JPH0323408A - 2つのファイバ端部のアライメント方法および装置 - Google Patents
2つのファイバ端部のアライメント方法および装置Info
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- JPH0323408A JPH0323408A JP2141736A JP14173690A JPH0323408A JP H0323408 A JPH0323408 A JP H0323408A JP 2141736 A JP2141736 A JP 2141736A JP 14173690 A JP14173690 A JP 14173690A JP H0323408 A JPH0323408 A JP H0323408A
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G01M11/37—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is projected perpendicularly to the axis of the fibre or waveguide for monitoring a section thereof
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はJ請求項1の上位概念に記載の77イバ端部を
照明し、このようにして発生されたファイバ端部の像を
ビデオカメラの画像センサにより走査する、2つのファ
イバ端部のアライセ/ト方法及び装置に関する。
照明し、このようにして発生されたファイバ端部の像を
ビデオカメラの画像センサにより走査する、2つのファ
イバ端部のアライセ/ト方法及び装置に関する。
従来の技術
この形式の方法は、米国特許第4506947号明細書
から公知であり、この場合に紫外線は先導波体の2つの
ファイバ端部に指向されている。接合個所領域は、互い
に垂直に走行する2つの方向において光学レンズを介し
てビデオカメラにより観察され、このようにして得られ
たファイバ端部の像は画像スクリーンに表示される。こ
の場合に、この位置整定のための基礎として、蛍光のI
こめに画像スクリーンにフrイバクラッド6二対して異
なって写像されるファイバコアが用いら!1る。このよ
うな方法は何よりも、ファイバクラ・Iドに対するファ
イバコアのコント:?ストが非常に備かであわ、画像装
置に過大なコストをかけることによってしか改善できな
い欠点を有する。このような機器は従って工場内では使
用することができるが、しかし小型軽量の他にコスト的
に好適な形状が重要となる屋外では使用できない。特に
高価な画像システムと高分解能のカメラシステムはこれ
に関連して使用することは適切でない。
から公知であり、この場合に紫外線は先導波体の2つの
ファイバ端部に指向されている。接合個所領域は、互い
に垂直に走行する2つの方向において光学レンズを介し
てビデオカメラにより観察され、このようにして得られ
たファイバ端部の像は画像スクリーンに表示される。こ
の場合に、この位置整定のための基礎として、蛍光のI
こめに画像スクリーンにフrイバクラッド6二対して異
なって写像されるファイバコアが用いら!1る。このよ
うな方法は何よりも、ファイバクラ・Iドに対するファ
イバコアのコント:?ストが非常に備かであわ、画像装
置に過大なコストをかけることによってしか改善できな
い欠点を有する。このような機器は従って工場内では使
用することができるが、しかし小型軽量の他にコスト的
に好適な形状が重要となる屋外では使用できない。特に
高価な画像システムと高分解能のカメラシステムはこれ
に関連して使用することは適切でない。
ヨーロノバ特許第0030108号BAlgJ書から2
つのファイバ端部の位置整定のための補償装置が公知で
あり、この装置においては1つのファイバ端部の中に検
査光を導入し、この検査光から、ファイバ端部が完全に
正確にアライメンi・されていない場合にはすべての光
がコアの中を伝送されず、一部がコアの外部を第2の光
導波体の長手軸線に平行にこれに沿って走行する。誤位
R調整に比例する、コアの外側を走行する光の成分を検
出するため1こ、4つのセクタ状の感光素子がlつのレ
ベル面の内に光導波体の長手軸線を横断する方向に配置
され、これらの感t素子に評価回路が対忠して配置され
る。
つのファイバ端部の位置整定のための補償装置が公知で
あり、この装置においては1つのファイバ端部の中に検
査光を導入し、この検査光から、ファイバ端部が完全に
正確にアライメンi・されていない場合にはすべての光
がコアの中を伝送されず、一部がコアの外部を第2の光
導波体の長手軸線に平行にこれに沿って走行する。誤位
R調整に比例する、コアの外側を走行する光の成分を検
出するため1こ、4つのセクタ状の感光素子がlつのレ
ベル面の内に光導波体の長手軸線を横断する方向に配置
され、これらの感t素子に評価回路が対忠して配置され
る。
個々のセクタから到来する測定信号により誤位置調整の
大きさ及び方向が検出され、対応する操作部材による事
後調整が可能となる。この形式の装置の欠点はなにより
も、セクタ状の感光素子を先ず光導波体に装着しなけれ
ばならないことである。この場合、可及的正確な測定の
ために感光素子のスライディング収容部が必要である、
何故ならばこれらの素子の横方向の遊びは直接に測定誤
差の中に侵入するからである。
大きさ及び方向が検出され、対応する操作部材による事
後調整が可能となる。この形式の装置の欠点はなにより
も、セクタ状の感光素子を先ず光導波体に装着しなけれ
ばならないことである。この場合、可及的正確な測定の
ために感光素子のスライディング収容部が必要である、
何故ならばこれらの素子の横方向の遊びは直接に測定誤
差の中に侵入するからである。
更に、セクタの尖端のみが光導波体のクラッドの領域の
中に位置するのでこの場所でも僅かな光量のみしか受け
られないことは欠点である。
中に位置するのでこの場所でも僅かな光量のみしか受け
られないことは欠点である。
本装置の感度は従って、誤位置調整の程度が低下すると
ともに低下し、従って細密な最終補償は比較的不正確に
しか行うことができない。
ともに低下し、従って細密な最終補償は比較的不正確に
しか行うことができない。
更に、***特許出願公開第3429947号公報から公
知の測定装置と同様にこれらの測定方法においても、接
合個所の直接前に測定送光器からの光が光導波体の中に
入力結合されることが前提になっている。これは通常は
、この光導波体に所定の湾曲率で形成され、接合個所の
背後に同様に湾曲手段を利用して、7アイパ接合個所を
経て導かれた光信号の一部の出力結合が行われる。湾曲
された光導波管の形状であるこの形式の結合手段の使用
は、例えば特に強く湾曲に対して敏感なファイバ、(例
えば気密にコーティングされたファイバ等)の特別の1
次コーティングを有するファイバの場合には、制限され
て可能であるか又は不可能であり、例えば既製のケーブ
ル即ちいわゆるピグテイルの場合及び特別に短い接合部
長( Absatzlasnge)の場合のようにファ
イバに自由に接近することが可能でない場合には常に不
可能である。
知の測定装置と同様にこれらの測定方法においても、接
合個所の直接前に測定送光器からの光が光導波体の中に
入力結合されることが前提になっている。これは通常は
、この光導波体に所定の湾曲率で形成され、接合個所の
背後に同様に湾曲手段を利用して、7アイパ接合個所を
経て導かれた光信号の一部の出力結合が行われる。湾曲
された光導波管の形状であるこの形式の結合手段の使用
は、例えば特に強く湾曲に対して敏感なファイバ、(例
えば気密にコーティングされたファイバ等)の特別の1
次コーティングを有するファイバの場合には、制限され
て可能であるか又は不可能であり、例えば既製のケーブ
ル即ちいわゆるピグテイルの場合及び特別に短い接合部
長( Absatzlasnge)の場合のようにファ
イバに自由に接近することが可能でない場合には常に不
可能である。
発明が解決しようとする課題
本発明の課題は、特別に簡単でコストのかからない方法
で誤位置調整の検出を可能にし、障害がある場合でも高
い精度を得ることのできる、分離個所の観察による2つ
のファイバ端部のアライメントを提供することにある。
で誤位置調整の検出を可能にし、障害がある場合でも高
