JPH03220711A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
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- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims description 16
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 37
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- 230000032798 delamination Effects 0.000 abstract description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 7
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 208000006558 Dental Calculus Diseases 0.000 description 1
- 229910003781 PbTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- FKSZLDCMQZJMFN-UHFFFAOYSA-N [Mg].[Pb] Chemical compound [Mg].[Pb] FKSZLDCMQZJMFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- HEPLMSKRHVKCAQ-UHFFFAOYSA-N lead nickel Chemical compound [Ni].[Pb] HEPLMSKRHVKCAQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は積層セラミックコンデンサに関し、特に信頼性
の高い積層セラミックコンデンサに関する。
の高い積層セラミックコンデンサに関する。
[従来の技術]
近年、各種機器の小型軽量化の要求が高まり、電子回路
の高密度化、電子部品の基板上への実装密度が高まるに
つれ、コンデンサも小型高容量化が急速に進んでいる。
の高密度化、電子部品の基板上への実装密度が高まるに
つれ、コンデンサも小型高容量化が急速に進んでいる。
この要求を充たすためには、誘電材料の高誘電率化、電
極有効面積比率の改善、誘電体層の薄層化が有効である
。その中でも誘電体層の薄層化、すなわち内部電極間距
離の短縮化は内部電極層数を増やすことができるため、
結局、距離の二乗に反比例して単位体積当たりの容量が
向上するため最も有効であり、グリーンシート作製プロ
セス、装置の改善、高機能化等により各種の試みがなさ
れている。
極有効面積比率の改善、誘電体層の薄層化が有効である
。その中でも誘電体層の薄層化、すなわち内部電極間距
離の短縮化は内部電極層数を増やすことができるため、
結局、距離の二乗に反比例して単位体積当たりの容量が
向上するため最も有効であり、グリーンシート作製プロ
セス、装置の改善、高機能化等により各種の試みがなさ
れている。
[発明が解決しようとする課題]
第3図は通常の積層セラミックチップコンデンサの構造
を示したもので、第3図(a)は斜視図、(b)は一対
の内部電極の素子底面への投影図、(C)は素子の長さ
方向の断面図、(d)は素子の幅方向の断面図である。
を示したもので、第3図(a)は斜視図、(b)は一対
の内部電極の素子底面への投影図、(C)は素子の長さ
方向の断面図、(d)は素子の幅方向の断面図である。
同図に示すように、積層セラミックコンデンサは、下部
保護層5上に誘電体セラミック11と内部電極12が交
互に積層され、最上部には上部保護層1が形成されてい
る。各内部電極2a、2bは外部電極10a 、 10
bに接続するようになっている。
保護層5上に誘電体セラミック11と内部電極12が交
互に積層され、最上部には上部保護層1が形成されてい
る。各内部電極2a、2bは外部電極10a 、 10
bに接続するようになっている。
内部電極間距離を短縮するには誘電体セラミック11と
なるグリーンシートの厚みを薄くする必要があるが、グ
リーンシートの厚みが2071m以下になると従来構造
の素子では以下に述べる事情でコンデンサの製造時に、
剥がれ、クラックなどの不都合が発生する。すなわち、
内部電極は銀パラジウムなど貴金属粉末を有機バインダ
、有機溶媒と混合してペース1〜化し、スクリーン印刷
によりグリーンシート上に形成されるが、その塗布厚み
は通常2〜3朔であり、2μm以下にすることは困難で
ある。従ってこのようなグリーンシートを50〜100
枚積層、熱圧着、一体止すると、内部電極の形成された
部分とその周辺の内部電極が形成されていない部分の間
で厚みの差が積算され、内部電極端部において大きな応
