JPH02113623A - 集積回路の静電気保護回路 - Google Patents

集積回路の静電気保護回路

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JPH02113623A
JPH02113623A JP63266430A JP26643088A JPH02113623A JP H02113623 A JPH02113623 A JP H02113623A JP 63266430 A JP63266430 A JP 63266430A JP 26643088 A JP26643088 A JP 26643088A JP H02113623 A JPH02113623 A JP H02113623A
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JP
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power supply
terminal
static electricity
circuit
internal circuit
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JP63266430A
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Yukichi Murakami
村上 祐吉
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Sharp Corp
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    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H9/00Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
    • H02H9/04Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
    • H02H9/045Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage adapted to a particular application and not provided for elsewhere
    • H02H9/046Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage adapted to a particular application and not provided for elsewhere responsive to excess voltage appearing at terminals of integrated circuits

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Elimination Of Static Electricity (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複数系統の電源を有するLSI等の集積回路
において、静電気による内部回路の破損を防止する静電
気保護回路に関するものである。
〔従来の技術〕
LSI等の集積回路では、静電気による内部回路の破損
を防止するために、入出力端子に静電気保護回路を設け
ている。そして、複数系統の電源を有するLSIにおい
ても、従来は、1系統の場合と同じ静電気保護回路を各
電源系統ごとに独立して設けていた。
ここで、2系統の電源を有するLSIにおける従来の静
電気保護回路の−・例を第3図に基づいて説明する。
LSIの内部回路は、内部回路Aと内部回路Bとに分離
されている。内部回路Aには、一方の電源系統である電
源端子VccAと接地端子GNDAとが接続され、この
電源端子V CCAと接地端子GN D Aとの間を接
続する適当な電流経路を形成している。また、内部回路
Bには、他方の電源系統である電源端子V ccBと接
地端子GND、とが接続され、この電源端子V cc、
と接地端子GND。
との間を接続する適当な電流経路を形成している。そし
て、内部回路Aと内部回路Bとの間は、信号の授受のみ