い精度を得ることのできる、分離個所の観察による2つ
のファイバ端部のアライメントを提供することにある。
課題を解決するための手段
上記課題は本発明により冒頭に記載の形式の方法におい
て、ファイバ端郁がシリンダレンズとして作用しひいて
は強度の最大値がファイバの中心に形成されるように照
明し、各ファイバ端部の像のための強度分布を別個に求
め、強度分布からその都度のファイバ長手軸線の位置と
2つのファイバ端部の互いの横方向のずれとを検出し、
これに基づいて、ファイバ端部のアライメントを事後調
整を行うことにより解決される。
て、ファイバ端郁がシリンダレンズとして作用しひいて
は強度の最大値がファイバの中心に形成されるように照
明し、各ファイバ端部の像のための強度分布を別個に求
め、強度分布からその都度のファイバ長手軸線の位置と
2つのファイバ端部の互いの横方向のずれとを検出し、
これに基づいて、ファイバ端部のアライメントを事後調
整を行うことにより解決される。
本発明は更に前述の方法を実施する装置に関しており、
請求項2lに記載のこの装置においては、白色光をファ
イバ端部に指向する照明装置を設け、ファイバ端部の長
子軸線に対して横断する方向に列毎の走査を行う走査装
置を設け、各ファイバ端部に対して別個に少なくとも1
つの強度分布を記憶しているメモリ装置を設け、強度分
布の比較を行う、表示装置及び/又は演算装置を有する
メモリ装置を設ける。
請求項2lに記載のこの装置においては、白色光をファ
イバ端部に指向する照明装置を設け、ファイバ端部の長
子軸線に対して横断する方向に列毎の走査を行う走査装
置を設け、各ファイバ端部に対して別個に少なくとも1
つの強度分布を記憶しているメモリ装置を設け、強度分
布の比較を行う、表示装置及び/又は演算装置を有する
メモリ装置を設ける。
発明の効果
ファイバ端部をシリンダレンズとして使用することによ
り、僅かにしかコントラストを形戊しないファイバコア
をサーチし結像することは必要でなくなる。特別の紫外
線も必要でない。
り、僅かにしかコントラストを形戊しないファイバコア
をサーチし結像することは必要でなくなる。特別の紫外
線も必要でない。
2つの強度分布は比較的正確にファイバ長手軸線の位置
を表す。
を表す。
その他の実施例はその他の請求項に記載されている。
実施例
第1図において、例えば溶接により互いに接合されるべ
き2つの光導波体LW1、LW2が示されている。端部
領域においては光導波体のコーティングは除去されてお
り、裸のファイバ端部FE1、FE2が、(例えばマニ
ピュレー夕等の)公知の形式の対応する保持装置HRI
及びHR2の中で保持されている。これらの保持装置H
RI及びHR2は共通の基板GPの上に装着され、少な
くとも1つの保持装着(本例においてはHR2)は、対
応する操作素子CTUにより制御線SMXを介して少な
くとも1つの方向、即ちファイバ長手軸線方向に対して
横断方向にシフト可能に形戊されている。
き2つの光導波体LW1、LW2が示されている。端部
領域においては光導波体のコーティングは除去されてお
り、裸のファイバ端部FE1、FE2が、(例えばマニ
ピュレー夕等の)公知の形式の対応する保持装置HRI
及びHR2の中で保持されている。これらの保持装置H
RI及びHR2は共通の基板GPの上に装着され、少な
くとも1つの保持装着(本例においてはHR2)は、対
応する操作素子CTUにより制御線SMXを介して少な
くとも1つの方向、即ちファイバ長手軸線方向に対して
横断方向にシフト可能に形戊されている。
本例においては、すべての3つの方向、即ちX(横断方
向)及びy(上方へ又は下方へ)及びZ (ファイバ長
手方向)において運動が可能であると仮定されている。
向)及びy(上方へ又は下方へ)及びZ (ファイバ長
手方向)において運動が可能であると仮定されている。
(例えばハロゲンランプ又は発光ダイオード又はレーザ
ー等の)白色光を有する光源LQを介してレンズLSI
により光束LEはファイバ端部FE1.FE2に指向さ
れ、これらのファイバ端部FEI及びFE2により光束
LEの影が発生する。後続のレンズLS2によりファイ
バ端部FEI及びFE2の影SFI及びSF2は、それ
ぞれファイバ長手軸線方向に対して横断方向即ちX方向
)に行毎に走査される1つの面の上に又は画像平面の内
に投影される。この走査動作は、X方向における全装置
の対称線に対応しファイバ端部FEl及びFE2の端面
の正確な目標値継目個所をマーキングする線SBに対し
てそれぞれ平行に走行する概念的に矢印SCl及びSC
2により示されている。矢印SCI及びSC2に対応す
る行毎の走査はインクリメント的に半径方向(即ちX方
向)で行われ、従って走査装置SCDによりファイバ端
部FEI及びFE2のそれぞれに対してX方向における
強度分布が得られる。
ー等の)白色光を有する光源LQを介してレンズLSI
により光束LEはファイバ端部FE1.FE2に指向さ
れ、これらのファイバ端部FEI及びFE2により光束
LEの影が発生する。後続のレンズLS2によりファイ
バ端部FEI及びFE2の影SFI及びSF2は、それ
ぞれファイバ長手軸線方向に対して横断方向即ちX方向
)に行毎に走査される1つの面の上に又は画像平面の内
に投影される。この走査動作は、X方向における全装置
の対称線に対応しファイバ端部FEl及びFE2の端面
の正確な目標値継目個所をマーキングする線SBに対し
てそれぞれ平行に走行する概念的に矢印SCl及びSC
2により示されている。矢印SCI及びSC2に対応す
る行毎の走査はインクリメント的に半径方向(即ちX方
向)で行われ、従って走査装置SCDによりファイバ端
部FEI及びFE2のそれぞれに対してX方向における
強度分布が得られる。
好適6こは、ファイバ分離個所の直接の近傍に、即ちS
FI及びSF2の端面側端部において走査される。これ
により、光学装置における歪及び/又は保持装置HRI
及びHR2の領域における溝の中又はファイバ上の汚物
による角度誤差による誤位置調整が回避される。
FI及びSF2の端面側端部において走査される。これ
により、光学装置における歪及び/又は保持装置HRI
及びHR2の領域における溝の中又はファイバ上の汚物
による角度誤差による誤位置調整が回避される。
種々の2位置における多重の走査及び後続の平均値形成
は、(例えば汚物等の局所的な欠陥等の)光学的障害及
び/又は電気的障害量をより良好に抑圧するために用い
ることができる。
は、(例えば汚物等の局所的な欠陥等の)光学的障害及
び/又は電気的障害量をより良好に抑圧するために用い
ることができる。
一定の2と後続の平均値形或を伴う多重走査は電気的障
害量を抑圧し、従って前述の場合と同様に有効であると
見なすことができる。いずれにしても各影像SFI及び
SF2に対してX方向における少なくとも1つの走査動
作が必要である。
害量を抑圧し、従って前述の場合と同様に有効であると
見なすことができる。いずれにしても各影像SFI及び
SF2に対してX方向における少なくとも1つの走査動
作が必要である。
評価及び計算装置COMを介して、線SLI及びSL2
を介して伝送される別個の強度情報を矢印SCl及びS
C2に対応して分離して互いに結合することができ、対
応する表示装置DPLへの表示もその際に可能である。
を介して伝送される別個の強度情報を矢印SCl及びS
C2に対応して分離して互いに結合することができ、対
応する表示装置DPLへの表示もその際に可能である。
略示されているように、2つの強度分布IVI及びIV
2はX方向において、位置調整誤差に対応し位置調整動
作の終了時に即ちファイバ端部FEI及びFE2の溶接
部の僅か前で零になされるべきずれdxを有する。
2はX方向において、位置調整誤差に対応し位置調整動
作の終了時に即ちファイバ端部FEI及びFE2の溶接
部の僅か前で零になされるべきずれdxを有する。
強度分布を次に曲線IVIを用いて詳しく説明する。影
領域SFIの外部(即ちファイバ端部FEIの直径領域
Dの外側)では強度IVIは高い、何故ならばこの場合
には光源LQの光がまったく阻止されずに伝播すること
ができるからである。影像SFIの外側端縁に到達する
と、強度分布は非常に強く、というより比較的突然に低
下する。影により覆われる全領域Dにわたりしかし強度
IVIは一定ではなく、強度IVIはこの影領域の中央
で最大値に達する、何故ならば裸の(即ちきれいにコー
ティングが剥離されている)ファイバ端部FEIはシリ
