JPH02183148A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPH02183148A JPH02183148A JP1002647A JP264789A JPH02183148A JP H02183148 A JPH02183148 A JP H02183148A JP 1002647 A JP1002647 A JP 1002647A JP 264789 A JP264789 A JP 264789A JP H02183148 A JPH02183148 A JP H02183148A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 46
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 5
- 230000002265 prevention Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、被検体のX線透過データを基に画像を再構成
するXtaCT装置に関する。
するXtaCT装置に関する。
(従来の技術)
XICT装置の構成は、例えば第13図に示すように、
被検体1を挟んでX線管2と検出器3とが対向して配置
され、X線管2はX線を曝射しながら検出器3と一体的
に被検体1の周囲を回転することにより被検体1のX線
透過データを検出器3によって収集するようになってい
る。検出器3は例えば第14図に示すように、X線を光
に変換するシンチレータ4と光を電流に変換するフォト
ダイオード5とが対となって、複数のチャンネル分一体
的に形成されている。6は各チャンネルに対して散乱線
の影響を受けないようにX線を導くためのコリメータで
ある。
被検体1を挟んでX線管2と検出器3とが対向して配置
され、X線管2はX線を曝射しながら検出器3と一体的
に被検体1の周囲を回転することにより被検体1のX線
透過データを検出器3によって収集するようになってい
る。検出器3は例えば第14図に示すように、X線を光
に変換するシンチレータ4と光を電流に変換するフォト
ダイオード5とが対となって、複数のチャンネル分一体
的に形成されている。6は各チャンネルに対して散乱線
の影響を受けないようにX線を導くためのコリメータで
ある。
第15図はフォトダイオード5を含むX線検出回路(1
チャンネル分)を示すもので、フォトダイオード5によ
って検出された電流は演算増幅器7及び抵抗Rを含む電
流−電圧変換回路8に印加されて電圧に変換された後、
この電圧は演算増幅器9及びコンデンサCを含む積分回
路10に加えられて積分される。続いてこの電圧はA/
D変換器11ににってディジタル値に変換されてX線透
過データとして再構成部12に送られる。再構成部12
ではこのX線透過データを基に被検体の画像を再構成す
ることになる。
チャンネル分)を示すもので、フォトダイオード5によ
って検出された電流は演算増幅器7及び抵抗Rを含む電
流−電圧変換回路8に印加されて電圧に変換された後、
この電圧は演算増幅器9及びコンデンサCを含む積分回
路10に加えられて積分される。続いてこの電圧はA/
D変換器11ににってディジタル値に変換されてX線透
過データとして再構成部12に送られる。再構成部12
ではこのX線透過データを基に被検体の画像を再構成す
ることになる。
ここでフォトダイオード5に流れる電流Idは抵抗Rに
よって決定される変換倍率分だり演算増幅器7によって
増幅されて、V=TdXRの電圧とされて電流−電圧変
換回路8から出力される。
よって決定される変換倍率分だり演算増幅器7によって
増幅されて、V=TdXRの電圧とされて電流−電圧変
換回路8から出力される。
抵抗Rの値としては通常数100Ω乃至数MΩが選ばれ
る。
る。
(発明が解決しようとする課題)
ところで従来のX線CT装置では、X線検出回路の電流
−電圧変換回路8においてフォトダイオード5によって
検出された電流だけでなく、ノイズも増幅されてしまう
ので、このノイズの影響を受けて再構成される画像の質
が劣化するという問題がある。
−電圧変換回路8においてフォトダイオード5によって
検出された電流だけでなく、ノイズも増幅されてしまう
ので、このノイズの影響を受けて再構成される画像の質
が劣化するという問題がある。
本発明は以上のような問題に対処してなされたもので、
ノイズの影響を防止するようにしたX線CT装置を提供
することを目的とするものである。
ノイズの影響を防止するようにしたX線CT装置を提供
することを目的とするものである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、被検体を透過した
