JPH06131674A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH06131674A JPH06131674A JP4282016A JP28201692A JPH06131674A JP H06131674 A JPH06131674 A JP H06131674A JP 4282016 A JP4282016 A JP 4282016A JP 28201692 A JP28201692 A JP 28201692A JP H06131674 A JPH06131674 A JP H06131674A
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- diffraction grating
- light
- polarization separation
- branch
- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光磁気信号の検出を可能とし、フォーカスエ
ラー信号の検出機構の設計の自由度の向上を図ることが
可能な光ピックアップ装置を提供する。 【構成】 光源8と光ディスク11との間の光路上に、
光ディスク11からの反射光を回折光Koと透過光とに
分離する回折格子12aを有する分岐回折格子12と、
この分岐回折格子12からの回折光Koを偏光分離する
透明基板13上に回折格子14aを有する偏光分離回折
格子14と、この偏光分離回折格子14により分離され
た回折光Kと透過光Tとをそれぞれ別個に受光する2個
の受光素子15,16とを備え、前記少なくとも1個の
受光素子15or16からフォーカスエラー信号を検出
し、前記少なくとも1個の受光素子15or16からトラ
ックエラー信号を検出し、前記2個の受光素子15,1
6の出力差から光磁気信号を検出するようにした。
ラー信号の検出機構の設計の自由度の向上を図ることが
可能な光ピックアップ装置を提供する。 【構成】 光源8と光ディスク11との間の光路上に、
光ディスク11からの反射光を回折光Koと透過光とに
分離する回折格子12aを有する分岐回折格子12と、
この分岐回折格子12からの回折光Koを偏光分離する
透明基板13上に回折格子14aを有する偏光分離回折
格子14と、この偏光分離回折格子14により分離され
た回折光Kと透過光Tとをそれぞれ別個に受光する2個
の受光素子15,16とを備え、前記少なくとも1個の
受光素子15or16からフォーカスエラー信号を検出
し、前記少なくとも1個の受光素子15or16からトラ
ックエラー信号を検出し、前記2個の受光素子15,1
6の出力差から光磁気信号を検出するようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに情報を記
録すると共に、その光ディスクからの反射光を用いてフ
ォーカスエラー信号、トラックエラー信号、光磁気信号
の検出を行うことが可能な光ピックアップ装置に関す
る。
録すると共に、その光ディスクからの反射光を用いてフ
ォーカスエラー信号、トラックエラー信号、光磁気信号
の検出を行うことが可能な光ピックアップ装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、ハードディスクや磁気テープ等の
磁気記録装置に比べて光ディスク装置は大容量とはなっ
ているが、アクセス速度が遅いため、高速の読出しが必
要な分野では、いまだ磁気記録装置に一歩遅れをとって
いる。そのような光ディスク装置において、アクセスタ
イムを向上させる試みは近年頻繁になされており、ま
た、その光学系の面においても部品点数の削減による光
ピックアップ部の小型化、軽量化が図られている。この
場合、特に、その光ピックアップ部の小型化、軽量化に
関しては、ライトワンス(WO)、CD等の分野で活発
に検討がなされており、その代表的な例として、回折格
子の採用がある。
磁気記録装置に比べて光ディスク装置は大容量とはなっ
ているが、アクセス速度が遅いため、高速の読出しが必
要な分野では、いまだ磁気記録装置に一歩遅れをとって
いる。そのような光ディスク装置において、アクセスタ
イムを向上させる試みは近年頻繁になされており、ま
た、その光学系の面においても部品点数の削減による光
ピックアップ部の小型化、軽量化が図られている。この
場合、特に、その光ピックアップ部の小型化、軽量化に
関しては、ライトワンス(WO)、CD等の分野で活発
に検討がなされており、その代表的な例として、回折格
子の採用がある。
【0003】そこで、今、そのような回折格子を用いて
光ピックアップ装置の具体的な構成例を図16に基づい
て説明する。ピンタイプの素子1内には、半導体レーザ
2(LD)と、フォトダイオード3(PD)とが埋め込
まれている。そのLD2からの出射光Aは、回折格子4
に入射する。この回折格子4を通過することにより、数
十%の透過光と、数次の回折光とが発生し、この時の最
大の回折効率は±1次光の約10%となる。そして、透
過光はコリメートレンズ5によりコリメートされ、これ
によりLD2からの出射光Aは円形部分が抜き取られて
ビーム整形がなされる。このビーム整形がなされたコリ
メート光は、対物レンズ6で集光されて光ディスク7の
面上に照射され、これにより情報の記録等がなされる。
光ピックアップ装置の具体的な構成例を図16に基づい
て説明する。ピンタイプの素子1内には、半導体レーザ
2(LD)と、フォトダイオード3(PD)とが埋め込
まれている。そのLD2からの出射光Aは、回折格子4
に入射する。この回折格子4を通過することにより、数
十%の透過光と、数次の回折光とが発生し、この時の最
大の回折効率は±1次光の約10%となる。そして、透
過光はコリメートレンズ5によりコリメートされ、これ
によりLD2からの出射光Aは円形部分が抜き取られて
ビーム整形がなされる。このビーム整形がなされたコリ
メート光は、対物レンズ6で集光されて光ディスク7の
面上に照射され、これにより情報の記録等がなされる。
【0004】また、光ディスク7からの反射光は、逆の
経路を辿り、再び回折格子4に入射して回折光Bを得
る。図17(b)は回折格子4の正面から見た図を示
し、回折格子4のピッチΛは単調に増加若しくは単調に
減少したチャープが施されている。図17(a)は回折
格子4から得られる回折光Kが、+1次光5aと−1次
光5bとに分離され、凹凸レンズ作用を示すものであ
る。この場合、+1次光5aは凹レンズの作用があり、
−1次光5bは凸レンズ作用を示すものである。図16
の例では、凹レンズ作用を用いた場合について述べる。
経路を辿り、再び回折格子4に入射して回折光Bを得
る。図17(b)は回折格子4の正面から見た図を示
し、回折格子4のピッチΛは単調に増加若しくは単調に
減少したチャープが施されている。図17(a)は回折
格子4から得られる回折光Kが、+1次光5aと−1次
光5bとに分離され、凹凸レンズ作用を示すものであ
る。この場合、+1次光5aは凹レンズの作用があり、
−1次光5bは凸レンズ作用を示すものである。図16
の例では、凹レンズ作用を用いた場合について述べる。
【0005】回折格子4に入射する集束光は、凹レンズ
作用の影響を受けて非点収差をもつことになる。このた