ンダレンズとして作用するからである。影像SFlの他
方の端縁に対して対称に再び強度IVIの低下が発生し
、影像SFIを去る際に強度IVlは再び突然に元の値
に上昇する。Dの領域の中の最大値IVMIは従って正
確にファイバ端部FEIの中心軸線又は長手力向軸線に
対応する。従って強度曲線IVIの最大値IVMIの評
価により、ファイバ端部SFIの長手方向軸線の位置を
検出することができる。同様の方法で、影像SF2から
の強度曲線IV2の最大値IVM2はファイバ端部FE
2の長手方向軸線の位置を決め、2つの最大値IVMI
とIVM2との相互のずれは、X方向における2つのフ
ァイバ端部FEIとFE2との長手方向軸線のずれdx
に比例する。従ってファイバ端部のうちの1つ例えばF
E2のシフトだけを、長手方向軸線のずれdが零になる
まで行えばよい、何故ならばdが零になるとファイバ端
部が、測定される平面において正確にアライメントされ
るからである。このアライメントは操作員により、2つ
の強度分布IVI及びIV2の観察に基づいて表示機器
DPLで行うこともできるが自動的に計算機COMにお
いて差dを形成し、制御機器CTUを介して保持装置H
R2を作動するための制御信号を導出することによって
も行うことができる。
領域SFIの外部(即ちファイバ端部FEIの直径領域
Dの外側)では強度IVIは高い、何故ならばこの場合
には光源LQの光がまったく阻止されずに伝播すること
ができるからである。影像SFIの外側端縁に到達する
と、強度分布は非常に強く、というより比較的突然に低
下する。影により覆われる全領域Dにわたりしかし強度
IVIは一定ではなく、強度IVIはこの影領域の中央
で最大値に達する、何故ならば裸の(即ちきれいにコー
ティングが剥離されている)ファイバ端部FEIはシリ
ンダレンズとして作用するからである。影像SFlの他
方の端縁に対して対称に再び強度IVIの低下が発生し
、影像SFIを去る際に強度IVlは再び突然に元の値
に上昇する。Dの領域の中の最大値IVMIは従って正
確にファイバ端部FEIの中心軸線又は長手力向軸線に
対応する。従って強度曲線IVIの最大値IVMIの評
価により、ファイバ端部SFIの長手方向軸線の位置を
検出することができる。同様の方法で、影像SF2から
の強度曲線IV2の最大値IVM2はファイバ端部FE
2の長手方向軸線の位置を決め、2つの最大値IVMI
とIVM2との相互のずれは、X方向における2つのフ
ァイバ端部FEIとFE2との長手方向軸線のずれdx
に比例する。従ってファイバ端部のうちの1つ例えばF
E2のシフトだけを、長手方向軸線のずれdが零になる
まで行えばよい、何故ならばdが零になるとファイバ端
部が、測定される平面において正確にアライメントされ
るからである。このアライメントは操作員により、2つ
の強度分布IVI及びIV2の観察に基づいて表示機器
DPLで行うこともできるが自動的に計算機COMにお
いて差dを形成し、制御機器CTUを介して保持装置H
R2を作動するための制御信号を導出することによって
も行うことができる。
本例における走査装置SCDは、本方法の順序をより明
瞭にするために略示されていることを指摘しておく。評
価が詳細にはどのように行われるかは第9図ないし第1
1図を用いて詳しく説明する。
瞭にするために略示されていることを指摘しておく。評
価が詳細にはどのように行われるかは第9図ないし第1
1図を用いて詳しく説明する。
強度分布IVI及びIV2の相互相関を有利には、後に
詳述する方法で計算機においてとりその際に、制WII
器CTUを介してX方向における保持装置HR2のシ7
トを、dxが零になるまで行う操作信号が発生される。
詳述する方法で計算機においてとりその際に、制WII
器CTUを介してX方向における保持装置HR2のシ7
トを、dxが零になるまで行う操作信号が発生される。
y方向におけるシフトも必要であり2次元の補償を行う
べき場合には、第2図の実施例に対応して行うことがで
きる。この場合、光源及び評価回路は二重に設けられて
おり(光源LQ及* びLQ)、同様に評価側における影像SFI木
木 SF2及びSFI 及びSF2 のための対* 応する走査装置SCD及びSCD も二重に設けられ
ている。これに対応して、互いに垂直に位置する2つの
レベル面の信号の評価は、C○MX及びCOMYにより
示されている別個の計算装置において行われる。
べき場合には、第2図の実施例に対応して行うことがで
きる。この場合、光源及び評価回路は二重に設けられて
おり(光源LQ及* びLQ)、同様に評価側における影像SFI木
木 SF2及びSFI 及びSF2 のための対* 応する走査装置SCD及びSCD も二重に設けられ
ている。これに対応して、互いに垂直に位置する2つの
レベル面の信号の評価は、C○MX及びCOMYにより
示されている別個の計算装置において行われる。
対応する制御線SMX及びSMYを介して保持装置HR
2はX方向又はy方向に、ファイバ端部FEI及びFE
2のアライメントが双方の面内で得られるまでシフトさ
れる。
2はX方向又はy方向に、ファイバ端部FEI及びFE
2のアライメントが双方の面内で得られるまでシフトさ
れる。
2つの光源及び2つの装置(ビデオカメラ)が必要とな
ることを回避するためには、場合に応じては基板GPを
90°回動可能に形或し、このようにして先ず例えば光
源LQと走査装置SCDとにより図示の方法でX方向に
おけるずれを検出し、この方向でのアライメント(即ち
dx−0)が得られたならば基板GPをファイバ端部F
EI及びFE2と一緒に90’上方へ向かって傾斜する
ことでも十分である。この場合に位置調整装置PEは、
光源LQによりy方向(即ちdy)における横断方向の
ずれが検出されるように位置付ける。次いでこの方向に
おける補償が行われ、従ってこのずれも同様に零にされ
る。
ることを回避するためには、場合に応じては基板GPを
90°回動可能に形或し、このようにして先ず例えば光
源LQと走査装置SCDとにより図示の方法でX方向に
おけるずれを検出し、この方向でのアライメント(即ち
dx−0)が得られたならば基板GPをファイバ端部F
EI及びFE2と一緒に90’上方へ向かって傾斜する
ことでも十分である。この場合に位置調整装置PEは、
光源LQによりy方向(即ちdy)における横断方向の
ずれが検出されるように位置付ける。次いでこの方向に
おける補償が行われ、従ってこのずれも同様に零にされ
る。
操作員は、ファイバ端部FEI及びFE2の挿入した直
接後にこれらを、約1+amの間隔で線SBに対して対
称に位置する、スクリーン画面の2つの線を用いて2方
向に粗に位置調整し、端面の間に間隙がないようにする
。次いで双方の半部においてずれdxが検出され、ほぼ
補償調整される。次いで、第12図に略線図で示されて
いるように、矢印SCl2によりZ方向における1つの
行が読出され、強度分布IVZが走査装置SCDにより
検出され、その際に列領域dzにiノいて、はっきりし
た最大値が発生する。これからファイバ端部FE1、F
E2の端面の間の列の正確な位置及び大きさが検出され
る。場合に応じてこの場合に再び、長手軸線LAl及び
LA2に対して横方向に所定間隔で位置する2つの列が
標本化され、このようにしてX方向における微細な位置
調整をこれら2つの列の強度分布から行うことができる
。
接後にこれらを、約1+amの間隔で線SBに対して対
称に位置する、スクリーン画面の2つの線を用いて2方
向に粗に位置調整し、端面の間に間隙がないようにする
。次いで双方の半部においてずれdxが検出され、ほぼ
補償調整される。次いで、第12図に略線図で示されて
いるように、矢印SCl2によりZ方向における1つの
行が読出され、強度分布IVZが走査装置SCDにより
検出され、その際に列領域dzにiノいて、はっきりし
た最大値が発生する。これからファイバ端部FE1、F
E2の端面の間の列の正確な位置及び大きさが検出され
る。場合に応じてこの場合に再び、長手軸線LAl及び
LA2に対して横方向に所定間隔で位置する2つの列が
標本化され、このようにしてX方向における微細な位置
調整をこれら2つの列の強度分布から行うことができる
。
第1図においては、ファイバ端部FEI及びFE2の輪
郭の影像SFI及びSF2が走査され、評価に用いられ
るのに対して、シリンダレンズとして作動するファイバ
端部により形成される、反射光の画像を評価のために用
いることも可能である。これら2つの方法が第3図に略
