JPH03143080A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
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- JPH03143080A JPH03143080A JP1280577A JP28057789A JPH03143080A JP H03143080 A JPH03143080 A JP H03143080A JP 1280577 A JP1280577 A JP 1280577A JP 28057789 A JP28057789 A JP 28057789A JP H03143080 A JPH03143080 A JP H03143080A
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- photometric
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Links
- 238000005375 photometry Methods 0.000 title abstract description 56
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 9
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、d1j光装置、詳しくは外部1llll光素
子を用いず、撮像素子(イメージヤと称す)自身により
測光を行なう測光装置に関する。
子を用いず、撮像素子(イメージヤと称す)自身により
測光を行なう測光装置に関する。
[従来の技術]
イメージヤを用いた撮像装置において、入射光量がイメ
ージヤのダイナミックレンジ内であれば、その出力信号
から直接入射光量を求めることができる。しかし、イメ
ージヤ、例えば、CCD (固体撮(象素子)等は、入
射光に対するダイナミックレンジが狭く、入射光によっ
てはその出力信号が飽和状態になり、光量が測定できな
い状態となる。
ージヤのダイナミックレンジ内であれば、その出力信号
から直接入射光量を求めることができる。しかし、イメ
ージヤ、例えば、CCD (固体撮(象素子)等は、入
射光に対するダイナミックレンジが狭く、入射光によっ
てはその出力信号が飽和状態になり、光量が測定できな
い状態となる。
特開昭61−199383号公報に開示されたものは、
上記の不具合を解決するためイメージヤの出力信号がダ
イナミックレンジ外であった場合レンジ内に収まるまで
2分法によって、次回の露光条件即ち、電荷蓄積時間の
設定を繰返して露光条件を求める。(l11光装置に関
するものである。
上記の不具合を解決するためイメージヤの出力信号がダ
イナミックレンジ外であった場合レンジ内に収まるまで
2分法によって、次回の露光条件即ち、電荷蓄積時間の
設定を繰返して露光条件を求める。(l11光装置に関
するものである。
この′Al11光装置のブロック構成図を第7図に示す
。
。
イメージヤ21の出力信号は信号処理回路22を介して
、光電荷量が読出され、積分回路24によって積分され
、入射光量が求められる。その出力は比較器25によっ
てダイナミックレンジに関連する2つの基準レベルL1
.L2と比較される。
、光電荷量が読出され、積分回路24によって積分され
、入射光量が求められる。その出力は比較器25によっ
てダイナミックレンジに関連する2つの基準レベルL1
.L2と比較される。
その比較出力Hs、LsはNANDゲート27および演
算回路26に入力される。一方、上記積分器24の出力
とNANDゲート27の出力は渭j光演算回路28に入
力される。そして、上記演算回路26.28のいずれか
によって演算される電荷蓄積時間によって、ドライバ・
クロック回路23を介して撮像素子の露光がコントロー
ルされる。
算回路26に入力される。一方、上記積分器24の出力
とNANDゲート27の出力は渭j光演算回路28に入
力される。そして、上記演算回路26.28のいずれか
によって演算される電荷蓄積時間によって、ドライバ・
クロック回路23を介して撮像素子の露光がコントロー
ルされる。
以上のように構成された上記Jll先装置の測光動作を
第9図によって説明する。測光動作は1画像分の撮像(
露光)あるいは読出し処理時間単位であるフィールドを
時間単位に用いて説明する。なお、イメージヤ21がC
CD等である場合、光電荷量の読出しは露光終了後に行
われるため、第8図に示されるように1フイ一ルド分遅
れたタイミングで行われる。従って、測光終了時期も常
に1フイ一ルド分遅れる。
第9図によって説明する。測光動作は1画像分の撮像(
露光)あるいは読出し処理時間単位であるフィールドを
時間単位に用いて説明する。なお、イメージヤ21がC
CD等である場合、光電荷量の読出しは露光終了後に行
われるため、第8図に示されるように1フイ一ルド分遅
