JPH03287241A - Ｔｔｌ自動調光カメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、被写界を複数の測光領域に分割し各々の領域
からの測光信号に基づいて調光を行うＴＴＬ自動調光カ
メラに関する。

Ｂ、従来の技術 例えば特開昭６０−１５６２６号公報には、次のような
自動調光カメラが開示されている。このカメラは、閃光
撮影時の本発光に先立って予備発光を行い、被写界から
の反射光を分割測光して各領域の測光信号から主要被写
体の位置を判別し、その判別結果によって各領域に対す
る重み付は量を決定し、本発光時に重み付けされた各領
域の出力の合計値が予め定められた所定の調光レベルに
達すると本発光を停止するものである。

Ｃ０発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来の自動調光カメラでは、
上記本発光の停止を判断する調光レベルが一定値とされ
ているため、主要被写体が露出オーバまたは露出アンダ
ーになるおそれがあった。

本発明の技術的課題は、常に主要被写体が適正露出とな
るようにすることにある。

００課題を解決するための手段 クレーム対応図である第１図により説明すると、請求項
１の発明に係るＴＴＬ自動調光カメラは、被写界を閃光
撮影するために発光を行う本発光と、本発光前に発光を
行う予備発光とが可能な閃光手段１０１と、被写界を複
数領域に分割して、閃光手段１０１の予備発光および本
発光による上記複数領域からの各反射光を測光して各測
光信号を出力する測光手段１０２と、予備発光時の各測
光信号に基づいて調光レベルを決定するレベル決定手段
１０３と、決定された調光レベルが予め設定された所定
の範囲外にある場合には、所定範囲内に含まれるよう補
正するレベル補正手段１０４と、本発光時、各測光信号
に基づいて累積演算される所定の調光評価値が、上記決
定または補正された調光レベルに達した時点で本発光を
停止する調光手段１０５とを具備し、これにより上記技
術的課題を達成する。

また、同様に第１図により説明すると、請求項２の発明
に係るＴＴＬ自動調光カメラは、被写界を閃光撮影する
ために発光を行う閃光手段１０１と、被写界を複数領域
に分割して、閃光手段１０− １の発光による上記複数領域からの各反射光を測光して
各測光信号を出力する測光手段１０２と、発光の初期段
階における各測光信号に基づいて調光レベルを決定する
レベル決定手段１０３と、決定された調光レベルが予め
設定された所定の範囲外にある場合には、所定範囲内に
含まれるよう補正するレベル補正手段１０４と、発光の
初期段階以降において、各測光信号に基づいて累積演算
される所定の調光評価値が、上記決定または補正された
調光レベルに達した時点で発光を停止する調光手段１０
５とを具備するものである。

８０作用 （１）請求項１の発明 レベル決定手段１０３は、予備発光時の各測光信号に基
づいて調光レベルを決定し、レベル補正手段１０４は、
決定された調光レベルが予め設定された所定の範囲外に
ある場合には、所定範囲内に含まれるよう補正する。調
光手段１０５は、本発光時、各測光信号に基づいて累積
演算される所定の調光評価値が、上記決定または補正さ
れた調４− 光レベルに達した時点で本発光を停止する。

（２）請求項２の発明 レベル決定手段１０３は、発光の初期段階における各測
光信号に基づいて調光レベルを決定し、レベル補正手段
１０４は、決定された調光レベルが予め設定された所定
の範囲外にある場合には、所定範囲内に含まれるよう補
正する。調光手段１０５は、発光の初期段階以降におい
て、各測光信号に基づいて累積演算される所定の調光評
価値が、上記決定または補正された調光レベルに達した
時点で発光を停止する。

Ｆ、実施例 第２図〜第１２図により本発明の一実施例を説明する。

第２図はＴＴＬ自動調光カメラの構成を示す図である。

撮影レンズ２を通過した光束（定常光）は、破線で示す
ミラーダウン状態のミラー３で反射され、スクリーン４
．ペンタプリズム５を通過して、一部は接眼レンズ６に
導かれ、他の一部は集光レンズ７を通過して露出演算用
測光素子８に導かれる。また、第５図に示すレリーズ釦
３２がレリーズ操作されると、ミラー３が実線で示すア
ップ位置に駆動された後、絞り９が絞り込まれ、シャッ
タ１０が開閉され、これにより撮影レンズ２を通過した
被写体光はフィルムＦＩに導かれてフィルムＦＩが露光
される。

