JPH01107738A - X線診断装置 - Google Patents
X線診断装置Info
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- JPH01107738A JPH01107738A JP63243781A JP24378188A JPH01107738A JP H01107738 A JPH01107738 A JP H01107738A JP 63243781 A JP63243781 A JP 63243781A JP 24378188 A JP24378188 A JP 24378188A JP H01107738 A JPH01107738 A JP H01107738A
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- circuit
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、X線発生器と、X線管と、X線イメージイン
テンシファイア、テレビカメラおよびモニターを有する
X線イメージインテンシファイア−テレビ系と、X線診
断装置のv4節回路とを備えたX線診断装置に関する。
テンシファイア、テレビカメラおよびモニターを有する
X線イメージインテンシファイア−テレビ系と、X線診
断装置のv4節回路とを備えたX線診断装置に関する。
ドイツ連邦共和国特許出願公開第3225061号公報
には、X線イメージインテンシファイアの出力像の一部
分を光分割器によって、フォトセンサがマトリクス状に
配設されて成る検出器に入力させるようにしたX線診断
装置が記載されている。フォトセンサの並列出力はスイ
ッチを介して加算増幅器に導かれる6個々の光検出器の
出力信号は可変抵抗器によって評価される。加算増幅器
の出力信号は実際値信号として目標値と比較され、その
比較結果に基づいて高電圧発生器が制御される。
には、X線イメージインテンシファイアの出力像の一部
分を光分割器によって、フォトセンサがマトリクス状に
配設されて成る検出器に入力させるようにしたX線診断
装置が記載されている。フォトセンサの並列出力はスイ
ッチを介して加算増幅器に導かれる6個々の光検出器の
出力信号は可変抵抗器によって評価される。加算増幅器
の出力信号は実際値信号として目標値と比較され、その
比較結果に基づいて高電圧発生器が制御される。
しかしながら、一方では光分割器を備えなければならず
、他方ではフォトセンサ・マトリクスを使用するが各フ
ォトセンサにはそれぞれ1つの増幅器が接続されるので
、非常に費用が掛かるという欠点を存することが判明し
ている。しかも、スペース上の理由からフォトセンサの
使用個数が制限されるから、像分解能が悪くなる。さら
に、可調整抵抗器の使用により評価の連続的な変更と整
合とが得られない。
、他方ではフォトセンサ・マトリクスを使用するが各フ
ォトセンサにはそれぞれ1つの増幅器が接続されるので
、非常に費用が掛かるという欠点を存することが判明し
ている。しかも、スペース上の理由からフォトセンサの
使用個数が制限されるから、像分解能が悪くなる。さら
に、可調整抵抗器の使用により評価の連続的な変更と整
合とが得られない。
そこで本発明は、高価な構成要素に多大な費用を掛ける
ことな(、評価の整合が得られると共に、X線像の精密
な、従って正確な細分を可能にする冒頭で述べた種類の
X線診断装置を提供することを課題とする。
ことな(、評価の整合が得られると共に、X線像の精密
な、従って正確な細分を可能にする冒頭で述べた種類の
X線診断装置を提供することを課題とする。
このような課題を解決するために、本発明は、調節回路
はテレビカメラに接続され、X線像の複数の像点を像範
囲にまとめるデータ整理回路を有し、輪郭検知のために
閾値回路がデータ整理回路に接続され、閾値回路は個々
の像範囲の測定値を閾値と比較し、暗範囲に所属して重
要な像範囲に相当する測定信号だけを出力端子に出力す
ることを特徴とする。
はテレビカメラに接続され、X線像の複数の像点を像範
囲にまとめるデータ整理回路を有し、輪郭検知のために
閾値回路がデータ整理回路に接続され、閾値回路は個々
