JPH03257735A - 電子管用陰極 - Google Patents
電子管用陰極Info
- Publication number
- JPH03257735A JPH03257735A JP2056855A JP5685590A JPH03257735A JP H03257735 A JPH03257735 A JP H03257735A JP 2056855 A JP2056855 A JP 2056855A JP 5685590 A JP5685590 A JP 5685590A JP H03257735 A JPH03257735 A JP H03257735A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- cathode
- electron
- material layer
- earth metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 41
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 41
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 39
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 27
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 claims description 16
- 230000001603 reducing effect Effects 0.000 claims description 16
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- HYXGAEYDKFCVMU-UHFFFAOYSA-N scandium oxide Chemical compound O=[Sc]O[Sc]=O HYXGAEYDKFCVMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 60
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 3
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 3
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003296 Ni-Mo Inorganic materials 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 2
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- DDTIGTPWGISMKL-UHFFFAOYSA-N molybdenum nickel Chemical compound [Ni].[Mo] DDTIGTPWGISMKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 alkaline earth metal carbonate Chemical class 0.000 description 1
- 229910052916 barium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- HMOQPOVBDRFNIU-UHFFFAOYSA-N barium(2+);dioxido(oxo)silane Chemical compound [Ba+2].[O-][Si]([O-])=O HMOQPOVBDRFNIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/04—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/13—Solid thermionic cathodes
- H01J1/14—Solid thermionic cathodes characterised by the material
- H01J1/142—Solid thermionic cathodes characterised by the material with alkaline-earth metal oxides, or such oxides used in conjunction with reducing agents, as an emissive material
Landscapes
- Solid Thermionic Cathode (AREA)
- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はテレビ用ブラウン管などに用いられる電子管
用陰極の改良に関するものである。
用陰極の改良に関するものである。
[従来の技術]
第3図は例えば特公昭64−5417号公報に開示され
ているような、テレビ用ブラウン管や撮像管に用いられ
ている電子管用陰極を示すものであり、図において(1
)はシリコン(Si)、マグネシウム(Mg)などの還
元性元素を微量含む、主成分がニッケルからなる基体、
(2)はニクロムなどで構成された陰極スリーブ、(5
)はこの基体(1)の上面に被着され、少な(ともバリ
ウムを含み、他にストロンチウムあるいは/及びカルシ
ウムを含むアルカリ土類金属酸化物(11)を主成分と
し、0.1〜20重量%の酸化スカンジウムなどの希土
類金属酸化物(12)を含んだ電子放射物質層、(3)
は上記基体(1)内に配設されたヒータで、加熱により
上記電子放射物質層(5)から熱電子を放出させるもの
である。
ているような、テレビ用ブラウン管や撮像管に用いられ
ている電子管用陰極を示すものであり、図において(1
)はシリコン(Si)、マグネシウム(Mg)などの還
元性元素を微量含む、主成分がニッケルからなる基体、
(2)はニクロムなどで構成された陰極スリーブ、(5
