JPH03131591A - 結晶成長方法及び結晶原料溶解装置 - Google Patents
結晶成長方法及び結晶原料溶解装置Info
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- JPH03131591A JPH03131591A JP26695089A JP26695089A JPH03131591A JP H03131591 A JPH03131591 A JP H03131591A JP 26695089 A JP26695089 A JP 26695089A JP 26695089 A JP26695089 A JP 26695089A JP H03131591 A JPH03131591 A JP H03131591A
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 73
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 239000002994 raw material Substances 0.000 title claims abstract description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 16
- 238000002109 crystal growth method Methods 0.000 claims description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 6
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 16
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 10
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 6
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 235000008708 Morus alba Nutrition 0.000 description 1
- 240000000249 Morus alba Species 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010042135 Stomatitis necrotising Diseases 0.000 description 1
- 241000190020 Zelkova serrata Species 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000008710 crystal-8 Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 201000008585 noma Diseases 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
C産業上の利用分野〕
本発明は、例えば半導体材料として使用される−、シリ
コン単結晶等の結晶を成長させる方法及びそれに用いる
結晶原料溶解装置に関する。
コン単結晶等の結晶を成長させる方法及びそれに用いる
結晶原料溶解装置に関する。
結晶成長法には種々の方法があるが、その一つに引き上
げ法(チックラルスキー法)がある、引き上げ法は第3
図に示すように、坩堝1内に挿入した結晶原料を全部溶
融させた後、その溶融液4を引き上げ欅又はワイヤ10
の先に取りつけた種結晶6により導いて上方へ引き上げ
ることにより、種結晶6の下端に溶融液4が凝固して結
晶7が成長する。
げ法(チックラルスキー法)がある、引き上げ法は第3
図に示すように、坩堝1内に挿入した結晶原料を全部溶
融させた後、その溶融液4を引き上げ欅又はワイヤ10
の先に取りつけた種結晶6により導いて上方へ引き上げ
ることにより、種結晶6の下端に溶融液4が凝固して結
晶7が成長する。
半導体単結晶をこの方法で成長させる場合、結晶の電気
抵抗率、電気伝導型を調整するため引き上げ前に溶融液
中に不純物元素を添加する場合が多い、しかし、一般に