の像範囲の測定値を閾値と比較し、暗範囲に所属して重
要な像範囲に相当する測定信号だけを出力端子に出力す
ることを特徴とする。
このような構成によれば、実際値信号の検出を行ってい
る間にも、測定値検出のために重要な像範囲を変更する
ことが可能になる。それによって、実際のデータに整合
して必要な測定値信号を供給する動的な主要部が得られ
る。
る間にも、測定値検出のために重要な像範囲を変更する
ことが可能になる。それによって、実際のデータに整合
して必要な測定値信号を供給する動的な主要部が得られ
る。
閾値回路には重要な像範囲の平均値を決定する積分回路
が接続され、この積分回路が調節のためにX線発生器に
接続されるようにすると、測定値信号を有利にまとめる
ことが出来る。また、調節回路は重要ではない絞り込み
像範囲を示すマスキング回路に接続され、このマスキン
グ回路は重要でない像範囲の測定信号を抑制するために
閾値回路に接続されるようにすると、特に、例えば円走
査または深絞りによって絞り込まれた像範囲は簡単に抑
制することが出来る。さらに、閾値回路には、重要な全
像範囲の輝度の平均値を決定してこの平均値から閾値を
検知する検知回路が接続されるようにすると、閾値回路
の閾値を与えられた輝度値に整合させることが出来る。
が接続され、この積分回路が調節のためにX線発生器に
接続されるようにすると、測定値信号を有利にまとめる
ことが出来る。また、調節回路は重要ではない絞り込み
像範囲を示すマスキング回路に接続され、このマスキン
グ回路は重要でない像範囲の測定信号を抑制するために
閾値回路に接続されるようにすると、特に、例えば円走
査または深絞りによって絞り込まれた像範囲は簡単に抑
制することが出来る。さらに、閾値回路には、重要な全
像範囲の輝度の平均値を決定してこの平均値から閾値を
検知する検知回路が接続されるようにすると、閾値回路
の閾値を与えられた輝度値に整合させることが出来る。
X線管のX線路に配置された深絞りを備え、調節回路は
その深絞りの制御回路に接続されるようにすると、主要
部の検出と共に、X線管のX線路に配置された深絞りも
制御することが出来る。
その深絞りの制御回路に接続されるようにすると、主要
部の検出と共に、X線管のX線路に配置された深絞りも
制御することが出来る。
次に、本発明を図面に示された実施例に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第1図には、高電圧発生器1によって駆動されて患者3
を透過するX線束を放射するX線管2が図示されている
。患者3によって弱められたX線束はX線像を目視可能
な像に変換するX線イメージインテンシファイア4の入
力螢光面に入射する。
を透過するX線束を放射するX線管2が図示されている
。患者3によって弱められたX線束はX線像を目視可能
な像に変換するX線イメージインテンシファイア4の入
力螢光面に入射する。
X線イメージインテンシファイア4にはテレビカメラ5
が接続されており、このテレビカメラ5はX線イメージ
インテンシファイア4の出力像を電気的BAS信号に変
換して、51gM1回路6と、テレビカメラ5によって
検出されたX線像を再生するモニター7とに供給する。
が接続されており、このテレビカメラ5はX線イメージ
インテンシファイア4の出力像を電気的BAS信号に変
換して、51gM1回路6と、テレビカメラ5によって
検出されたX線像を再生するモニター7とに供給する。
調節回路′6は一方では高電圧発生器1の制御のために
その高電圧発生器1に接続され、他方ではX線束の調整
のためにX線管2に取付けられた深絞り8に接続されて
いる。
その高電圧発生器1に接続され、他方ではX線束の調整
のためにX線管2に取付けられた深絞り8に接続されて
いる。
第2図には調節回路6が図示されている。テレビカメラ
5のRAS信号は低域フィルタ9を介してアナログ/デ
ィジタル変換器(A/D変換器)10に導かれ、このA
/D変換器10の出力端子は第1加算回路11の第1入
力端子に接続されている。第1加算回路11の出力端子
はデータ整理された輝度値を一時記憶するための第1メ
モリ12と第1スイッチ回路13とを介して第1加算回