め、回折光Bは非点収差を示した状態でPD3に検出さ
れることになる。PD3は、図18に示すように4分割
された受光面a〜dをもっており、ディスク面の遠近に
従って光スポットは、その(a)〜(c)に示すように
変化する。これにより、周知の非点収差法を用いてフォ
ーカスエラー信号Foを検出することができる。図19
は、フォーカスエラー信号Foのディスク面の遠近に対
する変化の様子を示したものである。また、トラックエ
ラー信号Trもその4分割された受光面a〜dから求め
ることができる。さらに、記録信号Sは、全ての出力値
から求めることができる。これらを数式で表すと、 Fo=(a+c)−(b+d) …(1) Tr=(a+d)−(b+c) …(2) S=a+b+c+d …(3) となる。このようにして各種の信号検出を行うことがで
きる。
作用の影響を受けて非点収差をもつことになる。このた
め、回折光Bは非点収差を示した状態でPD3に検出さ
れることになる。PD3は、図18に示すように4分割
された受光面a〜dをもっており、ディスク面の遠近に
従って光スポットは、その(a)〜(c)に示すように
変化する。これにより、周知の非点収差法を用いてフォ
ーカスエラー信号Foを検出することができる。図19
は、フォーカスエラー信号Foのディスク面の遠近に対
する変化の様子を示したものである。また、トラックエ
ラー信号Trもその4分割された受光面a〜dから求め
ることができる。さらに、記録信号Sは、全ての出力値
から求めることができる。これらを数式で表すと、 Fo=(a+c)−(b+d) …(1) Tr=(a+d)−(b+c) …(2) S=a+b+c+d …(3) となる。このようにして各種の信号検出を行うことがで
きる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
な光ピックアップ装置においては、光磁気信号の検出を
行うことができず、また、フォーカスエラー信号Foの
検出も回折格子4のみにより行っているため、波長変化
の影響を受けやすいという問題がある。
な光ピックアップ装置においては、光磁気信号の検出を
行うことができず、また、フォーカスエラー信号Foの
検出も回折格子4のみにより行っているため、波長変化
の影響を受けやすいという問題がある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、光源から出射された光をコリメートレンズにより平
行光とし、この平行光を対物レンズにより集光して光デ
ィスクの面上に照射することにより情報の記録や再生を
行う光ピックアップ装置において、前記光源と前記光デ
ィスクとの間の光路上に、前記光ディスクからの反射光
を回折光と透過光とに分離する回折格子を有する分岐回
折格子と、この分岐回折格子からの回折光を偏光分離す
る透明基板上に回折格子を有する偏光分離回折格子と、
この偏光分離回折格子により分離された回折光と透過光
とをそれぞれ別個に受光する2個の受光素子とを備え、
前記少なくとも1個の受光素子からフォーカスエラー信
号を検出し、前記少なくとも1個の受光素子からトラッ
クエラー信号を検出し、前記2個の受光素子の出力差か
ら光磁気信号を検出するようにした。
は、光源から出射された光をコリメートレンズにより平
行光とし、この平行光を対物レンズにより集光して光デ
ィスクの面上に照射することにより情報の記録や再生を
行う光ピックアップ装置において、前記光源と前記光デ
ィスクとの間の光路上に、前記光ディスクからの反射光
を回折光と透過光とに分離する回折格子を有する分岐回
折格子と、この分岐回折格子からの回折光を偏光分離す
る透明基板上に回折格子を有する偏光分離回折格子と、
この偏光分離回折格子により分離された回折光と透過光
とをそれぞれ別個に受光する2個の受光素子とを備え、
前記少なくとも1個の受光素子からフォーカスエラー信
号を検出し、前記少なくとも1個の受光素子からトラッ
クエラー信号を検出し、前記2個の受光素子の出力差か
ら光磁気信号を検出するようにした。
【0008】請求項2記載の発明では、請求項1記載の
発明において、分岐回折格子による回折光と偏光分離回
折格子による回折光とが互いに相殺し合うように、前記
分岐回折格子の回折角に対して前記偏光分離回折格子の
回折角を設定したことを特徴とする請求項1記載の光ピ
ックアップ装置。
発明において、分岐回折格子による回折光と偏光分離回
折格子による回折光とが互いに相殺し合うように、前記
分岐回折格子の回折角に対して前記偏光分離回折格子の
回折角を設定したことを特徴とする請求項1記載の光ピ
ックアップ装置。
【0009】請求項3記載の発明では、請求項1記載の
発明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間
の光路中に偏向ミラーを配設した。
発明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間
の光路中に偏向ミラーを配設した。
【0010】請求項4記載の発明では、請求項3記載の
発明において、偏向ミラーとして鋭角なミラーを用い、
偏光分離回折格子を光源の基台に対して平行に配置し
た。
発明において、偏向ミラーとして鋭角なミラーを用い、
偏光分離回折格子を光源の基台に対して平行に配置し
た。
【0011】請求項5記載の発明では、請求項1記載の
発明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間
にプリズムを配設した。
発明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間
にプリズムを配設した。
【0012】請求項6記載の発明では、請求項1記載の
発明において、透明基板により非点収差が発生するよう
に偏光分離回折格子を配置させ、前記透明基板により発
生された非点収差によりフォーカスエラー信号を検出す
るようにした。
発明において、透明基板により非点収差が発生するよう
に偏光分離回折格子を配置させ、前記透明基板により発
生された非点収差によりフォーカスエラー信号を検出す
るようにした。
【0013】請求項7記載の発明では、請求項1記載の
発明において、透明基板により非点収差が発生するよう
に偏光分離回折格子を配置させ、分岐回折格子の回折格
子としてチャープ回折格子を用い、このチャープ回折格
子により回折光に発生した非点収差と前記偏光分離回折
格子の透明基板により発生した非点収差とによりフォー
カスエラー信号を検出するようにしたことを特徴とする
請求項1記載の光ピックアップ装置。
発明において、透明基板により非点収差が発生するよう
に偏光分離回折格子を配置させ、分岐回折格子の回折格
子としてチャープ回折格子を用い、このチャープ回折格
子により回折光に発生した非点収差と前記偏光分離回折
格子の透明基板により発生した非点収差とによりフォー
カスエラー信号を検出するようにしたことを特徴とする
請求項1記載の光ピックアップ装置。
【0014】請求項8記載の発明では、請求項1記載の
発明において、分岐回折格子の回折格子としてチャープ
回折格子を用い、このチャープ回折格子を有する前記分
岐回折格子の基板にコリメートレンズからの集束光が斜
