JPH02291908A - タンデム―配置軸の検査方法 - Google Patents

タンデム―配置軸の検査方法

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JPH02291908A
JPH02291908A JP2091951A JP9195190A JPH02291908A JP H02291908 A JPH02291908 A JP H02291908A JP 2091951 A JP2091951 A JP 2091951A JP 9195190 A JP9195190 A JP 9195190A JP H02291908 A JPH02291908 A JP H02291908A
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axes
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shaft
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、１つの軸に対して固、定されかつその中心軸
線に一般に平行な１つの指示線と他の軸に固定的に連結
された関連要素とがらなる少くとも１組の要素を用い、
互いに軸から軸へ対応する軸の複数の計測角度位置にお
いて、それぞれに対応する互いに独豆した２つの整列デ
ータ信号を得るために、それぞれの計測角度位置および
軸の中心軸線の最小離間距離成分すなわち平行オフセッ
トと並びに互いに交差する場合にはこれら中心軸線間の
最大角度成分すなわち角度オフセットとに関する方法で
、あるいはこれらから前記成分を導いて、軸の中心軸線
間の角度および／もしくは平行オフセットを検出するタ
ンデム−配置軸の検査方法に関する。
〔従来の技術〕
この種の公知の方法（西ドイツ国、ランズベルグ市のフ
エルラーグ　モデルン　インダストリー社発行の雑誌［
インスタンドハルタング（　ＩＮＳＴＡＮＤＨＡＬＴυ
ＮＧ）Ｊ１９８２年１２月号の“コンピュータによる整
列技術”並びにヨーロッパ特許公報ＥＰ−Ｂｌ− ０１４５７４５号参照）においては、整列データ信号は
角度的に約９０°離間された計測角度位置で発生し、そ
して平行オフセット並びに角度オフセットに対する数値
は前記信号データから直接的に求められる。実用的範囲
の正確さが得られるが、しかしながら公知の方法は、計
測装置および指示線に対する空間が軸回りに充分にある
時のみ、問題なく使用され得るだけである。整列データ
信号を発生する計測装置は軸から横方向へ突出し、さら
に各指示線は軸の外側側方に配置されなければならない
。計測は少くとも３つの計測位置で行われるので、計測
装置を取付けた軸は少くとも１８０°回転させなければ
ならない。
計測装置が配置される軸上の位置では、この軸回りに前
述のかなりの角度に亘る空間が必要とされると共に、さ
らに少くとも計測角度位置（相互間に設定される）にお
いては、各指示線の長さに沿って、２つの軸上に配設さ
れる計測装置の部品間に障害物があってはならない。こ
のことは、指示線が光線形式である場合にも同様である
（前記ＥＰ−Ｂｌ−０１４５７４５号参照）。この条件
はしばしば現実に合致せず実際に満足するものではない
。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の１つの目的は、冒頭に記載される形式の計測方
法を、計測角度位置に対して実質的に小さい角度範囲を
もっておよび／もしくは相互間における計測角度位置を
予め決定することなく行ない得るように改良し、これに
より、軸から突出する計測装置並びに軸の側方に突出す
る指示線を用いるものの、軸回りの空間に関する適用度
を前記公知の方法の場合よりは実質的に大きく確保でき
るようにすることにある。