路11の第2入力端子に帰還結合されている。さらに、
第1加算回路11には第2スイッチ回路14が接続され
ている。低域フィルタ9と、第1加算回路11と、メモ
リ12と、両スイッチ回路13.14とは、X線像の多
数の像点を像範囲にまとめてデータ整理するためのデー
タ整理回路を構成している。
5のRAS信号は低域フィルタ9を介してアナログ/デ
ィジタル変換器(A/D変換器)10に導かれ、このA
/D変換器10の出力端子は第1加算回路11の第1入
力端子に接続されている。第1加算回路11の出力端子
はデータ整理された輝度値を一時記憶するための第1メ
モリ12と第1スイッチ回路13とを介して第1加算回
路11の第2入力端子に帰還結合されている。さらに、
第1加算回路11には第2スイッチ回路14が接続され
ている。低域フィルタ9と、第1加算回路11と、メモ
リ12と、両スイッチ回路13.14とは、X線像の多
数の像点を像範囲にまとめてデータ整理するためのデー
タ整理回路を構成している。
第2スイッチ回路14には像範囲のためにデータ整理さ
れた値のための第2メモリ15が接続され、その出力端
子は閾値回路16に接続されている。さらに、第2スイ
ッチ回路14には第1平均値回路17が接続され、その
出力端子は同様に閾値回路16に接続されている。第1
平均値回路17は像信号の輝度の全平均値のための検出
器回路を形成している。同様に、第2スイッチ回路14
には深絞り日用の制御回路18が接続され、この制御回
路1日は深絞り8の調整手段および位置発信器に接続さ
れている。
れた値のための第2メモリ15が接続され、その出力端
子は閾値回路16に接続されている。さらに、第2スイ
ッチ回路14には第1平均値回路17が接続され、その
出力端子は同様に閾値回路16に接続されている。第1
平均値回路17は像信号の輝度の全平均値のための検出
器回路を形成している。同様に、第2スイッチ回路14
には深絞り日用の制御回路18が接続され、この制御回
路1日は深絞り8の調整手段および位置発信器に接続さ
れている。
閾値回路16にはマスキング回路19が接続され、この
マスキング回路19には絞り込まれるべき像範囲が格納
されている第3メモリ20が接続されている。マスキン
グ回路19は積分回路21と第1カウンタ22とに接続
され、両者は第1割算回路23に接続されている。第1
割算回路23の出力端子は高電圧発生器1に接続されて
いる。
マスキング回路19には絞り込まれるべき像範囲が格納
されている第3メモリ20が接続されている。マスキン
グ回路19は積分回路21と第1カウンタ22とに接続
され、両者は第1割算回路23に接続されている。第1
割算回路23の出力端子は高電圧発生器1に接続されて
いる。
第1平均値回路17は第3図に図示された構成を有して
いる。第1平均値回路17の入力端子A、Bはゲート回
路24に接続され、このゲート回路24の出力端子は第
2加算回路25と第2カウンタ26とに接続されている
。第2加算回路25の出力端子は第4メモリ27を介し
て第2加算回路25の第2入力端子に帰還結合されてい
る。第2カウンタ26の出力端子と第4メモリ27の出
力端子とは第2割算回路2日に接続されている。第2割
算回路28の出力信号はレジスタ29を介して第1平均
値回路17の出力信号を形成し、この出力信号は閾値回
路16に供給される。
いる。第1平均値回路17の入力端子A、Bはゲート回
路24に接続され、このゲート回路24の出力端子は第
2加算回路25と第2カウンタ26とに接続されている
。第2加算回路25の出力端子は第4メモリ27を介し
て第2加算回路25の第2入力端子に帰還結合されてい
る。第2カウンタ26の出力端子と第4メモリ27の出
力端子とは第2割算回路2日に接続されている。第2割
算回路28の出力信号はレジスタ29を介して第1平均
値回路17の出力信号を形成し、この出力信号は閾値回
路16に供給される。
データ整理回路9〜14において、約512×512の
像点の分解能を有するテレビカメラの像は64X64の
マトリクスにまとめられる。しかしながら、このことは
、フィールド毎に64個の像点または32個の像点が像
範囲を生しることを意味する。このためにアナログ側で
