JPH02265025A - サーボループのループゲイン設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、フォーカスサーボループ及びトラッキングサ
ーボループの各ループゲインを自動的に設定するループ
ゲイン設定方法に関する。

背景技術 ビデオディスクやディジタルオーディオディスク等の情
報記録ディスク（以下、単にディスクと称する）を演奏
する例えば光学式ディスクプレヤには、光ビームをディ
スクの情報記録面上に収束させて情報読取用光スポット
を形成させるだめのフォーカスサーボ装置や、情報読取
用光スポットをディスクの記録トラックに正確に追従さ
せるためのトラッキングサーボ装置が不可欠である。

フォーカスサーボ装置としては、例えば、円筒レンズを
用いて光ビームの光路上の互いに離れた２点のうちの一
方においては光ビームが例えば水平方向に１本の線とし
て集光し、他方においては光ビームか垂直方向に１本の
線として集光するようにすると共に、該２点の中間に４
分割光検知器を配置し、この４分割光検知器の４出力に
基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにしだい
わゆる非点収差法による装置か知られている。

また、ドラッギングサーボ装置としては、例えば、情報
読取用メインビーム及びその両側に配置されたトラッキ
ングエラー検出用の２本のサブビームの計３本のビーム
を用意し、これらビームをその先軸を結ぶ線かトラック
接線方向に対して所定のオフセット角を有するように配
置し、ディスクの情報記録面を経た２本のサブビームの
光量の差に基づいてエラー信号を生成するいわゆる３ビ
ム法による装置か知られている。

ところで、これらサーボ装置では、ディスクの反射率の
ばらつき、ピックアップの経年変化に伴う汚れ等による
パワー変動、或いはピックアップの光検知器の感度のば
らつき等に起因して各サボ系のループゲインが演奏する
ディスク毎に変動することがある。このループゲインの
変動はフォカスエラーやトラッキングエラーに対する追
従性の低下を来し、安定したサーボ動作が得られないこ
とになる。

発明の概要 そこで、ディスク演奏に際して最適なループゲインを自
動的に設定し得るサーボループのループゲイン設定方法
を提供することを目的とする。

本発明によるループゲイン設定方法においては、フォー
カスサーボループ及びトラッキングサーボループの各ル
ープゲインを設定し、ゲインテストモードの指定がある
ときには、これらループゲイン設定値の良否を判定し、
その判定結果の表示をなすことを特徴としている。

実施例 以下、本発明の実施例を図に基づいて詳細に説明する。

第１図は本発明によるループゲイン設定方法が適用され
るディスクプレーヤの信号処理系の構成を示すブロック
図である。図において、レーザビムを収束せしめること
によって得られる３つのビームスポット、すなわち記録
情報読取用スポットＳ１とこのスポットＳ１のディスク
との相対的移動に際してそれぞれ先行及び後続する一対
のトラッキングエラー検出用スポットＳ２＋８３とが図
示の位置関係をもって、ピックアップ（図示せず）から
ディスクの記録トラックＴに対して照射される。これら
ビームスポットによるディスクからの反射光はピックア
ップに内蔵された光電変換素子１〜３に入射し、電気信
号に変換される。なお、ピックアップには、対物レンズ
を含む光学系の他、ディスクの情報記録面に対する対物
レンズの光軸方向の位置制御をなすフォーカスアクチュ
エータやビームスポットの記録トラックＴに対するディ
スク半径方向の位置制御をなすトラッキングアクチュエ
ータ等も内蔵されている。このピックアップはディスク
半径方向において移動自在なキャリッジ（図示せず）に
より担持されている。

光電変換素子１は、受光面を４分割する如く配置されか
つ互いに独立した４つの受光エレメントによって構成さ
れている。そして、受光面の中心に関して互いに対向す
るエレメント同士の出力和が差動アンプ４に供給されて
両出力和の差信号が導出され、この差信号がフォーカス
エラー（Ｆ　Ｅ）信号となる。このフォーカスエラー信
号は、対物レンズかその合焦位置に対して上下動するこ
とにより、第２図に示すように、対物レンズのディスク
面からの離間距離に対して合焦位置でゼロクロスするい
わゆる８字カーブ特性を示す。また、上記各出力和が加
算器５に供給されて両出力和の和信号、すなわち各エレ
メントの総和信号が導出され、この総和信号が読取ＲＦ
倍信号なる。