本発明のさらに別の目的は、公知の方法と少くとも同等
の正確度を確保できる改良された方法を提供することに
ある。
〔課題を解決するための手段〕
前記およびさらに別の目的を達成するために、本発明に
おいては、この明細書、特許請求の範囲および図面に開
示されているように、（ａ）軸は、計測が行われる、異
なるかつ自由に選択される少くとも５つの角度位置に回
動され、 （ｂ）　この計測時に発生する信号は、平面座標系にお
いて共通の原点を有するベクトルとしてあるいはそれぞ
れ組の数値として処理され、 （ｃ）　　コンピュータを用いて、計算処理が、軸の３
６０°回転によって得られるカーブの特性データを得る
ために、ベクトルの端部あるいはそれぞれの組の数値に
よって与えられる計測点を基礎にして行われ、そしてこ
の処理は幾何学的理由から計測点は実際上楕円に対応す
るカーブからのみ始められるが計測的に不確定さを有す
る事実を考慮して、前記処理には最高の方法特に最小平
均二乗法が用いられ、 （ｄ）　これらの計測角度位置の少くとも１つの空間内
における角度位置が確定され、そして ｉ）　コンピュータを用いて、軸の相互間における空間
内の位置および必要な場合には検出された整列誤差を除
去する位置補正のための補正値が、計測角度位置への回
転時における空間内の確定された角度位置および軸の既
知の回転方向を考慮した上で、力一ブの特性データを基
礎にして確定される。
〔作用〕
本発明に係る方法においては、計測が行われる少くとも
５つの異なる角度位置は自由に選択される。したがって
、これらは、計測装置および指示線をそれぞれ配置する
ための軸回りの全体的な有効空間が最高に利用されるよ
うに選択されることができる。計測点間の間隔を予め設
定された角度間隔に固定する必要もなく、また計測のた
めに大きな角度範囲を延在させる必要もない。したがっ
て、障害物は所望通りに簡単に補償される。正確な結果
を得るためには、計測位置に対して比較的小さい角度範
囲を取るだけで充分である。したがって、本発明に係る
方法は、軸回りに多くの障害を有ししかも近接できない
軸に対して好適である。
本発明の開示は、特許請求の範囲にさらに記載されてい
る。
〔実施例〕
次に、本発明の一実施例につき添付図面を参照しながら
以下詳細に説明する。
第１ないし７図に示される装置において、計測が行われ
る時に発生される信号は、本発明に係る方法によって処
置もしくは処理され、軸の空間内における相互間の関係
位置が確定されるが、もし必要な場合には、前記位置を
補正するための補正値が算定され、発見され得べき如何
なる誤差でも克服される。第８図に示す平面直角座標系
（Ｐｌａ＋ｕ　ｒｅｃｔａｎｇｕｌａｒｃｏｏｒｄｉｎ
ｘｌｅ　ｓ７ｓｌａ＋ｎ　）には、本発明によって計測
された点の位置と実質的に楕円形のカーブとが示されて
いるが、前記楕円カーブは前記点の位置と、この楕円カ
ーブの知識によらず公知の方法によって計測された点の
位置とから計算されたものである。
図面上の各図において、整列を検査すべき２つの軸は、
それぞれ参照符号１もしくは２によって示されている。
計測値を表わす信号を発生するための図示総ての装置に
おいて、信号は、好ましくはデータ変換器３を介してコ
ンピュータ４に供給され、そしてコンピュータにおいて
、少くとも５つの計測位置において種々の装置によって
発生した軸に関する信号が、次に説明する制御プログラ
ムを用いる方法で処理される。
処理方法は以下の通りである。
−前記信号は、一平面内における共通原点に関するベク
トルとしてあるいは組の数値として処理され、 一一平面内における前記ベクトルあるいは組の数値のそ
れぞれの端部によって与えられる計測点から出発し、か
つこれらの点は、幾何学的理由から、一般的に楕円に対
応するカーブからのみ実際的には始まると共に前記楕円
は軸の３６０°の回転および信号の連続検出から得られ
る事実を考慮して、カーブの特性データが計算される。