れたタイミングで行われる。従って、測光終了時期も常
に1フイ一ルド分遅れる。
第9図は、上記測光手段による測光過程を示し、縦軸は
露光レンジであって、所定の露光範囲、例えば、8Ev
〜18Ev間をイメージヤのダイナミックレンジに対応
した所定の基準レベルの露光量レンジ(L、〜L2)、
例えば、レンジ幅0.7Evにて分割し、各レンジを露
光レンジNo、のRで示す。まず、初期の露光条件であ
る電荷蓄積時間設定値Tvlをレンジ中央に位置する上
記露光レンジNo、8に該当した値とし、第9図の点a
より露光を開始する。そして点b−c間で光電荷量の読
出しが行なわれる。その光量が上記レンジ値Ll−L2
間に収まっていれば、上記の設定値が妥当であって、イ
メージヤ21のダイナミックレンジ内での撮影ができる
露光条件か求められたことになり測光を終了する。しか
し、上記の範囲外、例えば、光量が多すぎ、値L1より
大であった場合、イメージヤのダイナミックレンジ内に
収めるために設定露出域を変更する必要がある。次の電
荷蓄積時間をレンジNo、 8〜15の2分割点のNo
。
露光レンジであって、所定の露光範囲、例えば、8Ev
〜18Ev間をイメージヤのダイナミックレンジに対応
した所定の基準レベルの露光量レンジ(L、〜L2)、
例えば、レンジ幅0.7Evにて分割し、各レンジを露
光レンジNo、のRで示す。まず、初期の露光条件であ
る電荷蓄積時間設定値Tvlをレンジ中央に位置する上
記露光レンジNo、8に該当した値とし、第9図の点a
より露光を開始する。そして点b−c間で光電荷量の読
出しが行なわれる。その光量が上記レンジ値Ll−L2
間に収まっていれば、上記の設定値が妥当であって、イ
メージヤ21のダイナミックレンジ内での撮影ができる
露光条件か求められたことになり測光を終了する。しか
し、上記の範囲外、例えば、光量が多すぎ、値L1より
大であった場合、イメージヤのダイナミックレンジ内に
収めるために設定露出域を変更する必要がある。次の電
荷蓄積時間をレンジNo、 8〜15の2分割点のNo
。
12のレンジに対応する値に設定する。一方、光量が少
な過ぎた場合、次ステツプの電荷蓄積時間を逆方向の2
分割点のNo、 4のレンジに対応する値に設定する。
な過ぎた場合、次ステツプの電荷蓄積時間を逆方向の2
分割点のNo、 4のレンジに対応する値に設定する。
そして、2フイールド目の点d〜fまたは点e−h間に
て露光が行われ、点g、iでそれぞれの読出しが終了す
る。その後はレンジ値L1〜L2との比較結果に基づい
て上記と同様の処理がなされる。そして、露光レンジN
o、 1〜15のいずれかに対応した電荷時間が求め
られ、測光が終了する。
て露光が行われ、点g、iでそれぞれの読出しが終了す
る。その後はレンジ値L1〜L2との比較結果に基づい
て上記と同様の処理がなされる。そして、露光レンジN
o、 1〜15のいずれかに対応した電荷時間が求め
られ、測光が終了する。
[発明が解決しようとする課題]
ところが、上述の特開昭61−199383号公報に開
示された撮像装置のaPj光手投手段その測光に要する
所要時間に関して、必ずしも高速処理がなされるとはい
えない。即ち、光電荷の読出しが露光後のフィールド処
理中に行われ、次ステツプの電荷蓄積時間の決定が上記
読出し終了に関連して行われる。例えば第9図に示され
るように1フィールド、3フイ一ルド分のイメージヤて
の露光は点a −b間あるいは点d−f間等で行われ、
その露光による光量の測定結果は2,4フイールド目の
点c1あるいは、点gて得られる。そこで、初めて次ス
テップ3.5フイールドの露光条件である電荷蓄積時間
が演算される。従って2.4フイールドの露光光量は利
用されないのでその分、測光が終了するまでの時間が長
くなるという不具合があった。
示された撮像装置のaPj光手投手段その測光に要する
所要時間に関して、必ずしも高速処理がなされるとはい
えない。即ち、光電荷の読出しが露光後のフィールド処
理中に行われ、次ステツプの電荷蓄積時間の決定が上記
読出し終了に関連して行われる。例えば第9図に示され
るように1フィールド、3フイ一ルド分のイメージヤて
の露光は点a −b間あるいは点d−f間等で行われ、
その露光による光量の測定結果は2,4フイールド目の
点c1あるいは、点gて得られる。そこで、初めて次ス
テップ3.5フイールドの露光条件である電荷蓄積時間
が演算される。従って2.4フイールドの露光光量は利
用されないのでその分、測光が終了するまでの時間が長
くなるという不具合があった。
本発明の目的は、上述の不具合を解決するため、イメー
ジヤの光電荷量に基づく露光条件設定手段と、この露光
条件設定手段によらない初期露光設定手段とを設けた測
光装置であって、外部の測光センサを設けることなく、
速やかに1(IIJ光結果が得られ、従って、常にシャ
ッタチャンスに即応した撮影を可能とする測光装置を提
供するにある。
ジヤの光電荷量に基づく露光条件設定手段と、この露光
条件設定手段によらない初期露光設定手段とを設けた測