)はこの基体(1)の上面に被着され、少な(ともバリ
ウムを含み、他にストロンチウムあるいは/及びカルシ
ウムを含むアルカリ土類金属酸化物(11)を主成分と
し、0.1〜20重量%の酸化スカンジウムなどの希土
類金属酸化物(12)を含んだ電子放射物質層、(3)
は上記基体(1)内に配設されたヒータで、加熱により
上記電子放射物質層(5)から熱電子を放出させるもの
である。
次に、このように構成された電子管用陰極において、基
体(1)への電子放射物質層(5)の被着方法について
説明すると、まずバリウム、ストロンチウム、カルシウ
ムの三 元炭酸塩と所定量の酸化スカンジウムをバイン
ダー及び溶剤とともに混合して、懸濁液 を作成する。
体(1)への電子放射物質層(5)の被着方法について
説明すると、まずバリウム、ストロンチウム、カルシウ
ムの三 元炭酸塩と所定量の酸化スカンジウムをバイン
ダー及び溶剤とともに混合して、懸濁液 を作成する。
この懸濁液を基体(1)上にスプレィ法により約800
μmの厚みで塗布し、その後、ブラウン管の真空排気工
程中にヒータ(3)によって加熱する。この時、アルカ
リ土類金属の炭酸塩はアルカリ土類金属酸化物に変わる
。その後、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元して半
導体的性質を有するように活性化を行なうことにより、
基体(1)上にアルカリ土類金属酸化物(11)と希土
類金属酸化物(12)との混合物からなる電子放射物質
層(5)を被着せしめているものである。
μmの厚みで塗布し、その後、ブラウン管の真空排気工
程中にヒータ(3)によって加熱する。この時、アルカ
リ土類金属の炭酸塩はアルカリ土類金属酸化物に変わる
。その後、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元して半
導体的性質を有するように活性化を行なうことにより、
基体(1)上にアルカリ土類金属酸化物(11)と希土
類金属酸化物(12)との混合物からなる電子放射物質
層(5)を被着せしめているものである。
この活性化工程において、アルカリ土類金属酸化物の一
部は次の様に反応しているものである。
部は次の様に反応しているものである。
つまり基体(1)中に含有されたシリコン、マグネシウ
ム等の還元性元素は拡散によりアルカリ土類金属酸化物
(11)と基体(1)の界面に移動して、アルカリ土類
金属酸化物と反応する。例えば、アルカリ土類金属酸化
物として酸化バリウム(Bad)であれば次式(1)、
(2)の様に反応するものである。
ム等の還元性元素は拡散によりアルカリ土類金属酸化物
(11)と基体(1)の界面に移動して、アルカリ土類
金属酸化物と反応する。例えば、アルカリ土類金属酸化
物として酸化バリウム(Bad)であれば次式(1)、
(2)の様に反応するものである。
B a O+ 1 / 2 S 1
=Ba+1/2Bax Sin< −−−(1)B
aO十Mg = B a + M g O(2) これらの反応の結果、基体(1)上に被着形成されたア
ルカリ土類金属酸化物(11)の一部が還元されて、酸
素欠乏型の半導体となり、電子放射が容易になる。電子
放射物質層に希土類金属酸化物が含まれない場合で、陰
極温度700〜800℃の動作温度で0.5〜0.8A
/cゴの電流密度動作が可能であり、電子放射物質層中
に希土類金属酸化物が含まれた場合で、1.32〜2.
64A/crr?の電流密度動作が可能になる。
aO十Mg = B a + M g O(2) これらの反応の結果、基体(1)上に被着形成されたア
ルカリ土類金属酸化物(11)の一部が還元されて、酸
素欠乏型の半導体となり、電子放射が容易になる。電子
放射物質層に希土類金属酸化物が含まれない場合で、陰
極温度700〜800℃の動作温度で0.5〜0.8A
/cゴの電流密度動作が可能であり、電子放射物質層中
に希土類金属酸化物が含まれた場合で、1.32〜2.
64A/crr?の電流密度動作が可能になる。
一般に酸化物陰極の電子放射能力は酸化物中の過剰Ba
の存在量に依存するので、希土類金属酸化物が含まれな
い場合には高電流動作に必要な十分の過剰Baの供給が
得られず、動作可能な電流密度が小さい。すなわち、上
記した反応時に生成される副生成物であって中間層と呼
ばれている酸化マグネシウム(MgO)やバリウムシリ
ケイト(BaiSiO4)が基体(1)のニッケルの結
晶粒界や基体(1)と電子放射物質層(5)との界面に
集中的に形成されるため、上式(])および(2)の反
応がこれら中間層中のマグネシウムおよびシリコンの拡
散速度に律速され、過剰Baの供給が不足するためであ
る。電子放射物質層中に希土類金属酸化物が含まれる場
合は、酸化スカンジウム(Sez Os )を例にとり
説明すると、陰極動作時の基体(1)と電子放射物質層
(5)との界面では基体(1)中を拡散移動してきた還
元剤の一部と酸化スカンジウム(SczOa)が(3)
式の様に反応して少量の金属状のスカンジウムが生成さ
れ、金属状のスカンジウムの一部は基体(1)のニッケ
ル中に固溶し、一部は上記界面に存在する。
の存在量に依存するので、希土類金属酸化物が含まれな
い場合には高電流動作に必要な十分の過剰Baの供給が
得られず、動作可能な電流密度が小さい。すなわち、上
記した反応時に生成される副生成物であって中間層と呼
ばれている酸化マグネシウム(MgO)やバリウムシリ
ケイト(BaiSiO4)が基体(1)のニッケルの結
晶粒界や基体(1)と電子放射物質層(5)との界面に
集中的に形成されるため、上式(])および(2)の反
応がこれら中間層中のマグネシウムおよびシリコンの拡
散速度に律速され、過剰Baの供給が不足するためであ
る。電子放射物質層中に希土類金属酸化物が含まれる場
合は、酸化スカンジウム(Sez Os )を例にとり
説明すると、陰極動作時の基体(1)と電子放射物質層
(5)との界面では基体(1)中を拡散移動してきた還
元剤の一部と酸化スカンジウム(SczOa)が(3)
式の様に反応して少量の金属状のスカンジウムが生成さ
れ、金属状のスカンジウムの一部は基体(1)のニッケ
ル中に固溶し、一部は上記界面に存在する。