め入射するように配置した。
発明において、分岐回折格子の回折格子としてチャープ
回折格子を用い、このチャープ回折格子を有する前記分
岐回折格子の基板にコリメートレンズからの集束光が斜
め入射するように配置した。
【0015】請求項9記載の発明では、請求項1記載の
発明において、分岐回折格子をこれに入射する集束光の
光軸を中心に回転させる回折格子回転機構を設けた。
発明において、分岐回折格子をこれに入射する集束光の
光軸を中心に回転させる回折格子回転機構を設けた。
【0016】
【作用】請求項1記載の発明においては、偏光分離回折
格子により分離された透過光と回折光とを受光素子に導
くようにしたので、簡単な構成で光磁気信号を検出する
ことが可能となる。
格子により分離された透過光と回折光とを受光素子に導
くようにしたので、簡単な構成で光磁気信号を検出する
ことが可能となる。
【0017】請求項2記載の発明においては、分岐回折
格子による回折光と偏光分離回折格子による回折光とを
互いに相殺させることにより、波長変化に対して安定に
することが可能となる。
格子による回折光と偏光分離回折格子による回折光とを
互いに相殺させることにより、波長変化に対して安定に
することが可能となる。
【0018】請求項3記載の発明においては、偏向ミラ
ーを設けたことにより、受光素子の配置を簡便にするこ
とが可能となる。
ーを設けたことにより、受光素子の配置を簡便にするこ
とが可能となる。
【0019】請求項4記載の発明においては、鋭角な偏
向ミラーを設けたことにより、受光素子を偏光分離素子
に対して水平に配置させることができ、簡単な組付けが
可能となる。
向ミラーを設けたことにより、受光素子を偏光分離素子
に対して水平に配置させることができ、簡単な組付けが
可能となる。
【0020】請求項5記載の発明においては、プリズム
を配置することにより、受光素子を偏光分離素子に対し
て水平に配置させることができ、簡単な組付けが可能と
なる。 請求項6記載の発明においては、偏光分離回折
格子の基板により発生する非点収差によりフォーカスエ
ラー信号を検出するようにしたので、回折格子の設計上
の負担を軽減させることが可能となる。
を配置することにより、受光素子を偏光分離素子に対し
て水平に配置させることができ、簡単な組付けが可能と
なる。 請求項6記載の発明においては、偏光分離回折
格子の基板により発生する非点収差によりフォーカスエ
ラー信号を検出するようにしたので、回折格子の設計上
の負担を軽減させることが可能となる。
【0021】請求項7記載の発明においては、偏光分離
回折格子の基板により発生する非点収差と回折格子によ
る非点収差との両方を利用することができるため、検出
感度の向上を図り、回折格子の設計上の負担を軽減させ
ることが可能となる。
回折格子の基板により発生する非点収差と回折格子によ
る非点収差との両方を利用することができるため、検出
感度の向上を図り、回折格子の設計上の負担を軽減させ
ることが可能となる。
【0022】請求項8記載の発明においては、分岐回折
格子の基板に斜めに入射して得られた回折光に発生する
非点収差をチャープ回折格子により発生する非点収差に
より相殺させることができ、これにより、分岐回折格子
の回折格子による非点収差の影響をなくすことが可能と
なり、しかも、波長変化の影響を考慮する必要がなくな
り、安定した信号検出を行うことが可能となる。
格子の基板に斜めに入射して得られた回折光に発生する
非点収差をチャープ回折格子により発生する非点収差に
より相殺させることができ、これにより、分岐回折格子
の回折格子による非点収差の影響をなくすことが可能と
なり、しかも、波長変化の影響を考慮する必要がなくな
り、安定した信号検出を行うことが可能となる。
【0023】請求項9記載の発明においては、分岐回折
格子を光軸を中心として回転させることにより、受光素
子面上における光スポット位置を簡単に調整することが
可能となる。
格子を光軸を中心として回転させることにより、受光素
子面上における光スポット位置を簡単に調整することが
可能となる。
【0024】
【実施例】請求項1記載の発明の一実施例を図1〜図5
に基づいて説明する。本装置は、図1に示すように、光
源としての半導体レーザ8から出射された光をコリメー
トレンズ9により平行光とし、この平行光を対物レンズ
10により集光して光ディスク11の面上に照射するこ
とにより、情報の記録や再生を行う場合について述べた
ものである。すなわち、本装置は、半導体レーザ8と光
ディスク11との間の光路上に、光ディスク11からの
反射光を回折光Koと透過光とに分離する回折格子12
a(ピッチΛo)を有する分岐回折格子12と、この分
岐回折格子12からの回折光Koを偏光分離するために
透明基板13上に回折格子14a(ピッチΛ)を有する
偏光分離回折格子14と、この偏光分離回折格子14に
より分離された回折光Kと透過光Tとをそれぞれ別個に
受光する2個の受光素子15,16とを設けたものであ
る。
に基づいて説明する。本装置は、図1に示すように、光
源としての半導体レーザ8から出射された光をコリメー
トレンズ9により平行光とし、この平行光を対物レンズ
10により集光して光ディスク11の面上に照射するこ
とにより、情報の記録や再生を行う場合について述べた
ものである。すなわち、本装置は、半導体レーザ8と光
ディスク11との間の光路上に、光ディスク11からの
反射光を回折光Koと透過光とに分離する回折格子12
a(ピッチΛo)を有する分岐回折格子12と、この分
岐回折格子12からの回折光Koを偏光分離するために
透明基板13上に回折格子14a(ピッチΛ)を有する
偏光分離回折格子14と、この偏光分離回折格子14に
より分離された回折光Kと透過光Tとをそれぞれ別個に
受光する2個の受光素子15,16とを設けたものであ
る。
【0025】また、ここでは、前記少なくとも1個の受
光素子15or16からフォーカスエラー信号Foを検出
し、前記少なくとも1個の受光素子15or16からトラ
ックエラー信号Trを検出し、前記2個の受光素子1
5,16の出力差から光磁気信号Moを検出するように
した。
光素子15or16からフォーカスエラー信号Foを検出
し、前記少なくとも1個の受光素子15or16からトラ
ックエラー信号Trを検出し、前記2個の受光素子1
5,16の出力差から光磁気信号Moを検出するように
した。
【0026】このような構成において、各種の信号検出
を行う動作原理について述べる。まず、図1において、
半導体レーザ8からの出射光は、分岐回折格子12を透
過して、コリメートレンズ9によりコリメートされ、対
物レンズ10により集光されて光ディスク11の面上に
照射される。この光ディスク11からの反射光は再び分
岐回折格子12に導かれその回折格子12aにより透過
光と回折光Koとが発生する。ここでは、以下、その回
折光Koを利用する。図2はその回折格子12aの正面
図の様子を示し、図3(a)はその断面図、図3(b)
は屈折率分布の様子を示すものである。回折格子12a
の山と山との間隔であるピッチをΛoとし、垂直入射の
場合の回折角をθ1 、波長をλとすると、 sinθ1 =λ/Λo …(4) の関係式が得られる。
を行う動作原理について述べる。まず、図1において、