が行われるようになっている。従って、これらの電源端
子VCCAと電源端子■CCR及び接地端子GNDAと
接地端子G N D nは、互いに電気的に分離されて
いる。内部回路Aと内部回路Bとで電源電圧が異なる場
合には、このように電源系統を分離する必要がある。ま
た、電源電圧が同一の場合であっても、いずれか一方の
内部回路A又は内部回路Bで発生した電源ノイズやGN
Dノイズが他方の内部回路B又は内部回路Aに伝播する
のを防止するために、このように電源系統を分離するこ
とがある。
この内部回路Aには、n個の入力端子IN、〜INfi
がそれぞれ接続されている。そして、これらの入力端子
IN、〜INアには、静電気保護回路ECA、〜EC,
,,がそれぞれ設けられている。また、内部回路Bには
、m個の出力端子OUT、〜OUT、がそれぞれ接続さ
れている。そして、これらの出力端子OUT、〜OUT
、にも、静電気保護回路EC,、〜EC,,がそれぞれ
設けられている。
各静電気保護回路ECA、(ここで、iば、1乃至nの
いずれかの整数を示す)は、入力端子IN。
と内部回路へとの間に抵抗RAiを介在させている。そ
して、この抵抗RA iの内部回路A側の端子をそれぞ
れ逆方向のダイオードDAil及びダイオードDAi2
を介して電源端子VCCA及び接地端子GN D Aに
接続している。また、各静電気保護回路ECBj(ここ
で、jは、1乃至mのいずれかの整数を示す)は、出力
端子OUT、と内部回路Bとの間に抵抗RBAを介在さ
せている。そして、この抵抗RBJの内部回路B側の端
子をそれぞれ逆方向のダイオードD !+ j +及び
ダイオードD Bj2を介して電源端子VccB及び接
地端子G N D aに接続している。
L記LSIにおいて、いずれかの入力端子IN。
に、電源端子■ccA又は接地端子GNDAを基準とし
た正電荷の静電気が印加されると、静電気保護回路E 
Cp、 tにおける抵抗RAiとダイオードI)Aiと
を介した電源端子■ccAへの電流経路が形成される。
また、いずれかの入力端子IN、に、電源端子VCCA
又は接地端子GNDAを基準とした負電荷の静電気が印
加された場合には、静電気保護回路ECA1における抵
抗RAiとダイオードDA+2とを介した接地端子GN
D、からの電流経路が形成される。従って、静電気保護
回路ECA、は、入力端子IN、に印加されるこれらの
静電気から内部回路Aを保護することができる。
さらに、いずれかの出力端子OUT、に、電源端子Vc
cB又は接地端子GND、を基準とした正電荷の静電気
が印加されると、静電気保護回路ECBJにおける抵抗
RE、iとダイオードD Rj + とを介した電源端
子VCCRへの電流経路が形成される。
また、いずれかの出力端子OUT、に、電源端子Vcc
、又は接地端子GNDBを基準とした負電荷の静電気が
印加された場合には、静電気保護回路ECB、、におけ
る抵抗RB jとダイオードDBJ2とを介した接地端
子GND、がらの電流通路が形成される。従って、静電
気保護回路EC□は、出力端子OUT、に印加されるこ
れらの静電気から内部回路Bを保護することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、上記静電気保護回路ECA1及び静電気保護
回路E CB 3は、それぞれ電源が1系統の場合の静
電気保護回路と同様の構成であり、各系統の電源ごとに
独立して設けられているにすぎない。このため、複数系
統の電源を有するLSIの場合、このような従来の静電
気保護回路では、各系統の電源が分離されているために
、静電気に対する内部回路の保護が不十分であるという
l′iJ1題点が生じていた。
即ち、第3図の例で、いずれかの入力端子IN。
に、内部回路B側の電源端子VccB又は接地端子G 
N D Eを基準とした静電気が印加された場合、この
入力端子IN、から電源端子VccB又は接地端子GN
D、に至る電流経路を形成することができない。また、
いずれかの出力端子OUT、に、内部回路A側の電源端
子■ccA又は接地端子GNDAを基準とした静電気が
印加された場合に、この出力端子0UTJから電源端子
VCCA又は接地端子GNDAに至る電流経路を形成す
ることができない。従って、このような静電気が入力端
子IN、や出力端子OUT、、に印加されると、静電気
保護回路E CA 、□・EC,、tで吸収することが