光装置であって、外部の測光センサを設けることなく、
速やかに1(IIJ光結果が得られ、従って、常にシャ
ッタチャンスに即応した撮影を可能とする測光装置を提
供するにある。
[課題を解決するための手段および作用コ本発明の測光
装置は、露光時間区間たる毎回の所定時間区間の開始時
点から、この時間区間での当該露光と少なくとも部分的
には時間重複して、当該時間区間に直接先行する関係に
ある露光時間区間内で既に光電荷蓄積部に蓄積された光
電荷を電荷転送部から読出し得るようになされた撮像素
子と、上記毎回の露光時間区間に、この時間区間に直接
先行する関係にある時間区間における露光こよって上記
光電荷蓄積部に蓄積された光電荷を電荷転送部から読出
し、この読出した光電荷の値に是づいて上記撮像素子に
対する次回および次々回、又は次回の露光時間区間にお
ける露光条件を設定する露光条件設定手段と、初回およ
び次回の露光については、上記露光条件設定手段によら
ないで設定した6第1および第2の露光条件による露光
をそれぞれ行わせるための初期露光手段と、当該設定さ
れた露光条件による露光によって上記光電荷蓄積部に蓄
積された後電荷転送部から読出された光電荷の値が上記
撮像素子のダイナミックレンジ内の所定域内にあるか否
かを弁別する側弁手段と、上記弁別手段により上記所定
域内にあると弁別された当該光電荷の値に基づいて測光
値を算出する測光値算出手段とを具何してなることを特
徴とする。
装置は、露光時間区間たる毎回の所定時間区間の開始時
点から、この時間区間での当該露光と少なくとも部分的
には時間重複して、当該時間区間に直接先行する関係に
ある露光時間区間内で既に光電荷蓄積部に蓄積された光
電荷を電荷転送部から読出し得るようになされた撮像素
子と、上記毎回の露光時間区間に、この時間区間に直接
先行する関係にある時間区間における露光こよって上記
光電荷蓄積部に蓄積された光電荷を電荷転送部から読出
し、この読出した光電荷の値に是づいて上記撮像素子に
対する次回および次々回、又は次回の露光時間区間にお
ける露光条件を設定する露光条件設定手段と、初回およ
び次回の露光については、上記露光条件設定手段によら
ないで設定した6第1および第2の露光条件による露光
をそれぞれ行わせるための初期露光手段と、当該設定さ
れた露光条件による露光によって上記光電荷蓄積部に蓄
積された後電荷転送部から読出された光電荷の値が上記
撮像素子のダイナミックレンジ内の所定域内にあるか否
かを弁別する側弁手段と、上記弁別手段により上記所定
域内にあると弁別された当該光電荷の値に基づいて測光
値を算出する測光値算出手段とを具何してなることを特
徴とする。
[実 施 例]
以下、図示の実施例によって本発明を説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す電子カメラ用測光装置
のブロック構成図である。ティキングレンズ1から入射
した被写体光束は絞り機構部2を経由して撮像素子であ
るイメージヤ3上に結像する。イメージヤ3の当該時間
区間に直接先行する露光時間区間内で既に光電荷蓄積部
に蓄積された光電荷を上記電荷転送部から読出し、信号
処理回路4を介して輝度信号として、測光領域限定手段
であるエリアゲート回路5に人力する。そしてエリアゲ
ート回路5によって、1111定領域が限定され、その
出力が積分回路6に人力される。そして上記輝度信号は
積分され、測光光量が求められる。上記測光光量の信号
はコンパレータ7と測光演算手段およびシステムコント
ローラ(以下eL算・制御手段と称する)8にそれぞれ
人力される。上記コンパレータ7は上記測光光量のレベ
ルのU準位HLに対する比較出力を演算・制御手段8に
入力するものである。
のブロック構成図である。ティキングレンズ1から入射
した被写体光束は絞り機構部2を経由して撮像素子であ
るイメージヤ3上に結像する。イメージヤ3の当該時間
区間に直接先行する露光時間区間内で既に光電荷蓄積部
に蓄積された光電荷を上記電荷転送部から読出し、信号
処理回路4を介して輝度信号として、測光領域限定手段
であるエリアゲート回路5に人力する。そしてエリアゲ
ート回路5によって、1111定領域が限定され、その
出力が積分回路6に人力される。そして上記輝度信号は
積分され、測光光量が求められる。上記測光光量の信号
はコンパレータ7と測光演算手段およびシステムコント
ローラ(以下eL算・制御手段と称する)8にそれぞれ
人力される。上記コンパレータ7は上記測光光量のレベ
ルのU準位HLに対する比較出力を演算・制御手段8に
入力するものである。
演算・制御手段8は上記測光光ユ、または、上記比較信
号に基づいて露出設定条件を演算し露出制御手段10に
出力し、更に平均測光か、あるいはスポット測光かの測
光方式の指定スイッチ11の入力信号に基づいて、エリ
アゲート回路5に対するゲートエリアの指定を行ない、
また1411J光方式こ県づく基準値を選択的に設定す
る手段である基準値切換回路9に対して切換指定を行な