X線量に対応した電荷を発生させる半導体と、この半導
体の一端が出力に接続されると共に他端が入力に接続さ
れ、入力オフセット電圧を有する演算増幅器と、この演
算増幅器の前記入力オフセット電圧が印加されるように
前記演算増幅器の入力側に接続された第1のコンデンサ
と、前記演算増幅器と第1のコンデンサ間に接続された
複数のスイッチと、前記半導体からの電荷を蓄積するよ
うに前記演算増幅器に接続された第2のコンデンサとを
有し、前記半導体からの電荷を第2のコンデンサに蓄積
している期間に前記第1のコンデンサに印加されている
オフセット電圧と前記演算増幅器の入力オフセット電圧
との和がほぼ零になるように前記複数のスイッチを切換
えるように制御する制御回路とを有するようにしたもの
でおる。
X線量に対応した電荷を発生させる半導体と、この半導
体の一端が出力に接続されると共に他端が入力に接続さ
れ、入力オフセット電圧を有する演算増幅器と、この演
算増幅器の前記入力オフセット電圧が印加されるように
前記演算増幅器の入力側に接続された第1のコンデンサ
と、前記演算増幅器と第1のコンデンサ間に接続された
複数のスイッチと、前記半導体からの電荷を蓄積するよ
うに前記演算増幅器に接続された第2のコンデンサとを
有し、前記半導体からの電荷を第2のコンデンサに蓄積
している期間に前記第1のコンデンサに印加されている
オフセット電圧と前記演算増幅器の入力オフセット電圧
との和がほぼ零になるように前記複数のスイッチを切換
えるように制御する制御回路とを有するようにしたもの
でおる。
(作 用)
例えばフォトダイオードのような半導体で検出された電
流は積分期間に第1のコンデンサに充電され、このコン
デンサの充電電圧は演算増幅器の一方の入力側に印加さ
れる。これにより充電電圧は積分されてA/D変換器に
出力される。また積分だけでなくこれと交互にリセット
動作が行われ、このように積分とリセットが交互に行わ
れることにより演算増幅器で生ずるリセット電圧は打消
されてフォトダイオードに加わらないので、フォトダイ
オードは正常な温度特性に基いて検出動作を行うことが
できる。従って電流−電圧変換回路を構成することがで
きるので、ノイズの影響を防止することができる。
流は積分期間に第1のコンデンサに充電され、このコン
デンサの充電電圧は演算増幅器の一方の入力側に印加さ
れる。これにより充電電圧は積分されてA/D変換器に
出力される。また積分だけでなくこれと交互にリセット
動作が行われ、このように積分とリセットが交互に行わ
れることにより演算増幅器で生ずるリセット電圧は打消
されてフォトダイオードに加わらないので、フォトダイ
オードは正常な温度特性に基いて検出動作を行うことが
できる。従って電流−電圧変換回路を構成することがで
きるので、ノイズの影響を防止することができる。
(実施例)
以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第1図は本発明のX線CT装置の第1の実施例を示す結
線図で1チャンネル分のX線検出回路を示している。積
分回路10は演算増幅器13と、演算増幅器13の非反
転入力端子に接続された抵抗R1と、これに接続された
第1のコンデンサC1と、演算増幅器13の反転入力端
子に接続された第2のコンデンサC2と、演算増幅器1
3の非反転入力端子と出力端子間に接続されたフォトダ
イオード5と、第1のコンデンサC1に並列接続された
第1のスイッチSWIと、演算増幅器13の反転入ツノ
端子と出力端子間に接続された第2のスイッチSW2と
、第2のコンデンサC2を介して第2のスイッチSW2
に並列接続された第3のスイッチSW3と、第2のコン
デンサC2を介して演算増幅器13の反転入力端子と非
反転入力端子間に接続された第4のスイッチSW4と、
これら第1乃至第4のスイッチSW1乃至SW4の切換
を行うスイッチ切換制御部14とから構成されている。
線図で1チャンネル分のX線検出回路を示している。積
分回路10は演算増幅器13と、演算増幅器13の非反
転入力端子に接続された抵抗R1と、これに接続された
第1のコンデンサC1と、演算増幅器13の反転入力端
子に接続された第2のコンデンサC2と、演算増幅器1
3の非反転入力端子と出力端子間に接続されたフォトダ
イオード5と、第1のコンデンサC1に並列接続された
第1のスイッチSWIと、演算増幅器13の反転入ツノ
端子と出力端子間に接続された第2のスイッチSW2と
、第2のコンデンサC2を介して第2のスイッチSW2
に並列接続された第3のスイッチSW3と、第2のコン
デンサC2を介して演算増幅器13の反転入力端子と非