この不純物は結晶の引き上げ方向に偏析し、チックラル
スキー法では、引き上げ方向の電気抵抗が均一とならな
い。
抵抗率、電気伝導型を調整するため引き上げ前に溶融液
中に不純物元素を添加する場合が多い、しかし、一般に
この不純物は結晶の引き上げ方向に偏析し、チックラル
スキー法では、引き上げ方向の電気抵抗が均一とならな
い。
不純物の偏析が生じるのは、結晶成長の際の溶融液と結
晶との界面における結晶中不純物濃度Csと溶融液中不
純m濃度CZの比C3/CI!、すなわち実効偏析係数
Keが1でないため、結晶の成長に伴い、溶融液中ひい
ては結晶中に生じる不純物濃度が変化するからである。
晶との界面における結晶中不純物濃度Csと溶融液中不
純m濃度CZの比C3/CI!、すなわち実効偏析係数
Keが1でないため、結晶の成長に伴い、溶融液中ひい
ては結晶中に生じる不純物濃度が変化するからである。
この不純物の偏析を防止した結晶成長方法として溶融層
法が知られている。溶融層法は、第4図に示すように、
溶融液層4の下部に溶融液とほぼ同材質の固体層5を形
成し、溶融液層4から結晶7を引き上げる方法である。
法が知られている。溶融層法は、第4図に示すように、
溶融液層4の下部に溶融液とほぼ同材質の固体層5を形
成し、溶融液層4から結晶7を引き上げる方法である。
溶融層法としては、引き上げに伴って下部の固体層5を
溶融しつつ溶融液層40体積を一定に保ち、結晶引き上
げ中に不純物を連続的に添加して溶融液中不純物濃度を
一定に保つ溶融層厚一定法(特公昭34−8242号。
溶融しつつ溶融液層40体積を一定に保ち、結晶引き上
げ中に不純物を連続的に添加して溶融液中不純物濃度を
一定に保つ溶融層厚一定法(特公昭34−8242号。
特開昭63−252989号、特公昭62−880号、
実願昭60−32474号)、又は、意図的に溶融液層
の体積を変化させることにより、結晶引き上げ中に不純
物添加することなく溶融液中不純物濃度を一定に保つ溶
融層厚変化法(特願昭60−45602号、特願昭60
45603号、特願昭60−57174号)が知られて
いる。
実願昭60−32474号)、又は、意図的に溶融液層
の体積を変化させることにより、結晶引き上げ中に不純
物添加することなく溶融液中不純物濃度を一定に保つ溶
融層厚変化法(特願昭60−45602号、特願昭60
45603号、特願昭60−57174号)が知られて
いる。
以上のような従来の溶融層法では、最初に固体層5の原
料として坩堝に詰めた顆粒状小片(チップ)、塊状原料
(ランプ)等の上方のみを熔かした時点で結晶引き上げ
を開始するために固体層5に空隙が生じ、その中のガス
が浮かび上がって場面を変動させ、引き上げ開始時にお
ける種結晶へのシード付けが困難であり、また、結晶成
長中に引き上げ中の結晶が途切れて中断するという問題
があった。
料として坩堝に詰めた顆粒状小片(チップ)、塊状原料
(ランプ)等の上方のみを熔かした時点で結晶引き上げ
を開始するために固体層5に空隙が生じ、その中のガス
が浮かび上がって場面を変動させ、引き上げ開始時にお
ける種結晶へのシード付けが困難であり、また、結晶成
長中に引き上げ中の結晶が途切れて中断するという問題
があった。
本発明はこのような問題を解決するためになされたもの
であって、固体層となる原料を一旦全部熔かして空隙を
なくし、これを再凝固して用いることにより、結晶成長
時間が短く結晶の歩留りが高い結晶成長方法及びそれに
用いる前処理用結晶原料溶解装置の提供を目的とする。
であって、固体層となる原料を一旦全部熔かして空隙を
なくし、これを再凝固して用いることにより、結晶成長
時間が短く結晶の歩留りが高い結晶成長方法及びそれに
用いる前処理用結晶原料溶解装置の提供を目的とする。
本発明の結晶成長方法は、結晶材料を溶融した溶融液層
の下部に、該溶融液層とほぼ同材質の固体層を形成し、
該固体層を溶解して溶融液層の体積を制御しつつ、溶融
液を引き上げて凝固させ結晶を成長させる方法において
、溶融液として、結晶原料を一旦溶解・凝固した材料を
再溶解して用いることを特徴とする。
の下部に、該溶融液層とほぼ同材質の固体層を形成し、
該固体層を溶解して溶融液層の体積を制御しつつ、溶融
液を引き上げて凝固させ結晶を成長させる方法において
、溶融液として、結晶原料を一旦溶解・凝固した材料を
再溶解して用いることを特徴とする。