う。露出制御手段10は絞り機(151部2の駆動およ
びイメージヤ3の制御を行なう。なお、上記コンパレー
タ7と基準値切換回路9はJIlI光値が所定の基準レ
ンジ内にあるか否かを弁別するレンジ弁別手段を構成腰
更に上記演算・制御手段8と露出制御手段10は露出条
件設定手段および初期露光手段を構成している。
号に基づいて露出設定条件を演算し露出制御手段10に
出力し、更に平均測光か、あるいはスポット測光かの測
光方式の指定スイッチ11の入力信号に基づいて、エリ
アゲート回路5に対するゲートエリアの指定を行ない、
また1411J光方式こ県づく基準値を選択的に設定す
る手段である基準値切換回路9に対して切換指定を行な
う。露出制御手段10は絞り機(151部2の駆動およ
びイメージヤ3の制御を行なう。なお、上記コンパレー
タ7と基準値切換回路9はJIlI光値が所定の基準レ
ンジ内にあるか否かを弁別するレンジ弁別手段を構成腰
更に上記演算・制御手段8と露出制御手段10は露出条
件設定手段および初期露光手段を構成している。
次に、上記コンパレータ7における弁別動作の基準値に
ついて説明する。第2図はイメージヤ3の入9(光量(
対数表示)に対するイメージヤ出力線図であって、ダイ
ナミックレンジに対応するイメージャ再現域の光量に対
するイメージヤ出力はダイナミックレンジIDで示され
る。そして、露光条件は、上記再現域内にその輝度の変
化が収まるように設定する必要があるが、その露光条件
設定に際して平均とスポットΔIlj光方式を用いる。
ついて説明する。第2図はイメージヤ3の入9(光量(
対数表示)に対するイメージヤ出力線図であって、ダイ
ナミックレンジに対応するイメージャ再現域の光量に対
するイメージヤ出力はダイナミックレンジIDで示され
る。そして、露光条件は、上記再現域内にその輝度の変
化が収まるように設定する必要があるが、その露光条件
設定に際して平均とスポットΔIlj光方式を用いる。
まず平均A11j光方式の場合はaF1光エ光子リアく
設定し、該エリアの平均光量を求める。゛そして、その
平均光量が平均測光基準値上限H、下限り、−範V 回内に収まるように露光条件を決定する。一方、スポッ
ト測光方式では、Apl光エ光子リアく設定し、同様に
該エリアの光量を求め、その光量がスポット測光基準値
上限H、下限L82の範囲内に収P まるように露光条件を決定する。
設定し、該エリアの平均光量を求める。゛そして、その
平均光量が平均測光基準値上限H、下限り、−範V 回内に収まるように露光条件を決定する。一方、スポッ
ト測光方式では、Apl光エ光子リアく設定し、同様に
該エリアの光量を求め、その光量がスポット測光基準値
上限H、下限L82の範囲内に収P まるように露光条件を決定する。
第3,4図は、それぞれある被写体のイメージヤのスキ
ャン方向の輝度の変化に対するイメージヤ出力の波形を
示したものである。第3図に示されるように、平均測光
の場合、広いエリアのイメージヤの出力波形が所定の余
裕幅Δを有してダイナミックレンジlD内に収まるため
には、その平均Jll光値Avが比較的範囲の狭い平均
7IIll先基準値H、L の範囲内に存在する必要
がある。まAY AV た、第4図に示されるように、測光域を狭いエリアzl
、Z2に限定したスポット測光による場合、入射光が余
裕幅Δを有してレンジID内に収まるための測光値に対
する許容範囲は比較的広く、スポット測光基準値H、L
の範囲で示される。
ャン方向の輝度の変化に対するイメージヤ出力の波形を
示したものである。第3図に示されるように、平均測光
の場合、広いエリアのイメージヤの出力波形が所定の余
裕幅Δを有してダイナミックレンジlD内に収まるため
には、その平均Jll光値Avが比較的範囲の狭い平均
7IIll先基準値H、L の範囲内に存在する必要
がある。まAY AV た、第4図に示されるように、測光域を狭いエリアzl
、Z2に限定したスポット測光による場合、入射光が余
裕幅Δを有してレンジID内に収まるための測光値に対
する許容範囲は比較的広く、スポット測光基準値H、L
の範囲で示される。
sp sp
なお上記基準値の具体的な値としては、最終的に必要な
測光精度によっても異なり、ここでは特に高精度な測光
が必要な場合を考えて、例えば、イメージヤのダイナミ
ックレンジIDを4Evとすれば、平均測光基準値HA
vとLAVとの範囲は0.7Ev、またスポット111
1J光基準値H、L とのsp sp 範囲は2Ev程度が妥当な値となる。
測光精度によっても異なり、ここでは特に高精度な測光
が必要な場合を考えて、例えば、イメージヤのダイナミ
ックレンジIDを4Evとすれば、平均測光基準値HA
vとLAVとの範囲は0.7Ev、またスポット111
1J光基準値H、L とのsp sp 範囲は2Ev程度が妥当な値となる。
上記各測光方式に対する基準値を第2図の出力レンジ上
、下限H、L およびH、LAV AV
SP SPに示す。そしてレンジ上、下限H
、L は、AV AV 平均測光の場合の入射光量平均値(AV)の許容レンジ
