JPH0333020Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0333020Y2 JPH0333020Y2 JP1982181231U JP18123182U JPH0333020Y2 JP H0333020 Y2 JPH0333020 Y2 JP H0333020Y2 JP 1982181231 U JP1982181231 U JP 1982181231U JP 18123182 U JP18123182 U JP 18123182U JP H0333020 Y2 JPH0333020 Y2 JP H0333020Y2
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- JP
- Japan
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- terminal
- current source
- voltmeter
- under test
- circuit
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は抵抗器、ダイオード等の受動素子や、
トランジスタ等の能動素子の特性を４端子接続に
より直流測定する試験回路に関し、特に試験回路
の能動接地回路に関するものである。
トランジスタ等の能動素子の特性を４端子接続に
より直流測定する試験回路に関し、特に試験回路
の能動接地回路に関するものである。
第１図は従来の試験回路のブロツク図であり、
抵抗器１の抵抗値rxを測定する回路を示したもの
である。電流源２、電圧計３は筐体４中に、抵抗
器１（被測定素子）は筐体５中にそれぞれ収納さ
れる。筐体５は外部からの影響を除去するために
使用される。電流源２の一方の端子および電流帰
還通路１０は筐体４に接続されると共に、基準電
位端子（例えば接地端子）９に接続される。筐体
４および５は通路６により接続される。かかる構
成により、電流源２より定電流ｉを抵抗器１に流
し、電圧計３により抵抗器１の両端子間電圧を測
定して、抵抗値rxが求められる。
抵抗器１の抵抗値rxを測定する回路を示したもの
である。電流源２、電圧計３は筐体４中に、抵抗
器１（被測定素子）は筐体５中にそれぞれ収納さ
れる。筐体５は外部からの影響を除去するために
使用される。電流源２の一方の端子および電流帰
還通路１０は筐体４に接続されると共に、基準電
位端子（例えば接地端子）９に接続される。筐体
４および５は通路６により接続される。かかる構
成により、電流源２より定電流ｉを抵抗器１に流
し、電圧計３により抵抗器１の両端子間電圧を測
定して、抵抗値rxが求められる。
しかしながら、定電流ｉが線路抵抗８（抵抗値
r2）を介して流れるので、Ａ点の電位は筐体４，
５の電位とｉ×r2の電位差を持つことになる。し
たがつて筐体電位を基準電位と見なせなくなり、
各種測定にとつて不利となる。例えば、電圧計３
の一方の端子を接地できないので、フローテイン
グ測定のできる電圧計を使用せねばならず、また
電圧計３にコモンモード電圧除去特性を持たせる
必要がある。換言すれば、筐体と端子Ｂ間の電圧
を測定すると測定誤差を生ずる。
r2）を介して流れるので、Ａ点の電位は筐体４，
５の電位とｉ×r2の電位差を持つことになる。し
たがつて筐体電位を基準電位と見なせなくなり、
各種測定にとつて不利となる。例えば、電圧計３
の一方の端子を接地できないので、フローテイン
グ測定のできる電圧計を使用せねばならず、また
電圧計３にコモンモード電圧除去特性を持たせる
必要がある。換言すれば、筐体と端子Ｂ間の電圧
を測定すると測定誤差を生ずる。
第２図は従来の他の試験回路のブロツク図であ
り、トランジスタ１１の特性を測定する回路を示
したものである。この場合には複数個の電圧源／
電流源、電圧計／電流計が使用される。第１図と
同一部分には同一符号を付してある。トランジス
タ１１のコレクタ端子Ｃとエミツタ端子Ｅ間に電
流源１３と電圧計１５を接続し、ベース端子Ｄと
エミツタ端子Ｅ間に電流源１７と電圧計１９を接
続し、IC−VCE、IB−VB特性等を測定するもので
ある。
り、トランジスタ１１の特性を測定する回路を示
したものである。この場合には複数個の電圧源／
電流源、電圧計／電流計が使用される。第１図と
同一部分には同一符号を付してある。トランジス
タ１１のコレクタ端子Ｃとエミツタ端子Ｅ間に電
流源１３と電圧計１５を接続し、ベース端子Ｄと
エミツタ端子Ｅ間に電流源１７と電圧計１９を接
続し、IC−VCE、IB−VB特性等を測定するもので
ある。
しかしながら、かかる構成においても第１図の
場合と同一な欠点がある。また第２図のように複
数個の電圧源／電流源、電圧計／電流計を使用
し、且つ種々の被測定物（例えばトランジスタや
ダイオード）を変更して測定する場合（特開昭58
−75073号参照）には、電圧源／電流源、電圧
計／電流計の接続を変更するので、前述の誤差が
生じないように変更時に細心の注意を払う必要が
ある。
場合と同一な欠点がある。また第２図のように複
数個の電圧源／電流源、電圧計／電流計を使用
し、且つ種々の被測定物（例えばトランジスタや
ダイオード）を変更して測定する場合（特開昭58
−75073号参照）には、電圧源／電流源、電圧
計／電流計の接続を変更するので、前述の誤差が
生じないように変更時に細心の注意を払う必要が
ある。
第３図は本考案の一実施例による試験回路のブ
ロツク図であり、第１図と同様に抵抗器１の抵抗
値を測定する回路を示したものである。本回路が
第１図の回路と異なる点は電流帰還通路に増幅度
１の増幅器１２を挿入し、且つ電圧計３の一方の
端子を筐体４に接続したことである。増幅器１２
により能動接地回路が形成される。増幅器１２の
非反転入力端子は筐体４に、反転入力端子は抵抗
器の接続端子A′に、出力端子は接続端子A′にそ
れぞれ接続される。したがつて、A′の電位は筐
体電位（あるいは、ある基準電位または接地電
位）となる。したがつて、抵抗器１の両端子間電