l/ 2 S C2o s + 3 / 2 M g
= S c + 3 / 2 M g O(3)(
3)式の様に反応して形成された金属状のスカンジウム
は基体(1)上あるいは基体(1)のニッケルの粒界に
形成された上記中間層を(4)式の様に分解する作用を
有するので、過剰Baの供給が改善され、希土類金属酸
化物が含まれない場合よりも高電流密度動作が可能にな
ると考えられている。
= S c + 3 / 2 M g O(3)(
3)式の様に反応して形成された金属状のスカンジウム
は基体(1)上あるいは基体(1)のニッケルの粒界に
形成された上記中間層を(4)式の様に分解する作用を
有するので、過剰Baの供給が改善され、希土類金属酸
化物が含まれない場合よりも高電流密度動作が可能にな
ると考えられている。
1/2Baz S i 04 +4/33C=
B a + 1 / 2 S i + 2 / 3 S
c z Os (4)また、特開昭52−9
1358号公報には機械的強度を増大するW、Moなど
の高融点金属とMg、A1.Si、Zrなとの還元剤と
を含有するNi合金からなる基体上で、電子放射物質層
が被着される面にN i −W、 N i−Moなどの
合金層をコーティングする直熱型の陰極技術が開示され
ている。
B a + 1 / 2 S i + 2 / 3 S
c z Os (4)また、特開昭52−9
1358号公報には機械的強度を増大するW、Moなど
の高融点金属とMg、A1.Si、Zrなとの還元剤と
を含有するNi合金からなる基体上で、電子放射物質層
が被着される面にN i −W、 N i−Moなどの
合金層をコーティングする直熱型の陰極技術が開示され
ている。
[発明が解決しようとする課題]
この様に構成された電子管用陰極においては、希土類金
属酸化物が過剰Baの供給を改善するものの、過剰Ba
の供給速度は基体のニッケル中の還元剤の拡散速度に律
速され、2A/c&以上の高電流密度動作での寿命特性
は著しく低(なるという課題を有していた。
属酸化物が過剰Baの供給を改善するものの、過剰Ba
の供給速度は基体のニッケル中の還元剤の拡散速度に律
速され、2A/c&以上の高電流密度動作での寿命特性
は著しく低(なるという課題を有していた。
また、後者に示したものにおいては、基体自身に電流を
流しその発熱を利用して電子放射物質層から熱電子を放
射させる直熱型陰極固有の問題点である基体の熱変形を
、N i −W、 N i−Moなどの合金層を基体上
にコーティングすることにより、改善するものであり、
高電流密度動作を可能にすることができなかった。
流しその発熱を利用して電子放射物質層から熱電子を放
射させる直熱型陰極固有の問題点である基体の熱変形を
、N i −W、 N i−Moなどの合金層を基体上
にコーティングすることにより、改善するものであり、
高電流密度動作を可能にすることができなかった。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る電子管用陰極は、少な(とも−種の還元
剤を含有してなる基体上にこの還元剤の少なくとも一種
より還元性が同等か、または小さく、かつニッケルより
還元性が大きい金属を主成分とする金属層を形成すると
ともに、この金属層上に少なくともバリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物を主成分とし、0.01〜25重量
%の希土類金属酸化物を含も電子放射物質層を被着形成
させたものである。
剤を含有してなる基体上にこの還元剤の少なくとも一種
より還元性が同等か、または小さく、かつニッケルより
還元性が大きい金属を主成分とする金属層を形成すると
ともに、この金属層上に少なくともバリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物を主成分とし、0.01〜25重量
%の希土類金属酸化物を含も電子放射物質層を被着形成
させたものである。
[作用]
この発明においては、基体中の還元剤に加え、基体上に
形成された金属層が過剰Baの供給に寄与するとともに
、界面でこの金属層が安定して中間層の分解効果を有す
る希土類金属の生成にも寄与するので、特に2A/Cr
n″以上の高電流密度動作での寿命特性 が著しく向上
するものである。
形成された金属層が過剰Baの供給に寄与するとともに
、界面でこの金属層が安定して中間層の分解効果を有す
る希土類金属の生成にも寄与するので、特に2A/Cr
n″以上の高電流密度動作での寿命特性 が著しく向上
するものである。
[発明の実施例]
以下にこの発明の一実施例を第1図に基づいて説明する
。図において、(13)は基体(1)の上面に形成され
た例えばW、Mo、Ta、Cr、Siなどの少な(とも
一種の金属層、(5)はこの金属層(13)上に被着さ
れ、少なくともバリウムを含み、他にストロンチウムあ
るいは/およびカルシウムを含むアルカリ土類金属酸化
物(ll)を主成分とし、0.01〜25重量%の酸化
スカンジウム、酸化イツトリウムなどの希土類金属酸化
物を含む電子放射物質層である。
。図において、(13)は基体(1)の上面に形成され
た例えばW、Mo、Ta、Cr、Siなどの少な(とも
一種の金属層、(5)はこの金属層(13)上に被着さ
れ、少なくともバリウムを含み、他にストロンチウムあ
るいは/およびカルシウムを含むアルカリ土類金属酸化
物(ll)を主成分とし、0.01〜25重量%の酸化
スカンジウム、酸化イツトリウムなどの希土類金属酸化
物を含む電子放射物質層である。
次に、この様に構成された電子管用陰極において、基体
(1)への金属層(13)の形成方法について説明する
と、まず少量のSi、Mgを含有するNi基体(1)を
陰極スリーブ(2)に溶接した後、この陰極基体部を例
えば電子ビーム蒸着装置内に配設し、10−’ 〜l
O−”Torr程度の真空雰囲気でWを電子ビームで
加熱蒸着するものである。その後、この陰極基体部を例
えば水素雰囲気中で800〜1100℃で加熱処理をす
るが、これは上記金属層(13)内部あるいは表面に残
存する酸素などの不純物を除去し、またこの金属層(1