一方、光電変換素子２，３の各出力はアンプ６７を経て
差動アンプ８に供給されて両川力の差信号が導出され、
この差信号がトラッキングエラ（Ｔ　Ｅ）信号となる。

トラッキングサーボループのオープン状態において、ビ
ームスポットＳ１が第３図（Ａ）に示すように１の記録
トラックＴ１から隣りの記録トラックＴ２に移動すると
き、トラッキングエラー信号は同図（Ｂ）に示す如くサ
イン波状波形となり、そのレベルがビームスポットＳ１
の記録トラックＴからの偏倚量に比例し、またゼロクロ
ス点が記録トラックＴ上の中間位置及び各トラック間の
中間位置にそれぞれ対応している。

フォーカスエラー信号は、抵抗Ｒ１及びコンデンサＣ１
からなるＬＰＦ　（ローパスフィルタ）２４、並びに抵
抗Ｒ２、コンデンサＣ２及び電子スイッチ回路ＳＷＩか
らなるＬＰＦ２５で不要周波数成分が除去された後、Ｖ
ＣＡ　（電圧制御増幅器）９を介してＭＰＸ　（マルチ
プレクサ）１１に供給される。同様に、トラッキングエ
ラー信号は、抵抗Ｒ３、コンデンサＣ４及び電子スイッ
チ回路ＳＷ２からなるＬＰＦ２７で不要周波数成分が除
去された後、ＶＣＡＩＯを介してＭＰＸＩＩに供給され
る。

ＬＰＦ２４．２６は、後述するＡ／Ｄ　（アナログ／デ
ィジタル）変換処理の前にノイズ成分を除去する目的で
設けられたものであり、各カットオフ周波数ｆｃ＋　（
＝１．／２πＣ＋　Ｒ＋　）、ｆｃ３（＝１／２πＣ３
，Ｒ３）は、例えば、Ａ／Ｄ変換の際のサンプリング周
波数ｆ３が３３ＫＨｚ、サーボ帯域がフォーカス、トラ
ッキングそれぞれＩＫＨｚであるとすると、約１２ＫＨ
ｚ程度に設定される。一方、ＬＰＦ２５．２７は各カッ
トオフ周波数ｆｅ２（＝：］−／２πＣ２Ｒ２）、ｆｃ
４（＝１／２πＣ４Ｒ４）が約５ＫＨｚ程度に設定され
、後述するサーボコントローラー５による制御にょって
選択的に活性化されることにより、ＬＰＦ２４２６で除
去し切れなかった高域成分を取り除く作用をなす。各カ
ットオフ周波数の大小関係は、サンプリング周波数ｆｓ
に対し フォーカス系　　　ｆ　ｓ　＞　ｆｃ＋＞　ｆｃ２トラ
ッキング系　　ｆｓ＞ｆｃａ＞ｆｃ４となる。

ＭＰＸＩＩはフォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号を次段のＡ／Ｄ変換器１２に時分割伝送する。

Ａ／Ｄ変換器１２でディジタル化された各エラー信号は
ディジタルイコライザ（ＥＱ）１３で周波数特性が補償
された後ＰＷＭ　（パルス幅変調）回路１４に供給され
てエラー信号の大きさ（レベル）に応じたパルス幅の駆
動信号として先述したフォーカスアクチュエータ及びト
ラッキングアクチュエータに供給される。また、ＰＷＭ
回路１４では、ディジタルＥＱ１３においてトラッキン
グエラー信号の低域成分が抜き出されかつ周波数特性の
補償がなされた後の信号レベルに応じたパルス幅の駆動
信号も生成され、この駆動信号はピックアップを担持し
たキャリッジの駆動源であるキャリッジモータ（図示せ
ず）に供給される。

以上により、各エラー信号をＡ／Ｄ変換してディジタル
処理するディジタルサーボ系が構成されており、このサ
ーボ系の制御はマイクロコンピュタからなるサーボコン
トローラ１５によって行なわれる。このサーボコントロ
ーラ１５は各サーボループのオン（閉成）・オフ（開放
）制御、対物レンズのアップ／ダウン動作時の駆動信号
の生成、ＶＣＡ９，１０のゲイン制御、ディジタルＥＱ
１３のイコライザ特性の制御等を行なう。

加算器５の出力である読取ＲＦ倍信号ＲＦ再生回路１６
及びＲＦエンベロープ検波回路１７に供給される。演奏
されるディスクが例えばコンパクト・ディスクの場合、
読取ＲＦ倍信号ＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ　ｔｏ　Ｆｏｕｒｔ
ｅｅｎ　Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号であり、］０ このＥＦＭ信号はＲＦ再生回路１６においてＥＦＭ復調
されかつエラー訂正された後Ｄ／Ａ　（ディジタル／ア
ナログ）変換されて左右のオーディオ出力となる。また
、ＲＦ再生回路１６においては、読取ＲＦ倍信号ら抽出
された再生クロックの基準クロックに対する位相差に応
じた位相エラー信号が生成されると共に、ＥＦＭ復調デ
ータからサブコード情報かデコードされる。位相エラー
信号はサーボコントローラ１５を介してＰＷＭ回路１８
に供給され、エラー信号レベルに応じたパルス幅の駆動
信号としてディスクを回転駆動するスピンドルモータ（
図示せず）に供給される。サブコド情報はシステムコン
トローラ１９に供給される。