また閃光撮影時には、シャッタ１０の間接に電子閃光装
置１１が本発光して被写体を照明し、被写体からの反射
光は撮影レンズ２を介してフィルム面に至り、このフィ
ルム面で反射された光束が集光レンズアレイ１２を介し
て調光用の受光素子１３に受光される。さらに本実施例
のカメラは、上記本発光の前に被写界の反射率分布を調
べるための予備発光が可能であり、この予備発光による
被写界からの反射光は、シャッタ１０が開く前にその幕
面で反射されて受光素子１３に受光される。

受光素子１３は、第３図に示すように、被写界中央部の
円形の測光領域に対応する分割受光素子１３ａと、被写
界周辺部の矩形を円弧で切り欠いた形状の測光領域に対
応する分割受光素子１３ｂ〜１３ｅとが同一平面上に配
置されて成る。すなわち、本実施例では被写界を５つの
測光領域に分割して分割測光を行う。また集光レンズア
レイ１２は、上記受光素子１３ａ〜１３ｅの左、中間、
右の３ブロツクに対応する３つのレンズ部分１２ａ〜１
２ｃを有する光学部材である。

第４図は、フィルム面の露光領域２０と受光素子１３、
集光レンズアレイ１２の光学的な位置関係を示す図であ
る。フィルム面の１駒分の露光領域２０を被写界と同様
に中央の円形部２０ａと周辺を４分割した２０ｂ〜２０
ｅの５領域に分割すると、第３図に示した受光素子１３
ａ〜１３ｅの上記左、中間、右の３ブロツクは、それぞ
れ破線で示されるように、集光レンズアレイ１２の３つ
のレンズ部分１２ａ〜１２ｃを経由してフィルム露光領
域２０の左半分、中央、右半分と対峙している。さらに
受光素子１３の５つの分割受光素子１３ａ〜１３ｅは、
それぞれフィルム露光領域２０と形状を一致させである
ので、５つの領域２０ａ〜２０ｅの明るさをそれぞれ分
割して測光する。

第５図は制御系のブロック図を示し、カメラ全体のシー
ケンスを制御するＣＰＵ３１には、レリーズ釦３２．シ
ャッタ１０が接続されるとともに、撮影レンズ２内の絞
り９およびレンズ情報出力回路３３が接続されている。

さらにＣＰＵ３１には、露出制御用測光素子８からの出
力に基づいて測光動作を行う測光回路３４と、受光素子
１３、すなわち分割受光素子１３ａ〜１３ｅからの出力
に基づいて調光動作を行う調光回路４０と、装填された
フィルムＦＩのＩＳＯ感度をＤＸコードから読み取るＩ
ＳＯ感度検出回路３５と、上記電子閃光装置１１の発光
制御回路３６とが接続されている。

ここで、露出制御用測光素子８も受光素子１３と同様に
、被写界の各測光領域に対応する５つの分割測光素子８
ａ〜８ｅから成る。またレンズ情報出力回路３３は、レ
ンズ固有の情報（開放絞り値や射出瞳距離）などが格納
されたレンズＲＯＭ− と、撮影レンズ２のフォーカシング位置から撮影距離を
検出するレンズエンコーダとから成る。

第６図は上記調光回路４０の詳細を示し、この調光回路
４０は、各分割受光素子１３ａ〜１３ｅの出力を増幅す
る増幅器４１ａ〜４１ｅと、ｃｐＵ３１からの指令に応
答して各増幅器４１ａ〜４１ｅの増幅率をそれぞれ設定
するゲイン設定器４２ａ〜４２ｅとを有し、ゲイン設定
器４２ａ〜４２ｅは、上記ＣＰＵ３１からのデジタル信
号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器を含んでいる
。