これらの計測点は、その計測法においてその始点が信号
を発生する際に不正確な計測が避けられないという不安
定さを有する事実を考慮して、計算においては最善な方
法、例えば最小平均二乗法が適用される。カーブの特性
データの計算の正確性は、計測位置の数の増加ならびに
計測位置に対する角度範囲の増加によって増大するが、
しかしながら、比較的小さい角度範囲における５つの計
測位置であっても、実際上充分に正確なカーブ特性デー
タを得ることができる。
カーブは特定形状の楕円、例えば円あるいは点（半径零
の円）にそれぞれ形成されることもできる。
−計測の少くとも１つの角度位置の空間内における角度
位置は、軸上の適宜の装置によって特に関連位置として
確定される。
一カーブの特性データを基にし、かつ前記関連位置およ
び軸が各計測角度位置へ移動される既知の回転方向一二
の回転方向は例えば使用者のために表示されているかあ
るいは適宜の装置によって確かめられる一を考慮に入れ
て、一方においては、軸の相互間における空間内の位置
が、他方においては、もし整列誤差が検出された場合に
はこの誤差を処理するための補正値が、前記位置を基に
して、確定される。
次に述べる装置は、計測に用いられる信号を発生する方
法がそれぞれ異なっている。発生した信号のその後の処
理は、前述した方法によってすべて遂行される。
箪１図に略図的に示される計測装置において−、計測値
を表わす信号が計測の各角度位置において信号として発
生し、その中の１つは、関連要素の計測点における軸線
に実質的に直角な平面内における軸線の間隔の半径方向
成分に対応し、他の１つは、半径方向に直角に延在する
軸線間の角度成分に対応する。この目的のために、軸１
から光ｆｆｌｓ　（好ましくはレーザ光線からなる）が
、軸中心線に平行して光源５から直角鏡面プリズム６へ
向けて指向し、そしてこのプリズムは、第２の軸２上に
関連要素として、９０°の角度で対向する鏡面６ａが第
２の軸２の半径方向平面（この場合紙面）に実質的に直
角に延在するよう配置される。
第１のシャフト１は光源５に固定された計測レシーバ７
を有し、このレシーバは、２軸電子一光学位置検出器か
ら構成され、第１の軸１に対して、下部鏡面６ａによっ
て反射された光線Ｓ′が入射するように固定されている
。これにより、２つの軸１および２の各計測位置におい
て、位置検出器７は２つの信号Ｓｘおよびｓｙを発生し
、そしてこれらの信号は、軸に対して固定された関連点
ＢＰに関する位置検出器７上の光線の入射点の座標Ｘお
よびｙに対応し、そして位置検出器の計測平面（これは
軸１の中心軸線に実質的に垂直である）内のどこかに選
定することができる。
装置の構造的特徴は、前記ヨーロッパ特許第Ｂｌ−０１
４５７４５号公報に記載され乙通りである。
第２および３図に示される装置においては、信号は各計
測角度位置において２組の信号ＳＸおよびＳｙならびに
Ｓ′　ＸおよびＳ′　ｙとして発生し、これらの信号は
軸１および２の中心軸線が２つの平面に形成する間隔に
関して、各計測角度位置によって設定される半径方向成
分に比例する。なお、前記２つの平面は実質的に軸２に
垂直でかつ後者の範囲内に予め定められた間隔で位置し
ている。この目的のために、第２および３図に示される
装置の場合には、軸１および２の各計測角度位置におい
て、光線Ｓ（好ましくはレーザ光線からなる）が光源８
から前記軸１および２の中心軸線に実質的に平行に２つ
の２軸光学一電子位置検出器９および１０へ向けて指向
し、そしてこの検出器は、別の軸２上の２つの計測位置
（光線Ｓの投射方向に対して前後方向に距離を隔てて配
置されている）において光線Ｓと協働して電気的信号Ｓ
ｘ，ＳｙならびにＳ’　　ｘ，Ｓ’　　ｙをそれぞれ発
生し、そしてこの信号は、光線Ｓのそれぞれの検出器９
および１０の平面内におけるそれぞれの入射点Ａおよび