半導体レーザ8からの出射光は、分岐回折格子12を透
過して、コリメートレンズ9によりコリメートされ、対
物レンズ10により集光されて光ディスク11の面上に
照射される。この光ディスク11からの反射光は再び分
岐回折格子12に導かれその回折格子12aにより透過
光と回折光Koとが発生する。ここでは、以下、その回
折光Koを利用する。図2はその回折格子12aの正面
図の様子を示し、図3(a)はその断面図、図3(b)
は屈折率分布の様子を示すものである。回折格子12a
の山と山との間隔であるピッチをΛoとし、垂直入射の
場合の回折角をθ1 、波長をλとすると、 sinθ1 =λ/Λo …(4) の関係式が得られる。
【0027】偏光面の方向は、図2に示すように、回折
格子12aの格子形成方向に対して略45°で入射する
ように、予め半導体レーザ8を光軸に対して回転させて
設定しておく。そして、このようにして得られた回折光
Koは、45°の偏光面で偏光分離回折格子14の回折
格子14a(高密度な回折格子)に入射する。この偏光
分離回折格子14へは略45°の入射角が適当であり、
入射光軸に対して斜め配置(この斜め配置については後
述する)とする。また、回折格子14aへの入射光の偏
光角も、図4に示すように、格子形成方向に対して略4
5°に設定することにより、これを通過して得られる回
折光Kと透過光Tはほぼ同じ光量だけ発生することにな
る。これら同一光量の透過光Tと回折光Kは、図5
(a)に示すような、4分割の受光面a〜dをもつ受光
素子15と、無分割の受光面eをもつ受光素子16とに
検出される。この場合、光磁気信号Mo、フォーカスエ
ラー信号Fo,トラックエラー信号Trは以下のように
して求めることができる。
格子12aの格子形成方向に対して略45°で入射する
ように、予め半導体レーザ8を光軸に対して回転させて
設定しておく。そして、このようにして得られた回折光
Koは、45°の偏光面で偏光分離回折格子14の回折
格子14a(高密度な回折格子)に入射する。この偏光
分離回折格子14へは略45°の入射角が適当であり、
入射光軸に対して斜め配置(この斜め配置については後
述する)とする。また、回折格子14aへの入射光の偏
光角も、図4に示すように、格子形成方向に対して略4
5°に設定することにより、これを通過して得られる回
折光Kと透過光Tはほぼ同じ光量だけ発生することにな
る。これら同一光量の透過光Tと回折光Kは、図5
(a)に示すような、4分割の受光面a〜dをもつ受光
素子15と、無分割の受光面eをもつ受光素子16とに
検出される。この場合、光磁気信号Mo、フォーカスエ
ラー信号Fo,トラックエラー信号Trは以下のように
して求めることができる。
【0028】光磁気信号Moは、2つの受光面での受光
量の差分をとることにより、 Mo=(a+b+c+d)−e …(5) として求めることができる。
量の差分をとることにより、 Mo=(a+b+c+d)−e …(5) として求めることができる。
【0029】フォーカスエラー信号Foは、回折光Kと
透過光Tとの両者には、集束光が基板に斜め入射するこ
とにより非点収差が発生するため、どちらか一方の光に
非点収差法を適用して求めることができる。すなわち、
例えば、 Fo=(a+c)−(b+d) …(6) として求めることができる。
透過光Tとの両者には、集束光が基板に斜め入射するこ
とにより非点収差が発生するため、どちらか一方の光に
非点収差法を適用して求めることができる。すなわち、
例えば、 Fo=(a+c)−(b+d) …(6) として求めることができる。
【0030】トラックエラー信号Trは、フォーカスエ
ラー信号Foを検出するために用いた受光素子15から
の検出信号により、 Tr=(a+b)−(c+d) …(7) として求めることができる。また、光ピックアップのト
ラックに対する設定方向に依存して、Tr=(a+d)
−(b+c)として求めることもできる。
ラー信号Foを検出するために用いた受光素子15から
の検出信号により、 Tr=(a+b)−(c+d) …(7) として求めることができる。また、光ピックアップのト
ラックに対する設定方向に依存して、Tr=(a+d)
−(b+c)として求めることもできる。
【0031】この他の検出方法として、図5(b)に示
すように、一方の受光素子16を2分割の受光面e,f
として求めることもできる。この場合、例えば、光磁気
信号Moの値は、 Mo=(a+b+c+d)−(e+f) …(8) として求められる。
すように、一方の受光素子16を2分割の受光面e,f
として求めることもできる。この場合、例えば、光磁気
信号Moの値は、 Mo=(a+b+c+d)−(e+f) …(8) として求められる。
【0032】フォーカスエラー信号Foは、上述した
(6)式により求める受光素子15でない方の受光素子
16から、 Tr=e−f …(9) として求められる。
(6)式により求める受光素子15でない方の受光素子
16から、 Tr=e−f …(9) として求められる。
【0033】上述したように、光ディスク11からの反
射光の光路中に偏光分離回折格子14を配設することに
より、光磁気信号Moを簡単に検出することができる光
学系を得ることができるようになる。
射光の光路中に偏光分離回折格子14を配設することに
より、光磁気信号Moを簡単に検出することができる光
学系を得ることができるようになる。
【0034】次に、請求項2記載の発明の一実施例を図
6〜図8に基づいて説明する。前出した図1の実施例で
は、一般に顕著な偏光分離特性を示すが、高密度であれ
ばあるほど回折角が大きくなるため、入射波長の変化に
対して回折角の変化が大きくなる。この場合、波長が大
きくなると、図2の矢印で示した方向に回折光Koが変
化し、分岐回折格子12と偏光分離回折格子14とで
は、どちらも同じ方向に変化するため、信号検出が安定
して行えない。
6〜図8に基づいて説明する。前出した図1の実施例で
は、一般に顕著な偏光分離特性を示すが、高密度であれ
ばあるほど回折角が大きくなるため、入射波長の変化に
対して回折角の変化が大きくなる。この場合、波長が大
きくなると、図2の矢印で示した方向に回折光Koが変
化し、分岐回折格子12と偏光分離回折格子14とで
は、どちらも同じ方向に変化するため、信号検出が安定
して行えない。
【0035】そこで、本実施例では、図6に示すよう
に、分岐回折格子12による回折光Koと偏光分離回折
格子14による回折光Kとが互いに相殺し合うように、
分岐回折格子12の回折角に対して偏光分離回折格子1
4の回折角を設定したものである。図7は、回折ダイヤ
フラムの様子を示すものである。入射光Aは、中心点O
から紙面下向きのP点方向を向いており、このP点から
分岐回折格子12により紙面右方向にKベクトルλ/Λ
oで回折し、回折光Koを得る。また、偏光分離回折格
子14に光が入射すると、Q点から紙面右上方向にKベ
クトルλ/Λで回折する。この場合、波長変化がある時
は、前述した図1の構成ではKベクトルは波長の変化に
従って足し合わせ、すなわち、P点からQ点までのKベ
クトルλ/Λoと、Q点からR点までのKベクトルλ/
Λとの足し合わせとなり、O点とR点とを結ぶ回折光K
を得るが、図6の本実施例のような構成では、紙面左上