示されおり、この図はファイバ長手軸線力向から見たも
のである。実線により示されている光束LHは影像の評
価に対応する(第1図を参照)、何故ならばこの図では
光はファイバ端部FEl及びFE2を透過し、走査装置
SCDにより走査面に入射するからである。
郭の影像SFI及びSF2が走査され、評価に用いられ
るのに対して、シリンダレンズとして作動するファイバ
端部により形成される、反射光の画像を評価のために用
いることも可能である。これら2つの方法が第3図に略
示されおり、この図はファイバ長手軸線力向から見たも
のである。実線により示されている光束LHは影像の評
価に対応する(第1図を参照)、何故ならばこの図では
光はファイバ端部FEl及びFE2を透過し、走査装置
SCDにより走査面に入射するからである。
これに対して、破線により示されている光或分は、ファ
イバ端部FEI及びFE2における光反射に起因し、こ
の光戊分は、第1図の走査装置SCDと同様の働きをす
る評価装置SCDRにレンズLSR2を介して導かれる
。その他の点では、強度分布の引続いての評価は第1図
の装置と同様に行うことができる。
イバ端部FEI及びFE2における光反射に起因し、こ
の光戊分は、第1図の走査装置SCDと同様の働きをす
る評価装置SCDRにレンズLSR2を介して導かれる
。その他の点では、強度分布の引続いての評価は第1図
の装置と同様に行うことができる。
ファイバ端部により形成されているガラスシリンダに光
がどのように到達しようとも、反射光は最大強度を有し
なければならず、この最大強度の反射光は円弧状部分に
おいて反射される。相応する光学装置が、強く分散した
反射光を集束する。散乱光戊分は、結像するセンサの上
のファイバ軸線の方向においてそれが不均一の強度分布
となると、障害となる。
がどのように到達しようとも、反射光は最大強度を有し
なければならず、この最大強度の反射光は円弧状部分に
おいて反射される。相応する光学装置が、強く分散した
反射光を集束する。散乱光戊分は、結像するセンサの上
のファイバ軸線の方向においてそれが不均一の強度分布
となると、障害となる。
第1図を用いて説明したように、自動化された作動に対
してと、ファイバ端部FEI及びFE2の自動アライメ
ントに対して、長手軸線の間の差dを検出し、これから
操作量を導出することが課題となる。これに関する詳細
を第4図及び第7図を用いて説明する。これらの図にお
いては最大値IVMI及びIVM2の両側に位置する強
度領域IVI及びIV2、即ちシリンダレンズとしての
光ファイバの機能により惹起される領域のみが示されて
いる。後に詳細に説明するように、対応するデジタル化
されたメモリに、第1図の矢印SCIないしSC2に対
応する1つ又は複数の走査動作から1−0ないしi=N
−1の固定保持されているN個の標本値が格納されてい
る。ファイバ端部PEI及びFE2を通過する光により
発生される高い横方向の肩状部の抑圧は簡単に、第Iの
急峻な側縁立下りが生じた後の値をはじめて通過させそ
れから第2の側縁立上り後に発生する値が再び抑圧され
るようにすることにより行われる。ファイバ端部におけ
る急峻な立上り又は立下りを直接に誤差指示の決定のた
めに用いることも可能である。このような急峻な側縁は
、IVMI及びIVM2におけるように最大値として簡
単に検出することができる。
してと、ファイバ端部FEI及びFE2の自動アライメ
ントに対して、長手軸線の間の差dを検出し、これから
操作量を導出することが課題となる。これに関する詳細
を第4図及び第7図を用いて説明する。これらの図にお
いては最大値IVMI及びIVM2の両側に位置する強
度領域IVI及びIV2、即ちシリンダレンズとしての
光ファイバの機能により惹起される領域のみが示されて
いる。後に詳細に説明するように、対応するデジタル化
されたメモリに、第1図の矢印SCIないしSC2に対
応する1つ又は複数の走査動作から1−0ないしi=N
−1の固定保持されているN個の標本値が格納されてい
る。ファイバ端部PEI及びFE2を通過する光により
発生される高い横方向の肩状部の抑圧は簡単に、第Iの
急峻な側縁立下りが生じた後の値をはじめて通過させそ
れから第2の側縁立上り後に発生する値が再び抑圧され
るようにすることにより行われる。ファイバ端部におけ
る急峻な立上り又は立下りを直接に誤差指示の決定のた
めに用いることも可能である。このような急峻な側縁は
、IVMI及びIVM2におけるように最大値として簡
単に検出することができる。
ファイバ端部をその外径によって位置決めする場合にフ
ァイバ画像の上端縁及び下端縁における画素の情報のみ
を用いる場合、これらの個所における汚物又はファイバ
破断等は調整回路において障害量のように作用する。一
般に、これらは、ビデオ画像の評価において電気ノイズ
と重なり、従ってビデオ画像の中の誤り個所の強度及び
大きさに依存して誤位置調整ひいては場合によってはよ
り高い接続減衰を招く。
ァイバ画像の上端縁及び下端縁における画素の情報のみ
を用いる場合、これらの個所における汚物又はファイバ
破断等は調整回路において障害量のように作用する。一
般に、これらは、ビデオ画像の評価において電気ノイズ
と重なり、従ってビデオ画像の中の誤り個所の強度及び
大きさに依存して誤位置調整ひいては場合によってはよ
り高い接続減衰を招く。
相互相関関数を計算するために側縁も用いる場合、ファ
イバ表面における障害の除去の下にdxの検出の際に精
度を高めることさえも可能である。しかし測定値の数を
増加すると、計算時間が部分的には著しく長くなる。
イバ表面における障害の除去の下にdxの検出の際に精
度を高めることさえも可能である。しかし測定値の数を
増加すると、計算時間が部分的には著しく長くなる。
第4図及び第5図の(量子化された)最大値IVMI及
びIVM2の間隔は3列幅(標本化ステップ)である。
びIVM2の間隔は3列幅(標本化ステップ)である。
これらの値により、近似されたアライメントを行うこと
ができる。相互相関により精度を著しく高めることがで
きる。
ができる。相互相関により精度を著しく高めることがで
きる。
ファイバ影SFI及びSF2のIVMI(第4図)及び
lVM2(第5図)の強度分布の離教li!(列要素)
は相互相関関数(KKF)fこかけられ、このようにし
て Ivt (i)及びIV2 (i)のKKF(n)を形
或する。但しNは列要素数、nは第n#目の値(第6図
の例においてはn=−4・・・・・・+10)である。
lVM2(第5図)の強度分布の離教li!(列要素)
は相互相関関数(KKF)fこかけられ、このようにし
て Ivt (i)及びIV2 (i)のKKF(n)を形
或する。但しNは列要素数、nは第n#目の値(第6図
の例においてはn=−4・・・・・・+10)である。
ファイバ端部FEI及びFE2の軸線の間の半径方向の
ずれdxに対するN列要素においては式 dx=n [Max(KK.F (n) ) ]
(1)が或立する。
ずれdxに対するN列要素においては式 dx=n [Max(KK.F (n) ) ]
(1)が或立する。
この例においてn Max(KKF (n))は関数
KKF (n)が最大となる第3の値である。
KKF (n)が最大となる第3の値である。
Max(KKF (n))は相互相関関数の最大値であ
り、n [Max(K.KF (n) ) ]は、所属
の個所の最大値である。IVI (i)及び■V2 (
i)の相互相関関数KKF (n)は式N−1 KKF(n)−TΣlV1(i)本IV2(n十i)!
・0 により決まる。但しTは2つの隣接する強度値の間隔で
ある。実際の上で重要なのは、離散関数KKF (n)
を(例えば多項式補間等の)関数的従属性により近似す
ることである、何故ならば2つの強度値の間隔によるd
xの分解能は制限されるからである。KKFが関数的従
属性を有すると式 dx=n [Max (KKF) ]
(3)が或立する。計算されたずれdxはマイクロコン
ピュータCPUにより公知の方法で、ファイバ保持部材
FHIにおける操作素子SGIを制御するだめの適当な
信号に変換される。例えば操作素子のヒステリシス、反
転遊び等障害量は、最適位置への逐次的到達法により最
小化することができる。
り、n [Max(K.KF (n) ) ]は、所属
の個所の最大値である。IVI (i)及び■V2 (
i)の相互相関関数KKF (n)は式N−1 KKF(n)−TΣlV1(i)本IV2(n十i)!