力集中が発生ずる。バインダの熱分解時や焼結時にこの
応力集中が原因となり、デラミネーションやクラックが
発生する。
なるグリーンシートの厚みを薄くする必要があるが、グ
リーンシートの厚みが2071m以下になると従来構造
の素子では以下に述べる事情でコンデンサの製造時に、
剥がれ、クラックなどの不都合が発生する。すなわち、
内部電極は銀パラジウムなど貴金属粉末を有機バインダ
、有機溶媒と混合してペース1〜化し、スクリーン印刷
によりグリーンシート上に形成されるが、その塗布厚み
は通常2〜3朔であり、2μm以下にすることは困難で
ある。従ってこのようなグリーンシートを50〜100
枚積層、熱圧着、一体止すると、内部電極の形成された
部分とその周辺の内部電極が形成されていない部分の間
で厚みの差が積算され、内部電極端部において大きな応
力集中が発生ずる。バインダの熱分解時や焼結時にこの
応力集中が原因となり、デラミネーションやクラックが
発生する。
このような問題は、グリーンシートの膜厚が薄くて内部
電極の塗布厚みがグリーンシートの厚みに対して無視で
きない場合に発生する。また、このような場合でも内部
電極の枚数が10〜20枚と少ないときは上下の保護層
部分において前記の応力が緩和され、上記のような不都
合は発生しない。
電極の塗布厚みがグリーンシートの厚みに対して無視で
きない場合に発生する。また、このような場合でも内部
電極の枚数が10〜20枚と少ないときは上下の保護層
部分において前記の応力が緩和され、上記のような不都
合は発生しない。
この場合は、グリーンシー1〜1枚当たり2〜3mの厚
みの差が素子全体で高々20〜60脚であり、通常、片
側で100脚以上、上下合わせて200珈以上設けられ
る保護膜部においてこの厚みの差が吸収されるためであ
る。
みの差が素子全体で高々20〜60脚であり、通常、片
側で100脚以上、上下合わせて200珈以上設けられ
る保護膜部においてこの厚みの差が吸収されるためであ
る。
本発明は以上述べたような従来の事情に鑑みてなされた
もので、内部電極間距離が短く、かつ多数積層されてい
るため単位体積当たりの容量が大きく、かつデラミネー
ション、タラツクなどの欠陥のない信頼性に優れた積層
セラミックコンデンサを提供することを目的とする。
もので、内部電極間距離が短く、かつ多数積層されてい
るため単位体積当たりの容量が大きく、かつデラミネー
ション、タラツクなどの欠陥のない信頼性に優れた積層
セラミックコンデンサを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、誘電体セラミック層と内部電極を交互に積層
してなる積層セラミックコンデンサにおいて、誘電体セ
ラミック層が電気容量に寄与しない保護層と電気容量に
寄与する活性層からなり、かつ該活性層が1つまたは複
数の厚さ100柳以上の保護層により2つ以上の部分に
分割されていることを特徴とする積層セラミックコンデ
ンサである。
してなる積層セラミックコンデンサにおいて、誘電体セ
ラミック層が電気容量に寄与しない保護層と電気容量に
寄与する活性層からなり、かつ該活性層が1つまたは複
数の厚さ100柳以上の保護層により2つ以上の部分に
分割されていることを特徴とする積層セラミックコンデ
ンサである。
[作用]
誘電体セラミック層として、内部電極の形成されたグリ
ーンシートを多数枚積層すると、上述したように、内部
電極が形成された箇所と形成されていない箇所とでその
厚みの差により、応力集中が発生し、デラミネーション
やクラックの原因となる。
ーンシートを多数枚積層すると、上述したように、内部
電極が形成された箇所と形成されていない箇所とでその
厚みの差により、応力集中が発生し、デラミネーション
やクラックの原因となる。
本発明においては、内部電極を形成して電気容量に寄与
すべき誘電体セラミック層、即ち、活性層を2つ以上に
分割し、その間に厚さ100 /!m以上の保護層を設
ける。このようにすると、内部電極の枚数がそれほど多
くない状態で上下の保護層により応力がそれぞれ緩和さ
れつつ、全体としては多数枚の内部電極を積層すること
ができる。このため、単位体積当たりの電気容量が大き
く、かっ製造工程中のデラミネーションやクラックのな
い信頼性の高い積層セラミックコンデンサが得られる。
すべき誘電体セラミック層、即ち、活性層を2つ以上に
分割し、その間に厚さ100 /!m以上の保護層を設
ける。このようにすると、内部電極の枚数がそれほど多
くない状態で上下の保護層により応力がそれぞれ緩和さ
れつつ、全体としては多数枚の内部電極を積層すること
ができる。このため、単位体積当たりの電気容量が大き
く、かっ製造工程中のデラミネーションやクラックのな
い信頼性の高い積層セラミックコンデンサが得られる。
[実施例]
以下、本発明の実施例について、詳細に説明する。
マグネシウム・タングステン酸鉛(Pb(Mに11/2
Wl/2 ) 03 ) 、ニッケル・ニオブ酸鉛(
