JPH02210892A - 類似半導体装置の選別方法 - Google Patents

類似半導体装置の選別方法

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JPH02210892A
JPH02210892A JP1029984A JP2998489A JPH02210892A JP H02210892 A JPH02210892 A JP H02210892A JP 1029984 A JP1029984 A JP 1029984A JP 2998489 A JP2998489 A JP 2998489A JP H02210892 A JPH02210892 A JP H02210892A
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JP
Japan
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test pad
dummy resistor
semiconductor devices
similar semiconductor
dummy
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Pending
Application number
JP1029984A
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English (en)
Inventor
Akio Tazaki
田崎　秋生
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はダミー抵抗を用いた類似半導体装置の選別方法
に関するものである６ （従来の技術） 近年、半導体装置はあらゆる産業に利用されるようにな
り、その用途も多岐にわたるようになってきた。それに
伴い、顧客からの要望により、半導体装置内の電子回路
の小変更を余儀なくされ、１つのタイプの半導体装置に
おいて異タイプ名で数種類に***する現象がおこってき
た６第２図は従来の半導体装置の構成例である。同図に
おいて、１は電子回路の電源端子、２は電子回路の接地
端子、３は入力端子であり、４は出力端子である。第３
図は、前記半導体装置の一部回路を変更した類似半導体
装置で、１は電子回路の電源端子、２は接地端子、３は
入力端子であり、４は出力端子である。
以上のように構成された２つの類似半導体装置の選別方
法について、その方法を説明する。
まず、出力端子に接続された抵抗値の違いから、出力端
子に外部から電流を印加し、そのときの電圧値を側定す
る。そして、その電圧値の違いから２つの半導体装置の
選別を行うものである。
（発明が解決しようとする課題） しかし、上記従来の方法では、抵抗を半導体装置内に作
り込む拡散上のばらつきを考慮すると。
選別規格がオーバーラツプして選別が不可能である製品
も存在する欠点があった。また、半導体装置内の電子回
路が複雑になればなるほど、一部の回路の小変更では出
力端子に出てくる出力の変化が表れない欠点もあった。
（ラッチアップなどの対策で、ダイオード１個を追加し
た場合など、）本発明の目的は、従来の欠点を解消し、
類似半導体装置であっても確実に選別することのできる
選別方法を提供することである。
（ｉ１題を解決するための手段） 本発明の類似半導体装置の選別方法は、トランジスタも
しくはトランジスタを用いて電子回路が形成された半導
体部品上に、入出力電気特性に影響しない位置にテスト
パッドを設け、このテストパッドにダミーの抵抗を接続
し、このダミーの抵抗の抵抗値を側定したものである。
（作　用） 本発明は、上記構成によって半導体装置内の電子回路の
電気特性を変化させることなしに、２つの類似半導体装
置を選別することができる。
（実施例） 本発明の一実施例を第１図に基づいて説明する。
第１図は本発明の類似半導体装置の選別方法に使用する
半導体装置の構成例である。同図において。
第２図および第３図に示した従来例と同じ部分には同一
符号を付し、その説明を省略する。５はテストパッド、
６はテストパッド５に接続されたダミー抵抗である。
以上のように構成された類似半導体装置の選別方法につ
いて、その動作を説明する。ダミー抵抗６の抵抗値を抵
抗を作り込む拡散上のばらつきを考慮して１選別規格が
オーバーラツプしないように極端に値を変えて作る。そ
れにより、ダミー抵抗６を外部から電流を印加して電圧
値を側定することにより、半導体装置の内部電子回路の
電気特性を変化させることなしに２つの類似半導体装置
を選別することができる。
以上のように１本実施例によれば、テストパッド５にダ
ミー抵抗６を接続することにより、２つの類似半導体装
置を選別することができる。
（発明の効果） 本発明によれば、テストパッドにダミー抵抗を設けるこ
とにより、確実に類似半導体装置を選別することができ
、その実用上の効果は大である。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例における類似半導体装置の選
別方法に用いる半導体装置の構成図、第２図、第３図は
従来の類似半導体装置の構成図である。 １　・・・電源端子、　２・・・接地端子、　３・・・
入力端子、　４　・・・出力端子、　５・・・テストパ
ッド、　６・・・ダミー抵抗。 第 図 特許出願人　松下電子工業株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 　トランジスタもしくはトランジスタを用いて電子回路
    が形成された半導体部品上に、入出力電気特性に影響し
    ない位置にテストパッドを設け、前記テストパッドにダ
    ミーの抵抗を接続し、このダミーの抵抗の抵抗値を側定
    することを特徴とする類似半導体装置の選別方法。
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