・0 により決まる。但しTは2つの隣接する強度値の間隔で
ある。実際の上で重要なのは、離散関数KKF (n)
を(例えば多項式補間等の)関数的従属性により近似す
ることである、何故ならば2つの強度値の間隔によるd
xの分解能は制限されるからである。KKFが関数的従
属性を有すると式 dx=n [Max (KKF) ]
(3)が或立する。計算されたずれdxはマイクロコン
ピュータCPUにより公知の方法で、ファイバ保持部材
FHIにおける操作素子SGIを制御するだめの適当な
信号に変換される。例えば操作素子のヒステリシス、反
転遊び等障害量は、最適位置への逐次的到達法により最
小化することができる。
相互相関関数KKF (n)が、N=8での上記の例に
対して第6図に示されており、この場合に、第4図及び
第5図のそれぞれの横軸の下に記載されているように、
』により列数(絶対値)が示されている、即ちこの値は
、画像端縁の一端における第1図のSCI及びSC2に
対応する走査動作から開始して他端まで走行するインク
リメントステッグでの計数により得られる。本例におい
ては、検出された全領域が列番号42と56との間に位
置し、これに対して相互相関関数のために列番号44な
いし52が用いられる(N−8)と仮定されている。第
4図及び第5図から分かるようにdxは、2つの最大値
IVMIとIVM2との間の間隔である。
対して第6図に示されており、この場合に、第4図及び
第5図のそれぞれの横軸の下に記載されているように、
』により列数(絶対値)が示されている、即ちこの値は
、画像端縁の一端における第1図のSCI及びSC2に
対応する走査動作から開始して他端まで走行するインク
リメントステッグでの計数により得られる。本例におい
ては、検出された全領域が列番号42と56との間に位
置し、これに対して相互相関関数のために列番号44な
いし52が用いられる(N−8)と仮定されている。第
4図及び第5図から分かるようにdxは、2つの最大値
IVMIとIVM2との間の間隔である。
第7図はKKF (n)の関数的従属性KKFとその最
大値が示されている。補償すべき横方向ずれdxは本例
においては約 3.4(T−1を有する相対単位)。好
適には、値間隔Tによりdxの分解能は制限されるため
に、離散相互相関関数KKF (n)は関数的従属性K
KFにより近似される。本例においては、広く使用され
ている最小自乗法により行うことが提案される。これは
形式的には式 φ”arctan一 が成立する。但しd一は、順次に続く列SPlとSP2
との間の間隔から得られるずれであるn=Q を、Pが最小となるように解くことを意味するこれから
KKFはKKF (n)から一義的に求めることができ
る。(KKF (n)は、値n対して計算された関数K
KFである)。
大値が示されている。補償すべき横方向ずれdxは本例
においては約 3.4(T−1を有する相対単位)。好
適には、値間隔Tによりdxの分解能は制限されるため
に、離散相互相関関数KKF (n)は関数的従属性K
KFにより近似される。本例においては、広く使用され
ている最小自乗法により行うことが提案される。これは
形式的には式 φ”arctan一 が成立する。但しd一は、順次に続く列SPlとSP2
との間の間隔から得られるずれであるn=Q を、Pが最小となるように解くことを意味するこれから
KKFはKKF (n)から一義的に求めることができ
る。(KKF (n)は、値n対して計算された関数K
KFである)。
第8図は2つのファイバ端部FEI及びFE2を大きく
拡大して示しており、これらは付加的に、それらの長手
軸線LAIとLA2の間に角度誤差を有する。ファイバ
端部FEIにおいて(又はその影において)、(第2図
の矢印SClに対応して)2つの走査を間隔aで行う場
合、2つの列SPI及びSP2と角度誤差〆に対して式 値〆が、例えばImax等の固定値を越えると、位置調
整動作が誤り通報により中断され、同様に接合動作も中
断される。この場合に少なくとも1つのファイバを新し
く嵌込まなくてはならない。
拡大して示しており、これらは付加的に、それらの長手
軸線LAIとLA2の間に角度誤差を有する。ファイバ
端部FEIにおいて(又はその影において)、(第2図
の矢印SClに対応して)2つの走査を間隔aで行う場
合、2つの列SPI及びSP2と角度誤差〆に対して式 値〆が、例えばImax等の固定値を越えると、位置調
整動作が誤り通報により中断され、同様に接合動作も中
断される。この場合に少なくとも1つのファイバを新し
く嵌込まなくてはならない。
第9図の装置は、種々の制御素子及び評価素子のブロッ
ク回路図により第1図の構戊を簡単かつ概念的に示して
いる。基板GPの下方に開口部OPの領域の中にビデオ
カメラVCが設けられ、このビデオカメラVCは、破線
により示されているように(第1図の矢印SCI及びS
C2に対応して)X方向に、ビデオカメラVCに到来す
る画像を行毎に走査化し、その際に、第1O図に時間(
に依存して示されているようにアナログビデオ信号UV
が発生する。
ク回路図により第1図の構戊を簡単かつ概念的に示して
いる。基板GPの下方に開口部OPの領域の中にビデオ
カメラVCが設けられ、このビデオカメラVCは、破線
により示されているように(第1図の矢印SCI及びS
C2に対応して)X方向に、ビデオカメラVCに到来す
る画像を行毎に走査化し、その際に、第1O図に時間(
に依存して示されているようにアナログビデオ信号UV
が発生する。
第11図は、通常のようにフィールドの順次の走査を示
し、実線は第1の7イールドを、点線は第2のフィール
ドを示す。この走査動作によりアナログ信号UVが第1
0図に相応して発生し、凹部HB1、HB2,HB3は
それぞれフィールドの1つの行の端部をマーキングして
いる。第10図の右側部分に示されているように、この
ようにして得られたアナログ信号からサンプルホールド
回路により個々の標本値が(第4図又は第5図の量子化
した値に対応して)得られる。このようにして得られた
UVのアナログサンプル信号はA/D変換器ADWに供
給され、デジタル化されたビデオ信号UVDの個々の標
本値は、(第4図及び第5図の量子化された値に対応し
て)、順次にRAMメモリRMSに書込まれる。メモリ
RMSは、デジタル化されたビデオ信号のデータを第4
図及び第5図の標本値に対応して記憶しているRAMで
ある。
し、実線は第1の7イールドを、点線は第2のフィール
ドを示す。この走査動作によりアナログ信号UVが第1
0図に相応して発生し、凹部HB1、HB2,HB3は
それぞれフィールドの1つの行の端部をマーキングして
いる。第10図の右側部分に示されているように、この
ようにして得られたアナログ信号からサンプルホールド
回路により個々の標本値が(第4図又は第5図の量子化
した値に対応して)得られる。このようにして得られた
UVのアナログサンプル信号はA/D変換器ADWに供
給され、デジタル化されたビデオ信号UVDの個々の標
本値は、(第4図及び第5図の量子化された値に対応し
て)、順次にRAMメモリRMSに書込まれる。メモリ
RMSは、デジタル化されたビデオ信号のデータを第4
図及び第5図の標本値に対応して記憶しているRAMで
ある。
メモリRMSは評価装置のマイクロコンビュータCPU
と接続されており、マイクロコンピュータCPUは、測
定動作を命令形式で記憶している、即ちプログラムシー
ケンス全体を制御しデータを評価するプログラムを格納
しているEFROMにより制御される。このプログラム
は、順次の接合動作におけるすべての走査動作に対して
常に同一である。
と接続されており、マイクロコンピュータCPUは、測
定動作を命令形式で記憶している、即ちプログラムシー
ケンス全体を制御しデータを評価するプログラムを格納
しているEFROMにより制御される。このプログラム
は、順次の接合動作におけるすべての走査動作に対して
常に同一である。
演算及び制御ユニット即ちマイクロコンピュータCPU
は全動作をスタートし、標本化される個々の列の番号(
j)を順次に同期及び制御論理装置SCLに出力する。
は全動作をスタートし、標本化される個々の列の番号(
j)を順次に同期及び制御論理装置SCLに出力する。
この同期及び制御論理装置SCLはA/D変換器を走査
動作の開始時にスタートし、ビデオカメラにおける実際
の走査動作の開始もスタートする。このようにして列毎
にX方向における標本値がメモリRMSに書込まれ、走
査動作の後即第4図及び第5図の双方の関数のデジタル
化された値が得られると、次いで相互相関が第6図又は
第7図に対応してマイクロコンピュータCPUにおいて
行われる。この結果に基づいてマイクロコンビュ一タC
PUは保持装置HR2を、可及的正確なアライメント(
dx−0)を得るという指示の下に制御する。
動作の開始時にスタートし、ビデオカメラにおける実際
の走査動作の開始もスタートする。このようにして列毎
にX方向における標本値がメモリRMSに書込まれ、走
査動作の後即第4図及び第5図の双方の関数のデジタル
化された値が得られると、次いで相互相関が第6図又は
第7図に対応してマイクロコンピュータCPUにおいて
行われる。この結果に基づいてマイクロコンビュ一タC
PUは保持装置HR2を、可及的正確なアライメント(
dx−0)を得るという指示の下に制御する。
走査の際に発生するフィールド(第11図参照)はその
際に奇数の行のみであり、これに対して第2のフィール
ドは偶数の行を再生している。行の数は規格化されてお
り(CG I TT又はNTSC)、lつの行の情報は
それぞれnの列に分配さ,・れる、即ち画像情報はnの
行及びjの列を有するマトリクスとして示される。nの
列を有するただ1つの行の結果が第4図及び第5図に示
されている。第4図及び第5図に示されている標本値の
それぞれは従って、面全体の中の大きさ0.00 1+
mmXO.oo lmmjこ狭く制限されている。所定
の部分面における強度値を表す。
際に奇数の行のみであり、これに対して第2のフィール
ドは偶数の行を再生している。行の数は規格化されてお
り(CG I TT又はNTSC)、lつの行の情報は
それぞれnの列に分配さ,・れる、即ち画像情報はnの
行及びjの列を有するマトリクスとして示される。nの
列を有するただ1つの行の結果が第4図及び第5図に示
されている。第4図及び第5図に示されている標本値の
それぞれは従って、面全体の中の大きさ0.00 1+
mmXO.oo lmmjこ狭く制限されている。所定
の部分面における強度値を表す。
マイクロコンピュータCPUは、デジタル化する行又は
列を求め、同期及び制御論理装ItSCLに、行デジタ
ル化されるのか列がデジタル化されるのかを伝達する。
列を求め、同期及び制御論理装ItSCLに、行デジタ
ル化されるのか列がデジタル化されるのかを伝達する。
同期及び制御論理装置SCLは更に、第1のフィールド
がデジタル化されるのか第2の7ィールドがデジタル化
されるのかを伝達し、同期及び制御論理装置SCLは更
にそれぞれの行又は列の番号を伝達する同期及び制御論
理装置SCLは次いで適当な時点で』列又はn行をスタ