Pb(N ! 173 N b273 > 03 >
、チタン酸鉛(PbTi03>からなる三成分系誘電体
材料の予焼粉末を有機バインダ、有機溶剤、有機可塑剤
と混合し、泥漿を作製した。この泥漿をドクタブレード
法によりポリエステル製ベースフィルム上にキャスティ
ング、乾燥し、15胸の厚さのグリーンシートを作製し
た。次いでポリエステル製ベースフィルムから剥離し、
所定の形状に切断した。得られた切断済みグリーンシー
トの一部に内部電極材料として銀パラジウムペース1〜
を厚さ3脚でスクリーン印刷した。
Wl/2 ) 03 ) 、ニッケル・ニオブ酸鉛(
Pb(N ! 173 N b273 > 03 >
、チタン酸鉛(PbTi03>からなる三成分系誘電体
材料の予焼粉末を有機バインダ、有機溶剤、有機可塑剤
と混合し、泥漿を作製した。この泥漿をドクタブレード
法によりポリエステル製ベースフィルム上にキャスティ
ング、乾燥し、15胸の厚さのグリーンシートを作製し
た。次いでポリエステル製ベースフィルムから剥離し、
所定の形状に切断した。得られた切断済みグリーンシー
トの一部に内部電極材料として銀パラジウムペース1〜
を厚さ3脚でスクリーン印刷した。
これらのグリーンシートを用い、表−1に示すような所
定枚数および順序で積層、熱圧着して一体化し、実施例
2種類、比較例2種類の合計4種類の成形体を作製した
。得られたそれぞれのグリーンシート戒形体をダイシン
グソーによりチップ形状に切断し、生チップを得た。
定枚数および順序で積層、熱圧着して一体化し、実施例
2種類、比較例2種類の合計4種類の成形体を作製した
。得られたそれぞれのグリーンシート戒形体をダイシン
グソーによりチップ形状に切断し、生チップを得た。
第1図はこのようにして作製した本発明の実施例の積層
セラミックコンデンサ用生チップの幅方向の断面図であ
る。図中、第1図(a)は実施例1に相当するもので、
活性層が上部活性層2と下部活性層4に分けられ、その
間に、中間保護層3が形成されている。また、第1図(
b)は実施例2に相当するもので、活性層が上部活性層
2、中間活性層7および下部活性層4に分けられ、その
間に、中間保護層3a、3bが形成されている。
セラミックコンデンサ用生チップの幅方向の断面図であ
る。図中、第1図(a)は実施例1に相当するもので、
活性層が上部活性層2と下部活性層4に分けられ、その
間に、中間保護層3が形成されている。また、第1図(
b)は実施例2に相当するもので、活性層が上部活性層
2、中間活性層7および下部活性層4に分けられ、その
間に、中間保護層3a、3bが形成されている。
第2図に同じく比較のため作製した比較例の積層セラミ
ックコンデンサ用生チップの幅方向の断面図を示す。第
2図(a)は比較例1の場合、第2図(b)は比較例2
の場合を示す。
ックコンデンサ用生チップの幅方向の断面図を示す。第
2図(a)は比較例1の場合、第2図(b)は比較例2
の場合を示す。
これらの生チップを600℃で8時間、空気中で処理し
て有機バインダを熱分解・除去し、外観検査によりデラ
ミネーションの発生したチップの個数を数えた。次に、
空気中、950℃で1時間焼成して得た焼結チップを切
断し、内部を観察してクラックの発生数を調べた。表−
1に観察結果を示す。従来の構造の積層セラミックコン
デンサにおいては、内部電極の数が多くなるとバインダ
熱分解工程あるいは焼成工程においてデラミネーション
やクラックが高い確率で発生し、内部にクランクが存在
する場合には耐電圧が低下し、耐湿試験中に抵抗の低下
、ショートなどの特性不良が発生することが知られてい
る。それに対し、本発明の構造により1つ以上の厚さ1
001IIn以上の保護層を活性層の中間に設けた場合
には、内部電極の厚みの積算による積層体内部の応力が
効果的に緩和され、デラミネーションやクラックの発生
が全く見られないことがわかる。
て有機バインダを熱分解・除去し、外観検査によりデラ
ミネーションの発生したチップの個数を数えた。次に、
空気中、950℃で1時間焼成して得た焼結チップを切
断し、内部を観察してクラックの発生数を調べた。表−
1に観察結果を示す。従来の構造の積層セラミックコン
デンサにおいては、内部電極の数が多くなるとバインダ
熱分解工程あるいは焼成工程においてデラミネーション
やクラックが高い確率で発生し、内部にクランクが存在
する場合には耐電圧が低下し、耐湿試験中に抵抗の低下
、ショートなどの特性不良が発生することが知られてい
る。それに対し、本発明の構造により1つ以上の厚さ1
001IIn以上の保護層を活性層の中間に設けた場合
には、内部電極の厚みの積算による積層体内部の応力が
効果的に緩和され、デラミネーションやクラックの発生
が全く見られないことがわかる。
(以下余白〉
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の積層セラミックコンデン
ザは、単位体積当たりの電気容量が大きく、かつ製造工