方向のQ点からS点までのKベクトルλ/Λで回折し、
このKベクトルλ/ΛはP点からQ点までのKベクトル
λ/Λoとは逆向きとなり互いに相殺し合うことにな
り、この時の回折光KはO点からS点までの回折光Kと
なる。
に、分岐回折格子12による回折光Koと偏光分離回折
格子14による回折光Kとが互いに相殺し合うように、
分岐回折格子12の回折角に対して偏光分離回折格子1
4の回折角を設定したものである。図7は、回折ダイヤ
フラムの様子を示すものである。入射光Aは、中心点O
から紙面下向きのP点方向を向いており、このP点から
分岐回折格子12により紙面右方向にKベクトルλ/Λ
oで回折し、回折光Koを得る。また、偏光分離回折格
子14に光が入射すると、Q点から紙面右上方向にKベ
クトルλ/Λで回折する。この場合、波長変化がある時
は、前述した図1の構成ではKベクトルは波長の変化に
従って足し合わせ、すなわち、P点からQ点までのKベ
クトルλ/Λoと、Q点からR点までのKベクトルλ/
Λとの足し合わせとなり、O点とR点とを結ぶ回折光K
を得るが、図6の本実施例のような構成では、紙面左上
方向のQ点からS点までのKベクトルλ/Λで回折し、
このKベクトルλ/ΛはP点からQ点までのKベクトル
λ/Λoとは逆向きとなり互いに相殺し合うことにな
り、この時の回折光KはO点からS点までの回折光Kと
なる。
【0036】具体例として、分岐回折格子12と偏光分
離回折格子14との間の距離を12mm、偏光分離回折
格子14に入射させる角度を45°、そのピッチΛを
3.3μm、偏光分離回折格子14と受光素子15,1
6の受光面までの距離を0.8mm、波長を830nm
とするとき、波長変化に対する受光面上での光スポット
位置変化が分岐回折格子12での回折角によってどのよ
うに変化するかを計算した。その結果を図8に示す。こ
の図から、14.4°の時に光スポット位置変化がなく
なることがわかる。
離回折格子14との間の距離を12mm、偏光分離回折
格子14に入射させる角度を45°、そのピッチΛを
3.3μm、偏光分離回折格子14と受光素子15,1
6の受光面までの距離を0.8mm、波長を830nm
とするとき、波長変化に対する受光面上での光スポット
位置変化が分岐回折格子12での回折角によってどのよ
うに変化するかを計算した。その結果を図8に示す。こ
の図から、14.4°の時に光スポット位置変化がなく
なることがわかる。
【0037】上述したように、分岐回折格子12による
回折光Koと偏光分離回折格子14による回折光Kとを
互いに相殺させることにより、波長変化に対して安定に
することができる。
回折光Koと偏光分離回折格子14による回折光Kとを
互いに相殺させることにより、波長変化に対して安定に
することができる。
【0038】次に、請求項3記載の発明の一実施例を図
9に基づいて説明する。ここでは、分岐回折格子12と
偏光分離回折格子14との間の光路中に、偏向ミラー1
7を配設したものである。これにより、図6の構成のよ
うに半導体レーザ8と偏光分離回折格子14との間に受
光素子15,16が配設され設定上の不便さが生じるよ
うなことがなくなり、受光素子15,16の配置が簡便
となる。
9に基づいて説明する。ここでは、分岐回折格子12と
偏光分離回折格子14との間の光路中に、偏向ミラー1
7を配設したものである。これにより、図6の構成のよ
うに半導体レーザ8と偏光分離回折格子14との間に受
光素子15,16が配設され設定上の不便さが生じるよ
うなことがなくなり、受光素子15,16の配置が簡便
となる。
【0039】次に、請求項4記載の発明の一実施例を図
10に基づいて説明する。ここでは、偏向ミラー17と
して鋭角なミラーを用いて配置し、偏光分離回折格子1
4が半導体レーザ8の基台18に対して平行となるよう
に配置したものである。これにより、受光素子15,1
6を基台18に対して水平な状態で配置できるため、組
付けを簡単化することができる。
10に基づいて説明する。ここでは、偏向ミラー17と
して鋭角なミラーを用いて配置し、偏光分離回折格子1
4が半導体レーザ8の基台18に対して平行となるよう
に配置したものである。これにより、受光素子15,1
6を基台18に対して水平な状態で配置できるため、組
付けを簡単化することができる。
【0040】次に、請求項5記載の発明の一実施例を図
11に基づいて説明する。ここでは、分岐回折格子12
と偏光分離回折格子14との間に、プリズム19を配設
したものである。このように分岐回折格子12からの回
折光Koをプリズム19を用いて偏向することにより、
偏光分離回折格子14への入射角を45°にすることが
でき、しかも、これにより受光素子15,16を基台1
8に対して水平に配置できることから組付けを容易なも
のとすることができる。
11に基づいて説明する。ここでは、分岐回折格子12
と偏光分離回折格子14との間に、プリズム19を配設
したものである。このように分岐回折格子12からの回
折光Koをプリズム19を用いて偏向することにより、
偏光分離回折格子14への入射角を45°にすることが
でき、しかも、これにより受光素子15,16を基台1
8に対して水平に配置できることから組付けを容易なも
のとすることができる。
【0041】具体例として、分岐回折格子12のピッチ
Λoを10μm、波長を830nmとすると回折角は
4.76°となる。そこで、プリズム19のガラスの屈
折率を1.512とし、その2辺のなす角αを66.8
°とすることにより、基台18に平行に配置した偏光分
離回折格子14に理想的に45°で入射させることがで
きる。
Λoを10μm、波長を830nmとすると回折角は
4.76°となる。そこで、プリズム19のガラスの屈
折率を1.512とし、その2辺のなす角αを66.8
°とすることにより、基台18に平行に配置した偏光分
離回折格子14に理想的に45°で入射させることがで
きる。
【0042】次に、請求項6記載の発明の一実施例を図
12及び図13に基づいて説明する。ここでは、偏光分
離回折格子14の透明基板13により非点収差が発生す
るように偏光分離回折格子14を配置させ、透明基板1
3により発生された非点収差によりフォーカスエラー信
号Foを検出するようにしたものである。このように透
明基板13により非点収差を発生させるためには、その
透明基板13に入射する分岐回折格子12からの回折光
Koを集束光20とすると同時に、その回折光Koに非
点収差を与えないように設計する必要がある。
12及び図13に基づいて説明する。ここでは、偏光分
離回折格子14の透明基板13により非点収差が発生す
るように偏光分離回折格子14を配置させ、透明基板1
3により発生された非点収差によりフォーカスエラー信
号Foを検出するようにしたものである。このように透
明基板13により非点収差を発生させるためには、その
透明基板13に入射する分岐回折格子12からの回折光
Koを集束光20とすると同時に、その回折光Koに非
点収差を与えないように設計する必要がある。
【0043】今、分岐回折格子12の回折格子12aを
等間隔ピッチとしても非点収差が発生する。図13は、
等間隔回折格子に集束光20が入射した際の回折ダイヤ
グラムを示したものである。これにより、集束光20が
垂直入射した時の光aの回折光bとの回折角度φ0 に対