に対応するイメージヤの出力レンジである。
、下限H、L およびH、LAV AV
SP SPに示す。そしてレンジ上、下限H
、L は、AV AV 平均測光の場合の入射光量平均値(AV)の許容レンジ
に対応するイメージヤの出力レンジである。
レンジ上、下限H、L は、スポット測光のsp
sp 場合のスポット入射光量(S P)の許容レンジに対応
するイメージヤの出力レンジである。そして、コンパレ
ータ7にて測光値を弁別する場合、平均またはスポット
測光の指定に従って、基準値切換回路9によりレンジ上
、下限H、L またはAV AV H8P ’ LSPが選択され、各測光値が上記の
レンジに収まっているかどうかの比較が行なわれる。
sp 場合のスポット入射光量(S P)の許容レンジに対応
するイメージヤの出力レンジである。そして、コンパレ
ータ7にて測光値を弁別する場合、平均またはスポット
測光の指定に従って、基準値切換回路9によりレンジ上
、下限H、L またはAV AV H8P ’ LSPが選択され、各測光値が上記の
レンジに収まっているかどうかの比較が行なわれる。
そして、範囲内であれば被写住人射光がイメージヤのダ
イナミックレンジ内にあると見做し、範囲外であれば、
ダイナミックレンジから外れていると判断し、後続のフ
ィールドの露光条件設定処理を行なうことになる。
イナミックレンジ内にあると見做し、範囲外であれば、
ダイナミックレンジから外れていると判断し、後続のフ
ィールドの露光条件設定処理を行なうことになる。
以上のように構成された本実施例の測光動作について第
5図の測光処理フローチャートと、露光条件設定状態を
示す第6図によって説明する。本実施例の測光動作の説
明において、スポット/平均指定スイッチ11によって
平均1Illj光が指定されているものとし、また露光
範囲は第6図に示されるように8Ev〜18Evとする
。従って、平均測光方式の基準値HAV ” A−レ
ンジ幅を約0.7Evに設定し、上記露光範囲を15分
割し、各レンジをNo、 1〜15で表示する。
5図の測光処理フローチャートと、露光条件設定状態を
示す第6図によって説明する。本実施例の測光動作の説
明において、スポット/平均指定スイッチ11によって
平均1Illj光が指定されているものとし、また露光
範囲は第6図に示されるように8Ev〜18Evとする
。従って、平均測光方式の基準値HAV ” A−レ
ンジ幅を約0.7Evに設定し、上記露光範囲を15分
割し、各レンジをNo、 1〜15で表示する。
測光処理ルーチンがコールされると、初期露光手段によ
り初期(第1)露出値設定がなされる(ステップ310
0)。この設定は第6図における露光レンジNo、の中
央部のNo、 8 (点k)に対応する露出値13EV
を第1の露光条件として設定するものである。続いて、
第6図における点に〜gの露光時間区間において露出動
作が行われる(ステップS 101)。次に、露光条件
設定手段によらず、初期露光手段により、2分法に従っ
てレンジNo、 8〜15間のレンジNo、12に対
応する露出値15.7E vの仮定露出値が第2露光条
件として設定される(ステップ5102)。続いて、そ
の露光条件に基づいて露出(第6図の点n −p間)が
行われる(ステップ3103)。同時に前フィールドに
おいて蓄積された光電荷を読出す(ステップ5104、
第6図の点(1−m間)。なお、この読出しはエリアゲ
ート回路5を介すことにより指定スイッチ11で指定さ
れた平均/スポット測光に対応するエリアのデータを読
出す。
り初期(第1)露出値設定がなされる(ステップ310
0)。この設定は第6図における露光レンジNo、の中
央部のNo、 8 (点k)に対応する露出値13EV
を第1の露光条件として設定するものである。続いて、
第6図における点に〜gの露光時間区間において露出動
作が行われる(ステップS 101)。次に、露光条件
設定手段によらず、初期露光手段により、2分法に従っ
てレンジNo、 8〜15間のレンジNo、12に対
応する露出値15.7E vの仮定露出値が第2露光条
件として設定される(ステップ5102)。続いて、そ
の露光条件に基づいて露出(第6図の点n −p間)が
行われる(ステップ3103)。同時に前フィールドに
おいて蓄積された光電荷を読出す(ステップ5104、
第6図の点(1−m間)。なお、この読出しはエリアゲ
ート回路5を介すことにより指定スイッチ11で指定さ
れた平均/スポット測光に対応するエリアのデータを読
出す。
読み出された光電荷は、積分回路6によって積分され露
光量としてコンパレータ7に人力される。
光量としてコンパレータ7に人力される。
そこで、平均測光基準値H、L の範囲と上AV
AV 配置光量が比較され、範囲内に収まっていればalll
光は終了する(ステップ5105)。
AV 配置光量が比較され、範囲内に収まっていればalll
光は終了する(ステップ5105)。
露光量が基準値の範囲外であった場合、上記ステップ5