は低域フィルタ9によって一行内に8個の像点の平均値
が定められる。A/D変換器10は行内の各像範囲の終
了後にこの平均値を走査して、この平均値を第1加算回
路11を介して第1メモリ12の対応する記憶場所に記
憶する。それぞれの像範囲の第1番目の行のために、第
1スイッチ回路13によって制御されて、第1メモリ1
2からの値は読出されずかつ第1加算回路11に供給さ
れず、それゆえA/D変換器10から供給された値だけ
が第1メモリ12に到達する。この像範囲内の次の3つ
の行のために、第1スイッチ回路13は第1メモリ12
の出力端子を第1加算回路11に接続し、それゆえ現在
値と記憶値との加算が行われる。像範囲のこの4つの行
がまとめられると、第2スイッチ回路14が導通し、こ
の値を第2メモリ15に与える。すなわち、第2メモリ
15には1つのフィールドの像範囲の輝度の平均値が格
納される。
像点の分解能を有するテレビカメラの像は64X64の
マトリクスにまとめられる。しかしながら、このことは
、フィールド毎に64個の像点または32個の像点が像
範囲を生しることを意味する。このためにアナログ側で
は低域フィルタ9によって一行内に8個の像点の平均値
が定められる。A/D変換器10は行内の各像範囲の終
了後にこの平均値を走査して、この平均値を第1加算回
路11を介して第1メモリ12の対応する記憶場所に記
憶する。それぞれの像範囲の第1番目の行のために、第
1スイッチ回路13によって制御されて、第1メモリ1
2からの値は読出されずかつ第1加算回路11に供給さ
れず、それゆえA/D変換器10から供給された値だけ
が第1メモリ12に到達する。この像範囲内の次の3つ
の行のために、第1スイッチ回路13は第1メモリ12
の出力端子を第1加算回路11に接続し、それゆえ現在
値と記憶値との加算が行われる。像範囲のこの4つの行
がまとめられると、第2スイッチ回路14が導通し、こ
の値を第2メモリ15に与える。すなわち、第2メモリ
15には1つのフィールドの像範囲の輝度の平均値が格
納される。
個々の像範囲の平均値を第2メモリ15に格納するのと
同時に、この平均値は第1平均値回路17において全体
像のための総平均値にまとめら、れる。ゲート回路24
によって制御されて、第2加算回路25では重要な像範
囲の平均値を加算し、第2カウンタ26では重要な像範
囲を計数する。
同時に、この平均値は第1平均値回路17において全体
像のための総平均値にまとめら、れる。ゲート回路24
によって制御されて、第2加算回路25では重要な像範
囲の平均値を加算し、第2カウンタ26では重要な像範
囲を計数する。
このためにゲート回路24によって、例えば扇形や深絞
り8によって覆われた像範囲に相当する像範囲が抑制さ
れる。これらの像範囲は第3メモリ20内に含まれてい
る。
り8によって覆われた像範囲に相当する像範囲が抑制さ
れる。これらの像範囲は第3メモリ20内に含まれてい
る。
第2割算回路28において第2カウンタ26内に含まれ
ている計数値で第4メモリ27内に含まれ、ている平均
値合計を割算することによって、フィールドの総平均値
が検出され、+ジメタ29内へ読込まれる。
ている計数値で第4メモリ27内に含まれ、ている平均
値合計を割算することによって、フィールドの総平均値
が検出され、+ジメタ29内へ読込まれる。
この総平均値は閾値回路16に供給され、閾値回路16
はその総平均値からその閾値を検出する。
はその総平均値からその閾値を検出する。
しかしながら、このことは総平均値が変化すると同様に
閾値も追従することを意味する。閾値回路16内では、
この閾値と、第2メモリ15から読出された平均値とが
比較される。その場合、閾値の上側に位置する値は像範
囲を示し、閾値の内側には直接放射が位置する。この閾
値の下側に位置する平均値は対象物によって弱められた
放射領域を示す。
閾値も追従することを意味する。閾値回路16内では、
この閾値と、第2メモリ15から読出された平均値とが
比較される。その場合、閾値の上側に位置する値は像範
囲を示し、閾値の内側には直接放射が位置する。この閾
値の下側に位置する平均値は対象物によって弱められた
放射領域を示す。
閾値回路16に続くマスキング回路19では、像評価の
ために使用されるのではない像範囲が絞り込まれる。こ
のために第3メモリ20には、例えば扇形や深絞りの位
置に相当する像範囲が記憶される。マスキング回路19
は第3メモリ2oがら続出された値によって開かれるゲ
ート回路によって構成される。
ために使用されるのではない像範囲が絞り込まれる。こ
のために第3メモリ20には、例えば扇形や深絞りの位
置に相当する像範囲が記憶される。マスキング回路19
は第3メモリ2oがら続出された値によって開かれるゲ
ート回路によって構成される。
閾値によって決められた値よりも暗くかつマスキング回
路19によって隠蔽されない像範囲の全ての測定値は、
後置接続されている積分回路21において積分される。
路19によって隠蔽されない像範囲の全ての測定値は、
後置接続されている積分回路21において積分される。
同時に、合算された像範囲の個数が第1カウンタ22に
おいて計数される。
おいて計数される。
次に、積分回路21において検出された値が第1割算回
路23において第1カウンタ22の計数値によって割算
され、それによって、高電圧発生器1のKVil[回路
の実際値として使用される平均値が得られる。
路23において第1カウンタ22の計数値によって割算
され、それによって、高電圧発生器1のKVil[回路
の実際値として使用される平均値が得られる。
さらに、第1カウンタ22の計数値は透視対象物の大き
さに対する尺度として使用することが出来る。積分回路
21の測定値は対象物に照射されたX線量を算出するた
めに使うことが出来る。
さに対する尺度として使用することが出来る。積分回路
21の測定値は対象物に照射されたX線量を算出するた
めに使うことが出来る。
第4図および第5図を参照して、2枚の絞り板30.3
1を備えた簡単な深絞り8に基づいてこの深絞り8を自
動制御する方法について詳細に説明する。第4図には対
象物32、例えば骨を示すX線像が図示されている。像
の一部分は絞り板30131によって隠蔽されている。
1を備えた簡単な深絞り8に基づいてこの深絞り8を自
動制御する方法について詳細に説明する。第4図には対
象物32、例えば骨を示すX線像が図示されている。像
の一部分は絞り板30131によって隠蔽されている。
像は個々の像範囲33に細分されている。円34は目視
可能な像の縁部、従ってX線技術においては通常行われ
る円走査を示している。深絞り8の絞り板30.31を
制御するための測定値検出にとって重要な像範囲は絞り
板30.31の前に示されている列35.36に位置し
ている。
可能な像の縁部、従ってX線技術においては通常行われ
る円走査を示している。深絞り8の絞り板30.31を
制御するための測定値検出にとって重要な像範囲は絞り
板30.31の前に示されている列35.36に位置し
ている。
絞り板30.31を制御するための制御回路は第5図に
示した構成を有している。深絞り8に所属する位置発信
器37から、絞り板30.31の位置に相当する信号が
、絞り板30.31の前に位置している像範囲全体を示
すマスキング回路38に供給される。これらは列35.
36内の像範囲に相当する。マスキング回路38の出力
信号は制御信号として、第3図に示された構成と同じ構
成を有する第2平均値回路39に供給される。第2平均
値回路39の第2入力端子には第2スイッチ回路14に
印加された個々の像範囲の平均値が供給される。第2平
均値回路39は列35.36内の像範囲か二分離されて
列35.36のための平均値を形成する。第2平均値回
路39には2つの評価回路40,41が接続されており
、その場合、第1評価回路4oは第1列35に所属する
平均値が供給され、第2評価回路41は第2列36に所
属する平均値が供給される。これらの平均値に基づいて
、評価回路4o、41は、列35.36の像範囲内には
対象物が存在するが否が、またはこれらの像範囲内には
直接肢射があるが否かを検知する。
示した構成を有している。深絞り8に所属する位置発信
器37から、絞り板30.31の位置に相当する信号が
、絞り板30.31の前に位置している像範囲全体を示
すマスキング回路38に供給される。これらは列35.
36内の像範囲に相当する。マスキング回路38の出力
信号は制御信号として、第3図に示された構成と同じ構
成を有する第2平均値回路39に供給される。第2平均
値回路39の第2入力端子には第2スイッチ回路14に
印加された個々の像範囲の平均値が供給される。第2平
均値回路39は列35.36内の像範囲か二分離されて
列35.36のための平均値を形成する。第2平均値回
路39には2つの評価回路40,41が接続されており
、その場合、第1評価回路4oは第1列35に所属する
平均値が供給され、第2評価回路41は第2列36に所
属する平均値が供給される。これらの平均値に基づいて
、評価回路4o、41は、列35.36の像範囲内には
対象物が存在するが否が、またはこれらの像範囲内には
直接肢射があるが否かを検知する。
第4図に図示されたケースの場合には、第1列35内に
は対象物32は存在しておらず、それゆえ第1評価回路
4oは第1絞り板3oの調整手段を制御し、それにより
この第1絞り板3oが第1矢印42の方向へ対象物32
に向けて移動される。
は対象物32は存在しておらず、それゆえ第1評価回路
4oは第1絞り板3oの調整手段を制御し、それにより
この第1絞り板3oが第1矢印42の方向へ対象物32
に向けて移動される。
位置発信器37によって次の列が記録され、この列内で
再び平均値が形成される。このことはこの第1絞り板3
0が第2絞り板31と同じような位置に存在するように
なるまで行われる。
再び平均値が形成される。このことはこの第1絞り板3
0が第2絞り板31と同じような位置に存在するように
なるまで行われる。
ここで、第2評価回路41は対象物32の一部分が第2
列36内に存在することを検知する。このことに基づい
て、第2評価回路41は第2絞り板31の調整要素を制
御し、それにより第2絞り仮31は例えば第2列36に
接触するまで第2矢印43の方向へ第2列36に向けて
移動される。
列36内に存在することを検知する。このことに基づい
て、第2評価回路41は第2絞り板31の調整要素を制
御し、それにより第2絞り仮31は例えば第2列36に
接触するまで第2矢印43の方向へ第2列36に向けて
移動される。
このようにして、所望の対象物32が完全に再生され、
一方、直接放射に属する不所望な像範囲は絞り込まれる
ことが保証される。
一方、直接放射に属する不所望な像範囲は絞り込まれる
ことが保証される。
この種の装置によれば、全ての重要な像内容を考慮した
測定値が得られる。それにより、主要部は各テレビフィ
ールドによって対象物に整合させられ、それゆえ主要部
は常に対象物上に位ヱするようなる。同時に、深絞り8
の自動制御が可能になる。
測定値が得られる。それにより、主要部は各テレビフィ
ールドによって対象物に整合させられ、それゆえ主要部
は常に対象物上に位ヱするようなる。同時に、深絞り8
の自動制御が可能になる。
第1図は本発明によるX線診断装置のブロック回路図、
第2図は第1図に図示された調節回路のブロック回路図
、第3図は第2図に図示された平均値回路のブロック回
路図、第4図は深絞りの原理図、第5図は第2図に図示
した深絞り用制御回路のブロック回路図である。 l・・・X線発生器 2・・・X線管 4・・・X線イメージインテンシファイア5・・・テレ
ビカメラ 6・・・制御回路 7・・・モニター 9・・・低域フィルタ 10・・・A/D変換器 1工・・・第1加算回路 12・・・第1メモリ 13・・・第1スイッチ回路 14・・・第2スイッチ回路 16・・・閾値回路 17・・・第1平均値回路 18・・・制御回路 19・・・マスキング回路 20・・・第3メモリ 21・・・積分回路 22・・・第1カウンタ 5118)代理人弁理士冨村 コシ5、D/−1+ ′≧ニー、ゼ つ)−− レ、:−ノイ 1+−、+− I01
第2図は第1図に図示された調節回路のブロック回路図
、第3図は第2図に図示された平均値回路のブロック回
路図、第4図は深絞りの原理図、第5図は第2図に図示
した深絞り用制御回路のブロック回路図である。 l・・・X線発生器 2・・・X線管 4・・・X線イメージインテンシファイア5・・・テレ
ビカメラ 6・・・制御回路 7・・・モニター 9・・・低域フィルタ 10・・・A/D変換器 1工・・・第1加算回路 12・・・第1メモリ 13・・・第1スイッチ回路 14・・・第2スイッチ回路 16・・・閾値回路 17・・・第1平均値回路 18・・・制御回路 19・・・マスキング回路 20・・・第3メモリ 21・・・積分回路 22・・・第1カウンタ 5118)代理人弁理士冨村 コシ5、D/−1+ ′≧ニー、ゼ つ)−− レ、:−ノイ 1+−、+− I01
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)X線発生器(1)と、X線管(2)と、X線イメー
ジインテンシファイア(4)、テレビカメラ(5)およ
びモニター(7)を有するX線イメージインテンシファ
イア−テレビ系(4〜7)と、X線診断装置の調節回路
(6)とを備えたX線診断装置において、前記調節回路
(6)はテレビカメラ(5)に接続され、X線像の複数
の像点を像範囲にまとめるデータ整理回路(9〜14)
を有し、輪郭検知のために閾値回路(16)が前記デー
タ整理回路(9〜14)に接続され、この閾値回路は個
々の像範囲の測定値を閾値と比較し、暗範囲に所属して
重要な像範囲に相当する測定信号だけを出力端子に出力
することを特徴とするX線診断装置。 2)閾値回路(16)には重要な像範囲の平均値を決定
する積分回路(21)が接続され、この積分回路(21
)は調節のためにX線発生器(1)に接続されることを
特徴とする請求項1記載のX線診断装置。 3)調節回路(6)は重要ではない絞り込み像範囲を示
すマスキング回路(19、20)を有し、このマスキン
グ回路は前記重要でない像範囲の測定信号を抑制するた
めに閾値回路(16)に接続されることを特徴とする請
求項1または2記載のX線診断装置。 4)閾値回路(16)には、重要な全像範囲の輝度の平
均値を決定してこの平均値から閾値を検知する検知回路
(17)が接続されることを特徴とする請求項1ないし
3の1つに記載のX線診断装置。 5)X線管(2)のX線路に配置された深絞り(8)を
備え、調節回路(6)は前記深絞り(8)の制御回路(
18)に接続されることを特徴とする請求項1ないし4
の1つに記載のX線診断装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3732636.8 | 1987-09-28 | ||
DE3732636 | 1987-09-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01107738A true JPH01107738A (ja) | 1989-04-25 |
Family
ID=6337043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63243781A Pending JPH01107738A (ja) | 1987-09-28 | 1988-09-27 | X線診断装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4935946A (ja) |
EP (1) | EP0309813B1 (ja) |
JP (1) | JPH01107738A (ja) |
DE (1) | DE3876574D1 (ja) |
Families Citing this family (11)
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NL9100019A (nl) * | 1991-01-09 | 1992-08-03 | Philips Nv | Roentgenonderzoekapparaat. |
JP3119881B2 (ja) * | 1991-02-07 | 2000-12-25 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
EP0500996B1 (de) * | 1991-03-01 | 1994-01-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einer Primärstrahlenblende |
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EP0635804B1 (en) * | 1993-07-22 | 2002-02-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Image processing method and device for performing that method |
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Citations (1)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE3225061A1 (de) * | 1982-07-05 | 1984-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikeinrichtung |
US4473843A (en) * | 1982-07-20 | 1984-09-25 | Siemens Gammasonics, Inc. | Digital radiographic system and method for adjusting such system |
US4533947A (en) * | 1983-11-14 | 1985-08-06 | Technicare Corporation | Adaptable area for image storage |
DE3426830A1 (de) * | 1984-03-12 | 1985-09-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikeinrichtung |
JPS6116371A (ja) * | 1984-07-03 | 1986-01-24 | Toshiba Corp | デジタルフルオログラフイ装置 |
-
1988
- 1988-09-14 EP EP88115027A patent/EP0309813B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-09-14 DE DE8888115027T patent/DE3876574D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-09-20 US US07/246,685 patent/US4935946A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-09-27 JP JP63243781A patent/JPH01107738A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5168783A (en) * | 1974-12-11 | 1976-06-14 | Tokyo Shibaura Electric Co | X sensatsueisochi |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0309813A1 (de) | 1989-04-05 |
EP0309813B1 (de) | 1992-12-09 |
DE3876574D1 (de) | 1993-01-21 |
US4935946A (en) | 1990-06-19 |
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