3)を焼結あるいは再結晶化あるいは基体(1)中への
拡散をさせるためである。この様な方法で金属層(13
)が形成された陰極基体部上に従来と同様に電子放射物
質層(5)を被着形成するものである。第3図はこの様
な方法で作成した本発明を実施してなる電子管用陰極を
通常のテレビジョン装置用ブラウン管に装着し、通常の
排気工程をへて完成したブラウン管を電流密度2 A
/ c m”の条件で動作させた時の寿命特性を、従来
例と比較して示したものである。ここで、金属層(13
)としては膜厚0.2μmのW膜を形成し、水素雰囲気
中で1000℃で加熱処理を施した。なお、電子放射物
質層(5)としては、比較のため実施例および従来例と
もに、7重量%の酸化スカンジウムを含むアルカリ土類
金属酸化物(11)を用いた。この第3図から明らかな
ように、本実施例のものは従来例のものに比べ寿命中の
エミッション劣化が著しく少ないものである。
(1)への金属層(13)の形成方法について説明する
と、まず少量のSi、Mgを含有するNi基体(1)を
陰極スリーブ(2)に溶接した後、この陰極基体部を例
えば電子ビーム蒸着装置内に配設し、10−’ 〜l
O−”Torr程度の真空雰囲気でWを電子ビームで
加熱蒸着するものである。その後、この陰極基体部を例
えば水素雰囲気中で800〜1100℃で加熱処理をす
るが、これは上記金属層(13)内部あるいは表面に残
存する酸素などの不純物を除去し、またこの金属層(1
3)を焼結あるいは再結晶化あるいは基体(1)中への
拡散をさせるためである。この様な方法で金属層(13
)が形成された陰極基体部上に従来と同様に電子放射物
質層(5)を被着形成するものである。第3図はこの様
な方法で作成した本発明を実施してなる電子管用陰極を
通常のテレビジョン装置用ブラウン管に装着し、通常の
排気工程をへて完成したブラウン管を電流密度2 A
/ c m”の条件で動作させた時の寿命特性を、従来
例と比較して示したものである。ここで、金属層(13
)としては膜厚0.2μmのW膜を形成し、水素雰囲気
中で1000℃で加熱処理を施した。なお、電子放射物
質層(5)としては、比較のため実施例および従来例と
もに、7重量%の酸化スカンジウムを含むアルカリ土類
金属酸化物(11)を用いた。この第3図から明らかな
ように、本実施例のものは従来例のものに比べ寿命中の
エミッション劣化が著しく少ないものである。
この様に、この発明を実施してなる電子管用陰極の優れ
た特性の原因は以下の様に考えられる。
た特性の原因は以下の様に考えられる。
即ち、この発明の金属層(13)は膜厚の薄い層として
形成されているので、動作時において金属層(13)は
基体(1)のNiの結晶粒上にのみ分布し、このNiの
結晶粒界は基体(1)上面で電子放射物質層(5)側に
露出しているので、基体(1)中の還 死刑は金属層(
13)の影響を受けず前述の反応式(1)、(2)に基
づき過剰Baを供給する。それに加えて、金属層(13
)であるWは次式(5)の様に、電子放射物質層(5)
の還元による過剰Baの供給にも寄与する。
形成されているので、動作時において金属層(13)は
基体(1)のNiの結晶粒上にのみ分布し、このNiの
結晶粒界は基体(1)上面で電子放射物質層(5)側に
露出しているので、基体(1)中の還 死刑は金属層(
13)の影響を受けず前述の反応式(1)、(2)に基
づき過剰Baを供給する。それに加えて、金属層(13
)であるWは次式(5)の様に、電子放射物質層(5)
の還元による過剰Baの供給にも寄与する。
2 B a O+ 1 / 3 W
= B a + 1 / 3 B a 3W O6(5
)さらに、Wは基体(1)中の還元剤であるSi、Mg
よりも還元性が小さいが、基体(1)のNi粒子上に分
布しているので、電子放射物質層(5)内の酸化スカン
ジウムとの反応が比較的容易に起こり、中間層分解の効
果を有するScの生成にも寄与する。
)さらに、Wは基体(1)中の還元剤であるSi、Mg
よりも還元性が小さいが、基体(1)のNi粒子上に分
布しているので、電子放射物質層(5)内の酸化スカン
ジウムとの反応が比較的容易に起こり、中間層分解の効
果を有するScの生成にも寄与する。
金属層(13)がWである場合を例にとり説明したが、
金属層(13)は基体(1)中の還元剤の少なくとも一
つの還元剤よりも還元性が同等または小さく、Niより
還元性が大きいことが望ましい。その理由は、金属層(
13)の還元性がNiより小さいと過剰Baの供給効果
が少なく、基体(1)中の還元剤の還元性より大きいと
過剰Baの主たる供給反応は金属層(13)と電子放射
物質層(5)との界面で起こり、基体(1)中の還元剤
の過剰Ba供給効果が小さくなり、上述した酸化スカン
ジウムの中間層分解効果の特性への寄与が小さくなるか
らである。
金属層(13)は基体(1)中の還元剤の少なくとも一
つの還元剤よりも還元性が同等または小さく、Niより
還元性が大きいことが望ましい。その理由は、金属層(
13)の還元性がNiより小さいと過剰Baの供給効果
が少なく、基体(1)中の還元剤の還元性より大きいと
過剰Baの主たる供給反応は金属層(13)と電子放射
物質層(5)との界面で起こり、基体(1)中の還元剤
の過剰Ba供給効果が小さくなり、上述した酸化スカン
ジウムの中間層分解効果の特性への寄与が小さくなるか
らである。
上記金属層(13)としては基体(1)中の還元剤の構
成に依存するが、W、Mo、Ta、 Cr、Si、M
gなどの少なくとも一種の金属を選択すれば良い。 ま
た、上記金属層 (13)は基体(1)中の還元剤の少
なくとも一つの還元剤よりも還元性が同等または小さ(
Niより還元性が大きい金属に、Niの還元性以下の金
属、例えばNiを加えた合金層で構成しても良い。
成に依存するが、W、Mo、Ta、 Cr、Si、M
gなどの少なくとも一種の金属を選択すれば良い。 ま
た、上記金属層 (13)は基体(1)中の還元剤の少
なくとも一つの還元剤よりも還元性が同等または小さ(
Niより還元性が大きい金属に、Niの還元性以下の金
属、例えばNiを加えた合金層で構成しても良い。
また、上記金属層(13)の厚みが2.0μm以下であ