できず、内部回路A−Bを破損するおそれが生しる。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る集積回路の静電気保護回路は、上記課題を
解決するために、複数の内部回路のための複数系統の電
源を有し、各内部回路の入出力端子にそれぞれの電源系
統ごとに独立した静電気保護回路を設けた集積回路にお
いて、複数系統の電源ノイスれか2系統の電源について
、エンハンスメント型のFETにおけるドレイン側とゲ
ート側を一方の電源系統に接続し、ソース側を他方の電
源系統に接続したことを特徴としている。
〔作 用〕
本発明の基本構成例を第2図に基づいて説明する。なお
、説明の便宜上、前記第3図に示した従来例と同一の機
能を有する構成部材には、同じ符号を付記する。
電源端子VCCA及び接地端子GND、と電源端子Vc
cB及び接地端子GNDRとを、複数系統の電源を有す
る集積回路におけるいずれか2系統の電源に接続される
端子であるとすると、この電源端子VCCAと接地端子
GNDAとがこれに対応する内部回路Aに接続され、電
源端子VCCBと接地端子GND、とがこれに対応する
内部回路Bに接続されることになる。また、内部回路A
に接続された図示しない入出力端子には、この内部回路
Aの電源系統である電源端子■ccAと接地端子GNT
)Aとの間に従来からの静電気保護回路が設けられてい
る。内部回路Bに接続された図示しない入出力端子につ
いても同様に、この内部回路Bの電源系統である電源端
子Vcc++と接地端子GNDBとの間に従来からの静
電気保護回路が設けられている。
そして、本発明の静電気保護回路EVにおけるエンハン
スメント型のFBTVは、電源端子VccAと電源端子
■ccBとの間に配置され、静電気保護回路ECにおけ
るエンハンスメント型のF E T cは、接地端子G
NDAと接地端子GNDBとの間に配置されている。こ
の際、FBTVにおけるドレインDとゲートGは、それ
ぞれ抵抗RV、と抵抗RV3とを介して共に電源端子V
cc、に接続され、ソースSは、抵抗Rv□を介して電
源端子VCCRに接続される。また、FET、における
ドレインDとゲートGは、それぞれ抵抗Rclと抵抗R
G3とを介して共に接地端子GNDAに接続され、ソー
スSは、抵抗RG2を介して接地端子GND、に接続さ
れる。
上記静電気保護回路EV及び静電気保護回路EGにおけ
るFETv及びFETGは、エンハンスメント型である
ことがらゲー1− GとソースS間が闇値電圧VTI(
を超えない定常動作時にはしゃ断されている。従って、
一方の内部回路A又は内部回路Bで発生した電源ノイズ
やGNDノイズが他方の内部回路B又は内部回路Aに伝
播することはない。
ここで、内部回路Aの入出力端子に、内部回路B側の電
源端子VCC,又は接地端子GNDRを基準とした正電
荷の静電気が印加されると、ゲートGとソースS間が闇
値電圧■Tllを超えてF E Tvが導通する。つま
り、この入出力端子から、従来の静電気保護回路を介し
、本発明の静電気保護回路EVにおける抵抗RVI、F
ETv及び抵抗Rv□を通じて電源端子VccBへの電
流通路が形成されることになる。また、同じ内部回路A
の入出力端子に、内部回路B側の電源端子Vcc、又は
接地端子GNDRを基準とした負電荷の静電気が印加さ
れた場合にば、パンチスルー[punch throu
ghコによってFET、に電流が流れるようになる。つ
まり、接地端子G N D sから、本発明の静電気保
護回路EGにおける抵抗RG2、FETG及び抵抗RG
Iを通じ、従来の静電気保護回路を介して、この入出力
端子に電流通路が形成されることになる。従って、内部
回路Aは、これら他方の系統の電源を基準とした静電気
から保護されることになる。
さらに、内部回路Bの入出力端子に、内部回路A側の電
源端子V CCA又は接地端子GNDAを基準とした正
電荷の静電気が印加されると、パンチスルーによってF
ETvに電流が流れるようになる。つまり、この人出カ
端子から、従来の静電気保護回路を介し、本発明の静電
気保護回路EVにおける抵抗Rv□、FETv及び抵抗
Rvlを通じて電源端子VCCAに至る電流通路が形成
されることになる。また、同じ内部回路Bの入出力端子
に、内部回路A側の電源端子VccA又は接地端子GN
D、を基準とした負電荷の静電気が印加された場合には
、ゲートGとソースS間が闇値電圧■1□を超えてFE
Tcが導通する。つまり、接地端子GNDAから、本発
