JPH02193114A - 表示装置の製造方法 - Google Patents

表示装置の製造方法

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JPH02193114A
JPH02193114A JP1013688A JP1368889A JPH02193114A JP H02193114 A JPH02193114 A JP H02193114A JP 1013688 A JP1013688 A JP 1013688A JP 1368889 A JP1368889 A JP 1368889A JP H02193114 A JPH02193114 A JP H02193114A
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electrode
switching element
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picture
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JP1013688A
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Mikio Katayama
幹雄 片山
Hiroaki Kato
博章 加藤
Takayoshi Nagayasu
孝好 永安
Akihiko Imaya
今矢 明彦
Hidenori Otokoto
音琴 秀則
Ken Kanamori
金森 謙
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は表示用絵素電極にスイッチング素子を介して駆
動信号を印加することにより表示を実行する表示装置の
製造方法に関し、特に絵素電極をマトリクス状に配列し
て高密度表示を行うアクティブマトリクス駆動型表示装
置の製造方法に関するものである。
〈従来の技術〉 従来より、液晶表示装置、EL表示装置、プラズマ表示
装置等においては、マ) IJクス状に配列された表示
絵素を選択することにより画面状に表↓ 示パターンを形成している。表示絵像の選択方式として
、個々の絵素を独立した電極で配列しこの絵素電極のそ
れぞれにスイッチング素子を連結して表示駆動するアク
ティブマトリクス駆動方式は高コントラストの表示が可
能であり、液晶テレヒジョン、ワードプロセッサーやコ
ンピュータの端末表示等に実用化されている。絵素電極
を選択駆動するスイッチング素子としては、TFT (
薄膜トランジスタ)素子、MIM(金属−絶縁周一金属
)素子、MOS)ランジスタ素子、ダイオード°、バリ
スタ等が一般に用いられており、絵素電極とTり これに対内極間に印加される電圧をスイ・ノチングする
ことによりその間に介在する液晶、EL発光層あるいは
プラズマ発光体等の表示媒体の光学変調が表示パターン
として視認される。
〈発明が解決しようとする問題点〉 絵素電極にスイ・ノチング素子を連結して高密度の表示
を行う場合、非常に多数の絵素電極とスイッチング素子
を配列することが必要となる。しかしながら、スイッチ
ング素子は基板上に形成した時点で動作不良素子となる
ことがあり、このような不良素子に連結された絵素電極
は表示に際し欠陥となる。この欠陥を絵素電極基板の製
作段階で検出することは極めて困難であり、特に絵素数
が10万個〜100万個以上もある大型表示パネルでは
ほとんど不可能とされている。
絵素欠陥を修復する技術としては、特開昭61−158
619号公報に示される如く絵素電極1個当たり複数個
のトランジスターを設け、一方のトランジスターのみを
絵素電極と接続し、絵素電極と接続されたトランジスタ
ーが不良の場合はこのトランジスターと絵素電極をレー
ザートリマーや超音波カッターにより切断して他方のト
ランジスターを絵素電極と接続する技術が提唱されてい
る。また、この場合のトランジスターと絵素電極の接続
手段としては、微少な導体をデイスペンサー等で付着さ
せる方法、基板上にAu、AI等を所定部位にコートす
る方法が例示さり、ている。
しかしながら、上記従来の欠陥修復技術では、一方のト
ランジスタが不良の場合他方のトランジスタへの接続は
導体の付着あるいは金嘱コート方式を利用する関係上表