ることが望ましく、特に0.8μm以下であると高電流
密度動作での寿命特性向上が著しい。これは、金属層(
13)の厚みが2.0μm以上では基体(1)中の還元
元素の電子放射物質層(5)への拡散がこの金属層(1
3)によって律速され、還元元素によるBa供給が不足
するためである。
ることが望ましく、特に0.8μm以下であると高電流
密度動作での寿命特性向上が著しい。これは、金属層(
13)の厚みが2.0μm以上では基体(1)中の還元
元素の電子放射物質層(5)への拡散がこの金属層(1
3)によって律速され、還元元素によるBa供給が不足
するためである。
金属層の形成した基体は真空中または還元雰囲気中で最
高温度が800〜1100℃で加熱処理を施すことが望
ましい。この加熱処理により、金属層(13)を主に基
体(1)のNi粒子上に分布するように制御することが
可能になり、基体(1)中の還元元素の電子放射物質層
(5)への拡散が適正に維持できる。
高温度が800〜1100℃で加熱処理を施すことが望
ましい。この加熱処理により、金属層(13)を主に基
体(1)のNi粒子上に分布するように制御することが
可能になり、基体(1)中の還元元素の電子放射物質層
(5)への拡散が適正に維持できる。
この発明を実施してなる電子管用陰極はテレビ用ブラウ
ン管や撮像管に適用可能であるが、投射型テレビあるい
は大型テレビなどのブラウン管に適用して高電流で動作
することにより、高輝度化が実現できる。特にハイビジ
ョンテレビ用ブラウン管の高輝度化に有効である。また
、デイスプレィモニタ用ブラウン管に高電流密度で適用
すること、即ち電流取出し面積を従来より小さくして適
用することにより、従来よりも高精細のブラウン管が実
現できる。
ン管や撮像管に適用可能であるが、投射型テレビあるい
は大型テレビなどのブラウン管に適用して高電流で動作
することにより、高輝度化が実現できる。特にハイビジ
ョンテレビ用ブラウン管の高輝度化に有効である。また
、デイスプレィモニタ用ブラウン管に高電流密度で適用
すること、即ち電流取出し面積を従来より小さくして適
用することにより、従来よりも高精細のブラウン管が実
現できる。
[発明の効果]
この発明は以上述べた様に少なくとも一種の還元剤を含
有してなる基体上にこの還元剤の少なくとも一種より還
元性が同等、または小さく、かつニッケルより還元性が
大きい金属を主成分とする金属層を形成し、この金属層
上に少なくともバリウムを含むアルカリ土類金属酸化物
を主成分として、0.01〜25重量%の希土類金属酸
化物を含む電子放射物質層を被着形成させたので、従来
の酸化物陰極では適用回能であった2 A / c m
”以上の高電流密度動作を可能にし、従来では困難であ
ρた高輝度、高精細のブラウン管を実現するという効果
を有する。
有してなる基体上にこの還元剤の少なくとも一種より還
元性が同等、または小さく、かつニッケルより還元性が
大きい金属を主成分とする金属層を形成し、この金属層
上に少なくともバリウムを含むアルカリ土類金属酸化物
を主成分として、0.01〜25重量%の希土類金属酸
化物を含む電子放射物質層を被着形成させたので、従来
の酸化物陰極では適用回能であった2 A / c m
”以上の高電流密度動作を可能にし、従来では困難であ
ρた高輝度、高精細のブラウン管を実現するという効果
を有する。
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図はこ
の発明を実施してなる電子管用陰極を装着したブラウン
管の寿命試験時間とエミッション電流比を示す特性図、
第3図は従来の電子管用陰極の構造を示す断面図である
。 図において、(1)は基体、(5)は電子放射物質層、
(13)は金属層である。 なお、各図中同一符合は同一または相当部分を示す。
の発明を実施してなる電子管用陰極を装着したブラウン
管の寿命試験時間とエミッション電流比を示す特性図、
第3図は従来の電子管用陰極の構造を示す断面図である
。 図において、(1)は基体、(5)は電子放射物質層、
(13)は金属層である。 なお、各図中同一符合は同一または相当部分を示す。
Claims (3)
- (1)主成分がニッケルからなり、少なくとも一種の還
元剤を含有してなる基体上に少なくともバリウムを含む
アルカリ土類金属の酸化物を含有してなる電子放射物質
層を被着形成した電子管用陰極において、この還元剤の
少なくとも一種より還元性が同等、または小さく、かつ
ニッケルより還元性が大きい金属を主成分とする金属層
を基体と電子放射物質層との間に形成するとともに、電
子放射物質層が0.01〜25重量%の希土類金属酸化
物を含むことを特徴とする電子管用陰極。 - (2)金属層の厚みが2.0μm以下であることを特徴
とする請求項1記載の電子管用陰極。 - (3)金属層を形成した基体は真空中または還元雰囲気
中で最高温度が800〜1100℃で加熱処理を施すこ
とを特徴とする請求項1記載の電子管用陰極。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5685590A JP2758244B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 電子管用陰極 |
DE69101797T DE69101797T2 (de) | 1990-03-07 | 1991-02-27 | Elektronenröhrenkathode. |
KR1019910003145A KR930011964B1 (ko) | 1990-03-07 | 1991-02-27 | 전자관용 음극 |
EP91301590A EP0445956B1 (en) | 1990-03-07 | 1991-02-27 | Electron tube cathode |
CA002037675A CA2037675C (en) | 1990-03-07 | 1991-03-06 | Electron tube cathode |