ートし、更にA/D変換動作をスタートする。行又は列
のデジタル化された値はこの後、即ち測定動作の終了時
にメモリRMSに記憶され、マイクロコンピュータSP
Uにより対応して第6図及び第7図1こ対応する相互相
関関数に従って評価される。
がデジタル化されるのか第2の7ィールドがデジタル化
されるのかを伝達し、同期及び制御論理装置SCLは更
にそれぞれの行又は列の番号を伝達する同期及び制御論
理装置SCLは次いで適当な時点で』列又はn行をスタ
ートし、更にA/D変換動作をスタートする。行又は列
のデジタル化された値はこの後、即ち測定動作の終了時
にメモリRMSに記憶され、マイクロコンピュータSP
Uにより対応して第6図及び第7図1こ対応する相互相
関関数に従って評価される。
調整素子におけるヒステリシス、反転遊び等の障害量を
位置調整動作の繰返しにより、最適のファイバ位置に逐
次に到達して最小化すると好適である。
位置調整動作の繰返しにより、最適のファイバ位置に逐
次に到達して最小化すると好適である。
ビーム反転によりX方向及びy方向におけるファイバ端
部の結像を上下に重ねて画像センサで行うことも可能で
あり、その際にそれぞれ1つの列はX方向におけるそし
て付加的にy方向におけるそれぞれ1つのファイバ端部
の強度分布を含んでいる。これら2つの強度分布は順次
にマイクロコンピュータCPUで、対向して位置するフ
ァイバの対応する強度分布とを相互相関される。
部の結像を上下に重ねて画像センサで行うことも可能で
あり、その際にそれぞれ1つの列はX方向におけるそし
て付加的にy方向におけるそれぞれ1つのファイバ端部
の強度分布を含んでいる。これら2つの強度分布は順次
にマイクロコンピュータCPUで、対向して位置するフ
ァイバの対応する強度分布とを相互相関される。
少なくとも1つの方向におけるファイバ端部FEI及び
FE2のアライメントの後に、有利には溶接工程の形式
の接合工程を行い、接合工程の終了後に走査動作を繰返
し、残存する横方向のずれ、又は角度誤差を 接合の質
を判断するために用い、対応して表示すると好適である
。多重接合機器においては、横方向のずれと、場合に応
じて角度誤差とを各溶接されたファイバ対に対して計算
する。強度分布は好適にはファイバ端部FEI及びFE
2の端面のできるだけ近傍で検出する。
FE2のアライメントの後に、有利には溶接工程の形式
の接合工程を行い、接合工程の終了後に走査動作を繰返
し、残存する横方向のずれ、又は角度誤差を 接合の質
を判断するために用い、対応して表示すると好適である
。多重接合機器においては、横方向のずれと、場合に応
じて角度誤差とを各溶接されたファイバ対に対して計算
する。強度分布は好適にはファイバ端部FEI及びFE
2の端面のできるだけ近傍で検出する。
多くの走査を、ファイバ端部FE1、FE2の長手軸線
LA1、LA2の同一個所(Z=1)における強度分布
を検出するために行うと非常に有利である。多くの走査
を、ファイバ端部FED,FE2の長手軸線LA1、L
A2の種々の個所(zは一定でない)における強度分布
を検出するために行うことも可能である。
LA1、LA2の同一個所(Z=1)における強度分布
を検出するために行うと非常に有利である。多くの走査
を、ファイバ端部FED,FE2の長手軸線LA1、L
A2の種々の個所(zは一定でない)における強度分布
を検出するために行うことも可能である。
第1図は本発明の方法を実施する装置の基本構造を部分
的に斜視図で示す概念図、第2図は2つのレベル面にお
いてファイバ端部のアライメントを行うために用いる第
1図の装置の変形を部分的に斜視図で示す概念図、第3
図は透過光及び反射光の伝搬装置を示す概念図、第4図
及び第5図は2つのファイバ端部の2つの強度分布を示
す線図、第6図は対応する相互相関関数の線図、第7図
は相互相関関数の被変数関数及び対応する最大値を示す
線図、第8図はファイバ端部のアライメントにおける角
度誤差を求める方法を示す側面図、第9図は本発明の方
法を実施するのに適する評価装置の構或のブロック回路
図が補足されている概念図、第10図はアナログ及び標
本化された信号列のビデオ信号の変化を示す線図、第1
1図はファイバ端部の列毎の走査におけるフィールドの
分布を示す線図、第12図はファイバ長手軸線の方向に
おける走査の概略図である。 ADW・・・A/D変換器、CPU・・・マイクロコン
ピュータ、FE1、FE2・・・ファイバ端部、FHI
・・・ファイバ保持部材、GP・・・基板、HB1,H
B2,HB3・・・凹部、HR1、HR2・・・保持装
置、I VM I , I VM2−・・最大値、L
A1,LA2・・・長手軸線、L E−・・光束、LS
1、* LS2,LSR2・・・レンズ、LQ,LQ ・・・
光源、LW1、LW2・・・光導波体、OP・・・開口
部R M S ・・− R A M メモリ、S B
・・・線、SC1、SC2,SCI2=−・矢印、SC
D,SCD*SCDR・・・走査装置、SCL・・・制
御論理装置、* * SF1、SF2,SFI ,SF2 −・・影像、
S G l ・・・操作素子、SL1、SL2・・・導
線、SMX,SMY・・・制御線、UV・・・アナログ
ビデオ信号、UVD・・・デジタル化されたビデオ信号
、VC・・・ビデオカメラ
的に斜視図で示す概念図、第2図は2つのレベル面にお
いてファイバ端部のアライメントを行うために用いる第
1図の装置の変形を部分的に斜視図で示す概念図、第3
図は透過光及び反射光の伝搬装置を示す概念図、第4図
及び第5図は2つのファイバ端部の2つの強度分布を示
す線図、第6図は対応する相互相関関数の線図、第7図
は相互相関関数の被変数関数及び対応する最大値を示す
線図、第8図はファイバ端部のアライメントにおける角
度誤差を求める方法を示す側面図、第9図は本発明の方
法を実施するのに適する評価装置の構或のブロック回路
図が補足されている概念図、第10図はアナログ及び標
本化された信号列のビデオ信号の変化を示す線図、第1
1図はファイバ端部の列毎の走査におけるフィールドの
分布を示す線図、第12図はファイバ長手軸線の方向に
おける走査の概略図である。 ADW・・・A/D変換器、CPU・・・マイクロコン
ピュータ、FE1、FE2・・・ファイバ端部、FHI
・・・ファイバ保持部材、GP・・・基板、HB1,H
B2,HB3・・・凹部、HR1、HR2・・・保持装
置、I VM I , I VM2−・・最大値、L
A1,LA2・・・長手軸線、L E−・・光束、LS
1、* LS2,LSR2・・・レンズ、LQ,LQ ・・・
光源、LW1、LW2・・・光導波体、OP・・・開口
部R M S ・・− R A M メモリ、S B
・・・線、SC1、SC2,SCI2=−・矢印、SC
D,SCD*SCDR・・・走査装置、SCL・・・制
御論理装置、* * SF1、SF2,SFI ,SF2 −・・影像、
S G l ・・・操作素子、SL1、SL2・・・導
線、SMX,SMY・・・制御線、UV・・・アナログ
ビデオ信号、UVD・・・デジタル化されたビデオ信号
、VC・・・ビデオカメラ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ファイバ端部を照明し、このようにして発生された
ファイバ端部(FE1、FE2)の像をビデオカメラの
画像センサにより走査する、2つのファイバ端部のアラ
イメント方法において、 ファイバ端部(FE1、FE2)がシリン ダレンズとして作用しひいては強度の最大値がファイバ
の中心に形成されるように照明し各ファイバ端部の像に
対する強度分布を別 個に求め、 強度分布からその都度のファイバ長手軸線 の位置と、2つのファイバ端部の互いの横方向のずれと
を検出し、これに基づいて、ファイバ端部(FE1、F
E2)のアライメントを事後調整を行うことを特徴とす
る2つのファイバ端部のアライメント方法。 2、ファイバ端部(FE1、FE2)を白色光により照
射することを特徴とする請求項1記載の2つのファイバ
端部のアライメント方法。 3、光をファイバ端部(FE1、FE2)を透過させ、 ファイバ端部(FE1、FE2)の影像の 強度を検出し、評価するために用いることを特徴とする
請求項2記載の2つのファイバ端部のアライメント方法
。 4、ファイバ端部の表面から反射された光を評価のため
に用いることを特徴とする請求項1又は2記載の2つの
ファイバ端部のアライメント方法。 5、ファイバ端部(FE1、FE2)の照明をハロゲン
ランプを用いて行うことを特徴とする請求項1から4ま
でのいずれか1項記載の2つのファイバ端部のアライメ
ント方法。 6、ファイバ端部(FE1、FE2)の照明を発光ダイ
オードにより行うことを特徴とする請求項1から4まで
のいずれか1項記載の2つのファイバ端部のアライメン
ト方法。 7、ファイバ端部(FE1、FE2)の照明を半導体レ
ーザーにより行うことを特徴とする請求項1から4まで
のいずれか1項記載の2つのファイバ端部のアライメン
ト方法。 8、各ファイバ端部(FE1、FE2)の像をその長手
軸線(LA1、LA2)を横断する方向に少なくとも1
度だけ行の中で走査し、各行の中で列毎に離散的な強度
分布を求め てメモリ装置に格納し、 このようにして行毎に2つのファイバ端部 (FE1、FE2)に対して得られ列毎に量子化された
強度分布を、2つのファイバ端部(FE1、FE2)を
評価するために別個に準備し、 2つのファイバ端部の強度分布の列毎の位 置における差からアライメントにおける誤差(dx)を
求め、アライメントするために少なくとも1つのファイ
バ端部(例えばFE2)を事後調整することを特徴とす
る請求項1から7までのいずれか1項記載の2つのファ
イバ端部のアライメント方法。 9、2つのファイバ端部(FE1、FE2)から得られ
た別個の2つの強度分布を相互相関にかけることを特徴
とする請求項8記載の2つのファイバ端部のアライメン
ト方法。 10、離散的な相互相関関数を(例えば多項式補間等の
)関数的従属性により近似することを特徴とする請求項
9記載の2つのファイバ端部のアライメント方法。 11、ファイバ長手軸線の方向において互いにずれてい
る2つの列毎の走査を評価することによりファイバ端部
に依存して角度誤差を検出することを特徴とする請求項
1から10までのいずれか1項記載の2つのファイバ端
部のアライメント方法。 12、位置調整素子における例えばヒステリシス、反転
遊び等の障害量を位置調整動作の繰返しにより、最適の
ファイバ位置へ逐次に到達するために最小化することを
特徴とする請求項1から11までのいずれか1項記載の
2つのファイバ端部のアライメント方法。 13、第1の観察レベル面(x)に対して垂直の第2の
測定動作において、第1の観察レベル面(x)に対して
垂直のファイバ端部(FE1、FE2)のアライメント
の評価を行い、第2のレベル面(y)の内でも事後調整
を行うことを特徴とする請求項1から12までのいずれ
か1項記載の2つのファイバ端部のアライメント方法。 14、ビーム方向変換によりx方向及びy方向における
ファイバ端部の像を上下に重ねて画像センサの上で行い