程中にデラミネーションやクラックが発生しないため、
製造上問題がなく、かつ高い信頼性が期待できる。
ザは、単位体積当たりの電気容量が大きく、かつ製造工
程中にデラミネーションやクラックが発生しないため、
製造上問題がなく、かつ高い信頼性が期待できる。
第1図は本発明による積層セラミックコンデンサ用生チ
ップの一例の幅方向の断面図、第2図は比較のため作製
した積層セラミックコンデンサ用生チップの一例の幅方
向の断面図、第3図は通常の積層セラミックチップコン
デンサの斜視図(a)、一対の内部電極の素子底面への
投影図(b)、長さ方向の断面図(C)および幅方向の
断面図(d)をそれぞれ示す。 1・・・上部保護層 2・・・上部活性層3.3a
、3b・・・中間保護層 4・・・下部活性層 5・・・下部保護層7・・・
中間活性層 9・・・活性層10a 、 10b・
・・外部電極 0 11・・・誘電体セラミック 2a 2b ・・・内部電極
ップの一例の幅方向の断面図、第2図は比較のため作製
した積層セラミックコンデンサ用生チップの一例の幅方
向の断面図、第3図は通常の積層セラミックチップコン
デンサの斜視図(a)、一対の内部電極の素子底面への
投影図(b)、長さ方向の断面図(C)および幅方向の
断面図(d)をそれぞれ示す。 1・・・上部保護層 2・・・上部活性層3.3a
、3b・・・中間保護層 4・・・下部活性層 5・・・下部保護層7・・・
中間活性層 9・・・活性層10a 、 10b・
・・外部電極 0 11・・・誘電体セラミック 2a 2b ・・・内部電極
Claims (1)
- (1) 誘電体セラミック層と内部電極を交互に積層し
てなる積層セラミックコンデンサにおいて、誘電体セラ
ミック層が電気容量に寄与しない保護層と電気容量に寄
与する活性層からなり、かつ該活性層が1つまたは複数
の厚さ100μm以上の保護層により2つ以上の部分に
分割されていることを特徴とする積層セラミックコンデ
ンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1479290A JPH03220711A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1479290A JPH03220711A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03220711A true JPH03220711A (ja) | 1991-09-27 |
Family
ID=11870907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1479290A Pending JPH03220711A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03220711A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009212527A (ja) * | 2009-05-22 | 2009-09-17 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JP2010153935A (ja) * | 2010-04-09 | 2010-07-08 | Murata Mfg Co Ltd | 積層コンデンサ |
JP2010177696A (ja) * | 2010-04-09 | 2010-08-12 | Murata Mfg Co Ltd | 積層コンデンサ |
JP2013004549A (ja) * | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 電子部品 |
-
1990
- 1990-01-26 JP JP1479290A patent/JPH03220711A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009212527A (ja) * | 2009-05-22 | 2009-09-17 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JP2010153935A (ja) * | 2010-04-09 | 2010-07-08 | Murata Mfg Co Ltd | 積層コンデンサ |
JP2010177696A (ja) * | 2010-04-09 | 2010-08-12 | Murata Mfg Co Ltd | 積層コンデンサ |
JP2013004549A (ja) * | 2011-06-13 | 2013-01-07 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 電子部品 |
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