また、本発明の結晶成長方法の実施に用いる結晶原料溶
解装置は、結晶原料を収納する坩堝と、坩堝に収納した
結晶原料を加熱溶解するヒータと、加熱溶解された結晶
原料を冷却する冷却系とを備えたことを特徴とする。
解装置は、結晶原料を収納する坩堝と、坩堝に収納した
結晶原料を加熱溶解するヒータと、加熱溶解された結晶
原料を冷却する冷却系とを備えたことを特徴とする。
第1の発明の結晶成長方法は、結晶原料を一旦溶解・凝
固した材料を再溶解して結晶の引き上げを行うから、原
料中のガスが浮上して場面を変動させることがなく、引
き上げ開始時のシード付けが容易になり、引き上げ中に
結晶が途切れることもない、従って、操業上のトラブル
が減少して結晶成長の能率が向上する。
固した材料を再溶解して結晶の引き上げを行うから、原
料中のガスが浮上して場面を変動させることがなく、引
き上げ開始時のシード付けが容易になり、引き上げ中に
結晶が途切れることもない、従って、操業上のトラブル
が減少して結晶成長の能率が向上する。
第2の発明の装置で原料を一旦溶解・凝固させたものを
結晶成長装置に供すれば、結晶成長装置の時間損失を回
避することができる。また本装置は冷却系を有するから
、−旦溶解した原料の凝固に要する時間を一層短縮する
ことができる。
結晶成長装置に供すれば、結晶成長装置の時間損失を回
避することができる。また本装置は冷却系を有するから
、−旦溶解した原料の凝固に要する時間を一層短縮する
ことができる。
(実施例〕
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて説明す
る。
る。
第1図は本発明の結晶成長方法(以下、本発明方法とい
う)の実施状態を示す模式図であり、図中1は坩堝であ
る。坩堝1はチャンバ8内の中央に配され、その外周に
はこれを囲んで誘導加熱コイル等で構成される昇降可能
に配設されたヒータ2、さらにその外側に保温筒3が配
設されており、坩堝1とヒータ2との相対的な上、下方
向位置調節によって坩堝1内の溶融液層4の深さ、固体
層5の厚さを相対的に調節し得るようになっている。
う)の実施状態を示す模式図であり、図中1は坩堝であ
る。坩堝1はチャンバ8内の中央に配され、その外周に
はこれを囲んで誘導加熱コイル等で構成される昇降可能
に配設されたヒータ2、さらにその外側に保温筒3が配
設されており、坩堝1とヒータ2との相対的な上、下方
向位置調節によって坩堝1内の溶融液層4の深さ、固体
層5の厚さを相対的に調節し得るようになっている。
坩堝1は黒鉛製の容器1aの内側に石英製の容器1bを
配した二重構造に構成され、黒鉛製の容器1aの底部に
は坩堝1を回転、並びに昇降させる軸1cが設けられて
おり、該軸1cによって坩堝1を回転及び/又は昇降さ
れるようになっている。
配した二重構造に構成され、黒鉛製の容器1aの底部に
は坩堝1を回転、並びに昇降させる軸1cが設けられて
おり、該軸1cによって坩堝1を回転及び/又は昇降さ
れるようになっている。
坩堝1の上方にはチャンバ8の上部に設けたプルチャン
バ9を通して引き上げ軸10が回転、並びに昇降可能に
垂設され、その下端には種結晶6が着脱可能に装着され
ており、種結晶6の下端を溶融液層4中に浸漬した後、
これを回転させつつ上昇させることにより、種結晶6の
下端に単結晶7を成長させていくようになっている。
バ9を通して引き上げ軸10が回転、並びに昇降可能に
垂設され、その下端には種結晶6が着脱可能に装着され
ており、種結晶6の下端を溶融液層4中に浸漬した後、
これを回転させつつ上昇させることにより、種結晶6の
下端に単結晶7を成長させていくようになっている。
結晶成長装置を使用する場合の第1の発明方法は、結晶
成長の本処理を開始する前に、まず坩堝l内に、ランプ
、又はチップである多結晶シリコンの固体材料を、引き
上げるべき単結晶の体積から求められる量を装入した後
、ヒータ2を上昇し、この固体材料を、その空隙が全て
なくなるよう下側から溶融さをた後、−度室温まで炉を
冷やして溶液を固めて固体層5を形成する前処理を行う
ものである。
成長の本処理を開始する前に、まず坩堝l内に、ランプ
、又はチップである多結晶シリコンの固体材料を、引き
上げるべき単結晶の体積から求められる量を装入した後
、ヒータ2を上昇し、この固体材料を、その空隙が全て
なくなるよう下側から溶融さをた後、−度室温まで炉を