US07/666,002 US5118984A (en) | 1990-03-07 | 1991-03-07 | Electron tube cathode |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5685590A JP2758244B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 電子管用陰極 |
Related Child Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28387796A Division JP2891209B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 電子管用陰極 |
JP28387896A Division JP2937145B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 電子管用陰極 |
JP28387696A Division JP2882386B2 (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 電子管用陰極の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03257735A true JPH03257735A (ja) | 1991-11-18 |
JP2758244B2 JP2758244B2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=13039029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5685590A Expired - Lifetime JP2758244B2 (ja) | 1990-03-07 | 1990-03-07 | 電子管用陰極 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5118984A (ja) |
EP (1) | EP0445956B1 (ja) |
JP (1) | JP2758244B2 (ja) |
KR (1) | KR930011964B1 (ja) |
CA (1) | CA2037675C (ja) |
DE (1) | DE69101797T2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1997049108A1 (fr) * | 1996-06-20 | 1997-12-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode de tube electronique |
WO1999059178A1 (fr) * | 1998-05-14 | 1999-11-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Tube cathodique ayant une cathode a couches d'oxyde et procede de fabrication dudit tube |
US6091189A (en) * | 1995-12-27 | 2000-07-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode for an electron tube |
US6124666A (en) * | 1996-11-29 | 2000-09-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Electron tube cathode |
US6140753A (en) * | 1997-12-30 | 2000-10-31 | Samsung Display Devices Co., Ltd. | Cathode for an electron gun |
US6545397B2 (en) | 2000-06-01 | 2003-04-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode for electron tube |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5828164A (en) * | 1992-04-03 | 1998-10-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Thermionic cathode using oxygen deficient and fully oxidized material for high electron density emissions |
US5298830A (en) * | 1992-04-03 | 1994-03-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Method of preparing an impregnated cathode with an enhanced thermionic emission from a porous billet and cathode so prepared |
KR100200661B1 (ko) * | 1994-10-12 | 1999-06-15 | 손욱 | 전자관용 음극 |
KR960025915A (ko) * | 1994-12-28 | 1996-07-20 | 윤종용 | 열전자 방출성 산화물 음극 및 그 제조방법 |
US5545945A (en) * | 1995-03-29 | 1996-08-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Thermionic cathode |
JPH0982233A (ja) * | 1995-09-18 | 1997-03-28 | Hitachi Ltd | 電子放射物質層を有する陰極を備えた電子管 |
