JPH03242566A - Apparatus for inspecting circuit board - Google Patents
Apparatus for inspecting circuit boardInfo
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- JPH03242566A JPH03242566A JP2039358A JP3935890A JPH03242566A JP H03242566 A JPH03242566 A JP H03242566A JP 2039358 A JP2039358 A JP 2039358A JP 3935890 A JP3935890 A JP 3935890A JP H03242566 A JPH03242566 A JP H03242566A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は回路基板検査装置に関し、さらに詳しく言え
ば、多品種の回路基板を自動的に検査し得る回路基板検
査装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a circuit board testing device, and more specifically, to a circuit board testing device that can automatically test a wide variety of circuit boards.
自動化された回路基板検査装置においては、被検査回路
基板をコンベアなどの搬送手段にて順次基板検査部に搬
送し、同基板検査部にて所定の検査プログラムにしたが
って被検査回路基板を電気的に測定するようにしている
。In automated circuit board inspection equipment, the circuit boards to be inspected are sequentially transported to the board inspection section using a conveyor or other transport means, and the board inspection section electrically tests the circuit boards to be inspected according to a predetermined inspection program. I try to measure it.
ところで、基板検査部にはフイクスチュアーと呼ばれる
基板固定手段が設けられている。このフィクスチュアー
には、被検査回路基板の測定ポイントに対応して配置さ
れた複数のプローブを有するビンボードが設けられてお
り、検査に際してはその全プローブを測定ポイントに接
触させ、所定の検査プログラムにしたがってスキャナを
切換え。By the way, the board inspection section is provided with board fixing means called a fixture. This fixture is equipped with a bin board that has a plurality of probes arranged corresponding to the measurement points of the circuit board to be inspected. During inspection, all the probes are brought into contact with the measurement points, and a predetermined inspection program is applied. Switch the scanner accordingly.
例えばビン間測定の場合には２本のプローブを選択して
それらを測定信号源と信号測定部に接続するようにして
いる。For example, in the case of inter-bin measurement, two probes are selected and connected to the measurement signal source and the signal measurement section.
この従来装置は、同じ被検査回路基板を大量に処理する
場合には威力を発揮するが、多品種少量生産品になると
次のような問題があった。すなわち、機種が変わるごと
にピンボードおよびその検査プログラムなどを変更する
必要があり、これには多大な時間がかかる。This conventional device is effective when processing a large number of the same circuit boards to be inspected, but when it comes to high-mix, low-volume production, it has the following problems. That is, it is necessary to change the pin board and its inspection program every time the model changes, which takes a lot of time.
この発明は上記課題を解決するためになされたもので、
その構成上の特徴は、被検査回路基板と平行な平面内で
移動自在な一対のＸ−Ｙユニットを有しその各ユニット
に測定信号源に接続される信号源側プローブと信号測定
部側に接続される測定部側プローブとを設けてなる基板
検査部と、被検査回路基板を上記基板検査部に搬送する
コンベアなどの搬送手段と、上記被検査回路基板の種類
を判別する基板判別部と、該基板判別部にて判別された
基板の種類に応じてそれに対応する所定の検査プログラ
ムおよび上記Ｘ−Ｙユニツ１−を駆動する位置座標デー
タなどを設定する制御部とを備えていることにある。This invention was made to solve the above problems,
Its structural feature is that it has a pair of X-Y units that are movable in a plane parallel to the circuit board under test, and each unit has a signal source side probe connected to the measurement signal source and a signal measurement section side probe connected to the measurement signal source. a board inspection section provided with a measuring section side probe to be connected; a conveyor such as a conveyor for transporting the circuit board to be inspected to the board inspection section; and a board discrimination section for discriminating the type of the circuit board to be inspected. , and a control section that sets a predetermined inspection program corresponding to the type of substrate determined by the substrate discrimination section and position coordinate data for driving the X-Y unit 1-. be.
基板判別部にて被検査回路基板の種別が判別されると、
制御部にてその基板検査に必要は検査プログラムおよび
Ｘ−Ｙユニットを駆動する位置座標データなどが自動的
に設定される。When the type of circuit board to be inspected is determined by the board determination section,
The control section automatically sets the inspection program, position coordinate data for driving the X-Y unit, etc. necessary for the board inspection.
以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら詳細
に説明する。Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
この回路基板検査装置の概略が示されている第１図を参
照すると、同装置は被検査回路基板１を運び入れるため
の第１コンベア２を備えている。Referring to FIG. 1, which schematically shows this circuit board inspection apparatus, the apparatus is equipped with a first conveyor 2 for carrying a circuit board 1 to be inspected.
同コンベア２の所定位置には、被検査回路基板１の種別
を判別する基板判別部３が設けられている。A board determining section 3 for determining the type of circuit board 1 to be inspected is provided at a predetermined position on the conveyor 2 .