Ａ′の後者における選択された関連点ＢＰからの距離に
関する、相互に直角な成分ｘ，ｙおよびｘＬ．ｙ／　の
大きさならびにブリフィクス　サイン（Ｐｒｃｌｉｘ　
Ｓｉｇｎ　）に対応する。光源８ならびに位置検出器９
および１０は、第２および３図に破線で示されているよ
うに、軸１および２にそれぞれ固定的に結合している。
第２および３図には、検出平面上の入射点ＡおよびＡ′
の異なる位置を明らかにするために、種々の整列位置が
示されている。
第４および５図に示される装置においては、計測操作に
使用される信号は、各軸に対するそれぞれの計測角度位
置においてそれぞれ信号ＳｚおよびＳ′　ｙとして発生
し、そしてこれらの信号は、それぞれの軸１あるいは２
に対して固定されると共にこれらに実質的に直角な平面
内の、計測の選択された角度位置によって空間内に設定
される半径方向における、軸１および２の中心軸線の間
隔成分に比例する。
前記目的のために、第４図の装置の場合には、光線Ｓ１
好ましくはレーザ光線が、各２つの軸から指示線として
、光源１１からそれぞれ他の軸１もしくは２へ向けて指
向し、そしてこの光線はそれぞれ他の軸１あるいは２上
の光学一電子検出器（必要な場合には２軸に構成される
）からなる協働する関連要素１２の領域へ延在し、これ
により、検出器がそれぞれ信号Ｓｙおよびｓ’ｙを発生
し、そしてこの信号は、位置検出器の平面（一般に他の
軸の中心軸線に直交する）内の、軸に対する半径方向に
おける関連点ＢＰからの中心軸線の間隔に関するそれぞ
れの成分ｙおよびｙ′に対応する。
第５図に係る装置は、前述の装置と機能的に異ならない
が、その構成が、この場合は指示線が固体棒１４から構
成されている点において異なる。固体棒は軸１または２
の１つに固定され、そしてその各自由他端部にはダイヤ
ルゲージ１５が取付けられている。
計測ダイヤルゲージ１５は軸の周面に係合する触手１６
を有し、これによりダイヤルゲージにそれぞれ信号Ｓｙ
およびＳ′　ｙを発生し、そしてこの信号は、平面（軸
の１つに実質的に直交しかつこれに固定的に結合される
）内でかつ選択された計測角度位置によって空間内に設
定される半径方向における、軸１および２の中心軸線間
の距離成分にそれぞれ対応する。
第６図に示す装置において、信号は各計測角度位置にお
いて２つの信号を発生し、その中の１つ（Ｓｙ）は、そ
れぞれの計測角度位置によって設定される計測平面内で
かつ半径方向における軸１および２の中心軸線間の間隔
に関する成分に対応し、そして他の信号（Ｓｚ）は、こ
の半径方向における軸１および２の中心軸線間の角度成
分に対応する。
前記目的のために、指示線が固体棒１７の形で軸１に固
定され、固体棒は２つのダイヤルゲージ１８を備え、そ
の中の１つは触手１９を宵し、この触手は軸２に対して
半径方向に位置してその周面に係合し、そして他の１つ
は端面（軸２の中心軸線に本質的に直角な）の先端部近
傍に係合する軸方向の触手１７を有する。
ダイヤルゲージ１８で計測された読取値は適宜な電気的
信号ｓｙおよびＳ′　ｙに変換され、これらがコンビュ
ータ４を用いる本発明の方法によって処理されると、前
述の装置によって得られる信号と同様な情報が供給され
る。
第６図に係る装置は、前述した形式の光学一電子要素に
設計することもできる。
第７図に示す実施例においては、整列を検査される２つ
の軸１および２は中間軸２０によって互いに連結されて
いる。この場合における整列の検査装置は２つのダイヤ
ルゲージ２１からなり、これらはそれぞれ軸１および軸
２０に固定的に結合されている。ダイヤルゲージ２１の
触手２２は、ダイヤルゲージが固定されている軸の中心
軸線に本質的に平行な方向に移動可能である。これらは
その自由端部が、隣接する軸の中心軸線に直角でかっこ
れに固定されている表面２３に係合するように配置され
ている。ダイヤルゲージ２１は、それらが、同一の計測
平面内に常に位置されるように軸に対して固定されてい