102の仮定露出値が妥当であったかどうかの判別を行
なう(ステップ5106)。もし、上記露光量が上記基
準値HA■より大であった場合は、第2の露光条件の露
出値15.7E vは妥当であるので、処理はステップ
5102ヘジヤンプする。
102の仮定露出値が妥当であったかどうかの判別を行
なう(ステップ5106)。もし、上記露光量が上記基
準値HA■より大であった場合は、第2の露光条件の露
出値15.7E vは妥当であるので、処理はステップ
5102ヘジヤンプする。
そして、再度露出値の仮定を行ない露出、読み出しの処
理を繰返す。即ち、第6図において点n〜pの露光が終
了した時点で次のフィールド露光条件としてレンジNo
、10を選択し露光を行なう(点r −s間)。同時に
第2フイールドの光電荷は点p−q間で読出される。そ
して、点qにおいて測光終了の判別が行なわれる(ステ
ップS 105)。
理を繰返す。即ち、第6図において点n〜pの露光が終
了した時点で次のフィールド露光条件としてレンジNo
、10を選択し露光を行なう(点r −s間)。同時に
第2フイールドの光電荷は点p−q間で読出される。そ
して、点qにおいて測光終了の判別が行なわれる(ステ
ップS 105)。
一方、上記露光量が上記基準値LAvより小であった場
合、上記第2の露光条件の露出値15.7E vば妥当
ではなかったことになる。そして、ステップ5107に
ジャンプし、露光条件設定手段によって次のフィールド
(第3フイールド)の露出値設定が行なわれる。この露
出値設定は上記第2の露光条件とは反対の露出値を設定
するものであって、2分法によってレンジNo、 l
〜8の間のレンジから、レンジNo、 4に対応する露
出値のlO,3EVが設定される。そして、ステップ5
101の露出が行われる(第6図の点0〜7間)。露出
が終了した時点で、再びステップ810.2の仮定露出
値の設定の後、上記の処理が繰返される。
合、上記第2の露光条件の露出値15.7E vば妥当
ではなかったことになる。そして、ステップ5107に
ジャンプし、露光条件設定手段によって次のフィールド
(第3フイールド)の露出値設定が行なわれる。この露
出値設定は上記第2の露光条件とは反対の露出値を設定
するものであって、2分法によってレンジNo、 l
〜8の間のレンジから、レンジNo、 4に対応する露
出値のlO,3EVが設定される。そして、ステップ5
101の露出が行われる(第6図の点0〜7間)。露出
が終了した時点で、再びステップ810.2の仮定露出
値の設定の後、上記の処理が繰返される。
以上のフローにより被写体の輝度に対応した露光条件が
レンジNo、の中から選定される。前述の特開昭61−
199383号公報に開示の測光装置においては、第2
フイールド、第4フイールド等の露光および測光は行な
わなかったが、本実施例においては第2,4フイールド
等の露光・測光も行ない、測光データ数を増やして速や
かにnj光を終了することを可能とした。
レンジNo、の中から選定される。前述の特開昭61−
199383号公報に開示の測光装置においては、第2
フイールド、第4フイールド等の露光および測光は行な
わなかったが、本実施例においては第2,4フイールド
等の露光・測光も行ない、測光データ数を増やして速や
かにnj光を終了することを可能とした。
そこで、上記両者の測光時間を具体的に比較する。まず
、各レンジNo、のRに対する測光所要時間tRをフィ
ールド数で示す。例えば、第6図のレンジNo、15に
対する測光所要時間t15は7フイ一ルド分、そして、
第9図の場合もレンジNo。
、各レンジNo、のRに対する測光所要時間tRをフィ
ールド数で示す。例えば、第6図のレンジNo、15に
対する測光所要時間t15は7フイ一ルド分、そして、
第9図の場合もレンジNo。
12に対する所要時間t12は4フイ一ルド分であると
いった具合である。これらの所要時間の平均値をそれぞ
れ求めると、前述の特開昭61−199383号公報開
示のApj光装置に対するflllJ光所要時開所要時
間TR′は6.53フールド、一方、本実施例の測光装
置に対する平均値TRは5.4フイールドとなり、化1
光が平均して1.1フィールド分早く終了する。ここで
、撮像サイクル時間である1フィールドを1/60秒と
すると上記測光平均間開はそれぞれ約110m5ec
、 90m5ecとなり20m5ecの差叉が生じる
。
いった具合である。これらの所要時間の平均値をそれぞ
れ求めると、前述の特開昭61−199383号公報開
示のApj光装置に対するflllJ光所要時開所要時
間TR′は6.53フールド、一方、本実施例の測光装
置に対する平均値TRは5.4フイールドとなり、化1
光が平均して1.1フィールド分早く終了する。ここで
、撮像サイクル時間である1フィールドを1/60秒と
すると上記測光平均間開はそれぞれ約110m5ec
、 90m5ecとなり20m5ecの差叉が生じる
。
上記実施例の説明は平均i’l11光方式を指定した場