この実施例において、基板判別部３はＣＣＤカメラを有
し、その撮像した形状によりどのような種類の基板であ
るかを判別するようにしている。なお、この他に例えば
被検査回路基板１にバーコードを付けておき、それを読
み取るようにしてもよい。In this embodiment, the substrate discrimination section 3 has a CCD camera, and is configured to discriminate what type of substrate it is based on the shape captured by the CCD camera. In addition, for example, a bar code may be attached to the circuit board 1 to be inspected and the bar code may be read.
第２同に例示されているように、第１コンベア２の終端
側には検査前基板ストッカー４と、被検査回路基板１を
コンベア２から同ストッカー４に移し代えるプッシャー
５とが設けられている。検査前基板ストッカー４は複数
の棚板４ａを有する例えば縦長の箱体からなり、その背
面側には屏動源をモータ６とするピニオン７ａとラック
７ｂからなる上下動機構７が設けられている。プッシャ
ー５は第１コンベア２を横切る方向に往復動自在で、図
示されていないが例えばエアシンリダーもしくはソレノ
イドなどにより駆動される。As illustrated in the second example, a pre-inspection board stocker 4 and a pusher 5 for transferring the circuit board 1 to be tested from the conveyor 2 to the stocker 4 are provided at the end of the first conveyor 2. . The pre-inspection board stocker 4 is made of, for example, a vertically elongated box having a plurality of shelf boards 4a, and a vertical movement mechanism 7 consisting of a pinion 7a and a rack 7b whose folding motion source is a motor 6 is provided on the back side. . The pusher 5 is capable of reciprocating in a direction across the first conveyor 2, and is driven by, for example, an air cylinder lidder or a solenoid (not shown).
第１コンベア２の終端側上部には、検査前基板ストッカ
ー４から被検査回路基板１が受は渡される第２コンベア
１１が配設されている。図示されていないが、検査前基
板ストッカー４の背面側にはに記プッシャー５と同様の
プッシャーが設けられており、そのブツシャ−にてスト
ッカー４内の被検査ｉＩｌ路基板１が第２コンベア１１
上に押し出される。この第２コンベア１１上には、基板
検査部１２が設けられている。A second conveyor 11 is disposed above the terminal end of the first conveyor 2 to receive and pass the circuit boards 1 to be inspected from the pre-inspection board stocker 4 . Although not shown, a pusher similar to the pusher 5 described above is provided on the back side of the pre-inspection substrate stocker 4, and the pusher pushes the substrate 1 to be inspected in the stocker 4 onto the second conveyor 11.
pushed upwards. A board inspection section 12 is provided on the second conveyor 11.
基板検査部１２は第３図に示されているように、被検査
回路基板１と平行な平面内で移動自在な一対のＸ−Ｙユ
ニット１３．１４を備えている。各ユニット１３．１４
は例えばコンベア１１の移送方向（Ｘ−Ｘ方向）と平行
に配向された案内レール１３ａ、１４ａと、同案内レー
ル１３ａ、１４ａにそれと直交する方向（Ｙ −Ｙ方向
）に延びた状態で摺動可能に支持されたアーム１３ｂ、
１４ｂとを含み、各アーム１３ｂ。As shown in FIG. 3, the board inspection section 12 includes a pair of X-Y units 13 and 14 that are movable in a plane parallel to the circuit board 1 to be inspected. Each unit 13.14
For example, the guide rails 13a and 14a are oriented parallel to the transfer direction (X-X direction) of the conveyor 11, and the guide rails 13a and 14a slide in a state that extends in a direction perpendicular thereto (Y-Y direction). possible supported arm 13b;
14b, each arm 13b.
１．４ｂには各々がプローブ１３ｃ、１４ｃを有するス
ライダー１３ｄ、１４ｄが摺動自在に取付けられている
。Sliders 13d and 14d each having probes 13c and 14c are slidably attached to 1.4b.
作図の都合上、一方のユニット１４例しか示されていな
いが、各案内レール１３ａ、１４ａにはそれに取付けら
れているアーム１３ｂ、１４ｂを移動させるためのモー
タ１５がそれぞれ設けられている。また、各アーム１３
ｂ、１４ｂにもスライダー１３ｄ 、 １４ｄのための
モータ１６がそれぞれ設けられている。この実施例によ
ると、一方のプローブ１３ｃが信号測定部２１に接続さ
れ、他方のプローブ１４ｃが測定信号ｇ２２に接続され
ている。For convenience of drawing, only one example of the unit 14 is shown, but each guide rail 13a, 14a is provided with a motor 15 for moving the arms 13b, 14b attached thereto. In addition, each arm 13
Motors 16 for the sliders 13d and 14d are also provided on the sliders b and 14b, respectively. According to this embodiment, one probe 13c is connected to the signal measuring section 21, and the other probe 14c is connected to the measurement signal g22.