して、集束光20が角度をもって斜め入射した時の光c
の回折光dとの回折角度φ1 は大きく回折される(φ1
>φ0 )。すなわち、斜め入射させることにより、等間
隔回折格子であっても不等間隔回折格子のように振る舞
うことになる。この時の回折光Koの集束位置は半導体
レーザ8の発光位置よりもディスク側に近い位置とな
る。そこで、このような集束点Pの位置に透明基板13
を位置させることにより、回折光Koに非点収差を与え
ないような設計とすることができ、これにより、透明基
板13により非点収差を発生させフォーカスエラー信号
Foを検出することができる。
等間隔ピッチとしても非点収差が発生する。図13は、
等間隔回折格子に集束光20が入射した際の回折ダイヤ
グラムを示したものである。これにより、集束光20が
垂直入射した時の光aの回折光bとの回折角度φ0 に対
して、集束光20が角度をもって斜め入射した時の光c
の回折光dとの回折角度φ1 は大きく回折される(φ1
>φ0 )。すなわち、斜め入射させることにより、等間
隔回折格子であっても不等間隔回折格子のように振る舞
うことになる。この時の回折光Koの集束位置は半導体
レーザ8の発光位置よりもディスク側に近い位置とな
る。そこで、このような集束点Pの位置に透明基板13
を位置させることにより、回折光Koに非点収差を与え
ないような設計とすることができ、これにより、透明基
板13により非点収差を発生させフォーカスエラー信号
Foを検出することができる。
【0044】従って、このように偏光分離回折格子14
の透明基板13により発生する非点収差によりフォーカ
スエラー信号Foを検出するようにしたので、回折格子
の設計上の負担を軽減させることができるものである。
の透明基板13により発生する非点収差によりフォーカ
スエラー信号Foを検出するようにしたので、回折格子
の設計上の負担を軽減させることができるものである。
【0045】次に、請求項7記載の発明の一実施例を図
14に基づいて説明する。前述した図12の実施例で
は、透明基板13により非点収差が発生するように偏光
分離回折格子14を配置させていたが、ここでは、さら
に、分岐回折格子12の回折格子12aとしてチャープ
回折格子を用い、このチャープ回折格子により回折光K
oに発生した非点収差と、偏光分離回折格子14の透明
基板13により発生した非点収差とによりフォーカスエ
ラー信号Foを検出するようにしたものである。このよ
うにチャープ回折格子を施すことにより、凹のシリンド
リカルレンズの作用を得ることができるため、集束点P
の位置を半導体レーザ8の位置と同一面上にすることが
できる。従って、このように偏光分離回折格子14の透
明基板13により発生する非点収差と、チャープ回折格
子による非点収差との両方を利用することができるた
め、フォーカスエラー信号Foの検出感度の向上を図
り、回折格子の設計上の負担を軽減させることができ
る。
14に基づいて説明する。前述した図12の実施例で
は、透明基板13により非点収差が発生するように偏光
分離回折格子14を配置させていたが、ここでは、さら
に、分岐回折格子12の回折格子12aとしてチャープ
回折格子を用い、このチャープ回折格子により回折光K
oに発生した非点収差と、偏光分離回折格子14の透明
基板13により発生した非点収差とによりフォーカスエ
ラー信号Foを検出するようにしたものである。このよ
うにチャープ回折格子を施すことにより、凹のシリンド
リカルレンズの作用を得ることができるため、集束点P
の位置を半導体レーザ8の位置と同一面上にすることが
できる。従って、このように偏光分離回折格子14の透
明基板13により発生する非点収差と、チャープ回折格
子による非点収差との両方を利用することができるた
め、フォーカスエラー信号Foの検出感度の向上を図
り、回折格子の設計上の負担を軽減させることができ
る。
【0046】次に、請求項8記載の発明の一実施例につ
いて説明する。ここでは、図示しないが、前述した図1
4の実施例と同様に分岐回折格子12の回折格子12a
としてチャープ回折格子を用いる他に、このチャープ回
折格子を有する分岐回折格子12の透明基板12bにコ
リメートレンズ9からの集束光20が斜め入射するよう
に配置したものである。
いて説明する。ここでは、図示しないが、前述した図1
4の実施例と同様に分岐回折格子12の回折格子12a
としてチャープ回折格子を用いる他に、このチャープ回
折格子を有する分岐回折格子12の透明基板12bにコ
リメートレンズ9からの集束光20が斜め入射するよう
に配置したものである。
【0047】これにより、分岐回折格子12の透明基板
12aに斜めに入射して得られた回折光Koに発生する
非点収差をチャープ回折格子により発生する非点収差に
より相殺させることができるため、分岐回折格子12の
回折格子12aによる非点収差の影響をなくすことがで
き、波長変化の影響を考慮する必要がなく、安定した信
号検出を行うことができる。
12aに斜めに入射して得られた回折光Koに発生する
非点収差をチャープ回折格子により発生する非点収差に
より相殺させることができるため、分岐回折格子12の
回折格子12aによる非点収差の影響をなくすことがで
き、波長変化の影響を考慮する必要がなく、安定した信
号検出を行うことができる。
【0048】次に、請求項9記載の発明の一実施例を図
15に基づいて説明する。ここでは、分岐回折格子12
をこれに入射する集束光20の光軸を中心に回転させ
る、図示しない回折格子回転機構を設けたものである。
すなわち、分岐回折格子12を、その光軸を中心として
透明基板12bの存在する平面内で回転させることによ
り、受光素子15,16上での光スポット位置を調整す
ることができる。
15に基づいて説明する。ここでは、分岐回折格子12
をこれに入射する集束光20の光軸を中心に回転させ
る、図示しない回折格子回転機構を設けたものである。
すなわち、分岐回折格子12を、その光軸を中心として
透明基板12bの存在する平面内で回転させることによ
り、受光素子15,16上での光スポット位置を調整す
ることができる。
【0049】これにより、回折格子12aが平板状であ
ることの特性を生かすことができ、簡便な組付け調整方
法を提供することができる。
ることの特性を生かすことができ、簡便な組付け調整方
法を提供することができる。
【0050】
【発明の効果】請求項1記載の発明は、光源から出射さ
れた光をコリメートレンズにより平行光とし、この平行
光を対物レンズにより集光して光ディスクの面上に照射
することにより情報の記録や再生を行う光ピックアップ
装置において、前記光源と前記光ディスクとの間の光路
上に、前記光ディスクからの反射光を回折光と透過光と
に分離する回折格子を有する分岐回折格子と、この分岐
回折格子からの回折光を偏光分離する透明基板上に回折
格子を有する偏光分離回折格子と、この偏光分離回折格
子により分離された回折光と透過光とをそれぞれ別個に
受光する2個の受光素子とを備え、前記少なくとも1個
の受光素子からフォーカスエラー信号を検出し、前記少
なくとも1個の受光素子からトラックエラー信号を検出
し、前記2個の受光素子の出力差から光磁気信号を検出
するようにしたので、偏光分離回折格子により分離され