冷やして溶液を固めて固体層5を形成する前処理を行う
ものである。
その後はヒータ2の温度制御及び/又はその位置制御に
よって坩堝1内の上部に溶融液層4を、またその下部に
固体層5を夫々所要深さ、又は厚さに存在させた状態で
溶融液層4に種結晶6を浸した後、これを回転させつつ
引上げその下端に単結晶7を成長させていく。
よって坩堝1内の上部に溶融液層4を、またその下部に
固体層5を夫々所要深さ、又は厚さに存在させた状態で
溶融液層4に種結晶6を浸した後、これを回転させつつ
引上げその下端に単結晶7を成長させていく。
直径6インチの単結晶シリコンを約80aIl引上げる
場合、従来の方法では平均的5同程度の結晶成長中断が
あったが、本発明方法によりほとんど中断がなくなった
。又、引上げ開始時のシード付けにおいては、従来は平
均7〜8時間を要したのに対して、本発明方法によれば
2〜3時間で完了する。
場合、従来の方法では平均的5同程度の結晶成長中断が
あったが、本発明方法によりほとんど中断がなくなった
。又、引上げ開始時のシード付けにおいては、従来は平
均7〜8時間を要したのに対して、本発明方法によれば
2〜3時間で完了する。
又、固体材料を溶融して固める前処理作業を第2図に示
すような装置にて行い、再凝固された空隙除去済みの固
体材料を第1図に示す本処理用の結晶成長装置の坩堝1
に入れるようにしたところ、ランプ、チップを直接、本
処理用の結晶成長装置の坩堝1に詰める従来の方法に比
べ、約40分の時間短縮に成功し、上記実施例と同様の
効果が得られた。
すような装置にて行い、再凝固された空隙除去済みの固
体材料を第1図に示す本処理用の結晶成長装置の坩堝1
に入れるようにしたところ、ランプ、チップを直接、本
処理用の結晶成長装置の坩堝1に詰める従来の方法に比
べ、約40分の時間短縮に成功し、上記実施例と同様の
効果が得られた。
第2図は第2の発明の結晶桑科溶解装置の構成を示す模
式的断面図であって、基本的には第1図に示した結晶成
長装置の加熱部と類似の構成である。図中1は坩堝であ
って、坩堝1はチャンバ8内の中央に配され、その外周
にはこれを囲んで誘導加熱コイル等で構成される昇降可
能に配設されたヒータ2、さらにその外側に昇降可能な
保温筒3が配設されており、坩堝1とヒータ2との相対
的な上、下方向位置調節によって坩堝1内の溶融液層1
2の位置、厚み及び再凝固層11の厚さを相対的に調節
し得るようになっている。坩堝1は黒鉛製の容器1aの
内側に石英製の容器1bを配した二重構造に構成され、
黒鉛製の容器1aの底部には支持台13と、支持台13
に載置された坩堝1を回転、並びに昇降させる軸1cが
設けられており、該軸1cによって坩堝lを回転及び/
又は昇降させられるようになっている。
式的断面図であって、基本的には第1図に示した結晶成
長装置の加熱部と類似の構成である。図中1は坩堝であ
って、坩堝1はチャンバ8内の中央に配され、その外周
にはこれを囲んで誘導加熱コイル等で構成される昇降可
能に配設されたヒータ2、さらにその外側に昇降可能な
保温筒3が配設されており、坩堝1とヒータ2との相対
的な上、下方向位置調節によって坩堝1内の溶融液層1
2の位置、厚み及び再凝固層11の厚さを相対的に調節
し得るようになっている。坩堝1は黒鉛製の容器1aの
内側に石英製の容器1bを配した二重構造に構成され、
黒鉛製の容器1aの底部には支持台13と、支持台13
に載置された坩堝1を回転、並びに昇降させる軸1cが
設けられており、該軸1cによって坩堝lを回転及び/
又は昇降させられるようになっている。
支持台13は軸1cと接続されて、冷却材を循環供給す
る、図示しない冷却材供給装置に接続されている冷却系
を有している。冷却材は冷却材通路14を通って支持台
13を冷却し、溶解終了後の結晶原料の冷却速度を早め
ることにより操業時間の短縮を図ることができる。支持
台13の必要な機能は、坩堝を支持することと、冷却速
度を早めることにあるから、黒鉛製の容器1aと一体構
造であっても良いことはもちろんである。
る、図示しない冷却材供給装置に接続されている冷却系
を有している。冷却材は冷却材通路14を通って支持台
13を冷却し、溶解終了後の結晶原料の冷却速度を早め
ることにより操業時間の短縮を図ることができる。支持
台13の必要な機能は、坩堝を支持することと、冷却速
度を早めることにあるから、黒鉛製の容器1aと一体構