この基板検査部１２に関連して説明を続けると、この装
置はＣＰＵからなる制御部２３と、被検査回路基板↓の
種類に応じた検査プログラムを記憶する第１メモリ２４
と、同じく被検査回路基板工の種類に応じた位置座標デ
ータを記憶する第２メモリ２５と、第１コンベア２、第
２コンベア１１の各モータ２ａ、Ｉｌａおよび検査前基
板ストッカー４のモータ６の送り量を調整する送り！＋
５Ｊ整部２６とを備えている。制御部２３には入力手段
としてのキーボード２３ａと、ＣＲＩやプリンタなどの
表示部２３ｂと、ＩＣカードもしくはフロッピーディス
クなどの外部記憶部２３ｃが接続されている。Continuing the explanation in connection with this board inspection section 12, this device includes a control section 23 consisting of a CPU, and a first memory 24 that stores an inspection program according to the type of circuit board to be inspected↓.
, a second memory 25 that similarly stores position coordinate data corresponding to the type of circuit board work to be inspected, and motors 2a and Ila of the first conveyor 2 and second conveyor 11, and motor 6 of the pre-inspection board stocker 4. Feed to adjust the feed amount! +
5J adjustment section 26. Connected to the control section 23 are a keyboard 23a as an input means, a display section 23b such as a CRI or a printer, and an external storage section 23c such as an IC card or a floppy disk.
第４図を養魚すると、第２コンベア１１の終端側には制
御部２３からの信号に基づいて被検査回路基板１を良品
ストッカー３１と不良品ストッカー３２とに振り分ける
振分は手段３０が配置されている。この例において、同
振分は手段３０はコンベア１１の移送方向と平行をなす
角度からほぼ４５度の範囲内で往復的に回転するレバー
３１を備えている。なお、同レバー３１の後方には振分
は手段３０を通過してきたｌ＆板１を不良品ストッカー
３２に落とし込むガイド板３２が設けられている。4, a means 30 is arranged at the end of the second conveyor 11 for sorting the circuit boards 1 to be inspected into a non-defective stocker 31 and a defective stocker 32 based on a signal from the control unit 23. ing. In this example, the distribution means 30 comprises a lever 31 which rotates reciprocatingly within approximately 45 degrees from an angle parallel to the direction of transport of the conveyor 11. Note that a guide plate 32 is provided behind the lever 31 to drop the L& board 1 that has passed through the sorting means 30 into a defective product stocker 32.
次に、この装置の作用について説明する。まず。Next, the operation of this device will be explained. first.
被検査回路基板１は第１コンベア２にて同装置に搬入さ
れる際、基板判別部３にてその種類が判別される。制御
部２３はこの基板判別部３からの判別信号により、送り
調整部２６を介して各モータ２ａ。When the circuit board 1 to be inspected is carried into the apparatus by the first conveyor 2, its type is discriminated by the board discriminating section 3. The control section 23 controls each motor 2a via the feed adjustment section 26 based on the discrimination signal from the substrate discrimination section 3.
１１ａおよび６の回転量をその基板■の大きさなどに合
せて調整する。また、制御部２３はその基板１の種類に
応じた検査プログラムおよび位置座標データなどを外部
記憶部２３ｃの例えばフロッピーディスクから読み出し
、その各データを第１メモリ２４と第２メモリ２５にそ
れぞれ記憶させる。The amount of rotation of 11a and 6 is adjusted according to the size of the substrate (2). Further, the control unit 23 reads an inspection program, position coordinate data, etc. according to the type of the board 1 from, for example, a floppy disk in the external storage unit 23c, and stores each data in the first memory 24 and the second memory 25, respectively. .
これにより、基板１は同期的に第１コンベア２から一旦
検査前ストッカー４に移し変えられ、さらに同ストッカ
ー４から第２コンベアｌｌ上に載せられる。同基板ｌが
基板検査部１２に至ると、コンベア１１が停止し、Ｘ−
Ｙユニット１３．１４による回路検査が行われる。この
場合、同ユニット１３．１４のモータ１５．１６は上記
第１メモリ２４の検査プログラムおよび第２メモリ２５
の位置座標データにしたがって制御される。検査が終了
すると、基板１は再びコンベア１１にて搬送されるが、
良品であればレバー３１が第４図のように同コンベア１
１をほぼ４５度の角度をもって遮るため、良品ストッカ
ー３１内に収納される。他方、不良品の場合にはレバー
３１がコンベア１１の移送方向と平行になるため、その
基板ｌはガイド板３２に突き当たり、それによって不良
品ストッカー３２内に落下する。As a result, the substrate 1 is synchronously transferred from the first conveyor 2 to the pre-inspection stocker 4, and then placed from the same stocker 4 onto the second conveyor 11. When the same board l reaches the board inspection section 12, the conveyor 11 stops and the
Circuit inspection is performed by Y units 13 and 14. In this case, the motors 15.16 of the same unit 13.14 are connected to the inspection program in the first memory 24 and the second memory 25.
is controlled according to the position coordinate data. When the inspection is completed, the substrate 1 is transported again by the conveyor 11,
If the product is in good condition, the lever 31 will move to the same conveyor 1 as shown in Figure 4.