一方、ＲＦエンベロープ検波回路１７で検波されたＲＦ
エンベロープはＡ／Ｄ変換器２０でディジタル化された
後、ディジタルＬＰＦ２８を介してサーボコントローラ
１５に供給される。

サーボコントローラ１５においては、ＬＰＦ２８を介し
て供給されるＲＦエンベロープ信号の低域成分から周波
数が非常に低い第１ノイズ成分を検出することにより、
さらにＨＰＦ　（バイパスフィルタ）２９を介して供給
されるトラッキングエラー信号の高域成分から周波数が
非常に高い第２ノイズ成分を検出することにより、ディ
スクの情報記録面の傷や汚れ等のディフェクト検出が行
なわれる。サーボコントローラ１５は、ディスクのディ
フェクトを検出すると、検出期間及びその終了時点から
一定時間Ｔが経過するまでの期間においてＬＰＦ２５．
２７のスイッチ回路ｓｗｌ、ｓＷ２の一方又は両方をオ
ンせしめることによってＬＰＦ２５．２７の一方又は両
方を活性化する。

これにより、ＬＰＦ２４．２６で除去し切れなかった高
域成分を取り除くことかできるのである。

第１１図及び第１２図はトラッキングサーボ系における
第１及び第２ノイズ成分の波形図であり、（Ａ）がＬＰ
Ｆ２７を通過前のもの、（Ｂ）がＬＰＦ２７を通過後の
ものをそれぞれ示している。

なお、上記一定時間Ｔは第１及び第２ノイズ成分の各々
において変えられる構成となっており、ディスクでクリ
アーすべき目標長に応じて時間Ｔが設定される。

システムコントローラ１９はマイクロコンピュタによっ
て構成されており、キーボード２１からのキー操作指令
や、ＲＦ再生回路１６からのサブコード情報等に応じて
サーボコントローラ１５を含むシステム全体の制御をな
すと共に、デイスプレィ２２の表示制御、さらにはディ
スクのローディング、アンローディングを行なうローデ
ィング機構２３の駆動制御を行なう。

次に、システムコントローラ１９のプロセッサによって
実行される本発明によるループゲイン設定方法の処理手
順について第４図のフローチャートにしたがって説明す
る。なお、このループゲイン設定処理は、ディスクのロ
ーディング及びクランプか完了し、さらにピックアップ
を担持したキャリッジが最内周位置に到来したことを検
知した時点で開始されるものとする。

プロセッサは、図示せぬ検知手段の検知出力によってキ
ャリッジが最内周位置に到来したことを検知すると、先
ずＲＡＭ等の内部メモリの格納デ夕や各種カウンタのカ
ウント値をリセットする初期化を行ない（ステップＳ１
）、しかる後ピックアップのレーザ光源をオンせしめる
（ステップＳ２）。続いて、フォーカスサーボループの
ルプゲインを設定するためのゲイン定数ＧＦをフォカス
エラー信号の振幅の大きさを表わす例えばｐ−ｐ値に基
づいて選定するフォーカスゲイン定数選定モードの処理
を実行しくステップＳ３）、当該モードで選定されたゲ
イン定数を選定フォカスゲイン定数ＧＦとして内部メモ
リに記憶保持する（ステップＳ４）。フォーカスゲイン
定数選定モードの処理手順に関しては後述する。フォカ
スゲイン定数ＧＦの選定後、トラッキングサボループの
ループゲインを設定するためのゲイン定数ＧＴをトラッ
キングエラー信号の振幅の大きさを表わす例えばｐ−ｐ
値に基づいて選定するトラッキングゲイン定数選定モー
ドの処理を実行しくステップＳ５）、当該モードで選定
されたゲイン定数を選定トラッキングゲイン定数ｃ−ｒ
として内部メモリに記憶保持する（ステップＳ６）。ト
ラッキングゲイン定数選定モードの処理手順に関しては
後述する。

フォーカスゲイン定数ＧＦ及びトラッキングゲイン定数
ＧＴの選定後、ゲインテストモードが指定されているか
否かを判断する（ステップＳ７）。

ゲインテストモードが指定されていなければ、ステップ
Ｓ３及びステップＳ５で選定されたゲイン定数ＧＦ、Ｇ
Ｔに対応したループゲインとなるようにＶＣＡ９，１０
のゲインを設定しくステップＳ８）、ループゲイン設定
のための一連の処理を終了する。ゲインテストモードが
指定されていれば、以下に説明するゲインテストモード
の処理を実行する（ステップＳ９）。

