | 磁性金属被検体の表層欠陥又は表面欠陥の検出方法及び装置 | |
JPS6314905B2 (ja) | ||
JP2013148449A (ja) | 磁気探傷装置および磁気探傷方法 | |
JPH0711508B2 (ja) | 漏洩磁束探傷方法 | |
JPH0335624B2 (ja) | ||
JP2666301B2 (ja) | 磁気探傷法 | |
JP2002257789A (ja) | 漏洩磁束検出装置 | |
US4675605A (en) | Eddy current probe and method for flaw detection in metals | |
JP2000227422A (ja) | 渦流探傷法 | |
JP2014122849A (ja) | 渦流探傷装置および渦流探傷方法 | |
JP2003294711A (ja) | 渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いた渦流探傷検査方法 | |
JPH0353155A (ja) | 鋼材の内部欠陥又は損傷検出装置 | |
JPH0552816A (ja) | パルス式渦流探傷用内挿型プローブ | |
JP2000227420A (ja) | マルチプローブ型渦流探傷方法及び装置 | |
JPH09166582A (ja) | 電磁気探傷法 | |
JPH06242076A (ja) | 電磁気探傷装置 | |
JPH09274018A (ja) | 磁性金属体の探傷方法および装置 | |
JPH0439031B2 (ja) | ||
JPS6345555A (ja) | 鋼管の孔食探査方法 | |
JPS586458A (ja) | 鋼材の熱間渦流探傷方法 | |
JPS5910846A (ja) | 金属表面の渦電流探傷装置 |