、 それぞれ1つの列が、x方向そして付加的 にy方向におけるそれぞれ1つのファイバ端部の強度分
布を含み、 2つの強度分布を順次に演算ユニットで、 対向して位置するファイバの対応する強度分布と相互相
関することを特徴とする請求項13記載の2つのファイ
バ端部のアライメント方法。 15、少なくとも1つの方向におけるファイバ端部(F
E1、FE2)のアライメントの後に、有利には溶接工
程である接合工程を行い、接合工程の終了後に標本化動
作を繰返し、 残存した横方向のずれ、又は角度誤差を、接合の質を判
断するために用いることを特徴とする請求項1から14
までのいずれか1項記載の2つのファイバ端部のアライ
メント方法。 16、多重接合機器において、横方向のずれと場合に応
じて角度誤差とを、各溶接するファイバ対に対して計算
することを特徴とする請求項15記載の2つのファイバ
端部のアライメント方法。 17、強度分布を、ファイバ端部(FE1、FE2)の
端面のできるだけ近傍で検出することを特徴とする請求
項1から16までのいずれか1項記載の2つのファイバ
端部のアライメント方法。 18、ファイバ端部(FE1、FE2)の長手軸線(L
A1、LA2)の同一個所(z=一定)における強度分
布を検出するために複数の走査を行うことを特徴とする
請求項1から17までのいずれか1項記載の2つのファ
イバ端部のアライメント方法。 19、ファイバ端部(FE1、FE2)の長手軸線(L
A1、LA2)の種々の個所(zは一定ではない)にお
ける強度分布を検出するために複数の走査を行うことを
特徴とする請求項1から17までのいずれか1項記載の
2つのファイバ端部のアライメント方法。 20、ファイバ端部(FE1、FE2)の像の走査をそ
のファイバ長手軸線(LA1、LA2)の方向で行い、 対応する強度分布から列の大きさ(dz) を検出し、 この大きさに基づいて、ファイバ端部(F E1、FE2)の長手方向(z)におけるファイバ端部
(FE1、FE2)の事後調整を行うことを特徴とする
請求項1から19までのいずれか1項記載の2つのファ
イバ端部のアライメント方法。 21、白色光をファイバ端部(FE1、FE2)に指向
する照明装置(LQ)を設け、 ファイバ端部(FE1、FE2)の長手軸 線に対して横断する方向に列毎の走査を行う走査装置を
設け、 各ファイバ端部(FE1、FE2)に対し て別個に少なくとも1つの強度分布を記憶しているメモ
リ装置を設け、 強度分布の比較を行う、表示装置及び/又 は演算装置を有するメモリ装置を設けることを特徴とす
る請求項1から20までのいずれか1項記載の2つのフ
ァイバ端部のアライメント方法を実施する装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3918089 | 1989-06-02 | ||
DE3918089.1 | 1989-06-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0323408A true JPH0323408A (ja) | 1991-01-31 |
JP2977863B2 JP2977863B2 (ja) | 1999-11-15 |
Family
ID=6381976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2141736A Expired - Fee Related JP2977863B2 (ja) | 1989-06-02 | 1990-06-01 | 2つのファイバ端部のアライメント方法および装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0400408B1 (ja) |
JP (1) | JP2977863B2 (ja) |
AT (1) | ATE145732T1 (ja) |
DE (1) | DE59010576D1 (ja) |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04315107A (ja) * | 1991-04-12 | 1992-11-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバの接続方法 |
DE4139152B4 (de) * | 1991-11-28 | 2005-12-01 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Verfahren zum Spleißen von Lichtwellenleitern |
FR2688059A1 (fr) * | 1992-02-28 | 1993-09-03 | Vareille Aime | Procede optique de determination de positions relatives de deux pieces et dispositif pour sa mise en óoeuvre. |
EP0582116B1 (de) * | 1992-08-07 | 1999-01-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Ermittlung der Lage von Lichtwellenleitern und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
US6203214B1 (en) * | 1993-09-01 | 2001-03-20 | Laurence N. Wesson | Alignment system for splicing of polarization-maintaining single mode optical fiber |
CA2116934C (en) * | 1994-03-03 | 2000-08-01 | Murray R. Harman | Method for controlling the contact of optical fibers |
US5740301A (en) * | 1994-06-27 | 1998-04-14 | Fiberlign Division Of Preformed Line Products Ltd. | Fusion splicing block with electrodes disposed on planar surface |
JP3168844B2 (ja) | 1994-10-13 | 2001-05-21 | 住友電気工業株式会社 | 定偏波光ファイバの融着接続方法 |
SE505771C2 (sv) * | 1994-10-24 | 1997-10-06 | Ericsson Telefon Ab L M | Förfarande och anordning för bestämning av avståndet mellan kärnor i en optisk fiber samt användning av förfarandet respektive anordningen |
US5524163A (en) * | 1994-12-29 | 1996-06-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Apparatus for splicing optical fibers and method for the same |
US5729622A (en) * | 1995-08-02 | 1998-03-17 | Lucent Technologies Inc. | Automatic inspection system for contactlessly measuring an offset of a central feature of an object |
US5768409A (en) * | 1995-08-02 | 1998-06-16 | Lucent Technologies Inc. | Automatic inspection method for contactlessly measuring an offset of a central feature of an object |
SE9503364L (sv) * | 1995-09-29 | 1997-03-10 | Ericsson Telefon Ab L M | Förfarande och anordning för att bestämma avstånd mellan optiska fibrer samt fiberskarvningsmaskin innefattande sådan anordning |
EP0813081A1 (de) * | 1996-06-12 | 1997-12-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum Erkennen des Schiefstellungswinkels mindestens einer Lichtleitfaser und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE19746080A1 (de) | 1996-10-24 | 1998-04-30 | Siemens Ag | Verfahren sowie Vorrichtung zur Einstellung von Schweißparametern |
US5912736A (en) * | 1996-11-25 | 1999-06-15 | Lucent Technologies Inc. | Optical reflection methods and apparatus for aligning communication system components |
DE19737358A1 (de) | 1997-08-27 | 1999-03-04 | Siemens Ag | Verfahren sowie Vorrichtung zum thermischen Verschweißen von Lichtleitfasern |
DE19737410A1 (de) * | 1997-08-27 | 1999-03-04 | Siemens Ag | Verfahren sowie Vorrichtung zur Gewinnung von Informationen über mindestens ein Lichtleitfaserende |
JP3176574B2 (ja) | 1997-10-15 | 2001-06-18 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ観察装置および光ファイバ融着接続装置 |
KR20010012716A (ko) * | 1998-03-18 | 2001-02-26 | 후루까와 준노스께 | 광파이버관찰용 화상처리장치 |