なお、ゲインテストモードの指定は、キーボド２１とは
別の例えばプレーヤ内部の基板等に配置されたゲインテ
ストモード指定スイッチ（図示せず）をオンせしめるこ
とによってなされる。すなわち、以下に説明するゲイン
テストモードの処理は、ユーザがディスクを演奏する際
に行なわれるのではなく、例えばプレーヤの出荷前の工
場での検査工程において各選定ゲイン定数ＧＦ、ＧＴの
値が規定範囲内に存在するか否かを確認するために行な
われるのである。

次に、ゲインテストモードの処理手順の一例について第
５図のフローチャートにしたがって説明する。

プロセッサは先ず、第４図のステップＳ３において選定
したフォーカスゲイン定数ＧＦが規定範囲内（Ｇｐｏ≧
ＧＦ≧Ｇｐ＋−）にあるか否かを判断しくステップＳ　
１１）　、ＧＦＨ≧ＧＦ≧ＧＦＩ、であれば、判定カウ
ンタのカウント値Ｘを“１″たけカウントアツプしくス
テップ５１２）、しかる後第４図のステップＳ５におい
て選定したトラッキングゲイン定数ＧＴが規定範囲内（
ＧＴＩＩ≧ＧＴ≧ＧＴＬ）にあるか否かを判断する（ス
テップ８１３）。ステップＳｌｌにおいて、ＧＦ＞ＧＦ
Ｉ＋又はＧＦＬ〉ＧＦと判定した場合には直接ステップ
８１Ｂに移行する。ステップ８１Ｂにおいて、ＧＴＨ≧
ＧＴ≧ＧＴＬと判定した場合には、先の判定カウンタの
カウント値Ｘを２”だけカウントアツプしくステツブ５
１４）、Ｌかる後第４図のステップＳ３及びステップＳ
５で選定されたゲイン定数ＧＦ。

ＧＴの各選定値をデイスプレィ２２に表示せしめる（ス
テップ５１５）。ＧＴ〉ＧＴｌｌ又はＧＴＩ、〉ＧＴと
判定した場合には直接ステップＳ１５に移行してゲイン
定数ＧＦ、Ｇ、の各選定値を表示する。

続いて、先の判定カウンタのカウント値Ｘが“３”であ
るか否かを判断しくステップ５１６）、Ｘ−３であれば
、ステップＳ１２及びステップＳ１４を経ている、すな
わちステップＳｌｌ及びステップ８１３においてゲイン
定数ＧＦ、Ｇ、が共に規定範囲内であると判定されてい
る訳であるから、デイスプレィ２２に両ゲイン定数ＧＦ
、Ｇ。

が共に正常であることを示す例えばｒＧＡＩＮ　ＴＥＳ
Ｔ“ＯＫ“」の表示をなす（ステップ５１７）。

Ｘ＝４３であれば、続いてＸ＝１であるか否かを判断す
る（ステップ５１８）。Ｘ＝１であれば、トラッキング
ゲイン定数ＧＴのみが規定範囲外と判定されている訳で
あるから、デイスプレィ２２に例えばｒＴＩ？ＫＧ″Ｎ
Ｇ’Ｊの表示をなす（ステップＳ１９）。Ｘ〜１である
場合にはＸ＝２であるか否かを判断する（ステップ５２
０）。Ｘ−２であれば、フォーカスゲイン定数ＧＦのみ
が規定範囲外と判定されている訳であるから、デイスプ
レィ２２に例えばｒ　ＦＯＣ８″ＮＧ“」の表示をなす
（ステップ５２１）。Ｘ〜２である場合には、ゲイン定
数ＧＦ、ＧＴが共に規定範囲外であると判定されている
訳であるから、デイスプレィ２２に例えばｒ　ｐｏｃｓ
″ＮＧ″」及びｒＴＲＫＧ″ＮＧ”」の表示をなす（ス
テップ５２２）。

以上により、第４図のステップＳ３及びステップＳ５で
選定されたゲイン定数ＧＦ、ＧＴの各選定値か規定値内
に存在するか否かを確認するための一連の処理を終了す
る。

このように、ゲインテストモードの処理によって例えば
プレーヤの出荷前の工場での検査工程において各選定ゲ
イン定数ＧＦ、Ｇ、の選定値が正規範囲内に存在するか
否かを確認することにより、専用の測定検査装置を用い
ることなくその確認を簡単に行なうことができため生産
性を向上でき、またループゲイン自動設定処理系による
ゲイン設定が最良な状態で出荷できるため、ユーザ側で
は演奏するディスク毎に最適なループゲインを自動的に
設定できることになる。