反転入力端子間に接続された第4のスイッチSW4と、
これら第1乃至第4のスイッチSW1乃至SW4の切換
を行うスイッチ切換制御部14とから構成されている。
なお11.12はインバータである。
積分回路10の出力はA/D変換器11を介して図示し
ない再構成部12に加えられる。
ない再構成部12に加えられる。
積分回路10は基本的に第9図に示すような電圧フォロ
ワ回路15と、第10図(a)に示すような積分回路1
6との組合せで構成されている。
ワ回路15と、第10図(a)に示すような積分回路1
6との組合せで構成されている。
第9図のように演算増幅器13の使い方として反転入力
端子と出力端子間を短絡したとぎ演算増幅器13の入力
インピーダンスZi師(3)、出力インピーダンスZo
”=Oとなる。従ってこの状態で、非反転入力端子に電
圧Viを加えると入力信号の電流が演算増幅器13の非
反転入力端子へ流れ込まないために出ツノ端子からはV
o’=V+の出力が得られる。すなわちこのようにZi
の高い回路構成によって入力電圧の正確な検出動作(積
分動作)が可能となる。
端子と出力端子間を短絡したとぎ演算増幅器13の入力
インピーダンスZi師(3)、出力インピーダンスZo
”=Oとなる。従ってこの状態で、非反転入力端子に電
圧Viを加えると入力信号の電流が演算増幅器13の非
反転入力端子へ流れ込まないために出ツノ端子からはV
o’=V+の出力が得られる。すなわちこのようにZi
の高い回路構成によって入力電圧の正確な検出動作(積
分動作)が可能となる。
一方第10図(a)のようにフォトダイオード5に直列
にコンデン9Ctを接続すると共に、コンデンサC1に
スイッチSWzを並列に接続すると、フォトダイオード
5からコンデンサC1に積分されて蓄えられる電荷はス
イッチSWIをオンするごとに第10図(b)のように
放電されてリセッ1〜される。tl、t3・・・がスイ
ッチオフからオンのタイミングを示し、to、t2・・
・がスイッチオンからオフのタイミングを示している。
にコンデン9Ctを接続すると共に、コンデンサC1に
スイッチSWzを並列に接続すると、フォトダイオード
5からコンデンサC1に積分されて蓄えられる電荷はス
イッチSWIをオンするごとに第10図(b)のように
放電されてリセッ1〜される。tl、t3・・・がスイ
ッチオフからオンのタイミングを示し、to、t2・・
・がスイッチオンからオフのタイミングを示している。
第10図(C)に示すような回路において、演算増幅器
13には避けることのできないオフセット電圧Vosが
ありこのVosがフォトダイオード5に印加されると、
フォトダイオード5の電圧−電流特性における温度特性
が第11図に示すように指数関数的に増加するため、正
確な検出動作を行うのが困難になる。Aは低負荷直線、
Bは高負荷直線、Cはバイアス印加時の負荷直線を示し
ている。しかしながら第10図(b)のように積分動作
とリセット動作を交互に切換えることによりオフセット
電圧■O3をキャンセルすることが可能となる。
13には避けることのできないオフセット電圧Vosが
ありこのVosがフォトダイオード5に印加されると、
フォトダイオード5の電圧−電流特性における温度特性
が第11図に示すように指数関数的に増加するため、正
確な検出動作を行うのが困難になる。Aは低負荷直線、
Bは高負荷直線、Cはバイアス印加時の負荷直線を示し
ている。しかしながら第10図(b)のように積分動作
とリセット動作を交互に切換えることによりオフセット
電圧■O3をキャンセルすることが可能となる。
従って第9図の回路と第10図(a)の回路を組合せて
第1図の本実施例の積分回路10を構成することにより
、オフセット電圧の影響を受けることなく正確なX線量
を検出することが可能となる。
第1図の本実施例の積分回路10を構成することにより
、オフセット電圧の影響を受けることなく正確なX線量
を検出することが可能となる。
次に本発明の第1の実施例の作用を説明する。
第1図の本実施例回路の動作は大別して第4図のタイム
チャートに基き(A>リセット期間と(B)1分期間と
の2つのモードから成り、これがスイッチ切換制御部1
4によって交互に切換えられる。
チャートに基き(A>リセット期間と(B)1分期間と
の2つのモードから成り、これがスイッチ切換制御部1
4によって交互に切換えられる。
(A)リセット期間:
第4図のタイムチャートのようにスイッチ切換制御部1
4によって時刻t1において第1.第2及び第4のスイ
ッチSW1 、SW2 、SW4をオンさせることによ
り、第2図の回路が構成される。それ迄第1のコンデン
サC1に蓄えられていたフォトダイオード5からの電荷