た透過光と回折光とを受光素子に導くようにしたので、
簡単な構成で光磁気信号を検出することができるもので
ある。
れた光をコリメートレンズにより平行光とし、この平行
光を対物レンズにより集光して光ディスクの面上に照射
することにより情報の記録や再生を行う光ピックアップ
装置において、前記光源と前記光ディスクとの間の光路
上に、前記光ディスクからの反射光を回折光と透過光と
に分離する回折格子を有する分岐回折格子と、この分岐
回折格子からの回折光を偏光分離する透明基板上に回折
格子を有する偏光分離回折格子と、この偏光分離回折格
子により分離された回折光と透過光とをそれぞれ別個に
受光する2個の受光素子とを備え、前記少なくとも1個
の受光素子からフォーカスエラー信号を検出し、前記少
なくとも1個の受光素子からトラックエラー信号を検出
し、前記2個の受光素子の出力差から光磁気信号を検出
するようにしたので、偏光分離回折格子により分離され
た透過光と回折光とを受光素子に導くようにしたので、
簡単な構成で光磁気信号を検出することができるもので
ある。
【0051】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、分岐回折格子による回折光と偏光分離回折
格子による回折光とが互いに相殺し合うように、前記分
岐回折格子の回折角に対して前記偏光分離回折格子の回
折角を設定したので、分岐回折格子による回折光と偏光
分離回折格子による回折光とを互いに相殺させることに
より、波長変化に対して安定して信号検出することがで
きるものである。
明において、分岐回折格子による回折光と偏光分離回折
格子による回折光とが互いに相殺し合うように、前記分
岐回折格子の回折角に対して前記偏光分離回折格子の回
折角を設定したので、分岐回折格子による回折光と偏光
分離回折格子による回折光とを互いに相殺させることに
より、波長変化に対して安定して信号検出することがで
きるものである。
【0052】請求項3記載の発明は、請求項1記載の発
明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間の
光路中に偏向ミラーを配設したので、受光素子の配置を
簡便にすることができるものである。
明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間の
光路中に偏向ミラーを配設したので、受光素子の配置を
簡便にすることができるものである。
【0053】請求項4記載の発明は、請求項3記載の発
明において、偏向ミラーとして鋭角なミラーを用い、偏
光分離回折格子を光源の基台に対して平行に配置したの
で、受光素子を偏光分離素子に対して水平に配置させる
ことができるため、これにより簡単な組付けができるも
のである。
明において、偏向ミラーとして鋭角なミラーを用い、偏
光分離回折格子を光源の基台に対して平行に配置したの
で、受光素子を偏光分離素子に対して水平に配置させる
ことができるため、これにより簡単な組付けができるも
のである。
【0054】請求項5記載の発明は、請求項1記載の発
明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間に
プリズムを配設したので、受光素子を偏光分離素子に対
して水平に配置させることができるため、これにより簡
単な組付けができるものである。
明において、分岐回折格子と偏光分離回折格子との間に
プリズムを配設したので、受光素子を偏光分離素子に対
して水平に配置させることができるため、これにより簡
単な組付けができるものである。
【0055】請求項6記載の発明は、請求項1記載の発
明において、透明基板により非点収差が発生するように
偏光分離回折格子を配置させ、前記透明基板により発生
された非点収差によりフォーカスエラー信号を検出する
ようにしたので、回折格子の設計上の負担を軽減させる
ことができるものである。
明において、透明基板により非点収差が発生するように
偏光分離回折格子を配置させ、前記透明基板により発生
された非点収差によりフォーカスエラー信号を検出する
ようにしたので、回折格子の設計上の負担を軽減させる
ことができるものである。
【0056】請求項7記載の発明は、請求項1記載の発
明において、透明基板により非点収差が発生するように
偏光分離回折格子を配置させ、分岐回折格子の回折格子
としてチャープ回折格子を用い、このチャープ回折格子
により回折光に発生した非点収差と前記偏光分離回折格
子の透明基板により発生した非点収差とによりフォーカ
スエラー信号を検出するようにしたので、偏光分離回折
格子の基板により発生する非点収差と回折格子による非
点収差との両方を利用することができ、これにより信号
検出の感度の向上を図り、回折格子の設計上の負担を軽
減させることができるものである。
明において、透明基板により非点収差が発生するように
偏光分離回折格子を配置させ、分岐回折格子の回折格子
としてチャープ回折格子を用い、このチャープ回折格子
により回折光に発生した非点収差と前記偏光分離回折格
子の透明基板により発生した非点収差とによりフォーカ
スエラー信号を検出するようにしたので、偏光分離回折
格子の基板により発生する非点収差と回折格子による非
点収差との両方を利用することができ、これにより信号
検出の感度の向上を図り、回折格子の設計上の負担を軽
減させることができるものである。
【0057】請求項8記載の発明は、請求項1記載の発
明において、分岐回折格子の回折格子としてチャープ回
折格子を用い、このチャープ回折格子を有する前記分岐
回折格子の基板にコリメートレンズからの集束光が斜め
入射するように配置したので、分岐回折格子の基板に斜
めに入射して得られた回折光に発生する非点収差をチャ
ープ回折格子により発生する非点収差により相殺させる
ことができ、これにより、分岐回折格子の回折格子によ
る非点収差の影響をなくすことができ、しかも、波長変
化の影響を考慮する必要がなくなり、安定した信号検出
を行うことができるものである。
明において、分岐回折格子の回折格子としてチャープ回
折格子を用い、このチャープ回折格子を有する前記分岐
回折格子の基板にコリメートレンズからの集束光が斜め
入射するように配置したので、分岐回折格子の基板に斜
めに入射して得られた回折光に発生する非点収差をチャ
ープ回折格子により発生する非点収差により相殺させる
ことができ、これにより、分岐回折格子の回折格子によ
る非点収差の影響をなくすことができ、しかも、波長変
化の影響を考慮する必要がなくなり、安定した信号検出
を行うことができるものである。
【0058】請求項9記載の発明は、請求項1記載の発
明において、分岐回折格子をこれに入射する集束光の光
軸を中心に回転させる回折格子回転機構を設けたので、
分岐回折格子を光軸を中心として回転させることによ
り、受光素子面上における光スポット位置を簡単に調整
することができるものである。
明において、分岐回折格子をこれに入射する集束光の光
軸を中心に回転させる回折格子回転機構を設けたので、
分岐回折格子を光軸を中心として回転させることによ
り、受光素子面上における光スポット位置を簡単に調整
することができるものである。
【図1】請求項1記載の発明の一実施例である光ピック