明の静電気保護回路ECにおける抵抗R,,,FET、
及び抵抗RG□を通じ、従来の静電気保護回路を介して
、この入出力端子に電流通路が形成されることになる。
従って、内部回路Bも、これら他方の系統の電源を基準
とした静電気から保護されることになる。
上記基本構成例におけるFBTV及びFET。
は、nチャンネル又はpチャンネルのいずれのFETで
もよい。また、これらF E T v及びFET。
の各端子に接続される抵抗Rv、 −Rv□・RV3及
び抵抗R,,−RG2・RG3は、適宜いずれかを1個
以上を除去することができる。
また、3系統以上の電源を有する集積回路の場合には、
2系統ずつの各組合せごとに上記本発明の静電気保護回
路を設けることにより、全ての内部回路を保護すること
ができるようになる。
なお、組み合わせた2系統の電源電圧が異なる場合には
、第2図における電源端子vccA側が電源端子Vcc
、に比較して高電圧となるようにすることにより、定常
動作時において電源端子■ccAから電源端子VccB
に流れる電流をしゃ断することができる。
〔実施例〕
本発明の一実施例を第1図の記載に基づいて説明すれば
、以下の通りである。
本実施例は、2系統の電源を有するLSIにおける静電
気保護回路の一例を示す。なお、説明の便宜上、前記第
3図に示した従来例及び前記第2図に示した本発明の基
本構成例と同一の機能を有する構成部材には、同し符号
を付記する。
LSIの内部回路は、内部回路Aと内部回路Bとに分離
されている。内部回路Aには、一方の電源系統である電
源端子V CCAと接地端子GND。
とが接続され、この電源端子Vcc、と接地端子GND
Aとの間を接続する適当な電流経路を形成している。ま
た、内部回路Bには、他方の電源系統である電源端子V
CCBと接地端子GNDllとが接続され、この電源端
子Vcc、と接地端子GNDRとの間を接続する適当な
電流経路を形成している。そして、内部回路Aと内部回
路Bとの間は、信号の授受のみが行われるようになって
いる。従って、これらの電源端子Vcc、と電源端子V
 ccB及び接地端子GNDAと接地端子GNDAは、
互いに電気的に分離されている。
この内部回路Aには、n個の入力端子IN、〜■N+1
がそれぞれ接続されている。そして、これらの入力端子
IN、〜INnには、従来と同様にこの内部回路Aの電
源系統だけの静電気保護回路E CA+=E CAfi
がそれぞれ設けられている。また、内部回路Bには、m
個の出方端子OU T +〜OUT、がそれぞれ接続さ
れている。そして、これらの出力端子OUT、〜OUT
、にも、従来と同様にこの内部回路Bの電源系統だけの
静電気保護回路EC,、−EC,□がそれぞれ設けられ
ている。
各静電気保護回路ECA1は、入力端子IN、と内部回
路Aとの間に抵抗RAiを介在させている。
そして、この抵抗RA iの内部回路A側の端子をそれ
ぞれ逆方向のダイオードDAf+及びダイオードD□2
を介して電源端子VCCA及び接地端子GNDAに接続
している。従って、入力端子IN、に入力された信号は
、この静電気保護回路ECA1における抵抗RAiを介
して内部回路Aに送られることになる。また、各静電気
保護回路ECBjは、出力端子0UTJと内部回路Bと
の間に抵抗RB jを介在させている。そして、この抵
抗R11Jの内部回路B側の端子をそれぞれ逆方向のダ
イオードD、j。
及びダイオードD8,2を介して電源端子■ccl+及
び接地端子GND、に接続している。従って、出力端子
0UTJは、この静電気保護回路EC□における抵抗R
□を介して内部回路Bからの信号を受は取り出力するこ
とになる。
上記電源端子V CCAと電源端子V ccBとの間に
は、静電気保護回路EVが接続されている。この静電気
保護回路EVば、エンハンスメント型のFE”Fvと3
個の抵抗Rv+ ’ Rvz ’ RV3とで構成され
ている。そして、F F、 T vにおけるドレインD
とゲー1− Gは、それぞれ抵抗Rvlと抵抗RV3と
を介して共に電源端子Vcc、に接続されている。また
、このF E T vにおけるソースSば、抵抗Rv□
を介して電源端子VccBに接続されている。
また、接地端子GNDAと接地端子G N D、との間
には、静電気保護回路EGが接続されている。この静電
気保護回路ECも、エンハンスメント型のFET、と3
個の抵抗RGI・RGZ・RG3とで構成されている。
そして、FET、におけるドレインDとゲー1− Gは