は放電されるに従い、演算増幅器13の出力eoも低下
する。また演算増幅器13のオフセット電圧Vosが第
2のコンデンサC2に印加される。
4によって時刻t1において第1.第2及び第4のスイ
ッチSW1 、SW2 、SW4をオンさせることによ
り、第2図の回路が構成される。それ迄第1のコンデン
サC1に蓄えられていたフォトダイオード5からの電荷
は放電されるに従い、演算増幅器13の出力eoも低下
する。また演算増幅器13のオフセット電圧Vosが第
2のコンデンサC2に印加される。
(B)積分期間:
次にスイッチ切換制御部14によって時刻t2において
第3のスイッチSW3をオンさせることにより、第3図
の回路が構成される。放電により低下していた第1のコ
ンデンサC1内の電荷はフォトダイオード5に入射した
光量に対応して増加する。演算増幅器13の出力eOも
これに応じて増加する。またこのとき第2のコンデンサ
C2には前記オフセット電圧VO3と逆の極性の電圧が
印加されているので、オフセット電圧Vosはキャンセ
ルされるようになる。つまりフォトダイオード5の両端
子間はほぼOVになる。
第3のスイッチSW3をオンさせることにより、第3図
の回路が構成される。放電により低下していた第1のコ
ンデンサC1内の電荷はフォトダイオード5に入射した
光量に対応して増加する。演算増幅器13の出力eOも
これに応じて増加する。またこのとき第2のコンデンサ
C2には前記オフセット電圧VO3と逆の極性の電圧が
印加されているので、オフセット電圧Vosはキャンセ
ルされるようになる。つまりフォトダイオード5の両端
子間はほぼOVになる。
このように本実施例によれば、スイッチ切換制御部14
によって第1乃至第4のスイッチSWI乃至SW4の切
換タイミングを第4図のタイムチャートのように制御す
ることにより、第1図の回路は(A)リセット期間と(
B)積分期間との2つのモードが交互に行われて、演算
増幅器13のオフセット電圧Vosはキャンセルされる
のでフォトダイオード5には電圧が印加されない。
によって第1乃至第4のスイッチSWI乃至SW4の切
換タイミングを第4図のタイムチャートのように制御す
ることにより、第1図の回路は(A)リセット期間と(
B)積分期間との2つのモードが交互に行われて、演算
増幅器13のオフセット電圧Vosはキャンセルされる
のでフォトダイオード5には電圧が印加されない。
なおオフセット電圧Vosのキャンセルはリセット期間
において行われ、このキャンセルいわゆるオートゼロ機
能の動作は独立して行う必要はない。
において行われ、このキャンセルいわゆるオートゼロ機
能の動作は独立して行う必要はない。
第12図はオートゼロ期間とリセット期間との関係を示
すもので、リセット期間の開始時刻とオートゼロ期間の
終了時刻との間の時間は数μs以下に選ばれる。このよ
うにオートゼロ期間を特別に設【プることなくリセット
期間と同時に行うことにより、児かCプ上オートゼロ期
間をなくしてオフセット電圧VO5のキャンセルを行え
るので回路構成を簡単にすることができる。またオフセ
ットキャンセル用の第2のコンデンサC2を充電する時
間とリセット時間とを同時に行うことにより、高速な検
出動作を行わせることができる。
すもので、リセット期間の開始時刻とオートゼロ期間の
終了時刻との間の時間は数μs以下に選ばれる。このよ
うにオートゼロ期間を特別に設【プることなくリセット
期間と同時に行うことにより、児かCプ上オートゼロ期
間をなくしてオフセット電圧VO5のキャンセルを行え
るので回路構成を簡単にすることができる。またオフセ
ットキャンセル用の第2のコンデンサC2を充電する時
間とリセット時間とを同時に行うことにより、高速な検
出動作を行わせることができる。
このようにオフセット電圧VO3がキャンセルされてフ
ォトダイオード5に印加されないことにより、フォトダ
イオード5の電圧−電流特性における温度特性は第11
図の低負荷直線へのようになる。従って温度に対してリ
ニアな検出動作を行うことができるので温度変化に関す
る複雑な補正回路を必要としなくなる。また本実施例に
よれば従来に比べて電流−電圧変換回路が不要なので、
この分演算増幅器が少なくてよいため回路構成を簡単に
することができる。ざらに積分回路10の動作をリセッ
ト期間と積分期間との2つのモードに分けて交互に切換
えるように制御しているので、制御が容易となる。
ォトダイオード5に印加されないことにより、フォトダ
イオード5の電圧−電流特性における温度特性は第11
図の低負荷直線へのようになる。従って温度に対してリ
ニアな検出動作を行うことができるので温度変化に関す
る複雑な補正回路を必要としなくなる。また本実施例に