なお、上記実施例では、各選定ゲイン定数ＧＦ。

ＧＴの選定値が規定範囲内に存在するか否かによって各
選定値の良否を判定するとしたが、各選定ゲイン定数Ｇ
Ｆ＋　　ＧＴの値の比をとってその比が規定範囲内に存
在するか否かによって各選定値の良否を判定するように
しても良く、またＲＦエンベロープの振幅の大きさを表
わす例えばｐ−ｐ値を検出し、この検出ｐ−ｐ値とゲイ
ン定数ＧＦｃ−ｒの各選定値とを比較することによって
各選定値の良否を判定することも可能であり、以下にそ
の処理手順を説明する。

第６図において、プロセッサは先ず、第４図のステップ
Ｓ３及びステップＳ５で選定されたゲイン定数ｃ、：、
ＧＴの各選定値をデイスプレィ２２に表示せしめ（ステ
ップ５３１）、続いてＡ／Ｄ変換器２０からＲＦエンベ
ロープデータを取り込んでＲＦエンヘロープのｐ−ｐ値
を算出する（ステップ５３２）。このＲＦエンベロープ
のｐ−ｐ値の算出は、例えば、Ａ／Ｄ変換の際のサンプ
リングタイミング毎に取り込むエラーデータの今回値を
前回値と比較し、上側の波高値の場合には今回値が前回
値以下となったときの前回値を、下側の波高値の場合に
は今回値が前回値以上となったときの前回値をそれぞれ
各波高値とし、その差を求めることによって行なわれる
。そして、算出したＲＦエンベロープのｐ−ｐ値ＲＦ、
Ｐとその基準レベルＲＦｏとからＲＦｏ／ＲＦｐｐなる
演算式に基づいて判定基準定数Ｒを算出する（ステップ
８３３）。

続いて、第４図のステップＳ３及びステップＳ５で選定
されたフォーカスゲイン定数ＧＦ及びトラッキングゲイ
ン定数ＧＴと、ＲＦエンベロープ基準レしルＲＦＯに基
づいて設定された基準ゲイン定数ＧＦｏ＋ＧＴｏとから
、ＧＦＯ／ＧＦ及びＧＴｏ／Ｇ７なる演算式に基づいて
フォーカスゲイン定数ＧＦ及びトラッキングゲイン定数
０丁の各判定定数ＦＧ及びＴＧをそれぞれ算出する（ス
テップ５３４）。そして、フォーカス判定定数ＦＧと判
定基準定数Ｒとの比（ＦＧ／Ｒ）が所定範囲内（ＧＨ−
＋≧ＦＧ／Ｒ≧ＧＬ）にあるか否かを判断する（ステッ
プ５３５）。

ＧＨ≧ＦＧ／Ｒ≧ＧＬであれば、判定カウンタのカウン
ト値Ｘを“１″だけカウントアツプしくステップ５３６
）、しかる後トラッキング判定定数ＴＧと判定基準定数
Ｒとの比（ＴＧ／Ｒ）が所定範囲内（ＧＨ−＋≧ＴＧ／
Ｒ≧ＧＬ）にあるか否かを判断する（ステップ５３７）
。ステップＳ３５において、ＦＧ／Ｒ＞Ｇ１−１又はＧ
Ｌ　＞　Ｆ　Ｇ／Ｒと判定した場合には直接ステップＳ
３７に移行する。ステップＳ３７において、ＧＨ≧ＴＧ
／Ｒ≧ＧＬと判定した場合には、先の判定カウンタのカ
ウント値Ｘを“２”だけカウントアツプしくステップ５
３８）、続いてそのカウント値Ｘが“３”であるか否か
を判断する（ステップ５３９）。ステップＳ３７におい
て、ＴＧ／Ｒ＞ＧＨ又はＧＬ＞ＴＧ／Ｒと判定した場合
には直接ステップＳ３９に移行する。以降、ステップ８
３９〜ステツプＳ４５までの処理は第５図におけるステ
ップ８１６〜ステツプＳ２２までの処理と同じである。

次に、先述したフォーカスゲイン定数選定モトの処理手
順の一例について第７図のタイミングチャートを参照し
つつ第８図のフローチャー１・にしたがって説明する。

なお、本処理はループオプン状態で実行されるものとす
る。

プロセッサは先ず、スピンドルモータを正転駆動すべく
サーボコントローラ１５を制御してＰＷＭ回路１８から
波高値Ｈの正転駆動パルスをキックパルスとして発生さ
せる（ステップ５５１）。