圧を筐体電位を基準として測定することができ
る。
ロツク図であり、第１図と同様に抵抗器１の抵抗
値を測定する回路を示したものである。本回路が
第１図の回路と異なる点は電流帰還通路に増幅度
１の増幅器１２を挿入し、且つ電圧計３の一方の
端子を筐体４に接続したことである。増幅器１２
により能動接地回路が形成される。増幅器１２の
非反転入力端子は筐体４に、反転入力端子は抵抗
器の接続端子A′に、出力端子は接続端子A′にそ
れぞれ接続される。したがつて、A′の電位は筐
体電位（あるいは、ある基準電位または接地電
位）となる。したがつて、抵抗器１の両端子間電
圧を筐体電位を基準として測定することができ
る。
第４図は本考案の他の実施例による試験回路の
ブロツク図であり、第２図と同様にトランジスタ
の特性を測定する回路を示したものである。第３
図と同様に電流帰還通路に増幅度１の増幅器１２
が挿入される。したがつて、電流源１３，１７、
電圧計１５，１９の各一方の端子およびエミツタ
端子Ｅは筐体電位に等しくなる。したがつて、電
圧計等の接続の変更が容易となる外に、特に半導
体の低電流測定時にリークをおさえた測定が可能
となる利点もある。
ブロツク図であり、第２図と同様にトランジスタ
の特性を測定する回路を示したものである。第３
図と同様に電流帰還通路に増幅度１の増幅器１２
が挿入される。したがつて、電流源１３，１７、
電圧計１５，１９の各一方の端子およびエミツタ
端子Ｅは筐体電位に等しくなる。したがつて、電
圧計等の接続の変更が容易となる外に、特に半導
体の低電流測定時にリークをおさえた測定が可能
となる利点もある。
以上の説明より明らかなように、本考案によれ
ば４端子接続型直流測定において、電流源、電圧
計等をすべて筐体電位を基準として取扱うことが
できるので、試験回路の構成が簡単になり、また
測定を容易に行なうことができる。
ば４端子接続型直流測定において、電流源、電圧
計等をすべて筐体電位を基準として取扱うことが
できるので、試験回路の構成が簡単になり、また
測定を容易に行なうことができる。
第１図および第２図は従来の４端子接続型試験
回路のブロツク図、第３図および第４図は本考案
による４端子接続型試験回路のブロツク図であ
る。 ２，１３，１７：電流源、３，１５，１９：電
圧計、４，５：筐体。
回路のブロツク図、第３図および第４図は本考案
による４端子接続型試験回路のブロツク図であ
る。 ２，１３，１７：電流源、３，１５，１９：電
圧計、４，５：筐体。
Claims (1)
- 第１筐体中に包含された電流源および電圧計
と、第２筐体中に包含された被測定素子とを４端
子接続して前記被測定素子の特性を測定する回路
において、前記電流源の一方の端子と前記被測定
素子の一つの端子との間の電流帰還通路中に増幅
器を含む能動接地回路を設け、前記電流源および
電圧計の一方の端子および前記増幅器の一方の入
力端子を前記第１筐体および基準電位端子に接続
すると共に、前記第１、第２筐体を接続し、また
前記増幅器の他方の入力端子および出力端子を前
記被測定素子の前記一つの端子に接続し、前記被
測定素子の前記一つの端子、前記電流源および電
圧計の前記一方の端子および前記第１、第２筐体
を同一の基準電位に維持するようにしたことを特
徴とする４端子接続型試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18123182U JPS5985968U (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | ４端子接続型試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18123182U JPS5985968U (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | ４端子接続型試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5985968U JPS5985968U (ja) | 1984-06-11 |
| JPH0333020Y2 true JPH0333020Y2 (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=30392763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18123182U Granted JPS5985968U (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | ４端子接続型試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5985968U (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503583B2 (ja) * | 1971-10-05 | 1975-02-06 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5512314Y2 (ja) * | 1973-05-07 | 1980-03-17 | ||
| JPS5348678Y2 (ja) * | 1974-04-30 | 1978-11-21 |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP18123182U patent/JPS5985968U/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503583B2 (ja) * | 1971-10-05 | 1975-02-06 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5985968U (ja) | 1984-06-11 |
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