1 at an angle of approximately 45 degrees, it is stored in the non-defective stocker 31. On the other hand, in the case of a defective product, since the lever 31 is parallel to the transport direction of the conveyor 11, the substrate l hits the guide plate 32 and thereby falls into the defective product stocker 32.
以」二説明したように、この発明によれば、被検査問路
Ｊ＆板の種類に応じて、自動的にその検査プログラムな
どが変更されるため、特に多品種少量生産品の検査を行
う上できわめて好都合である。As explained above, according to the present invention, the inspection program etc. are automatically changed according to the type of interrogation track J & board to be inspected. This is extremely convenient.
同はいずれもこの発明の実施例に関するもので、第１図
はこの発明の一実施例を概略的に示した模式間、第２図
は同実施例の検査前基板ストッカーおよびその周辺部分
を示した斜視図、第３図は同実施例のＸ−Ｙユニットを
示した斜視図、第４図は良品、不良品振分は手段を例示
した斜視図である。
図中、上は被検査回路基板、２は第１コンベア、３は基
板判別部、４は検査前基板ストッカー、１１は第２コン
ベア、１２は基板検査部、１３．１４はＸ−Ｙユニット
、２１は信号測定部、２２は測定信号源、２３は制御部
（ＣＰＵ）、２４．２５はメモリ、３０は良品不良品振
分は手段である。Both of these relate to embodiments of the present invention; FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing a pre-inspection substrate stocker and its surrounding area in the same embodiment. FIG. 3 is a perspective view showing the X-Y unit of the same embodiment, and FIG. 4 is a perspective view illustrating means for sorting out good and defective products. In the figure, the top is the circuit board to be inspected, 2 is the first conveyor, 3 is the board discrimination section, 4 is the pre-inspection board stocker, 11 is the second conveyor, 12 is the board inspection section, 13.14 is the X-Y unit, 21 is a signal measuring section, 22 is a measurement signal source, 23 is a control section (CPU), 24, 25 is a memory, and 30 is a means for sorting between good and defective products.
Claims (1)
のＸ−Ｙユニットを有しその各ユニットに測定信号源に
接続される信号源側プローブと信号測定部側に接続され
る測定部側プローブとを設けてなる基板検査部と、被検
査回路基板を上記基板検査部に搬送するコンベアなどの
搬送手段と、上記被検査回路基板の種類を判別する基板
判別部と、該基板判別部にて判別された基板の種類に応
じてそれに対応する所定の検査プログラムおよび上記Ｘ
−Ｙユニットを駆動する位置座標データなどを設定する
制御部とを備えてなることを特徴とする回路基板検査装
置。(1) It has a pair of X-Y units that are movable in a plane parallel to the circuit board to be tested, and each unit has a signal source side probe connected to the measurement signal source and a measurement unit connected to the signal measurement section side. a board inspection section provided with a side probe; a conveyor such as a conveyor for transporting the circuit board to be inspected to the board inspection section; a board discrimination section for discriminating the type of the circuit board to be inspected; A predetermined inspection program corresponding to the type of board determined by the department and the above-mentioned
- A control section for setting position coordinate data for driving a Y unit, etc. A circuit board inspection apparatus characterized by comprising: - a control section for setting position coordinate data and the like for driving a Y unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2039358A JPH03242566A (en) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Apparatus for inspecting circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2039358A JPH03242566A (en) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Apparatus for inspecting circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03242566A true JPH03242566A (en) | 1991-10-29 |
Family
ID=12550851
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2039358A Pending JPH03242566A (en) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | Apparatus for inspecting circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03242566A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007107973A (en) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Micronics Japan Co Ltd | Inspection device |
| JP2009103661A (en) * | 2007-10-25 | 2009-05-14 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | Substrate test device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01185455A (en) * | 1988-01-20 | 1989-07-25 | Nec Home Electron Ltd | Function inspection system |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP2039358A patent/JPH03242566A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01185455A (en) * | 1988-01-20 | 1989-07-25 | Nec Home Electron Ltd | Function inspection system |
Cited By (2)
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| JP2007107973A (en) * | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Micronics Japan Co Ltd | Inspection device |
| JP2009103661A (en) * | 2007-10-25 | 2009-05-14 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | Substrate test device |
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