またＣＰＵ３１からの指令に応答して上記予備発光時の
各増幅器４１ａ〜４１ｅの出力をそれぞれ時間で積分す
る積分回路４３ａ〜４３ｅと、本発光時の各増幅器４１
ａ〜４１ｅの出力を加算する加算回路４４と、ＣＰＵ３
１からの指令に応答して加算回路４４の加算結果を時間
で積分する積分回路４５と、ＣＰＴＪ３１によって演算
され出力されたアナログ信号としての調光レベル（後で
詳述する）をデジタル信号に変換する変換回路４６と、
この変換された調光レベルと上記積分回路４５の出力と
を比較し、積分回路４５の出力が上記調光レベルに達し
た時に発光停止信号を出力する比較器４７とを有する。

次に、第７図〜第１２図のフローチャートによりＣＰＵ
３１による閃光撮影動作の制御手順を説明する。

第７図はメインのフローチャートであり、ステップＳ１
においてレリーズ釦３２（第５図）が半押し操作に引き
続いて全押しくレリーズ）操作されるとステップ８２以
下の処理が開始される。まずステップＳ２でＩＳＯ感度
検出回路３５から、装填されたフィルムのＩｓ○感度Ｓ
ｖを読み込み、次いでステップ８３〜Ｓ５で撮影レンズ
２のレンズ情報出力回路３３から開放絞り値Ｆ０．射出
瞳距離Ｐ０および撮影距離Ｘをそれぞれ読み込んでステ
ップＳ６に進む。撮影距離Ｘは、レリーズ釦３２の半押
し操作に伴って駆動されたレンズの位置をエンコーダで
検出した値である。

ステップＳ６では定常光での測光を行う。すなわち上述
した５分割の測光素子８８〜８ｅ（第５図）の出力を測
光回路３４に取り込み、この測光回路３４で対数圧縮さ
れた各測光領域に対応する輝度値ＥＶｎ（ｎ＝１〜５）
を読み込む。ここで、本実施例におけるｎの値１〜５は
、５つの測光素子８８〜８ｅまたは分割受光素子１３ａ
〜１３ｅにそれぞれ対応しているものとする。次いでス
テップＳ７では、読み込んだ各輝度値ＥＶｎおよびＩＳ
Ｏ感度Ｓｖから定常光露出ＢＶを演算する。

この演算方式は、例えば本出願人による特開平１２８５
９２５号公報に開示されているような方式を用いる。

その後、ステップＳ８に進み、演算された定常光露出Ｂ
Ｖからシャッタ速度ＴＶおよび絞り値ＡＶを決定し、ス
テップＳ９でミラー３を第２図の破線の状態から実線の
状態までアップする。次いでステップＳ１０で絞り９を
ステップｓ８で決定された絞り値まで絞り込み、ステッ
プＳｌｌでは発光制御回路３６に発光信号を出力して電
子閃光装置１１を所定の少量のガイドナンバー〇ＮＯで
予１１ 備発光させる。

この予備発光の光束は被写体で反射され、撮影レンズ２
を透過してシャッタ１０の幕面に１次像として結像する
。この１次像は５つに分割され、その各々は第３図の集
光レンズアレイ１２を介して５つの分割受光素子１３　
ａ−１３ｅにそれぞれ受光される。各分割受光素子１３
ａ〜１３ｅは、それぞれの受光量に応じた信号を逐次上
記調光回路４０（第６図）の増幅器４１ａ〜４１ｅに入
力する。

増幅器４１ａ〜４１ｅは、入力された信号をゲイン設定
器４２ａ〜４２ｅで設定された増＠率（この予備発光時
は増幅率は全て１である）でそれぞれ増幅して積分回路
４３ａ〜４３ｅに人力する。ＣＰＵ３１はステップＳ１
２で積分回路４３８〜４３ｅに作動信号を出力し、積分
回路４３ａ〜４３ｅは、この作動信号に応答して上記増
幅された信号をそれぞれ時間で積分してＣＰＵ３１に入
力する。この入力された信号を以下、分割測光信号ＢＰ
ｎ　（ｎ＝１〜５）と呼ぶ。

１２− その後、ＣＰＵ３１内ではステップ８１３〜ステツプＳ
１７の各処理が順に行われるが、これらの処理の詳細は
第８図〜第１２図のフローチャートに示される。

第８図は上記分割測光信号ＢＰｎのレンズ補正および素
子面積補正処理（第７図のステップ５１３）の詳細を示
し、まずステップ５１３１でｎ＝０とする。次いでステ
ップ５１３２でｎをｌだけ歩進し、ステップ５１３３で
次式に基づいてレンズの補正係数Ｌ　（ｎ）の演算を行
う。