アップ装置の様子を示す構成図である。
アップ装置の様子を示す構成図である。
【図2】分岐回折格子の形状を示す正面図である。
【図3】(a)は図2の断面形状を示す断面図、(b)
は格子の屈折率の様子を示す状態図である。
は格子の屈折率の様子を示す状態図である。
【図4】偏光分離回折格子の形状を示す正面図である。
【図5】受光素子の形状を示す正面図である。
【図6】請求項2記載の発明の一実施例である光ピック
アップ装置の様子を示す構成図である。
アップ装置の様子を示す構成図である。
【図7】回折ダイヤフラムを示す特性図である。
【図8】分岐回折格子での回折角に対する光スポット位
置変化の様子を示す特性図である。
置変化の様子を示す特性図である。
【図9】請求項3記載の発明の一実施例を示す構成図で
ある。
ある。
【図10】請求項4記載の発明の一実施例を示す構成図
である。
である。
【図11】請求項5記載の発明の一実施例を示す構成図
である。
である。
【図12】請求項6記載の発明の一実施例を示す構成図
である。
である。
【図13】回折ダイヤフラムを示す特性図である。
【図14】(a)は請求項7記載の発明の一実施例を示
す構成図、(b)は回折格子のピッチ間隔を示す特性図
である。
す構成図、(b)は回折格子のピッチ間隔を示す特性図
である。
【図15】請求項9記載の発明の一実施例を示す構成図
である。
である。
【図16】従来の光ピックアップの構成を示す構成図で
ある。
ある。
【図17】(a)は回折状態を示す状態図、(b)は回
折格子の正面図である。
折格子の正面図である。
【図18】受光素子の正面図である。
【図19】フォーカスエラー信号の特性図である。
8 光源 9 コリメートレンズ 10 対物レンズ 11 光ディスク 12 分岐回折格子 13 透明基板 14 偏光分離回折格子 14a 回折格子 15,16 受光素子 17 偏向ミラー 18 基台 19 プリズム 20 集束光 T 透過光 K 回折光
Claims (9)
- 【請求項1】 光源から出射された光をコリメートレン
ズにより平行光とし、この平行光を対物レンズにより集
光して光ディスクの面上に照射することにより情報の記
録や再生を行う光ピックアップ装置において、前記光源
と前記光ディスクとの間の光路上に、前記光ディスクか
らの反射光を回折光と透過光とに分離する回折格子を有
する分岐回折格子と、この分岐回折格子からの回折光を
偏光分離する透明基板上に回折格子を有する偏光分離回
折格子と、この偏光分離回折格子により分離された回折
光と透過光とをそれぞれ別個に受光する2個の受光素子
とを備え、前記少なくとも1個の受光素子からフォーカ
スエラー信号を検出し、前記少なくとも1個の受光素子
からトラックエラー信号を検出し、前記2個の受光素子
の出力差から光磁気信号を検出するようにしたことを特
徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項2】 分岐回折格子による回折光と偏光分離回
折格子による回折光とが互いに相殺し合うように、前記
分岐回折格子の回折角に対して前記偏光分離回折格子の
回折角を設定したことを特徴とする請求項1記載の光ピ
ックアップ装置。 - 【請求項3】 分岐回折格子と偏光分離回折格子との間
の光路中に偏向ミラーを配設したことを特徴とする請求
項1記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項4】 偏向ミラーとして鋭角なミラーを用い、
偏光分離回折格子を光源の基台に対して平行に配置した
ことを特徴とする請求項3記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項5】 分岐回折格子と偏光分離回折格子との間
にプリズムを配設したことを特徴とする請求項1記載の
光ピックアップ装置。 - 【請求項6】 透明基板により非点収差が発生するよう
に偏光分離回折格子を配置させ、前記透明基板により発
生された非点収差によりフォーカスエラー信号を検出す
るようにしたことを特徴とする請求項1記載の光ピック
アップ装置。 - 【請求項7】 透明基板により非点収差が発生するよう
に偏光分離回折格子を配置させ、分岐回折格子の回折格
子としてチャープ回折格子を用い、このチャープ回折格
子により回折光に発生した非点収差と前記偏光分離回折
格子の透明基板により発生した非点収差とによりフォー
カスエラー信号を検出するようにしたことを特徴とする
請求項1記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項8】 分岐回折格子の回折格子としてチャープ
回折格子を用い、このチャープ回折格子を有する前記分
岐回折格子の基板にコリメートレンズからの集束光が斜
め入射するように配置したことを特徴とする請求項1記
載の光ピックアップ装置。 - 【請求項9】 分岐回折格子をこれに入射する集束光の
光軸を中心に回転させる回折格子回転機構を設けたこと
を特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4282016A JPH06131674A (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4282016A JPH06131674A (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06131674A true JPH06131674A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17647063
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4282016A Pending JPH06131674A (ja) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06131674A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7463569B2 (en) | 2004-04-23 | 2008-12-09 | Panasonic Corporation | Optical disk apparatus with a wavelength plate having a two-dimensional array of birefringent regions |
-
1992
- 1992-10-20 JP JP4282016A patent/JPH06131674A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7463569B2 (en) | 2004-04-23 | 2008-12-09 | Panasonic Corporation | Optical disk apparatus with a wavelength plate having a two-dimensional array of birefringent regions |
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