示パネルを組み立てる前のトランジスター基板製作工程
の段階で行うことが必要となるが、この場合、トランジ
スター基板製作段階で不良トランジスターの検呂は極め
て困難である。多数の絵素電極に応じて配列形成された
トランジスター個々の動作特性を全数にわた−て電気的
に検査するだめには極めて高精度の測定機等を用いなけ
ればならず、長時間が必要となり、検査工程が繁雑で量
産性が阻害されかつコスト高になるという結果を招くだ
め、実用品としての大量生産には使用できないというの
が実情である。
く問題点を解決するための手段〉 本発明は上述の問題点に鑑み、スイッチング素子の動作
不良を容易に検出することができかつそれによって生ず
る絵素欠陥を簡単に修復することが可能な表示装置の製
造方法を提供するものである。即ち、本発明に係る表示
装置の製造方法は、表示パターンを生起するために表示
1<ネル基板上に複数の絵素電極を配列し、各絵素電極
に対して駆動電圧の開閉制御用としてスイッチング素子
を接続し、さらにスイッチング素子各々に対して予備ス
イッチング素子を併設する。この予備スイッチング素子
は絶縁層の介在によ−て予備スイッチング素子側電極と
絵素電極間が非導通状態に置かれている。次に絵素電極
が配列された表示パネル基板とこれに対向する他方の表
示パネル基板の間に絵素電極に印加される駆動電圧に応
答して光学特性が変化する液晶、ガス、発光体等の表示
媒体を挿入する。次に各スイッチング素子を表示媒体に
駆動電圧が印加される動作状態とすることにより、スイ
ッチング素子の不良を検出する。一対の表示パネル基板
の少なくとも一方は透光性部材で形成されており、この
透光性基板を介して外部より光エネルギーを上記不良ス
イッチング素子の絵素電極に併設されている予備スイッ
チング素子と絵素電極部位の相互の接続端付近に照射し
てその間の絶縁層を破壊し、予備スイッチング素子と絵
素電極の導通を得ることによって、不良スイッチング素
子に接続された欠陥絵素を修正する。以上の欠陥修正技
術を用いることによ−て、良質の欠陥の無い表示装置を
容易に大量生産することが可能となる。
〈作 用〉 上記絵素電極に対するスイッチング素子を有する表示装
置を表示パネル作製後金絵素電極に同時にあるいは時分
割で適宜駆動電圧を印加することにより、絵素電極に接
続されたスイッチング素子の不良は光学的に容易に検出
される。例えば全絵素電極を同時駆動すれば、これに対
応する表示媒体は駆動電圧に応じた光学的変調を生起す
るが、スイッチング素子が不良の場合はこの光学的変調
が起こらず絵素欠陥として観察されることになる。
この絵素欠陥は絵素電極数が数十万個以上配列されてい
たとしても拡大レンズ等を使用すれば肉眼でも容易に識
別が可能である。
絵素欠陥部位が特定されると外部より透光性の表示パネ
ル基板を介して欠陥絵素の予備スイッチング素子側電極
部位間に光エネルギーを照射し、電極金属を溶解すると
ともに非導通状態を維持していた絶縁層を絶縁破壊させ
て予備スイッチング素子と絵素電極を電気的に接続する
。絵素電極は不良のスイッチング素子に代わって予備ス
イッチング素子よシ駆動電圧が印加されることとなる。
また必要に応じて絵素電極に接続されていた不良のスイ
ッチング素子を光エネルギーにより切断して絵素電極と
切り離してもよい。これによって、絵素欠陥が修復され
る。
〈実施例〉 第1図は本発明の一実施例の説明に供する液晶表示装置
の構成口であり、第1図+AJはTPT基板の平面図、
第1図(Blは第1図(A)のP−P断面図に対応する
液晶表示装置の断面図、第1図(C1は第1図(Alの
Q−Q断面図に対応する液晶表示装置の断面図である。
本実施例はアクティブマトリックス駆動方式でTPTを
開閉制御することにより絵素電極を選択する透過型液晶
表示装置の製造方法を例示するが、反射型の液晶表示装
置であっても同様である。
ガラス基板1表面にTa205.A〕203又はSi3
N4等から成るベースコート膜2を厚さに走査信号(ゲ
ート電圧)を供給するゲートバス配線3とデータ信号(
ソース電圧)を供給するソースバス配線4を格子状に配
列形成する。ゲートバス配線3は一般にTa、Al、T
i、Ni、M。
等の単層又は多層金属で形成されるが、本実施例ではT
aを使用している。ソースバス配線4も同様の金属で形
