JPH0317568A - 導通検査装置 - Google Patents
導通検査装置Info
- Publication number
- JPH0317568A JPH0317568A JP1153112A JP15311289A JPH0317568A JP H0317568 A JPH0317568 A JP H0317568A JP 1153112 A JP1153112 A JP 1153112A JP 15311289 A JP15311289 A JP 15311289A JP H0317568 A JPH0317568 A JP H0317568A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductor
- measuring element
- coordinates
- contact position
- contact
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 19
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 6
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えばプリント基板の導体パターンの電気
的導通を検査する導体パターンの導通検査装置に関する
。
的導通を検査する導体パターンの導通検査装置に関する
。
〔従来の技術］
従来、導体パターンの検査装置としては、例えば架体上
に装着された供試プリント基板上を２次元的に移動可能
な一対のプローブを、予め設定されたプログラムに従っ
て供試プリント基板上の所定位置に移動させることによ
り、供試プリント基板上の導体パターンの電気的導通を
検査するものがある（例えば実開昭５２−１３８２５７
公報参照）。
に装着された供試プリント基板上を２次元的に移動可能
な一対のプローブを、予め設定されたプログラムに従っ
て供試プリント基板上の所定位置に移動させることによ
り、供試プリント基板上の導体パターンの電気的導通を
検査するものがある（例えば実開昭５２−１３８２５７
公報参照）。
一般に、プリント基板では、その導体パターンの導通検
査すべき各検査ポイントの位置が温度変化や製作誤差に
より設計図面上の指定位置とはずれてしまうことがある
。最近のプリント基板は、益々高密度化されて導体パタ
ーンの各検査ポイント、例えば検査するランドの寸法が
大幅に小さくなり、したがってパッド間の間隔も小さく
なってきており、このようなプリント基板において各検
査ポイントの位置が本来の指定位置とずれている場合に
は、上記従来の導通検査装置では、コンピュータに記憶
された検査データに基づいて各プロープを指定位置に移
動させた際に、プローブが検査ポイントからずれてしま
ったりするために、プリント基板の全域に亘って検査も
れのないように導通検査を正しく行うことができないと
いう課題があった。
査すべき各検査ポイントの位置が温度変化や製作誤差に
より設計図面上の指定位置とはずれてしまうことがある
。最近のプリント基板は、益々高密度化されて導体パタ
ーンの各検査ポイント、例えば検査するランドの寸法が
大幅に小さくなり、したがってパッド間の間隔も小さく
なってきており、このようなプリント基板において各検
査ポイントの位置が本来の指定位置とずれている場合に
は、上記従来の導通検査装置では、コンピュータに記憶
された検査データに基づいて各プロープを指定位置に移
動させた際に、プローブが検査ポイントからずれてしま
ったりするために、プリント基板の全域に亘って検査も
れのないように導通検査を正しく行うことができないと
いう課題があった。
Claims (3)
- （１）互いに独立してＸＹ平面内で移動可能に配設され
た第１及び第２の測定子を有し、該第１及び第２の測定
子を、透孔部とその周辺部の導体部とを有する被検査パ
ターンの導体部に接触させて当該被検査パターンの導通
を測定する導通検査装置において、前記透孔部及び導体
部の中心座標を検出する中心座標検出手段と、該中心座
標検出手段の各中心座標検出値と前記透孔部及び導体部
の径とに基づいて前記第１及び第２の測定子の接触位置
座標を設定する接触位置設定手段と、該接触位置設定手
段の接触位置座標位置に前記第１及び第２の測定子を移
動させる移動手段とを備えたことを特徴とする導通検査
装置。 - （２）互いに独立してＸＹ平面内で移動可能に配設され
、且つ所定間隔を保って配置された一対の接触子を有す
る第１及び第２の測定子を備え、該第１及び第２の測定
子の一対の接触子を、透孔部とその周辺部の導体部とを
有する被検査パターンの導体部に接触させて当該被検査
パターンの導通を測定する導通検査装置において、前記
透孔部及び導体部の中心座標を検出する中心座標検出手
段と、該中心座標検出手段の各中心座標検出値と前記透
孔部及び導体部の径と前記一対の接触子間距離とに基づ
いて前記第１及び第２の測定子の接触位置座標を設定す
る接触位置設定手段と、該接触位置設定手段の接触位置
座標に基づいて前記第１及び第２の測定子の移動量を演
算する測定子移動量演算手段と、該測定子移動量演算手
段の移動量に基づいて前記第１及び第２の測定子を移動
させる移動手段とを備えたことを特徴とする導通検査装
置。 - （３）前記接触位置設定手段は、中心座標検出手段の各
中心座標検出値に基づいてずれ量を演算するずれ量演算
部と、該ずれ量演算部のずれ量と前記透孔部及び導体部
の径とに基づいて前記導体部の中心座標を通る線と前記
透孔部の外周縁及び導体部の外周縁との交点間距離を所
定比率で配分した仮想分割線上の各点と導体部の中心と
の距離を表す関数を演算する分割線距離演算部と、該分
割線距離演算部の演算結果と前記接触子間距離とに基づ
いて前記導体部の中心座標に対する一対の接触子の接触
角度を演算する接触角度演算部と、該接触角度演算部の
接触角度と前記接触位置演算部の演算結果とに基づいて
接触子間の中心位置座標を移動基準座標として設定する
基準位置座標設定部とを備えている請求項（２）記載の
導通検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1153112A JPH0317568A (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 導通検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1153112A JPH0317568A (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 導通検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0317568A true JPH0317568A (ja) | 1991-01-25 |
Family
ID=15555236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1153112A Pending JPH0317568A (ja) | 1989-06-15 | 1989-06-15 | 導通検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0317568A (ja) |
-
1989
- 1989-06-15 JP JP1153112A patent/JPH0317568A/ja active Pending
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