、それぞれ抵抗RG、と抵抗RG3とを介して共に接地
端子GNDAに接続されている。また、このFETGに
おけるソースSは、抵抗R,G2を介して接地端子GN
DBに接続されている。
に記構酸の静電気保護回路の動作を説明する。
まず、従来と同様の構成である各静電気保護回路EC,
,と各静電気保護回路EC□の動作を簡単に説明する。
いずれかの入力端子XN、に、電FA@子VCCA又は
接地端子GND、を基準とした静電気が印加されると、
静電気保護回路ECA1における抵抗RAi及びダイオ
ードD91.又はダイオードDAi2を介した電源端子
Vcca又は接地端子G N D Aとの間の電流経路
が形成される。従って、静電気保護回路ECA、は、従
来と同様に入力端子IN、に印加される同じ電源系統を
基準とした静電気から内部回路Aを保護することができ
る。
また、いずれかの出力端子0UTJに、電源端子Vcc
B又は接地端子GND、lを基準とした静電気が印加さ
れると、静電気保護回路ECBJにおける抵抗RB、、
及びダイオードD B j +又はダイオードr−’1
1j2を介した電源端子Vcc、又は接地端子GNDR
との間の電流経路が形成される。従って、静電気保護回
路EC□も、従来と同様に出力端子OU T 、に印加
される同じ電源系統を基準とした静電気から内部回路B
を保護することができる。
次に、静電気保護回路EVと静電気保護回路EGの動作
を説明する。
これら静電気保護回路E V及び静電気保護回路ECに
おけるFBTV及びFET、は、Jンハンスメント型で
あることがらゲートGとソースS間が閾値電圧■11.
を超えない定常動作時にはしゃ断されている。従って、
このような静電気保護回路EVや静電気保護回路ECを
設りない従来の場合と同様に、一方の内部回路A又は内
部回路Bで発生した電源ノイズやGNDノイズが他方の
内部回路B又は内部回路Aに伝播することはない。
ところが、いずれかの入力端子IN、!こ、内部回路B
側の電源端子V ccB又は接地端子GNDBを基準と
した正電荷の静電気が印加されると、ゲートGとソース
S間が闇値電圧■、1.を超えてF 1−ETvが導通
する。つまり、この入力端子IN、がら、前記静電気保
護回路ECA1におLJる抵抗R9゜及びダイオードD
 A i +を介し、静電気保護回路EVにおける抵抗
RV、、FETv及び抵抗Rv2を通して電源端子Vc
cB−,の電流通路が形成されることになる。また、同
じ入力端子IN、に、内部回路B側の電源端子VCCB
又は接地端子G N D nを基準とした負電荷の静電
気が印加された場合には、バンチスルーによってFET
6に電流が流れるようになる。つまり、接地端子G N
 D Bから、静電気保護回路EGにおける抵抗RG□
、FET、及び抵抗Rr、lを通じ、前記静電気保護回
路ECA、におけるダイオードDAi□及び抵抗RAi
を介して、入力端子IN、に電流通路が形成されること
になる。従って、静電気保護回路EV及び静電気保護回
路EGは、これら異なる系統の電源を基準とした静電気
から内部回路Aを保護することができる。
さらに、いずれかの出力端子OUT、に、内部回路A側
の電源端子Vcc、又は接地端子GNDAを基準とした
正電荷の静電気が印加されると、バンチスルーによって
FETvに電流が流れるようになる。つまり、この出力
端子OUT、から、前記静電気保護回路E CB=にお
ける抵抗R,,,及びダイオードD01を介し、静電気
保護回路EVにおける抵抗Rv□、FETv及び抵抗R
VIを通じて電] 7 源端子VCCAへの電流通路が形成されることになる。
また、同じ出力端子0UTjに、内部回路A側の電源端
子VCCA又は接地端子GNDAを基準とした負電荷の
静電気が印加された場合には、ゲートGとソースS間が
閾値電圧VTI+を超えてFETGが導通する。つまり
、接地端子G N D Aから、静電気保護回路ECに
おける抵抗RGl、FET。
及び抵抗RG2を通じ、静電気保護回路EC,jにおけ
るダイオードD BJz及び抵抗RBJを介して、この
出力端子OUT、に電流通路が形成されることになる。
従って、静電気保護回路EV及び静電気保護回路EGは
、これら異なる系統の電源を基準とした静電気から内部
回路Bも保護することができる。
なお、3系統以上の電源を有するLSIの場合には、2
系統ずつの各組合せごとに上記静電気保護回路EV及び
静電気保護回路ECを設けることにより、全ての内部回