成されるが本実施例ではTiを使用している。ゲートバ
ス配線8とソースバス配線4はマスクパターン、エツチ
ング等で形成しその交差位置には後述するベース絶縁膜
を介在させて電気的に絶縁する。ゲートバス配線3及び
ソースバス配線4で囲まれた矩形の領域各々には透明導
電膜(I To )から成る絵素電極5を配置し、マト
リックス状に成形された絵素パターンを構成する。
絵素電極5の隅部付近には外部から供給される駆TFT
eヶ絵ヵ、極5、え的に抜孔−し、シまた絵素電極5の
別の隅部付近には絵素電極5と非導通状態で予備TFT
7を対置させる。TPT6及び予備TFT7はゲートバ
ス配線3上に並設さh6、ソースバス配線4より分岐さ
れた枝配線8でソースバス配線4と接続される。
上記工程で得られるTFTe付近の詳細構成は第1図F
B+に示す如く、ゲートバス配線8の一部に形成される
Taのゲート電極9.ゲート電極9の表面を陽極酸化し
て得られるT a 20 sから成るゲート絶縁膜10
、この上を覆−てほぼベースコート膜2上の全域に延設
され、ゲート絶縁膜を兼ねるS iNx (例えば5i
3N4)から成るベース絶縁膜11、アモルファスシリ
コン(a−5i )からなる真性半導体層12、真性半
導体層12の上面を保護しかつソース・ドレイン電極分
離時のエツチングストッパーとなるS iNxから成る
半導体保護膜13、ソース・ドレイン電極とのオーミッ
クコンタクトを得るたぬのa−8iから成るn型半導体
層14が順次積層され、n型半導体層14上にはTi、
Ni、Al等から成り枝配線8と接続されたソース電極
15及び絵素電極5と接続されたドレイン電極16がエ
ツチングにより分離並設された構造から成る。ドレイン
電極16の端部と接続される絵素電極5はベース絶縁膜
11上に矩形のパターンとして形成される。ベース絶縁
膜11の厚さは1500A〜6000A程度が適に設定
1.7でいる。TFT6上面及び絵素電極5の上面を覆
ってほぼ全面にSiNxから成る保護膜17を被覆し、
この保護膜17上に液晶分子18の配向を規制する5i
02.ポリイミド系樹脂等の配向層19を堆積する。保
護膜17の厚さは2000λ〜100OOA程度が適当
であるが、本実施例では5000A前後に設定している
。尚ベース絶縁膜11及び保護膜17としてはSiNx
以外にS iOx、 Ta205. Aノ203.Y2
O3゜Ti0zその他の酸化物や窒化物を用いることが
できる。また保護膜17は全面被覆する以外に絵素電極
5との間の電気二重層を解消するため絵素電極5の中央
部で除去した窓あき構造としてもよい。
絵素電極5の形成され、たガラス基板1に対向して他方
のガラス基板20を貼着し液晶注入用セルを形成する。
尚、他方のガラス基板20の内面にはカラーフィルタ層
21.絵素電極5に対向する対向電極22及び配向層2
3が重畳形成され、カラーフィルタ層21の周囲には必
要に応じてブラノクマ) IJノクス(図示せず)が設
けられてイル。
上記一対のガラス基板1.20から成る液晶注入用セル
内に表示媒体としてねじれ配向されたツィステッドネマ
チック液晶分子18を封入して表示パネルを形成する。
、液晶分子18は周知の如く絵素電極5と対向電極22
間の電圧印加に応答して配向変換さ:111、これによ
り光学的変調に基〈表示が行なわれる。
次に作製された予備TFTT付近の詳細構成について第
1図FC+とともに説明する。予備TPT7のトランジ
スター素子部の構造は上記TFT6と同様である。トラ
ンジスター素子部外方のゲート電極9と所定距離だけ離
れだベースコート膜2上にゲート電極9と同様なTa、
Ni、Aノ又はTi等から成る継手金属層24が島状に
形成されている。この継手金属層24は工程を簡略化す
るためゲート電極9の形成時に同時にパターン形成する
継手金属層24上には上述“したベース絶縁膜11を堆
積してTFT6と絵素電極5を非導通状態とする。この
上に予備TPT7のドレイン電極16の延設端16aが
載置される。また絵素電極5の接続用端部は継手金属層
24上のベース絶縁膜11上にTi、 A、A、Ni又
はTa等から成る金属片25とともに積層され、ドレイ
ン電極16の延設端16aとは離間されており、双方は
非導通状態を維持している。ドレイン電極16の延設端
16aと金属片25上の絵素電極端部はこの上に堆積さ