よれば従来に比べて電流−電圧変換回路が不要なので、
この分演算増幅器が少なくてよいため回路構成を簡単に
することができる。ざらに積分回路10の動作をリセッ
ト期間と積分期間との2つのモードに分けて交互に切換
えるように制御しているので、制御が容易となる。
第5図は本発明の第2の実施例を示すもので、演算増幅
器130の反転入力端子に接続された第1のコンデンサ
C1oと、非反転入力端子に接続された第2のコンデン
サC20と、非反転入力端子と反転入力端子間に接続さ
れたフォトダイオード50と、第2のコンデンサC20
を介して演算増幅器130の反転入力端子と非反転入力
端子間に接続された第1のスイッチS W soと、第
1のスイッチSW+oに直列接続された第2のスイッチ
5W20と、第2のコンデンサC20を介して第2のス
イッチ5W20に並列接続された第3のスイッチ5W3
0と、演算増幅器130の反転入力端子と出力端子間に
接続された第4のスイッチ5W40と、これら第1乃至
第4のスイッチ5W1o乃至5W7ioの切換を行うス
イッチ切換制御部140とから構成されている。
器130の反転入力端子に接続された第1のコンデンサ
C1oと、非反転入力端子に接続された第2のコンデン
サC20と、非反転入力端子と反転入力端子間に接続さ
れたフォトダイオード50と、第2のコンデンサC20
を介して演算増幅器130の反転入力端子と非反転入力
端子間に接続された第1のスイッチS W soと、第
1のスイッチSW+oに直列接続された第2のスイッチ
5W20と、第2のコンデンサC20を介して第2のス
イッチ5W20に並列接続された第3のスイッチ5W3
0と、演算増幅器130の反転入力端子と出力端子間に
接続された第4のスイッチ5W40と、これら第1乃至
第4のスイッチ5W1o乃至5W7ioの切換を行うス
イッチ切換制御部140とから構成されている。
次に本発明の第2の実施例の作用を説明する。
第5図の本実施例回路の動作は大別して第8図のタイム
チャートに基き(A>リセット期間と(B)積分期間と
の2つのモードから成り、これがスイッチ切換制御部1
40によって交互に切換えられる。
チャートに基き(A>リセット期間と(B)積分期間と
の2つのモードから成り、これがスイッチ切換制御部1
40によって交互に切換えられる。
(A>リセット期間:
第8図のタイムチャートのようにスイッチ切換制御部1
40によって時刻t1において第1及び第3のスイッチ
5WIO,5WXIをオンさせ、これから少し遅れたt
′1において第4のスイッチ5W4)をオンさせること
により、第6図の回路が構成される。それ迄第1のコン
デンサC1oに蓄えられていたフォトダイオード5から
の電荷は徐々に放電されるのに従い、演算増幅器130
の出力e□も徐々に低下する。また演算増幅器130の
オフセット電圧yosが第2のコンデンサ020に印加
される。なお第4のスイッチSWa:+1!i−t’t
のタイミングでオンさせるのは、tlでオンさせると第
1のコンデンサCroがSW@を通して完全に放電され
ずに、電荷の一部がフォトダイオード50を介して第2
のコンデンサC20に充電されてしまうのを防止するた
めの配慮である。このようにSW5を遅らせたタイミン
グでオンさせるには、スイッチ切換制御部140の5W
40を制御するラインに遅延回路を設ければよい。しか
しながら必ずしも5W40を遅らせることは必要でなく
、原則的に5WIO,5W30と同じタイミングでオン
させるようにすることもできる。
40によって時刻t1において第1及び第3のスイッチ
5WIO,5WXIをオンさせ、これから少し遅れたt
′1において第4のスイッチ5W4)をオンさせること
により、第6図の回路が構成される。それ迄第1のコン
デンサC1oに蓄えられていたフォトダイオード5から
の電荷は徐々に放電されるのに従い、演算増幅器130
の出力e□も徐々に低下する。また演算増幅器130の
オフセット電圧yosが第2のコンデンサ020に印加
される。なお第4のスイッチSWa:+1!i−t’t
のタイミングでオンさせるのは、tlでオンさせると第
1のコンデンサCroがSW@を通して完全に放電され
ずに、電荷の一部がフォトダイオード50を介して第2
のコンデンサC20に充電されてしまうのを防止するた
めの配慮である。このようにSW5を遅らせたタイミン
グでオンさせるには、スイッチ切換制御部140の5W
40を制御するラインに遅延回路を設ければよい。しか
しながら必ずしも5W40を遅らせることは必要でなく
、原則的に5WIO,5W30と同じタイミングでオン
させるようにすることもできる。
(8)積分期間:
次にスイッチ切換制御部140によって時刻t2におい