そして、所定時間Ｗ（例えば、１００１′ｌ５ｅｃ）経
過した後（ステップ５５２）、正転駆動パルスの発生を
停止させるべくサーボコントローラ１５を制御する（ス
テップ８５３）。この正転駆動パルスのパルス幅Ｗ及び
波高値Ｈによってスピンドルモタの回転数が決まり、そ
のパルス幅Ｗ及び波高値Ｈはスピンドルモータが暫時し
かもプレイ時の定速回転数よりも非常に低い低速にて回
転するように設定される。

続いて、対物レンズをダウンさせるべくサーボコントロ
ーラ１５を制御して負の駆動電圧（Ｆ　Ｄ）を発生させ
（ステップ５５４）、この駆動電圧の絶対値（ＩＦＤＩ
）がフォーカス駆動電圧の下限値（ＵＬ）以上になるま
で（ステップ５５５）、対物レンズをダウン駆動する。

ＩＦＤＩ≧ＵＬとなったら、タイマーカウンタをスター
トさせる（ステップ５５６）。このタイマーカウンタの
カウント動作は内部基準クロックに同期して行なイつれ
る。タイマーカウンタのカウント値に基づいてＦＤＩ≧
ＵＬとなった時点から所定時間Ｔ（例えば、５０　ｍ５
ｅｃ）か経過したことを検出したら（ステップ５５７）
、内部カウンタ■のカウント値Ｎをインクリメントしく
ステップ３５８）、同時に対物レンズをアップさせるべ
くザーボコントローラ１５を制御して漸次増大する傾斜
状の駆動電圧（Ｆ　Ｄ）を発生させる（ステップ５５９
）。

なお、カウント値Ｎは８字カーブのｐ−ｐ値を取り込ん
だ回数を表わす。

続いて、Ａ／Ｄ変換器１２の出力として得られるエラー
データを取り込んでその絶対値（ＩＦＥＩ）かスレッシ
ョールドレベルＴＨ以上になったか否かを判断する（ス
テップ５６０）。

ＦＥ１≧ＴＨであれば、ノイズではなくフォーカスエラ
ーであると判断し、対物レンズの合焦位置の前後ではフ
ォーカスエラーは８字カーブ特性を示すことから、取り
込んだエラーデータに基づいてその正負の波高値の差、
すなわちｐ−ｐ値を算出する（ステップ５６１）。この
８字カーブのｐ−ｐ値の算出は、例えば、Ａ／Ｄ変換の
際のサンプリングタイミング毎に取り込むエラーデータ
の今回値を前回値と比較し、正の波高値の場合には今回
値か前回値以下となったときの前回値を、負の波高値の
場合には今回値か前回値以上となったときの前回値をそ
れぞれ各波高値とし、その差を求めることによって行な
われる。

このようにして算出したｐ−ｐ値の今回値を前回値と比
較しくステップ５６２）、今回値が前回値よりも大なる
場合には今回値を前回値としてメモリに記憶する（ステ
ップ８６３）。今回値が前回値以下の場合には前回値を
そのまま保持する。

これにより、メモリには最終的に取り込んだｐｐ値のう
ちの最大値が保持されることになる。続いて、内部カウ
ンタＩのカウント値Ｎ及び内部カウンタ■のカウント値
Ｍをそれぞれインクリメントする（ステップＳ６４，５
６５）。なお、カウント値Ｍは、対物レンズのアップ／
ダウン回数を表わす。そして、所定時間ｔ　（例えば、
５　ｍ５ｅｃ）が経過した後（ステップ５６６）、内部
カウンタ■のカウント値Ｍが所定値Ｍｏ（例えば、４）
以上か否か、すなわち対物レンズのアップ／ダウン動作
がＭ（、回以上行なわれたか否かを判断する（ステップ
５６７）。

Ｍ＜Ｍｏであれば、Ｍが奇数であるか否かを判断しくス
テップ８６８）、Ｍが０若しくは偶数であれば、ステッ
プＳ５９に戻ってレンズ駆動方向を反転し上述の動作を
繰り返す。Ｍが奇数であれば、レンズ駆動方向を反転し
対物レンズをダウンさせるべくサーボコントローラ１５
を制御して漸次減少する傾斜状の駆動電圧（Ｆ　Ｄ）を
発生させ（ステップ５６９）、ｔ、かる後ステップＳ６
０に戻って上述の動作を繰り返す。

ステップＳ６０において、ＩＦＥｌくＴＨと判定した場
合には、内部カウンタ■のカウント値Ｍが０若しくは偶
数であるか否かを判断する（ステップ５７０）。Ｍが０
若しくは偶数と判定した場合には、駆動電圧ＦＤがその
上限値ＵＨ以上になったか否かを判断しくステップ５７
１）　、ＦＤ≧ＵＨであれば、内部カウンタ■のカウン
ト値Ｍをインクリメントしくステップ５７２）、しかる
後ステップＳ６７に移行する。ＦＤ＜ＵＨであれば、ス
テップＳ５９に戻って上述の動作を繰り返す。