れる上記保護膜17によ−て完全に被覆される。継手金
属層24とドレイン電極延設端16a及び金属片25間
に位置するベース絶縁膜11は上下金属間の層間絶縁体
として働き、その厚さは施例ではTPTのゲート絶縁膜
を兼ねるベース絶縁膜11を利用しているため100O
A〜8500Aに設定される。またドレイン電極延設端
16a及び絵素電極端部上の保護膜17は表示媒体であ
る液晶分子18と隔離した状態で双方間の電気的接続全
行なうだめのものであり、1500A〜15000A程
度が適当であるが、本実施例ではTFT 6の保護膜1
7を利用しているため上記工程で作製された液晶表示パ
ネルを背面側に設置された光源等で照らすとともにゲー
トバス配線8及びソースバス配線4の全ラインから全絵
素電極5にTFT6を介シ1.て駆動電圧を印加し、液
晶パネルの全絵素を全面駆動する。TFT6が不良の場
合、その絵素の液晶分子18は配向変換動作が不完全と
なり、絵素の点灯不良が生じる。
こ・h、によって絵素欠陥が容易に視認される。駆動電
圧をオン・オフすることによりTFT6の導通不良及び
リークがともに検出可能である。検出された絵素欠陥部
へ第2図に示す如く外部より下方のガラス基板1又は上
方のガラス基板20を介してレーザ光、赤外線、電子ビ
ームその他の光線を光エネルギーと【7て予備TPT?
側の継手金属層24に向かって照射する。本実施例では
YAGレーザ光を用いた。レーザ光が照射されると継手
金属層24.ベース絶縁1摸11.ドレイン電極延設端
16aは相互に溶解し、層間絶縁層が絶縁破壊さh6、
ドレイン電極16と継手金属層24が導通状態となる。
同様に絵素電極5側の金属片25と継手金属層24もレ
ーザ光が照射されると互いの金属が溶解接触して導通状
態となる。従って、継手金属層24を介して予備TPT
7のドレイン電極16と絵素電極5が電気的に接続され
ることとなる。このとき、不良のTFT6と絵素電極5
間の電気的接続は必要に応じてTFT6のドレイン電極
16ヘレーザ光を照射し、てドレイン電極16を切断し
非導通とすることができる。継手金属層24、ベース絶
縁膜11.ドレイン電極延設端16a、金属片25の1
/−ザ照射による相互溶解は保護膜17によって被覆さ
ニルでいるため液晶から隔離されて進行することとなり
、従って溶解金属によって液晶が汚されることがない。
保護膜17は透明絶縁体でありレーザ光を透過させるが
保護膜17を透過したレーザ光は金属材に吸収されてこ
れを瞬時に加熱溶解させる。従−てレーザ光照射に際し
保護膜17によって液晶分子18と隔離された状態で金
属材とこれに挾まれた層間絶縁層は互いに溶解混合され
る。またレーザ光の照射された液晶層は照射部が白濁す
るが、この白濁はやがて消失し液晶は元の配向状態に復
元されることが実際的に確かめら、l″1.た。以上に
より、不良TPTに接続された絵素電極の欠陥は予備T
PTによって修復されることになる。
尚、レーザ光照射強度を強くあるいは照射時間を長くす
ると保護膜17さらには配向膜19も破壊され、変色ま
だは照射部に孔があくことになるが、この場合であって
もレーザ照射部は微小領域であり絵素電極5の隅部付近
に限定されるため、表示に影響を与えることはない。即
ち、保護膜17等が破壊されるとレーザ照射によシ溶解
さ力。
た微片等が液晶に混入されて液晶を汚染するが、この微
片等は液晶中で広く拡散されずレーザ照創部付近に固定
されることが実験的に確かめられており、従って、液晶
の汚染は絵素電極の隅部付近のみで生じ、実質的に表示
パターンの品位は低下しない。
予備TFT7と絵素電極5の配置構造は上記以外に第8
図あるいは第4図に示す構造とすることもできる。第3
図は予めベース絶縁膜11にスルーホールを設け、継手
金属層24と金属片25を接続しておいてTFT6不良
時に予備TPT7のドレイン電極延設端16aと継手金
属層24のみを光エネルギーで電気的接続するものであ
る。また第4図は継手金属層24を廃止し2、予備TF
T7のドレイン電極延設端16aを金属片25の直下に
ベース絶縁膜11を介して配置し、光エネルギー照射に
よって双方を直接溶解接続するものである。第3図、第
4図においてドレイン電極延設端16aと金属片25は
互いに逆の関係で構成されていてもよいことは明らかで
ある。さらに表示パネル基板としてはレーザ照射を可能