て第2のスイッチ5W20をオンさせることにより、第
7図の回路が構成される。放電により低下していた第1
のコンデンサC1oの電圧はフォトダイオード50から
の電荷により徐々に増加するに従い、演算増幅器130
の出力eoも徐々に増加する。またこのとき第2のコン
デンサC20には前記オフセット電圧VO3と逆の極性
の電圧が維持されているので、オフセット電圧VOSは
キャンセルされるようになる。
て第2のスイッチ5W20をオンさせることにより、第
7図の回路が構成される。放電により低下していた第1
のコンデンサC1oの電圧はフォトダイオード50から
の電荷により徐々に増加するに従い、演算増幅器130
の出力eoも徐々に増加する。またこのとき第2のコン
デンサC20には前記オフセット電圧VO3と逆の極性
の電圧が維持されているので、オフセット電圧VOSは
キャンセルされるようになる。
このように本実施例によっても(A)リセット期間と(
B)積分期間との2つのモードが交互に切換えられるの
で、演算増幅器130のオフセット電圧VOSはキャン
セルされるためフォトダイオード50の印加電圧はほぼ
零になる。従って前記実施例と同様な効果を得ることが
できる。
B)積分期間との2つのモードが交互に切換えられるの
で、演算増幅器130のオフセット電圧VOSはキャン
セルされるためフォトダイオード50の印加電圧はほぼ
零になる。従って前記実施例と同様な効果を得ることが
できる。
また本実施例によればこのようにフォトダイオード50
に加わる電圧をほぼ零にすることにより、フォトダイオ
ード50の電圧−電流特性における温度特性は通常のリ
ニア特性となるので、そのシャント抵抗の温度変化によ
る演算増幅器130の出力電圧変動Δcmを少なく抑え
られるという効果も得られる。従ってフオトダイオード
50に対して温度調節器を用意するような必要はなくな
る。
に加わる電圧をほぼ零にすることにより、フォトダイオ
ード50の電圧−電流特性における温度特性は通常のリ
ニア特性となるので、そのシャント抵抗の温度変化によ
る演算増幅器130の出力電圧変動Δcmを少なく抑え
られるという効果も得られる。従ってフオトダイオード
50に対して温度調節器を用意するような必要はなくな
る。
[発明の効果]
以上説明して明らかなように本発明によれば、電流−電
圧変換回路を不要となしてX線検出を行うようにしたの
でノイズの影響が少ないため画質を向上することができ
、しかもオフセット1圧の影響を受けることなく実現す
ることができる。
圧変換回路を不要となしてX線検出を行うようにしたの
でノイズの影響が少ないため画質を向上することができ
、しかもオフセット1圧の影響を受けることなく実現す
ることができる。
第1図は本発明のX線CT装置の実施例を示す結線図、
第2図は本実施例装置でリセット動作を行う場合の結線
図、第3図は本実施例装置で積分動作を行う場合の結線
図、第4図は本実施例装置を制御するためのタイムチャ
ート、第5図は本発明の他の実施例を示す結線図、第6
図は本実施例装置でリセット動作を行う場合の結線図、
第7図は本実N@¥A@で積分動作を行う場合の結線図
、第8図は実施例1i置を制御するためのタイムチャー
ト、第9図は本発明の原理の電圧フォロ9回路を示す結
線図、第10図(a)、(b)。 (C)は本発明の原理の積分回路を示す結線図。 特性図及び結線図、第11図はフォトダイオードの電流
−電圧特性図、第12図は本発明におけるリセット動作
とオートゼロ動作の関係を示すタイムチャート、第13
図はX線CT装置の構成を示す概略図、第14図は第1
3図における検出器の構成を示す概略図、第15図は従
来例を示す結線図である。 3・・・検出器、 5.50・・・フォトダイオード、 10・・・積分回路、 13.130・・・演算増幅器、 14.140・・・スイッチ切換制御部、C1,Cto
・・・第1のコンデンサ (fa分用コンデンサ)、 C2、C20・・・第2のコンデンサ yos・・・演算増幅器のオフセット電圧、SWt乃至
SWa 、5Wto乃至SWa。 ・・・スイッチ。 1−=−+−J L−+ J L−J 〉 朗V 曵雰
第2図は本実施例装置でリセット動作を行う場合の結線
図、第3図は本実施例装置で積分動作を行う場合の結線
図、第4図は本実施例装置を制御するためのタイムチャ
ート、第5図は本発明の他の実施例を示す結線図、第6
図は本実施例装置でリセット動作を行う場合の結線図、
第7図は本実N@¥A@で積分動作を行う場合の結線図
、第8図は実施例1i置を制御するためのタイムチャー
ト、第9図は本発明の原理の電圧フォロ9回路を示す結
線図、第10図(a)、(b)。 (C)は本発明の原理の積分回路を示す結線図。 特性図及び結線図、第11図はフォトダイオードの電流