る。この構成においては、ダイヤルゲージは、軸１およ
び２０ならびに軸２ｏおよび２の中心軸線間の角度をそ
れぞれ計測し、そしてコンピュータ４に対して対応する
電気的信号ｓ２およびＳ’　　２を供給する。
第８図に、本発明の方法によって確定された５つの点を
黒点で描いた平面直角座標系を示す。各点の位置は、本
発明の方法を用いる例えば第１図の装置によって、接近
の面を考慮して特に選択された任意の計測点において発
生された信号Ｓｘおよびｓｙを、その大きさに従ってＸ
およびＹ軸上に描いたものである。
２次曲線の一般的定義は次の通りである。
Ｆ＝ａ”　＋２ｂｘｙ＋ｃｙ２＋２ｄｘ＋２ｅｙ＋ｆ＝
０ 本発明は次のような認識、すなわち、各計測点から得ら
れるすべての点は幾何学的理由から本質的に楕円に対応
する一般的なカーブに単に由来するのみであり、しかも
このような点は計測の不確定性をこうむるという認識に
立脚するものであり、そこで前記方程式は、最善の方法
殊に最小平均二乗法を用いて、最高に近似されたそして
本質的には楕円形状のカーブを与えるものである。
点が、また小さな円で描かれているが、これらは、公知
の方法によって、カーブの知識を考慮することなく計測
点の接近性を想定して、計測の空間一関連位置における
１２時、６時および９時の位置に直接的に得られたもの
である。これらの計測点０．３，６，および９の位置か
ら、第８図に示されているように、軸１および２の相互
間における水平ならびに垂直方向の平行および角度オフ
セットを導きだすことができる。本発明の方法によれば
、もし第８図に見られる少なくとも１つの計測黒点に対
する関連する計測点の空間内における位置が同様に見出
される場合には、前記オフセットを計算によって確定す
ることができる。
図面上では分り易くするために軸は部分的に非整列性を
かなり誇張して示されている。
実際的には、オフセットの量は、平行オフセットに対し
ては１０分の数ミリメータの単位であり、また角度オフ
セットの場合には１°未満である。
第１ないし７図に示す装置の操作において、装置の計測
範囲が、どこかで例えば軸１，２回り３６０°の範囲内
におけるある角度範囲だけ超過する場合が起り得る。こ
の場合には、本発明の方法は単に計測角度位置だけでの
操作を可能とするが、このことは前記場合に限定される
ものではない。
第１ないし５図に係る装置によれば、非常に多量の隣接
して集積された数値もしくは読る。このような多量の数
値の処理は、“迷い子”の数値一何らかのことで存在さ
れる一が全体としての計測結果に実質的影響を何等及ぼ
すことがないので、さらに別の利点を提供する。
〔発明の効果〕
本発明は、共通軸の整列性あるいは軸のオフセット状態
の検出を含む、タンデム−配置軸の共通軸整列性を検査
する方法に係り、異なる計測角度位置において２つの独
立した信号が、軸の任意の平行オフセットならびに角度
オフセットに対してそれぞれに発生される。
公知の方法においては、計測角度位置は互いに９０°の
角度間隔に制約されている。このことは、計測に使用さ
れる装置の計測角度位置内に障害物が存在する場合に問
題を提起する。本発明に係る方法は、整列検査操作を、
自由に選択できる計測角度位置によって達成することを
可能とする。
【図面の簡単な説明】
第１ないし７図はそれぞれ計測値を表わす信号を発生す
るための装置一この装置は部分的には公知である一を略
図的に示す側立面図であり、第８図は座標系を示す説明
図である。 １．２・・・軸 ３・・・データ変換器 ４・・・コンビュータ ５．８．１１・・・光源 ６・・・直角鏡面プリズム ６ａ・・・鏡面 ７．．９．１０・・・計測レシーバ（位置検出器）１２
・・・関連要素 １４．１７・・・固体棒 １５．１８．２１・・・ダイヤルゲージ１６　　１９．
２２・・・触手 ２０・・・中間軸 ２３・・・表面 Ｓ・・・光線 Ｓｘ，Ｓｙ，Ｓ’　　ｘ，Ｓ’　　ｙ，Ｓｚ−−−信号