造であっても良いことはもちろんである。
この前処理用の装置では、坩堝1に詰めたランプ、チッ
プを下側から熔かして空隙をなくし、その後溶液を固め
る前処理を行う。
プを下側から熔かして空隙をなくし、その後溶液を固め
る前処理を行う。
なお、本実施例では、溶融液の加熱に誘導加熱コイルを
用いたが、抵抗加熱式ヒータであっても本発明が可能な
事はもちろんである。
用いたが、抵抗加熱式ヒータであっても本発明が可能な
事はもちろんである。
本発明方法及び装置は、固体層内のガス沸き上がりによ
る湯面撮動を防止して、結晶成長中断防止により結晶の
歩留りを向上させ、さらにシード付けに要する時間を短
縮するという優れた効果を奏する。
る湯面撮動を防止して、結晶成長中断防止により結晶の
歩留りを向上させ、さらにシード付けに要する時間を短
縮するという優れた効果を奏する。
第1図は本発明方法の実施状態を示す結晶成長装置の模
式的断面図、第2図は本発明の前処理用装置の模式的断
面図、第3図及び第4図従来方法の実施状態を示す結晶
成長装置の模式的断面図である。 1・・・坩堝 1a・・・黒鉛製容器 1b・・・石英
製容器1c・・・軸 2・・・ヒータ 3・・・保温筒
4・・・溶融液層5・・・固体層 6・・・種結晶
7・・・単結晶 8・・・チャンノマ 9・・・プルチャンバ 10・・・引き上げ軸 11・・・再凝固層 12・・・溶融液層 13・・・支持台 14・・・冷却材通路 特 許
式的断面図、第2図は本発明の前処理用装置の模式的断
面図、第3図及び第4図従来方法の実施状態を示す結晶
成長装置の模式的断面図である。 1・・・坩堝 1a・・・黒鉛製容器 1b・・・石英
製容器1c・・・軸 2・・・ヒータ 3・・・保温筒
4・・・溶融液層5・・・固体層 6・・・種結晶
7・・・単結晶 8・・・チャンノマ 9・・・プルチャンバ 10・・・引き上げ軸 11・・・再凝固層 12・・・溶融液層 13・・・支持台 14・・・冷却材通路 特 許
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、結晶材料を溶融した溶融液層の下部に、該溶融液層
とほぼ同材質の固体層を形成し、該固体層を溶解して溶
融液層の体積を制御しつつ、溶融液を引き上げて凝固さ
せ結晶を成長させる方法において、 溶融液として、結晶原料を一旦溶解・凝固 した材料を再溶解して用いることを特徴とする結晶成長
方法。 2、結晶原料を収納する坩堝と、坩堝に収納した結晶原
料を加熱溶解するヒータと、加熱溶解された結晶原料を
冷却する冷却系とを備えたことを特徴とする結晶原料溶
解装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26695089A JPH03131591A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 結晶成長方法及び結晶原料溶解装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26695089A JPH03131591A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 結晶成長方法及び結晶原料溶解装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03131591A true JPH03131591A (ja) | 1991-06-05 |
Family
ID=17437942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26695089A Pending JPH03131591A (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 結晶成長方法及び結晶原料溶解装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03131591A (ja) |
-
1989
- 1989-10-13 JP JP26695089A patent/JPH03131591A/ja active Pending
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