Ｌ　（１）　＝１ Ｌ　（２）＝１−（１，２ｘｌＯ−３）　　・ＰＯＬ　
（３）＝１−　（１，２Ｘ１０−３）　　・ｐ。

Ｌ　（４）＝１＋　（１，７Ｘ１０−”）　　・ＰＯｔ
、（５）＝１＋　（１，７ｘｌＯ−３）　　・ｐ。

ここで、ＰＯは撮影レンズ２の射出瞳距離を示している
。次にステップ５１３４で予めメモリに格納された素子
面積補正係数Ｓ　（ｎ）すなわち、Ｓ　（１）＝１．Ｓ
　（２）＝０．８．Ｓ　（３）＝Ｏ。

Ｂ、Ｓ　（４）＝ｊ、３．Ｓ　（５）＝１．３を読み込
み、ステップ５１３５で、 ＢＰｎ４−ＢＰｎ−Ｌ　（ｎ）／Ｓ　（ｎ）に基づいて
分割測光信号ＢＰｎの補正を行う。これらの処理は、ス
テップ８１３６でｎ＝５が判定されるまで行われ、これ
により５つの測光領域の分割測光信号ＢＰｎ全てに対し
てレンズおよび素子面積による補正が行われる。

すなわち、撮影レンズ２の射出瞳距離ｐｏや受光素子１
３　ａ　−Ｌ　３　ｅの面積および位置によって上述の
受光素子１３ａ〜１３ｅの受光条件は異なる。そこでこ
の第８図の処理では、全ての受光素子の測光信号を同一
条件で評価するために上記補正処理が行われるのである
。

次にＣＰＵ３１は、ステップ５１４（第７図）のＨｉ、
Ｌｏカット処理（有効測光領域決定処理）を行う。その
詳細を示す第９図において、まずステップ５１４０１，
５１４０２でＭ＝Ｏ，ｎ＝０とし、次いでステップ５１
４０３〜Ｓ　１４１０で上記５つの分割測光信号ＢＰｎ
　（ステップＳ１３で補正された値）に対して以下に示
す処理を順に行う。

すなわち、ステップ５１４０４では分割測光信号ＢＰｎ
が、 を満たすか否かを判定する。ここで、ＧＮＯは予備発光
時のガイドナンバー、ＡＶは上記ステップＳ８で演算さ
れた絞り値（アペックス値）、Ｘは撮影距離、Ｋ１は定
数である。ステップ８１．４０４が肯定されるとステッ
プ８１４０５に進み、その分割測光信号ＢＰｎを零とす
るとともし；、ステップ５Ｌ４０６でこの測光信号ＢＰ
ｎの重み付は量Ｄｎを零としてステップ８１４１１に進
む。

ここで、上記ステップ５１４０４〜５１４０６の処理に
ついて詳しく説明する。

例えば被写界中に鏡や金屏風などの高反射率の物体が存
在していた場合や主要被写体の前方に物体がある場合に
は、他の被写体と比べてその領域の分割測光信号ＢＰｎ
は極めて大きく、この測光信号を加味して調光動作を行
うと主要被写体が露５ 出アンダーとなる可能性がある。そこで上述したステッ
プ５１４０４〜Ｓ　１４．０６の処理は、このような高
反射率の被写体に対する測光信号を除外よりも大きい場
合には、光量過多と判断してその測光信号ＢＰｎを零と
するとともに１重み付は量Ｄ　ｎも零とする。そしてこ
の基準値は、予備発光時の絞り値ＡＶと撮影距離Ｘとに
基づいているので以下のような効果がある。

すなわち、予備発光のガイドナンバーが一定であっても
、そのときの絞り値ＡＶおよび撮影距離Ｘによって測光
信号の値は異なり、撮影距離が遠いほど、または絞りが
絞り込まれているほど測光信号は小さな値となる。この
ため、仮に上記光量過多か否かを判定する基準値が一定
値であった場合には、撮影距離が遠く絞り込まれている
状態では除外すべき被写体が除外されないおそれがあり
、逆に撮影距離が近く絞り開放の状態では除外されるべ
きでない測光信号が除外されてしまうおそれ１６− がある。

そこで、本実施例では上述の式によって基準値を決めて
おり、これによれば、撮影距離が近いほど、または絞り
値が開放側にあるほど基準値は高くなるので、上記不都
合は完全に解消される。

一方、ステップ８１４０４が否定された場合にはステッ
プ８１４０７に進み、測光信号ＢＰｎが基準値に２より
小さいか否かを判定する。ステップ５１４０７が肯定さ
れると上記ステップ５１４０５に進み、否定されるとス
テップ８１４０８に進む。この処理は、上述とは逆に例
えば主要被写体の背後に大きな空間があり１反射光が少
なく測光信号ＢＰｎが低過ぎる場合に、主要被写体が露
出オーバになることを防止するためにその測光信号ＢＰ
ｎを除外する処理である。この場合には、もともと測光
信号ＢＰｎが小さいので上記絞り値ＡＶや撮影距離ｎに
応じて基準値を変える必要はなく、定数でよい。

上記ステップ５１４０．４．Ｓ１４．０７のいずれにお
いても除外されなかった測光信号ＢＰｎは、ステップ３
１４．０８でそのままの値とされ１次いでステップ５１
４０９では、その測光信号ＢＰｎに対応する重み付は量
が１とされる。ステップ５１４１０では、変数Ｍを１だ
け歩進する。ここで、被写界中の５つの測光領域のうち
上記測光信号ＢＰｎが除外されなかった領域が有効測光
領域に相当する。また変数Ｍは、除外されなかった測光
信号ＢＰｎ、すなわち有効測光領域の個数を表わすもの
である。

この第９図の処理が終了すると、ステップ５１５（第７
図）に進み、被写界の各測光領域の反射率分布Ｒｎを求
める処理を行う。

ステップＳ１５の詳細を示す第１０図において、まずス
テップ８１５１．８１５２でＱ＝Ｏ，ｎ＝Ｏとし１次い
でステップ８１５３〜５１５５において、各測光信号Ｂ
Ｐｎの総和Ｑを求める（Ｑ＝Ｑ＋ＢＰｎ）。ここで、上
記光量過多、過少の測光信号はステップＳ１４の処理で
零とされているので、実質的には有効測光領域の測光信
号のみが加算されることになる。次にステップ５１５６
でｎ＝ｏとし、ステップ５１５７−８１５９において、 Ｒｎ　＝　Ｂ　Ｐ　ｎ　／　Ｑ に基づいて測光信号ＢＰｎの反射率の合計をｌとした場
合の各測光信号ＢＰｎの反射率分布Ｒｎをそれぞれ求め
る。このときステップ８１４で除外された測光信号の反
射率分布は当然零となる。

その後、ステップ８１６（第７図）の調光レベル演算処
理に進む。ここで調光レベルとは、閃光撮影時に電子閃
光装置１１の上記本発光を停止すべき測光信号のレベル
を示している。

ステップ８１６の詳細を示す第１１図により説明すると
、まずステップ８１６０１で調光レベルＬＶを零とし、
次いでステップ８１６０２でｎ＝０としてステップ８１
６０３に進む。ステップ５１６０３〜５１６０６では、
有効測光領域の個数Ｍおよび各反射率分布に応じて調光
レベルＬＶを求める処理を行う。

すなわちステップ８１６０４では、各測光信号の反射率
分布Ｒｎが１７Ｍ（これは、有効測光類９− 域の反射率分布Ｒｎの平均値に相当する）以上か否かを
判定し、肯定された場合、つまりその測光領域の反射率
分布Ｒｎが平均値以上の場合にはステップ５１６０５に
進んで調光レベルＬＶを０゜０２だけ歩進する。またス
テップ８１６０４が否定された場合、つまりその測光領
域の反射率分布Ｒｎが平均値未満の場合にはステップ８
１６０６に進み、調光レベルをｒｏ、０２ＸＲｎ／ＭＡ
Ｘ（Ｒ）Ｊ（ただし、ＭＡＸ　（Ｒ）はＲ１−Ｒ５の最
大値）だけ歩進する。