ｘ，ｙ・・・座標 Ａ・・・点 ＢＰ・・・関連点 Ｆｉｇ．　２ Ｆｉｇ．　４ Ｆｉｇ．　６

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）１つの軸に対して固定されかつその中心軸線に一
    般に平行な１つの指示線と他の軸に固定的に連結された
    関連要素とからなる少くとも１組の要素を用い、互いに
    軸から軸へ対応する軸の複数の計測角度位置において、
    それぞれに対応する互いに独立した２つの整列データ信
    号を得るために、それぞれの計測角度位置および軸の中
    心軸線の最小離間距離成分すなわち平行オフセットと並
    びにこれら中心軸線間の最大角度成分すなわち角度オフ
    セットとに関する方法で、あるいはこれらから前記成分
    を導いて、軸の中心軸線間の角度および／もしくは平行
    オフセットを検出するタンデム−配置軸の検査方法にお
    いて、 （ａ）軸は、計測が行われる、異なるかつ自由に選択さ
    れる少くとも５つの角度位置に回動され、 （ｂ）この計測時に発生する信号は、平面座標系におい
    て共通の原点を有するベクトルとしてあるいはそれぞれ
    組の数値として処理され、 （ｃ）コンピュータを用いて、計算処理が、軸の３６０
    °回転によって得られるカーブの特性データを得るため
    に、ベクトルの端部あるいはそれぞれの組の数値によっ
    て与えられる計測点を基礎にして行われ、そしてこの処
    理は幾何学的理由から計測点は実際上楕円に対応するカ
    ーブからのみ始められるが計測的に不確定さを有する事
    実を考慮して、前記処理には最高の方法特に最小平均二
    乗法が用いられ、 （ｄ）これらの計測角度位置の少くとも１つの空間内に
    おける角度位置が確定され、そして （ｅ）コンピュータを用いて、軸の相互間における空間
    内の位置および必要な場合には検出された整列誤差を除
    去する位置補正のための補正値が、計測角度位置への回
    転時における空間内の確定された角度位置および軸の既
    知の回転方向を考慮した上で、カーブの特性データを基
    礎にして確定される ことを特徴とするタンデム−配置軸の検査方法。
  2. （２）前記信号は各計測角度位置において信号として発
    生し、その中の１つは、関連要素の計測位置すなわち計
    測平面内で計測角度位置によって設定されるそれぞれの
    半径方向において、軸の軸線がこの軸線に実質的に直角
    な平面内に形成する離間距離に対応し、そして他の１つ
    は、前記半径方向に直角な、軸線間の角度成分に対応す
    る請求項１記載のタンデム−配置軸の検査方法。
  3. （３）前記信号の発生は、 （ａ）低拡開形の光線殊にレーザ光線が、前記軸の第１
    の軸から前記軸の中心軸線に実質的に平行して直角鏡面
    プリズムすなわち等価光学系へ向けて指向し、このプリ
    ズムは前記軸の第２の軸上に、９０°の角度を有する鏡
    面が第２の軸の半径方向平面に実質的に直角な方向へ延
    在するように取付けられており、 （ｂ）計測レシーバが、鏡面装置の別の鏡面から反射さ
    れた光線がこのレシーバ上に投射されるように第１の前
    記軸に固定的に結合され、そして （ｃ）前記レシーバによって２つの信号が前記各計測位
    置において発生し、これらの信号は前記レシーバ上の光
    線の入射位置の、第１の軸の中心軸線に実質的に直角な
    計測平面内において軸に対して固定された関連点からの
    座標に対応している（第１図）工程から構成される請求
    項２記載のタンデム−配置軸の検査方法。
  4. （４）前記信号はそれぞれの計測角度位置において信号