KR100195955B1 (ko) * | 1995-12-20 | 1999-06-15 | 구자홍 | 음극구조체의 구조 및 전자방사체 도포방법 |
US5959395A (en) * | 1996-02-29 | 1999-09-28 | Matsushita Electronics Corporation | Cathode for electron tube |
US6051165A (en) * | 1997-09-08 | 2000-04-18 | Integrated Thermal Sciences Inc. | Electron emission materials and components |
KR100249714B1 (ko) * | 1997-12-30 | 2000-03-15 | 손욱 | 전자총용 음극 |
US6362563B1 (en) * | 1999-10-05 | 2002-03-26 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Two-layer cathode for electron gun |
US6495949B1 (en) | 1999-11-03 | 2002-12-17 | Orion Electric Co., Ltd. | Electron tube cathode |
EP1232511B1 (de) * | 2000-09-19 | 2007-08-15 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Oxidkathode |
KR20020068084A (ko) * | 2000-11-21 | 2002-08-24 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 음극선관 |
KR20020068644A (ko) * | 2001-02-21 | 2002-08-28 | 삼성에스디아이 주식회사 | 금속 음극 및 이를 구비한 방열형 음극구조체 |
CN1628363A (zh) * | 2002-06-19 | 2005-06-15 | 三菱电机株式会社 | 截止电压的变动降低方法、电子管用阴极以及电子管用阴极的制造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52144653U (ja) * | 1976-04-23 | 1977-11-02 | ||
JPS645417A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Mitsubishi Agricult Mach | Control device for horizontal attitude in working vehicle for paddy field |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1120605B (de) * | 1960-09-21 | 1961-12-28 | Siemens Ag | Oxydkathode |
JPS5922335B2 (ja) * | 1976-01-28 | 1984-05-25 | 株式会社日立製作所 | 直熱形陰極構体 |
JPS5566819A (en) * | 1978-11-15 | 1980-05-20 | Hitachi Ltd | Oxide cathode for electron tube |
KR900007751B1 (ko) * | 1985-05-25 | 1990-10-19 | 미쯔비시덴끼 가부시기가이샤 | 전자관 음극 및 그 제조방법 |
CA1270890A (en) * | 1985-07-19 | 1990-06-26 | Keiji Watanabe | Cathode for electron tube |
JPH0275128A (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-14 | Hitachi Ltd | 電子管陰極 |
-
1990
- 1990-03-07 JP JP5685590A patent/JP2758244B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-02-27 KR KR1019910003145A patent/KR930011964B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1991-02-27 DE DE69101797T patent/DE69101797T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-02-27 EP EP91301590A patent/EP0445956B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-06 CA CA002037675A patent/CA2037675C/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-03-07 US US07/666,002 patent/US5118984A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52144653U (ja) * | 1976-04-23 | 1977-11-02 | ||
JPS645417A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Mitsubishi Agricult Mach | Control device for horizontal attitude in working vehicle for paddy field |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6091189A (en) * | 1995-12-27 | 2000-07-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode for an electron tube |