以上の処理は、５つの反射率分布Ｒｎが全て等しい場合
に調光レベルＬＶが０．０２ｘ５＝０゜１となるように
した場合の処理であり、この処理により調光レベルＬＶ
は、有効測光領域の個数Ｍおよび各反射率分布Ｒｎ（い
ずれも各測光領域の測光信号から求められる）に応じて
決定されることになる。詳しく言えば、各反射率分布Ｒ
ｎのうち、その平均値より小さいものが多いほど、すな
わち他の領域よりある程度以上反射率分布Ｒｎの高い領
域が存在し、それらの反射率分布の差が大０ きいほど調光レベルＬＶは小さくなる。またこの調光レ
ベルＬＶは、有効測光領域の個数Ｍが少ないほど小さく
なる。

ここで、各測光信号ＢＰｎは、上述のステップＳ１３に
おいてそれぞれの分割受光素子１３ａ〜１３ｅの面積に
よって補正がなされてるので、有効測光領域の個数Ｍは
有効測光領域全体の面積に依存している。このことから
調光レベルＬＶが有効測光領域の大きさに応じて決定さ
れるということは、有効測光領域の面積に応じて決定さ
れる言い換えることができる。

次にステップ８１６０８に進み、求められた調光レベル
ＬＶが予め設定された所定値（ここでは０．０３）以上
か否かを判定し、肯定されるとステップ８１６１０に進
み、否定されるとステップ５１６０９で調光レベルＬＶ
を０．０３としてステップ８１６１０に進む。これは、
調光レベルＬＶが所定値以下の場合には所定値以上とな
るように補正し、調光レベルＬＶが低すぎて露出アンダ
ーとなるのを防止するための措置である。なお上配所定
値は０．０３に限定されない。

ステップ５１６１０では、 ＬＶ＝ＬＶ・２−”ｖ−５’ により調光レベルＬＶをＩＳＯ感度（ステップＳ２で読
み込まれたもの）ＳＶに対応するように換算する。

その後、ステップ５１７（第７図）に進み、後に行われ
る本発光時の測光信号を補正するための重み付は量を求
める処理を行う。ステップ８１７の詳細を示す第１２図
において、まずステップ５１７１でｎ＝ｏとし、次いで
ステップ８１７２〜５１７４において、各測光信号に対
応する重み付は量Ｄｎ（ステップＳ１４で求められたも
のであり、１またはＯである）にＬ　（ｎ）　／Ｓ　（
ｎ）を乗じて新たな重み付は量とする。ここで、Ｌ　（
ｎ）はステップＳ１３で得られたレンズ補正係数であり
、Ｓ　（ｎ）は面積補正係数である。すなわち、本実施
例では、上記反射率分布Ｒｎに応じて調、光レベルＬＶ
を可変としているので重み付は量を反射率分布に応して
求める必要はなく、したがってここではレンズ補正係数
Ｌ　（ｎ）および面積補正係数Ｓ　（ｎ）によってのみ
重み付は量を求めている。また、ステップＳ１４で除外
された測光信号に対応する重み付は量は当然零となる。

その後、ステップ５１８（第７図）に進み、シャッタ１
０を開くとともに、これが全開すると発光制御回路３６
を介して電子閃光装置１１を本発光させ、ステップＳ１
９ではフィルム面からの反射光を分割測光する。すなわ
ち、本発光による照明光は被写体で反射され撮影レンズ
２を透過しフィルム面で反射された後、５つの受光素子
１３ａ〜１３ｅに受光され、受光素子１３ａ〜１３ｅの
出力信号は、調光回路４０の増幅器４１ａ〜４１ｅ（第
６図）にそれぞれ入力される。またＣＰＵ３１は、ステ
ップＳ２０において、ステップＳ１７で求められた各重
み付は量Ｄｎに応じて調光回路４０のゲイン設定器４２
ａ〜４２ｅにより増幅器４１ａ〜４１ｅの増幅率を設定
する。すなわち、重み付けを行う。

増幅器４１ａ〜４１ｅは、設定された増幅率で３− 各受光素子１３ａ〜１３ｅの出力信号を増幅して加算回
路４４に入力し、加算回路４４は入力された増幅信号を
加算する。ステップ８２１では、積分回路４５に積分信
号を出力し、これにより積分回路４５は加算回路４４の
加算結果を時間で積分する。