路を保護することができるようになる。
〔発明の効果〕
本発明に係る集積回路の静電気保護回路は、以上のよう
に、複数の内部回路のための複数系統の電源を有し、各
内部回路の入出力端子にそれぞれの電源系統ごとに独立
した静電気保護回路を設けた集積回路において、複数系
統の電源のいずれか2系統の電源について、エンハンス
メント型のFETにおけるドレイン側とデー1−側を一
方の電源系統に接続し、ソース側を他方の電源系統に接
続した構成をなしている。
これにより、各電源系統が接続する内部回路を、他系統
の電源を基準とした静電気から保護することができる。
従って、本発明の静電気保護回路は、複数系統の電源を
有する集積回路における各内部回路を静電気から完全に
保護することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すものであって、集積回
路の要部回路図である。第2図は本発明の静電気保護回
路の基本構成例を示す集積回路の要部回路図である。第
3回は従来例を示すものであって、集積回路の要部回路
図である。 A−Bは内部回路、VccAHVccllは電源端子(
電源)、GNDA −GND、は接地端子(電源)、I
N、は入力端子、0UTJば出力端子、ECA1− E
 C,Jは静電気保護回路(電源系統ごとに独立した静
電気保護回路)、EV・ECは静電気保護回路(異なる
電源系統間を接続した静電気保護回路) 、FBTV 
−FET、はFET、Dはドレイン、Gはゲート、Sは
ソースである。 特許出願人     シャープ 株式会社否) 十 騙

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数の内部回路のための複数系統の電源を有し、各
    内部回路の入出力端子にそれぞれの電源系統ごとに独立
    した静電気保護回路を設けた集積回路において、 複数系統の電源のいずれか2系統の電源について、エン
    ハンスメント型のFETにおけるドレイン側とゲート側
    を一方の電源系統に接続し、ソース側を他方の電源系統
    に接続したことを特徴とする集積回路の静電気保護回路
JP63266430A 1988-10-21 1988-10-21 集積回路の静電気保護回路 Pending JPH02113623A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0494568A (ja) * 1990-08-10 1992-03-26 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路装置
JP2009124672A (ja) * 2007-11-12 2009-06-04 Hynix Semiconductor Inc 半導体集積回路

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5124877A (en) * 1989-07-18 1992-06-23 Gazelle Microcircuits, Inc. Structure for providing electrostatic discharge protection
US5196981A (en) * 1990-12-28 1993-03-23 National Semiconductor Corporation ESD protection scheme
JP2958202B2 (ja) * 1992-12-01 1999-10-06 シャープ株式会社 半導体装置
JP2589938B2 (ja) * 1993-10-04 1997-03-12 日本モトローラ株式会社 半導体集積回路装置の静電破壊保護回路
US5381105A (en) * 1993-02-12 1995-01-10 Motorola, Inc. Method of testing a semiconductor device having a first circuit electrically isolated from a second circuit
FR2708788B1 (fr) * 1993-08-06 1995-10-27 Sgs Thomson Microelectronics Protection d'un circuit intégré à l'encontre de surcharges électrostatiques.