US6266472B1 (en) | 1999-09-03 | 2001-07-24 | Corning Incorporated | Polymer gripping elements for optical fiber splicing |
CA2354289A1 (en) * | 2001-07-26 | 2003-01-26 | Viamode Photonics Inc. | Method and apparatus for aligning an optical fiber with a radiation source |
US7070342B2 (en) * | 2003-03-24 | 2006-07-04 | Aurora Instruments, Inc. | Low profile system for joining optical fiber waveguides |
US7004640B2 (en) * | 2003-03-24 | 2006-02-28 | Aurora Instruments, Inc. | Low profile local injection and detection system for optical fiber waveguides |
US7090414B2 (en) * | 2003-03-25 | 2006-08-15 | Aurora Instruments, Inc. | Automatic apparatus for cleaving optical fiber waveguides |
US6984077B2 (en) * | 2003-03-25 | 2006-01-10 | Aurora Instruments, Inc. | System for joining polarization-maintaining optical fiber waveguides |
US7298938B2 (en) * | 2004-10-01 | 2007-11-20 | University Of Washington | Configuration memory for a scanning beam device |
US8929688B2 (en) * | 2004-10-01 | 2015-01-06 | University Of Washington | Remapping methods to reduce distortions in images |
WO2006041459A1 (en) * | 2004-10-01 | 2006-04-20 | University Of Washington | Configuration memory for a scanning beam device |
WO2006071216A1 (en) * | 2004-12-23 | 2006-07-06 | University Of Washington | Methods of driving a scanning beam device to achieve high frame rates |
US7784697B2 (en) | 2004-12-23 | 2010-08-31 | University Of Washington | Methods of driving a scanning beam device to achieve high frame rates |
US7159782B2 (en) * | 2004-12-23 | 2007-01-09 | University Of Washington | Methods of driving a scanning beam device to achieve high frame rates |
US7189961B2 (en) | 2005-02-23 | 2007-03-13 | University Of Washington | Scanning beam device with detector assembly |
US20060226231A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | University Of Washington | Methods and systems for creating sequential color images |
DE102005021119A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung einer Dämpfung an einer Verbindungsstelle zweier optischer Fasern |
US7395967B2 (en) * | 2005-07-21 | 2008-07-08 | University Of Washington | Methods and systems for counterbalancing a scanning beam device |
US7312879B2 (en) * | 2005-08-23 | 2007-12-25 | University Of Washington | Distance determination in a scanned beam image capture device |
SE530854C2 (sv) * | 2005-12-30 | 2008-09-30 | Ericsson Telefon Ab L M | Inriktning av optiska fibrer vid dessas skarvning |
DE102006047425A1 (de) | 2006-10-06 | 2008-04-10 | CCS Technology, Inc., Wilmington | Gerät und Verfahren zum thermischen Verbinden von Lichtleitfasern |
WO2009115311A1 (de) * | 2008-03-19 | 2009-09-24 | Thomas Kollewe | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der lage und ausrichtung eines prüflings |
US8998511B2 (en) | 2008-07-08 | 2015-04-07 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Cladding alignment for fusion splicing optical fibers |
US8282291B2 (en) * | 2008-09-16 | 2012-10-09 | Afl Telecommunications Llc | Automatic alignment for splicing of non-circular fiber |
WO2013003335A1 (en) | 2011-06-27 | 2013-01-03 | Vytran, Llc | Apparatus and methods for the determination of a birefringence axis of a polarization-maintaining optical fiber |
US20130070252A1 (en) * | 2011-09-21 | 2013-03-21 | Honeywell International Inc. | Systems and methods for a hollow core resonant filter |
CN104101482B (zh) * | 2013-04-10 | 2016-08-10 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 发光模块检测装置以及发光模块检测方法 |
CN104777559B (zh) * | 2014-01-14 | 2017-07-14 | 泰科电子(上海)有限公司 | 校准***和方法、光纤插芯组件及制造方法、光纤连接器 |
WO2017008112A1 (en) * | 2015-07-13 | 2017-01-19 | The University Of Sydney | Waveguide positioning |
JP6383457B2 (ja) * | 2017-05-09 | 2018-08-29 | 株式会社フジクラ | 間欠連結型光ファイバテープの検査方法、検査装置及び製造方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ATE7965T1 (de) * | 1979-12-03 | 1984-06-15 | The Post Office | Kupplung dielektrischer optischer wellenleiter. |
JPS5886507A (ja) * | 1981-11-18 | 1983-05-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光フアイバのコア軸合せ方法 |
US4474469A (en) * | 1982-04-19 | 1984-10-02 | Northern Telecom Limited | Precise positioning of optical fibers |
JPS59187305A (ja) * | 1983-04-08 | 1984-10-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光フアイバ融着接続時のコア軸合せ方法 |
DE3471644D1 (en) * | 1983-10-24 | 1988-07-07 | Lyonnaise Transmiss Optiques | Automatic machine for fusion splicing the ends of optical fibres |
DE3429947A1 (de) * | 1984-08-14 | 1986-02-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Vorrichtung zur einkopplung von licht in einen lichtwellenleiter |
JPS6261010A (ja) * | 1985-09-12 | 1987-03-17 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光ファイバの融着接続方法 |
US5013345A (en) * | 1987-12-04 | 1991-05-07 | Fujikura Ltd. | Method of fusion-splicing polarization maintaining optical fibers |
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