一方、ステップ８１６で演算された調光レベルＬＶは変
換回路４６に出力され、変換回路４６はこれをアナログ
信号に変換する。この変換回路４６および上記積分回路
４５の出力（これが所定の調光評価値に相当する）は比
較器４７に入力され、比較器４７は、積分回路４５の出
力が上記調光レベルＬＶに達するとＣＰＵ３１に発光停
止信号を入力する。ＣＰＵ３１は、この発光停止信号が
入力されると、すなわちステップＳ２２が肯定されると
、ステップ８２３で電子閃光装置１１の発光制御回路３
６を制御して上記本発光を停止させ、その後、処理を終
了させる。

以上の手順によれば、予備発光による測光信号と絞り値
と撮影距離とからステップＳ１４で有効２４− 測光領域が抽出され、ステップ８１５でその有効測光領
域の反射率分布が求められ、ステップ８１６でその反射
率分布と有効測光領域の数（面積）に応じて調光レベル
が求められる。そして本発光時、測光信号の合計値が上
記調光レベルに達した時点で本発光が停止される。この
ように有効測光領域の個数（面積）に応じて調光レベル
が変化するので以下のような効果がある。

すなわち有効測光領域の個数が少ない場合には。

多い場合に比べて本発光時の測光信号の合計値（上記積
分回路４５の出力）は相対的に小さくなる。このため有
効測光領域の個数（面積）に拘らず調光レベルを一定値
とした場合には、有効測光領域が少ない場合には主要被
写体が露出オーバになり易く、逆に有効測光領域が多い
場合には露出アンダーとなり易い。そこで、上述のよう
に有効測光領域の個数が少ないほど調光レベルを小さく
し、その個数が多いほど調光レベルを大きくすれば、ど
のような場合にも主要被写体が適正露出となる可能性が
高くなる。

フへ ６ また本実施例では、上記調光レベルが各測光領域の反射
率分布に応じても変化し、例えば主要被写体を含む測光
領域の反射率分布が他よりもある程度以上高い場合（こ
のような場合には主要被写体が露出オーバになり易い）
には、それらの差に応じて調光レベルが低くなるので主
要被写体が適正露出となる可能性が更に高くなる。さら
に、決定された調光レベルが所定値以下の場合には、所
定値以上となるように補正されるので、調光レベルが低
すぎて露出アンダーとなることが防止できる。

以上の実施例の構成において、電子閃光装置１１が閃光
手段１０１を、受光素子１３　ａ　＝　１３　ｅおよび
調光回路４０が測光手段１０２を、ＣＰＵ３１がレベル
決定手段１０３およびレベル補正手段１０４を、ＣＰＵ
３１および調光回路４０が調光手段１０５をそれぞれ構
成する。

なお以上では、決定された調光レベルが所定値以下の場
合に所定値以上となるよう補正する例を示したが、調光
レベルが所定値以上の場合に所定値以下となるよう補正
する例を第１３図に示す。

第１３図は、第１１図のステップ５１６０５゜５１６０
６をステップ５２００１，５２００２に変更するととも
に、ステップ５１６０７と５１６０８との間にステップ
５２００３，５２００４を追加したものである。すなわ
ち、ステップ５１６０４が肯定された場合には、ステッ
プ５２Ｃ）０１で調光レベルＬＶを０．０２５　（第１
１図では０゜０２）だけ歩進し、否定された場合にはス
テップ５２００２で調光レベルを０．０２５ＸＲｎ／Ｍ
ＡＸ　（Ｒ）だけ歩進する。これによれば、決定される
調光レベルＬＶの最大値は０．１２５となる。

そしてステップ５２００３では、その調光レベルＬＶが
０．１以下か否かを判定し、肯定されると上述のステッ
プ８１６０８に進み、否定されるとステップ５２００４
で調光レベルＬＶを０．１に補正する。

以上の手順によれば調光レベルＬＶは、０．０３〜０．
１の範囲内に制限されることになる。したがって上述と
同様の効果に加えて、調光レベル７ が高すぎて露出オーバーになることが防止されるという
効果も得られる。

なお以上では、調光レベルＬｖを変化させるようにした
が、これに代えて、積分回路や増幅器のゲインを適宜変
えるようにしても同様の効果を得ることができる。した
がって、本明細書中でいう調光レベルの決定とは、この
ような積分回路や増幅器のゲインを変えるものも含むも
のである。