とするため少なくとも一方の基板が透光性を有する部材
(ガラス、プラスチック等)を用いることを要するがベ
ースコート膜2は必ずしも必要ではなく廃止してもよい
上記実施例はアクティブマトリックス型液晶表示装置を
用いた場合について説明したが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、MIM素子。
ダイオード、バリスタ等の種々のスイッチング素子を用
いて表示パターンを得る広範囲の液晶表示装置の製造方
法に適用可能であり、表示媒体として薄膜発光層1分散
型EL発光層、プラズマ発光体等を用いた各種表示装置
に対しても利用することができる。
〈発明の効果〉 以上詳説した如く本発明によれば、スイッチング素子の
動作不良が光学的に極めて容易に検出でき、かつ検出さ
れた絵素欠陥を表示パネル作製後に修復するため、表示
装置を製造する上で歩留りを飛躍的に向上させることが
できる。また検査工程及び修復工程が容易であり量産性
も確保されるため、表示装置としてのコスト低減にも寄
与するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図へ)(B)(C1はそれぞれ本発明の一実施例の
説明に供する液晶表示装置の平面図、P−P断面図、Q
−Q断面図である。 第2図は予備TFTと絵素電極のレーザ照射による接続
状態を説明する模式構成図である。 第8図及び第4図は本発明の他の実施例の説明に供する
予備TFT付近の構成図である。 1.20・・・ガラス基板、6・・・TPT。 7・・・予備TFT、9・・・ゲート電極、11・・・
ベース絶縁膜、15・・・ソース電極、16・・・ドレ
イン電極、17・・・保護膜、18・・・液晶分子、1
9.28・・・配向層、21・・・カラーフィルタ、2
2・・・対向電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少なくとも一方が透光性を有する複数の基板間に印
    加電圧に応答して光学的特性が変調される表示媒体を挿
    入して成る表示装置の製造方法において、 前記一方の基板内面に、表示パターンを形成するための
    複数の絵素電極、該絵素電極の各々と電気的に接続され
    たスイッチング素子及び前記絵素電極の各々と絶縁層を
    介して相互の接続端が対置し非導通状態で近接して配列
    される予備スイッチング素子を設ける工程と、 前記一方の基板と前記絵素電極に対向する対向電極を備
    えた他方の基板との間に前記表示媒体を挿入する工程と
    、 前記スイッチング素子を、前記表示媒体に前記絵素電極
    と前記対向電極を介して電圧が印加される動作状態とす
    ることにより、前記スイッチング素子の欠陥を検出し、
    透光性を有する前記基板を介して前記欠陥が検出された
    スイッチング素子 に接続される絵素電極と該絵素電極
    に 近接配列された予備スイッチング素子の相互の接続端近
    傍に光エネルギーを照射することにより該絵素電極と該
    予備スイッチング素子を導通状態とする工程と、 を備えて成ることを特徴とする表示装置の製造方法。
JP1013688A 1989-01-23 1989-01-23 表示装置の製造方法 Pending JPH02193114A (ja)

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DE69010701T DE69010701T2 (de) 1989-01-23 1990-01-22 Methode zur Herstellung von aktiven Matrixanzeigevorrichtungen.
KR1019900000775A KR940001904B1 (ko) 1989-01-23 1990-01-23 액티브 매트릭스 표시장치의 제조방법

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6222455A (ja) * 1985-07-23 1987-01-30 Asahi Glass Co Ltd 薄膜能動素子基板

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