−電圧特性図、第12図は本発明におけるリセット動作
とオートゼロ動作の関係を示すタイムチャート、第13
図はX線CT装置の構成を示す概略図、第14図は第1
3図における検出器の構成を示す概略図、第15図は従
来例を示す結線図である。 3・・・検出器、 5.50・・・フォトダイオード、 10・・・積分回路、 13.130・・・演算増幅器、 14.140・・・スイッチ切換制御部、C1,Cto
・・・第1のコンデンサ (fa分用コンデンサ)、 C2、C20・・・第2のコンデンサ yos・・・演算増幅器のオフセット電圧、SWt乃至
SWa 、5Wto乃至SWa。 ・・・スイッチ。 1−=−+−J L−+ J L−J 〉 朗V 曵雰
Claims (1)
- 被検体を透過したX線量に対応した電荷を発生させる半
導体と、この半導体の一端が出力に接続されると共に他
端が入力に接続され、入力オフセット電圧を有する演算
増幅器と、この演算増幅器の前記入力オフセット電圧が
印加されるように前記演算増幅器の入力側に接続された
第1のコンデンサと、前記演算増幅器と第1のコンデン
サ間に接続された複数のスイッチと、前記半導体からの
電荷を蓄積するように前記演算増幅器に接続された第2
のコンデンサとを有し、前記半導体からの電荷を第2の
コンデンサに蓄積している期間に前記第1のコンデンサ
に印加されているオフセット電圧と前記演算増幅器の入
力オフセット電圧との和がほぼ零になるように前記複数
のスイッチを切換えるように制御する制御回路とを有し
たことを特徴とするX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1002647A JPH0728861B2 (ja) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1002647A JPH0728861B2 (ja) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | X線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02183148A true JPH02183148A (ja) | 1990-07-17 |
JPH0728861B2 JPH0728861B2 (ja) | 1995-04-05 |
Family
ID=11535149
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1002647A Expired - Lifetime JPH0728861B2 (ja) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0728861B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001056382A (ja) * | 1999-06-07 | 2001-02-27 | Toshiba Corp | 放射線検出器及び放射線診断装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61190870U (ja) * | 1985-05-21 | 1986-11-27 | ||
JPS62181031A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-08 | 株式会社 日立メデイコ | 積分回路 |
-
1989
- 1989-01-09 JP JP1002647A patent/JPH0728861B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61190870U (ja) * | 1985-05-21 | 1986-11-27 | ||
JPS62181031A (ja) * | 1986-02-05 | 1987-08-08 | 株式会社 日立メデイコ | 積分回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001056382A (ja) * | 1999-06-07 | 2001-02-27 | Toshiba Corp | 放射線検出器及び放射線診断装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0728861B2 (ja) | 1995-04-05 |
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