    として発生し、これらの信号は、計測平面として２つの
    軸に実質的に直交しかつ前記軸の１つに対して予め設定
    された相互間隔を離間された２つの平面内における軸の
    軸線上の離間距離に関する、それぞれの計測角度位置に
    よって設定される半径方向成分に対応する請求項１記載
    のタンデム−配置軸の検査方法。
  5. （５）前記信号をそれぞれの計測位置において発生する
    ために、低拡開形の光線殊にレーザ光線が光源から前記
    軸の第１の軸に沿ってその中心軸線に平行に２つの光学
    −電子位置検出器へ向けて指向し、この検出器は、光線
    の投射方向に少くとも垂直に順次配置されかつ第２の軸
    に実質的に直角な２つの計測平面内において前記２つの
    軸の第２の軸上の光線に作用して電気的信号を供給し、
    この信号は、それぞれの検出器の計測平面内における光
    線の入射点と同じ平面内における関連点との間の離間距
    離に関する、前記計測角度位置によって設定される半径
    方向成分に対応する（第２および３図）請求項４記載の
    タンデム−配置軸の検査方法。
  6. （６）前記信号はそれぞれの計測角度位置において各軸
    に対して別々に信号として発生し、これらの信号は、そ
    れぞれの軸の１つに固定的に連結されて前記軸に直角な
    計測平面を形成する平面内でかつ計測角度位置によって
    設定される半径方向における、２つの軸の中心軸線の離
    間距離成分に対応する請求項１記載のタンデム−配置軸
    の検査方法。
  7. （７）前記信号をそれぞれの計測位置において発生する
    ために、指示線が２つの軸の各々からそれぞれ別の軸へ
    向けて指向し、この指示線は、前記別のそれぞれの軸上
    に配置される１つの固定関連要素に近接する位置までそ
    れぞれ延在して前記指示線の中心軸線の、計測平面にお
    ける関連点からの半径方向間隔に対応する信号を供給し
    、そして前記計測平面は一般に関連要素の前記別の平面
    の中心軸線に直交している（第４および５図）請求項６
    記載のタンデム−配置軸の検査方法。
  8. （８）前記指示線は低拡開の電磁放射線殊にレーザ光線
    からなり、そして関連要素は光学−電子位置検出器から
    なる（第４図）請求項７記載のタンデム−配置軸の検査
    方法。
  9. （９）前記指示線は固体棒であり、そして各関連要素は
    、棒状の指示線によって前記軸に対して半径方向へ移動
    し得る触手を有する計測ダイヤルゲージを含む（第５図
    ）請求項７記載のタンデム−配置軸の検査方法。
  10. （１０）前記信号は各計測角度位置において信号として
    発生し、その中の１つは、それぞれの計測角度位置によ
    って設定される半径方向において、軸の軸線が関連要素
    の計測位置における軸に実質的に直角に延在する計測平
    面内に形成する離間距離に対応し、そして別の信号は、
    この方向における軸の軸線間の角度成分に対応する（第
    ６図）請求項１記載のタンデム−配置軸の検査方法。
  11. （１１）整列状態を検査されるべき軸が中間軸によって
    連結しているものにおいて、前記信号は各計測角度位置
    において信号として発生し、その中の１つは１つの軸の
    中心軸線と、それぞれの計測角度位置によって設定され
    る半径方向に延在する平面内における中間軸の中心軸線
    との間の角度に対応し、そして別の１つは別の軸の中心
    軸線と、前記平面内における中間軸の中心軸線との間の
    角度に対応する （第７図）請求項１記載のタンデム−配置軸の検査方法
    。
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