合のもので、基準値の範囲がQ、7Evと狭く、露光レ
ンジは15分割された。しかし、スポット、’IIII
光方式を適用し、基準値の範囲を2Evに広げるならば
、上記露光レンジは5分割されることになり、測光時間
を大巾に短縮することができる。
合のもので、基準値の範囲がQ、7Evと狭く、露光レ
ンジは15分割された。しかし、スポット、’IIII
光方式を適用し、基準値の範囲を2Evに広げるならば
、上記露光レンジは5分割されることになり、測光時間
を大巾に短縮することができる。
なお、このような測光領域に応じた基準値の範囲の選択
的設定は、上記実施例のような離散的な設定のみに限定
されず、例えば連続的に設定可変な測光領域に対応して
連続的に変化するようにしてもよいことは勿論である。
的設定は、上記実施例のような離散的な設定のみに限定
されず、例えば連続的に設定可変な測光領域に対応して
連続的に変化するようにしてもよいことは勿論である。
また、上記実施例における各alll光方式に対応する
基準値の範囲は前述の如く、平均1jllJ光のそれが
0.7Ev、スポット測光のそれを2Evとしたが、要
求される測光精度が低いときは、それぞれその値をより
大きく設定することが可能になる。このような場合、露
光レンジの分割数は上記例よりも少なくなるので測光時
間はより短縮されることになる。そして、例えば分割数
が14.13,1211.10,9,8,6,5.4等
の時は′、制御の最適化を行った状態で比較すると、前
述の特開昭61−199383号公報開示の測光装置に
対して測光所要時間の平均値TRを短縮できるのみなら
ず、測光所要時間の最大値TMAXを短縮することが可
能になる。−例として分割数14の場合を考えると、1
4の分割レンジを第6図のレンジNo、2〜15に当て
はめれば、TMAX”7とすZことができるか、第9図
においてはどのように≠てはめても”MAX”8である
。
基準値の範囲は前述の如く、平均1jllJ光のそれが
0.7Ev、スポット測光のそれを2Evとしたが、要
求される測光精度が低いときは、それぞれその値をより
大きく設定することが可能になる。このような場合、露
光レンジの分割数は上記例よりも少なくなるので測光時
間はより短縮されることになる。そして、例えば分割数
が14.13,1211.10,9,8,6,5.4等
の時は′、制御の最適化を行った状態で比較すると、前
述の特開昭61−199383号公報開示の測光装置に
対して測光所要時間の平均値TRを短縮できるのみなら
ず、測光所要時間の最大値TMAXを短縮することが可
能になる。−例として分割数14の場合を考えると、1
4の分割レンジを第6図のレンジNo、2〜15に当て
はめれば、TMAX”7とすZことができるか、第9図
においてはどのように≠てはめても”MAX”8である
。
なお、上記実施例のdpj光装置の露出制御はイメージ
ヤ3の電荷蓄積時間のコントロールによって行われるも
のであるが、絞り磯構2によって上記露出制御を行なう
ことも可能である。
ヤ3の電荷蓄積時間のコントロールによって行われるも
のであるが、絞り磯構2によって上記露出制御を行なう
ことも可能である。
[発明の効果]
本発明の肺1光装置はイメージヤの光電荷量に越づく露
光条件設定手段とこの設定手段によらない初期露光設定
手段とを設けたものであって、本発明によれば、測光の
ための外部センサを別に設けることなく、イメージヤ自
身の光電荷データを無駄時間なく測定することによって
、迅速に測光を行い、従って、常にシャッタチャンスに
即応する撮影を可能とする。’IIIJ光装置を提供で
きる。
光条件設定手段とこの設定手段によらない初期露光設定
手段とを設けたものであって、本発明によれば、測光の
ための外部センサを別に設けることなく、イメージヤ自
身の光電荷データを無駄時間なく測定することによって
、迅速に測光を行い、従って、常にシャッタチャンスに
即応する撮影を可能とする。’IIIJ光装置を提供で
きる。
第1図は、本発明の一実施例を示すApJ光装置のブロ
ック構成図、 第2図は、上記第1図の測光装置のイメージヤの入射光
に対するイメージヤ出力特性線図、第3図は、上記第1
図のδIII光装置の平均a1+1光方式における輝度
変化線図、 第4図は、上記第1図の測光装置のスポット測光方式に
おける輝度変化線図、 第5図は、上記第1図の測光装置のM1光処理フローチ
ャート、 第6図は、上記第1図の側光装置の露光条件設定状態を
示す図、 第7図は、従来例の測光装置のブロック線図、第8図は
、イメージヤの露光・読出し、およびal光終了のフィ
ールドを示す図、 第9図は、上記第7図のfltll光装置の露光条件設
定状態を示す図である。
ック構成図、 第2図は、上記第1図の測光装置のイメージヤの入射光
に対するイメージヤ出力特性線図、第3図は、上記第1
図のδIII光装置の平均a1+1光方式における輝度
変化線図、 第4図は、上記第1図の測光装置のスポット測光方式に
おける輝度変化線図、 第5図は、上記第1図の測光装置のM1光処理フローチ