一方、ステップＳ７０において、Ｍが奇数と判定した場
合には、駆動電圧ＦＤかその下限値ＵＬ以下になったか
否かを判断しくステップ８７３）、ＦＤＩ≦ＵＬであれ
ばステップＳ７２に移行し、ＦＤ　ｌ　＞ＵＬであれば
ステップＳ６９に移行する。

ステップＳ６７において、Ｍ≧ＭＯと判定した場合には
、内部カウンタ■のカウント値Ｎが“１″であるか否か
を判断しくステップ５７４）　、Ｎ＝１であれば、対物
レンズのアップ／ダウン動作をＭＯ回繰り返してもルー
プゲインの設定の基準となる８字カーブのｐ−ｐ値を１
回も取り込めなかったことになるから、ゲイン設定する
ことなく上述した一連の処理を終了する。この場合には
、例えば、再度上述した処理を繰り返す。Ｎ＝’Ｆ１て
あれば、ステップ３６３で最終的にメモリに保持された
ｐ−ｐ値の最大値に基づいてフォー力スサボループのル
ープゲイン定数ＧＦを選定しくステップ５７５）、続い
て対物レンズをアップさせるべくサーボコントローラ１
５を制御して漸次増大する傾斜状の駆動電圧（ＦＤ）を
発生させ（ステップ８７６）、しかる後サーボループを
クローズ状態としくステップ５７７）、以上により、ル
ープゲイン定数ＧＦの選定のための一連の処理を終了す
る。

なお、上述したフォーカスゲイン定数選定モードの処理
手順は一例に過ぎず、これに限定されるものではない。

続いて、先述したトラッキングゲイン定数選定モードの
処理手順の一例について第９図のフロチャートにしたが
って説明する。なお、本処理は例えばスピンドルサーボ
の立上げの際にディスクの回転数が所定回転数（コンパ
クトディスクの場合、例えば２００〜３００　Ｃｒ、ｐ
、ｍ、コ程度）に達した時点からループオープン状態で
実行されるものとする。また、ループオープン状態では
、トラッキングエラー信号は第１０図に示す如く変化す
る。

プロセッサは先ず初期設定により、内部レジスタに格納
される検出ピーク値Ｘ　ＰＰ＋　　Ｘ　ＰＮ及びＡ／Ｄ
変換のサンプリング周期に同期してカウントアツプする
タイマーカウンタのカウント値Ｔをそれぞれリセットし
くステップ５８１）、しかる後トラッキングエラーデー
タＸを取り込む（ステ・ツブ５８２）。このエラーデー
タＸの取込みは上記サンプリング周期に同期して行なわ
れる。

続いて、エラーデータＸが正か否かを判断し（ステップ
８８３）　、ｘ＞Ｏの場合には、エラデータＸが前回ま
での検出ピーク値ＸＰＰよりも大か否かを判断する（ス
テップ５８４）。Ｘ〉ＸＰＰなる場合には、今回取り込
んだエラーデータＸを検出ピーク値ｘｐｐとして格納し
くステップ５８５）、Ｌかる後ステップＳ８６に移行す
る。

Ｘ≦ＸＰＰなる場合には、直接ステップＳ８６に移行す
る。ステップＳ８６においては、タイマーカウンタのカ
ウント値Ｔに基づいてエラーデータＸを取り込む時間Ｔ
ｏの管理を行ない、取込み時間Ｔｏとしては、例えば、
スピンドルサーボの立上げの際にディスクの回転数が所
定回転数に達した時点からディスクの少なくとも１回転
に要する時間が設定される。取込み時間Ｔｏが経過して
いなければ、ステップＳ８２に戻って上述の処理を繰り
返す。

一方、ステップ８８ＢてＸ≦Ｏと判定した場合には、エ
ラーデータＸが前回までの検出ピーク値ＸＰＮ以下か否
かを判断する（ステップ５８７）。

Ｘ≦ＸＰＮなる場合には、今回取り込んだエラーデ２つ 夕Ｘを検出ピーク値ＸＰＮとして格納しくステップ５８
８）、Ｌかる後ステップＳ８６に移行する。

ｘ　＞　Ｘ　ＰＮなる場合には、直接ステップＳ８６に
移行する。そして、ステップＳ８６てエラーデータＸの
取込み時間Ｔｏが経過したと判定したら、その時点にお
ける検出ピーク値ＸＰＰ＋　　ＸＰＮか正、負の最大ピ
ーク値ｐｐ＋　　ｐＮとなるため、これらピク値１）ｐ
Ｈ）Ｎに基づいて（ｐｐ　　Ｉ）Ｎ）なる式からｐ−ｐ
値を算出しくステップ５８９）、続いてこのｐ−ｐ値に
対応するゲイン定数ＧＴを選定しくステップ５９０）、
しかる後サーボループをクローズ状態としくステップ５
９１）、以上により、ループゲイン定数ＧＴの選定のた
めの一連の処理を終了する。