また以」二では、各測光領域の反射率分布Ｒｎおよび有
効測光領域の個数（面積）に基づいて調光レベルＬＶを
求めるようにしたが、反射率分布あるいは個数のみで調
光レベルを決定するようにしてもよい。

さらに予備発光を行うカメラにて説明したが、予備発光
を行わないものでも本発明を適用できる。

この場合には、発光（本発光）の初期段階に得られた各
測光信号に基づいて調光レベルを決定し、上述と同様に
この調光レベルが所定範囲以外の場合には所定範囲内に
含まれるよう補正し、発光の初期段階以降に得られる測
光信号に基づいて累積８ 演算される調光評価値が、上記決定または補正された調
光レベルに達した時点で発光を停止するようにすればよ
い。

さらにまた以上では、銀塩フィルムを用いるカメラにて
説明したが、例えばフロッピーディスクを用いて撮影を
行う電子スチルカメラにも本発明を同様に適用できる。

Ｇ６発明の効果 請求項１の発明によれば、予備発光を行うカメラにおい
て、予備発光時に得られた測光信号から調光レベルを決
定するようにしたので、調光レベルが一定値であった従
来と比べて主要被写体が適正露出で閃光撮影される可能
性が高くなる。加えて、決定された調光レベルが所定範
囲外にある場合には所定範囲内に含まれるよう補正する
ようにしたので、主要被写体が適正露出となる可能性を
更に高めることができる。

また請求項２の発明によれば、予備発光を行わないカメ
ラにおいて、発光初期段階に得られる測光信号から調光
レベルを決定するとともに、決定された調光レベルが所
定範囲外にある場合には所定範囲内に含まれるよう補正
するようにしたので、上述と同様の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はクレーム対応図である。 第２図〜第１２図は本発明の一実施例を示し、第２図は
本発明に係る自動調光カメラの構成を示す図、第３図は
集光レンズアレイおよび分割受光素子を示す斜視図、第
４図は分割受光素子とフィルム露光領域との位置関係を
示す図、第５図は制御系のブロック図、第６図は調光回
路の構成図、第７図はメインのフローチャ−＋−１第８
図〜第１２＠ばサブルーチンを示すフローチャート、第
１３図は第１１図の変形例を示すフローチャートである
。 ８：測光素子　　　　　　９：絞り １０：シャッタ　　　　　１１：電子閃光装置１２：集
光レンズアレイ　１３：受光素子１３ａ〜１３ｅ：分割
受光素子 ３１：ＣＰＵ　　　　　　　　３２ニレリーズ釦３６：
発光制御回路 １０１：閃光手段 １０３ニレベル決定手段 １０４　ニレベル補正手段 １０５：調光手段 ４０：調光回路 １０２　：測光手段

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）被写界を閃光撮影するために発光を行う本発光と、
   該本発光前に発光を行う予備発光とが可能な閃光手段と
   、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の予備
   発光および本発光による該複数領域からの各反射光を測
   光して各測光信号を出力する測光手段と、 前記予備発光時の各測光信号に基づいて調光レベルを決
   定するレベル決定手段と、 前記決定された調光レベルが予め設定された所定の範囲
   外にある場合には、所定範囲内に含まれるよう補正する
   レベル補正手段と、 本発光時、前記各測光信号に基づいて累積演算される所
   定の調光評価値が、前記決定または補正された調光レベ
   ルに達した時点で前記本発光を停止する調光手段とを具
   備することを特徴とするＴＴＬ自動調光カメラ。 ２）被写界を閃光撮影するために発光を行う閃光手段と
   、 前記被写界を複数領域に分割して、前記閃光手段の発光
   による該複数領域からの各反射光を測光して各測光信号
   を出力する測光手段と、 前記発光の初期段階における各測光信号に基づいて調光
   レベルを決定するレベル決定手段と、前記決定された調
   光レベルが予め設定された所定の範囲外にある場合には
   、所定範囲内に含まれるよう補正するレベル補正手段と
   、 発光の初期段階以降において、前記各測光信号に基づい
   て累積演算される所定の調光評価値が、前記決定または
   補正された調光レベルに達した時点で前記発光を停止す
   る調光手段とを具備することを特徴とするＴＴＬ自動調
   光カメラ。