ャート、 第6図は、上記第1図の側光装置の露光条件設定状態を
示す図、 第7図は、従来例の測光装置のブロック線図、第8図は
、イメージヤの露光・読出し、およびal光終了のフィ
ールドを示す図、 第9図は、上記第7図のfltll光装置の露光条件設
定状態を示す図である。
Claims (2)
- (1)露光時間区間たる毎回の所定時間区間の開始時点
から、この時間区間での当該露光と少なくとも部分的に
は時間重複して、当該時間区間に直接先行する関係にあ
る露光時間区間内で既に光電荷蓄積部に蓄積された光電
荷を電荷転送部から読出し得るようになされた撮像素子
と、 上記毎回の露光時間区間に、この時間区間に直接先行す
る関係にある時間区間における露光によって上記光電荷
蓄積部に蓄積された光電荷を電荷転送部から読出し、こ
の読出した光電荷の値に基づいて上記撮像素子に対する
次回および次々回、又は次回の露光時間区間における露
光条件を設定する露光条件設定手段と、 初回および次回の露光については、上記露光条件設定手
段によらないで設定した各第1および第2の露光条件に
よる露光をそれぞれ行わせるための初期露光手段と、 当該設定された露光条件による露光によって上記光電荷
蓄積部に蓄積された光電荷転送部から読出された光電荷
の値が上記撮像素子のダイナミックレンジ内の所定域内
にあるか否かを弁別する別弁手段と、 上記弁別手段により上記所定域内にあると弁別された当
該光電荷の値に基づいて測光値を算出する測光値算出手
段と、 を具備してなることを特徴とする測光装置。 - (2)設定された露光条件による露光によって光電荷蓄
積部に蓄積された光電荷転送部から読出された光電荷の
値が上記撮像素子のダイナミックレンジ内の所定域内に
あるか否かを弁別する別弁手段と、 撮像素子の光電荷蓄積部のうち測光値を算出する目的に
供される領域を選択的に限定する測光領域限定手段と、 この測光領域限定手段により限定された領域の広がりに
応じて上記弁別手段における弁別の基準たる所定域の範
囲を選択的に設定する手段と、を具備してなることを特
徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1280577A JPH03143080A (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1280577A JPH03143080A (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | 測光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03143080A true JPH03143080A (ja) | 1991-06-18 |
Family
ID=17626974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1280577A Pending JPH03143080A (ja) | 1989-10-27 | 1989-10-27 | 測光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03143080A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014141663A1 (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | 株式会社ニコン | 撮像ユニット、撮像装置および撮像制御プログラム |
-
1989
- 1989-10-27 JP JP1280577A patent/JPH03143080A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014141663A1 (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | 株式会社ニコン | 撮像ユニット、撮像装置および撮像制御プログラム |
US10750106B2 (en) | 2013-03-14 | 2020-08-18 | Nikon Corporation | Imaging unit, imaging apparatus, and computer-readable medium having stored thereon a control program |
US11553144B2 (en) | 2013-03-14 | 2023-01-10 | Nikon Corporation | Imaging unit, imaging apparatus, and computer-readable medium having stored thereon a control program |
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