WO1997049108A1 (fr) * | 1996-06-20 | 1997-12-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode de tube electronique |
US6054802A (en) * | 1996-06-20 | 2000-04-25 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode for electronic tube |
US6124666A (en) * | 1996-11-29 | 2000-09-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Electron tube cathode |
US6140753A (en) * | 1997-12-30 | 2000-10-31 | Samsung Display Devices Co., Ltd. | Cathode for an electron gun |
WO1999059178A1 (fr) * | 1998-05-14 | 1999-11-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Tube cathodique ayant une cathode a couches d'oxyde et procede de fabrication dudit tube |
US6545397B2 (en) | 2000-06-01 | 2003-04-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cathode for electron tube |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0445956B1 (en) | 1994-04-27 |
DE69101797T2 (de) | 1994-08-11 |
JP2758244B2 (ja) | 1998-05-28 |
KR930011964B1 (ko) | 1993-12-23 |
DE69101797D1 (de) | 1994-06-01 |
US5118984A (en) | 1992-06-02 |
CA2037675C (en) | 1993-09-21 |
CA2037675A1 (en) | 1991-09-08 |
EP0445956A3 (en) | 1991-11-21 |
EP0445956A2 (en) | 1991-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03257735A (ja) | 電子管用陰極 | |
US6124666A (en) | Electron tube cathode | |
JP2897938B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
JP2937145B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
JP2835023B2 (ja) | 電子管用陰極の製造方法 | |
JP2882386B2 (ja) | 電子管用陰極の製造方法 | |
JP2891209B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
JP2936460B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH09185939A (ja) | 電子管用陰極およびその製造方法 | |
JP3010155B2 (ja) | 電子管用陰極の製造方法 | |
JPH04220924A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH0546653B2 (ja) | ||
JPS6290819A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPS6290821A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH04220925A (ja) | 電子管用陰極 | |
JP2730260B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH0546652B2 (ja) | ||
JPH04220927A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPS62165833A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH09320449A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPS63231833A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPS63257154A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH04220926A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH01213935A (ja) | 電子管用陰極 | |
JPH10199397A (ja) | 電子管用陰極 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090313 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100313 Year of fee payment: 12 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |