JPH02182029A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH02182029A JPH02182029A JP1002232A JP223289A JPH02182029A JP H02182029 A JPH02182029 A JP H02182029A JP 1002232 A JP1002232 A JP 1002232A JP 223289 A JP223289 A JP 223289A JP H02182029 A JPH02182029 A JP H02182029A
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- JP
- Japan
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- fet
- gate
- switching
- fets
- circuit
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 4
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置、特にGa Asデジタ/I、
I C等の構成に用いられるGa AsMESFET
からなる論理回路の構成に関する。
I C等の構成に用いられるGa AsMESFET
からなる論理回路の構成に関する。
この種の半導体装置として従来、DCFL(Direc
t Coupled PET Logic)がある(M
、イノ他 エレクトロレターズ17巻15号522〜5
23頁(M、Ino et al、、Electron
Lett、Vol、17No、15.July 19
81 pp、522−523 ))。
t Coupled PET Logic)がある(M
、イノ他 エレクトロレターズ17巻15号522〜5
23頁(M、Ino et al、、Electron
Lett、Vol、17No、15.July 19
81 pp、522−523 ))。
このDCFL回路は、1電源の単純な構成で高速・低電
力という、GaAsLSI用基本回路としてきわめて好
適な性質を有している。その構成例を第5図に示す。こ
れは、インバータ回路を2段接続したもので、スイッチ
ング用のエンハンスメントモードFET (E−FET
)11と能動負荷としてのデイプリージョンモードFE
T (D−FET)12とによって基本回路が構成され
る。
力という、GaAsLSI用基本回路としてきわめて好
適な性質を有している。その構成例を第5図に示す。こ
れは、インバータ回路を2段接続したもので、スイッチ
ング用のエンハンスメントモードFET (E−FET
)11と能動負荷としてのデイプリージョンモードFE
T (D−FET)12とによって基本回路が構成され
る。
第6図に、上記基本回路のスイッチングダイアグラムを
示す。同図において、特性aa’およびbがE−FET
I 1のI−V特性で、aa’はゲート入力rLJ時、
bは同rHJ時のものを示す。
示す。同図において、特性aa’およびbがE−FET
I 1のI−V特性で、aa’はゲート入力rLJ時、
bは同rHJ時のものを示す。
またCは負荷としてのD−FET12のI−V特性であ
り、A がオフ時の動作点、Bがオン時の動作点となる
。
り、A がオフ時の動作点、Bがオン時の動作点となる
。
ところが、この特性は基本回路が単独で存在する場合の
特性で、第5図に示すようにその出力が次段に接続され
ると、出力電圧のHレベルv11は、次段のスイッチン
グ用E−FET13のゲート−ソース接合によって構成
されるショットキーダイオードの順方向電流のクランプ
により規定される。
特性で、第5図に示すようにその出力が次段に接続され
ると、出力電圧のHレベルv11は、次段のスイッチン
グ用E−FET13のゲート−ソース接合によって構成
されるショットキーダイオードの順方向電流のクランプ
により規定される。
このため、E−FETI 1の入力「L」時のノード1
5とグランド間のI−V特性はaalのように立上り、
■ の値は本来のV から■H1へと低HHO 下してしまう。
5とグランド間のI−V特性はaalのように立上り、
■ の値は本来のV から■H1へと低HHO 下してしまう。
さらに、温度上昇により上記ショットキーダイオードの
立上り電圧が低下したり、ファンアウトの増加によって
次段駆動電流が増加したりすると、上記Hレベル出力電
圧はますます低下し、ノイズマージンが小さくなる。す
なわち、Hレベル出力電圧は、製造上のばらつきや使用
条件の変化等に対応するため、理想的な(V +vL
)/2の値に対し、通常はたとえば200mV程度の余
裕が必要であるのに、これが十分にとれないこととなる
。
立上り電圧が低下したり、ファンアウトの増加によって
次段駆動電流が増加したりすると、上記Hレベル出力電
圧はますます低下し、ノイズマージンが小さくなる。す
なわち、Hレベル出力電圧は、製造上のばらつきや使用
条件の変化等に対応するため、理想的な(V +vL
)/2の値に対し、通常はたとえば200mV程度の余
裕が必要であるのに、これが十分にとれないこととなる
。
この発明は、スイッチング用E−FETのゲート入力端
に、ドレインおよびゲートを相互接続したD−FETを
付加し、そのドレインおよびゲート端子を新たな入力端
子としたものである。
に、ドレインおよびゲートを相互接続したD−FETを
付加し、そのドレインおよびゲート端子を新たな入力端
子としたものである。
本発明の回路を2段接続した状態で、前段のスイッチン
グ用E−FETがオフすると、そのドレイン電圧が高く
なって前段回路の出力信号レベルが高くなる。この出力
は後段のスイッチング用E−FETのゲートに与えられ
ることになるが、スイッチング用E−FETのゲートに
はD−FETが接続されているため、スイッチング用E
−FETのゲートからソースへ、すなわちショットキ順
方向に流れるリーク電流は十分に小さく制限される。し
たがって、前段の出力信号レベルが比較的高い位置に保
持される。
グ用E−FETがオフすると、そのドレイン電圧が高く
なって前段回路の出力信号レベルが高くなる。この出力
は後段のスイッチング用E−FETのゲートに与えられ
ることになるが、スイッチング用E−FETのゲートに
はD−FETが接続されているため、スイッチング用E
−FETのゲートからソースへ、すなわちショットキ順
方向に流れるリーク電流は十分に小さく制限される。し
たがって、前段の出力信号レベルが比較的高い位置に保
持される。
以下、添付図面の第1図および第2図を参照してこの発
明の一実施例を説明する。
明の一実施例を説明する。
第1図は、この発明の一実施例を示す回路図である。本
実施例は、第5図と同様に2つのインノく一タ回路を接
続したもので、1,4がスイ・クランプ用のE−FET
、2.5が負荷としてのD−FETを示す。第5図と異
なるところは、新たにD−FET3,6が付加され、こ
のD−FETを含めた3個のFETで1つのインノ(−
夕回路を構成している点である。
実施例は、第5図と同様に2つのインノく一タ回路を接
続したもので、1,4がスイ・クランプ用のE−FET
、2.5が負荷としてのD−FETを示す。第5図と異
なるところは、新たにD−FET3,6が付加され、こ
のD−FETを含めた3個のFETで1つのインノ(−
夕回路を構成している点である。
D−FET3,6は、ドレインとゲートとが相互に接続
されるとともにソースがE−FETI。
されるとともにソースがE−FETI。
4のゲートに接続されており、ドレイン(およびゲート
)端子が新たな入力端子となっている。
)端子が新たな入力端子となっている。
実際の使用条件において、スイッチング用E−FETの
入力に付加したD−FETはほぼ抵抗として動作するた
め、前段回路の出力信号レベルが高くなっても、スイッ
チング用E−FETのゲートからソース、すなわちショ
ットキ順方向に流れるリーク電流は十分に小さく制限さ
れる。したがって、前段の出力信号レベルが比較的高い
位置に保持される。すなわち、付加したD−FETの■
−V特性を利用することにより、第2図に示すスイッチ
ングダイアグラム上で特性a1の急峻な立上りをa2の
ように緩和し、出力電圧のHレベルをvI+。まで上げ
ることができる。これによりノイズマージンが大きくな
り、回路動作の安定性が高まる。
入力に付加したD−FETはほぼ抵抗として動作するた
め、前段回路の出力信号レベルが高くなっても、スイッ
チング用E−FETのゲートからソース、すなわちショ
ットキ順方向に流れるリーク電流は十分に小さく制限さ
れる。したがって、前段の出力信号レベルが比較的高い
位置に保持される。すなわち、付加したD−FETの■
−V特性を利用することにより、第2図に示すスイッチ
ングダイアグラム上で特性a1の急峻な立上りをa2の
ように緩和し、出力電圧のHレベルをvI+。まで上げ
ることができる。これによりノイズマージンが大きくな
り、回路動作の安定性が高まる。
第3図はこの発明を2人力NAND回路に、第4図は2
人力NAND回路にそれぞれ適用した例を示す。いずれ
もスイッチング用E−FETI。
人力NAND回路にそれぞれ適用した例を示す。いずれ
もスイッチング用E−FETI。
4のゲート入力端にD−FET3.6が付加され、その
ドレイン(およびケート)端子を新たな入力端子として
いる。したかって、Hレベルの入力を高いレベルに保持
することができる。さらに多くの人力をもつ多入力NO
RもしくはNAND回路、あるいはこれらの各種ゲート
回路を組合せた複合ゲート回路なども同様に構成でき、
これらを適宜使用することによりデジタルIC製作が可
能である。
ドレイン(およびケート)端子を新たな入力端子として
いる。したかって、Hレベルの入力を高いレベルに保持
することができる。さらに多くの人力をもつ多入力NO
RもしくはNAND回路、あるいはこれらの各種ゲート
回路を組合せた複合ゲート回路なども同様に構成でき、
これらを適宜使用することによりデジタルIC製作が可
能である。
以上のようにこの発明は、スイッチング用E−FETの
ゲート入力端にD−FETを付加し、そのドレインおよ
びゲート端子を新たな入力端子としたことにより、入力
電圧のHレベル、すなわち前段に接続された回路の出力
電圧のHレベルが従来のDCFL回路に比べて常に高く
とれる。したがって、ノイズマージンが大きくとれて動
作の安定性を高めることができる効果がある。このため
、例えばGa AsデジタルICを構成するLSIの作
製に利用すればその歩留りを高めるのに有効である。
ゲート入力端にD−FETを付加し、そのドレインおよ
びゲート端子を新たな入力端子としたことにより、入力
電圧のHレベル、すなわち前段に接続された回路の出力
電圧のHレベルが従来のDCFL回路に比べて常に高く
とれる。したがって、ノイズマージンが大きくとれて動
作の安定性を高めることができる効果がある。このため
、例えばGa AsデジタルICを構成するLSIの作
製に利用すればその歩留りを高めるのに有効である。
1.4・・・スイッチング用E−FET、2.5・・・
負荷用D−FET、3.6・・・付加したD−FET。
負荷用D−FET、3.6・・・付加したD−FET。
IN・・・入力端子。
特許出願人 住友電気工業株式会社
代理人弁理士 長谷用 芳 樹間
塩 1) 辰 也
塩 1) 辰 也
第1図は、この発明の一実施例を示す回路図、第2図は
、そのスイッチングダイアグラム、第3図および第4図
は、それぞれこの発明の他の実施例を示す回路図、第5
図は、従来例を示す回路図、第6図は、そのスイッチン
グダイアグラムである。 実施例の回路構成 第1図 実施例の回路構成 第3図 スイッチしゲタイアプラム 第2区 実施例の回路構成 第4図
、そのスイッチングダイアグラム、第3図および第4図
は、それぞれこの発明の他の実施例を示す回路図、第5
図は、従来例を示す回路図、第6図は、そのスイッチン
グダイアグラムである。 実施例の回路構成 第1図 実施例の回路構成 第3図 スイッチしゲタイアプラム 第2区 実施例の回路構成 第4図
Claims (1)
- GaAsMESFETからなるDCFL回路において、
スイッチング用E−FETのゲート入力端に、ドレイン
およびゲートを相互接続したD−MESFETを、当該
D−MESFETのソースがスイッチング用E−FET
のゲートに接続されるように付加し、このD−MESF
ETのドレインおよびゲート端子を新たな入力端子とし
たことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1002232A JPH02182029A (ja) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1002232A JPH02182029A (ja) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02182029A true JPH02182029A (ja) | 1990-07-16 |
Family
ID=11523612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1002232A Pending JPH02182029A (ja) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02182029A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012530442A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流論理ゲート回路 |
JP2012530441A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流インバータ回路 |
CN112865783A (zh) * | 2021-01-24 | 2021-05-28 | 合肥芯谷微电子有限公司 | 一种GaAs E/D工艺低功耗反相器电路 |
-
1989
- 1989-01-09 JP JP1002232A patent/JPH02182029A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012530442A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流論理ゲート回路 |
JP2012530441A (ja) * | 2009-06-17 | 2012-11-29 | エプコス アーゲー | 低電流インバータ回路 |
CN112865783A (zh) * | 2021-01-24 | 2021-05-28 | 合肥芯谷微电子有限公司 | 一种GaAs E/D工艺低功耗反相器电路 |
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