なお、上述したトラッキングゲイン定数選定モードの処
理手順は一例に過ぎず、これに限定されるものではなく
、例えば、ディスクを１００［ｒ。

ｐ、ｍ、］程度の低回転数で回転駆動しかつ情報読取用
スポットをディスク半径方向に移動させつつこのとき得
られるトラッキングエラーデータをサンプル値として取
り込むようにすることも可能である。

また、上記実施例では、第４図のステップＳ３゜Ｓ５で
設定された設定値が否の場合、デイスプレィ２２に“Ｎ
Ｇ“の表示をする例を述べたが、設定値を表示させると
きに否と判定された設定値を点滅させることで判定結果
を表示させることも可能である。

発明の詳細 な説明したように、本発明によるループゲイン設定方法
によれば、フォーカスサーボループ及びトラッキングサ
ーボループの各ループゲインを設定し、ゲインテストモ
ードの指定かあるときには、これらループゲイン設定値
の良否を判定し、その判定結果の表示をなすことにより
、例えばプレーヤの出荷前の工場での検査工程において
専用の測定検査装置を用いることなくループゲイン設生
産性を向上でき、またループゲイン自動設定処理系によ
るゲイン設定が最良な状態で出荷できる３ま ため、ユーザ側では演奏するディスク毎に最適なループ
ゲインを自動的に設定できることになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるループゲイン設定方法が適用され
るディスクプレーヤの信号処理系の構成を示すブロック
図、第２図は対物レンズのディスク面からの離間距離に
対するフォーカスエラー信号の波形変化を示す波形図、
第３図は記録トラックに対する情報読取用スポットの移
動位置とトラッキングエラー信号の関係を示す図、第４
図は本発明によるループゲイン設定方法の処理手順を示
すフローチャート、第５図はゲインテストモードの処理
手順の一例を示すフローチャート、第６図はゲインテス
トモードの処理手順の他の例を示すフローチャート、第
７図はフォーカスゲイン定数選定モードにおける処理動
作を説明するためのタイムチャート、第８図はフォーカ
スゲイン定数選定モードにおける処理手順を示すフロー
チャート、第９図はトラッキングゲイン定数選定モード
における処理手順を示すフローチャート、第１０図はル
ープオープン状態において得られ、トラッキングエラー
信号の波形図、第１１図及び第１２図はトラッキングサ
ーボ系における第１及び第２ノイズ成分の波形図であり
、（Ａ）はノイズ除去前、（Ｂ）はノイズ除去後をそれ
ぞれ示している。 主要部分の符号の説明 １〜３・・・・・・光電変換素子 ９．１０・・・・・・電圧制御増幅器 １３・・・・・・ディジタルイコライザ１４．１８・・
・・・・パルス幅変調回路１５・・・・・・サーボコン
トローラ １７・・・・・・ＲＦエンベロープ検波回路１９・・・
・・・システムコントローラ出願人　　　パイオニア株
式会社

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）フォーカスサーボループ及びトラッキングサーボ
   ループの各ループゲインを自動的に設定するサーボルー
   プのループゲイン設定方法であって、フォーカスサーボ
   ループのループゲインを設定する第１行程と、 トラッキングサーボループのループゲインを設定する第
   ２行程と、 ゲインテストモードが指定されているか否かを判定する
   第３行程と、 前記ゲインテストモードにおいて前記第１及び第２行程
   で設定された各ループゲイン設定値の良否を判定する第
   ４行程と、 前記第４行程の判定結果の表示をなす第５行程とからな
   ることを特徴とするサーボループのループゲイン設定方
   法。
2. （２）前記第４行程において、前記第１及び第２行程で
   設定された各ループゲイン設定値が規定範囲内に存在す
   るか否かによって判定をなすことを特徴とする請求項１
   記載のサーボループのループゲイン設定方法。
3. （３）前記第４行程において、前記第１及び第２行程で
   設定された各ループゲイン設定値を互いに比較すること
   によって判定をなすことを特徴とする請求項１記載のサ
   ーボループのループゲイン設定方法。
4. （４）情報記録ディスクからの読取ＲＦ信号のエンベロ
   ープの振幅の大きさを検出する第６行程を有し、 前記第４行程において、前記第１及び第２行程で設定さ
   れたループゲイン設定値と前記第６行程で検出された検
   出値とを比較することによって判定をなすことを特徴と
   する請求項１記載のサーボループのループゲイン設定方
   法。