FI98255C (fi) * 1994-04-14 1997-05-12 Kone Oy Ylijännitesuojaus
DE69622465T2 (de) * 1995-04-24 2003-05-08 Conexant Systems Inc Verfahren und Apparat zum Koppeln verschiedener, unabhängiger on-Chip-Vdd-Busse an eine ESD-Klemme
US5745323A (en) * 1995-06-30 1998-04-28 Analog Devices, Inc. Electrostatic discharge protection circuit for protecting CMOS transistors on integrated circuit processes
KR0166509B1 (ko) * 1995-12-29 1999-01-15 김주용 정전기 보호 회로
US5751525A (en) * 1996-01-05 1998-05-12 Analog Devices, Inc. EOS/ESD Protection circuit for an integrated circuit with operating/test voltages exceeding power supply rail voltages
US5715127A (en) * 1996-05-06 1998-02-03 Winbond Electronics Corp. Method for preventing electrostatic discharge failure in an integrated circuit package
US5712753A (en) * 1996-05-06 1998-01-27 Winbond Electronics Corp. Method for preventing electrostatic discharge failure in an integrated circuit package
JPH09321225A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Nec Corp 半導体集積回路装置
US5917689A (en) * 1996-09-12 1999-06-29 Analog Devices, Inc. General purpose EOS/ESD protection circuit for bipolar-CMOS and CMOS integrated circuits
US5838146A (en) * 1996-11-12 1998-11-17 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for providing ESD/EOS protection for IC power supply pins
US6025746A (en) * 1996-12-23 2000-02-15 Stmicroelectronics, Inc. ESD protection circuits
JP3044117U (ja) * 1997-06-06 1997-12-16 株式会社バンダイ 通信端子を有するゲーム機
EP0932202B1 (en) * 1997-12-31 2006-09-20 STMicroelectronics S.r.l. ESD protection network on semiconductor circuit structures
US6724603B2 (en) * 2002-08-09 2004-04-20 Motorola, Inc. Electrostatic discharge protection circuitry and method of operation
JP3794368B2 (ja) * 2002-10-29 2006-07-05 セイコーエプソン株式会社 El表示装置
US6970336B2 (en) * 2003-10-10 2005-11-29 Freescale Semiconductor, Inc. Electrostatic discharge protection circuit and method of operation
US7446990B2 (en) * 2005-02-11 2008-11-04 Freescale Semiconductor, Inc. I/O cell ESD system
US7301741B2 (en) * 2005-05-17 2007-11-27 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit with multiple independent gate field effect transistor (MIGFET) rail clamp circuit
US7593202B2 (en) * 2005-11-01 2009-09-22 Freescale Semiconductor, Inc. Electrostatic discharge (ESD) protection circuit for multiple power domain integrated circuit
US7808117B2 (en) * 2006-05-16 2010-10-05 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated circuit having pads and input/output (I/O) cells
US7589945B2 (en) * 2006-08-31 2009-09-15 Freescale Semiconductor, Inc. Distributed electrostatic discharge protection circuit with varying clamp size
US7777998B2 (en) 2007-09-10 2010-08-17 Freescale Semiconductor, Inc. Electrostatic discharge circuit and method therefor
US7817387B2 (en) * 2008-01-09 2010-10-19 Freescale Semiconductor, Inc. MIGFET circuit with ESD protection
EP2238686A1 (en) * 2008-01-29 2010-10-13 Nxp B.V. Electronic clamps for integrated circuits and methods of use
US8018002B2 (en) 2009-06-24 2011-09-13 Globalfoundries Inc. Field effect resistor for ESD protection
US9659924B2 (en) * 2014-05-25 2017-05-23 Mediatek Inc. Signal receiving circuit and signal transceiving circuit
US20230009631A1 (en) * 2021-07-09 2023-01-12 Changxin Memory Technologies, Inc. Electrostatic discharge protection network for chip

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS622464A (ja) * 1985-06-26 1987-01-08 Sumitomo Electric Ind Ltd レドツクスフロ−電池の電解液

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0758734B2 (ja) * 1987-02-23 1995-06-21 株式会社東芝 絶縁ゲ−ト型セミカスタム集積回路
US4736271A (en) * 1987-06-23 1988-04-05 Signetics Corporation Protection device utilizing one or more subsurface diodes and associated method of manufacture

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS622464A (ja) * 1985-06-26 1987-01-08 Sumitomo Electric Ind Ltd レドツクスフロ−電池の電解液

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0494568A (ja) * 1990-08-10 1992-03-26 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路装置
JP2009124672A (ja) * 2007-11-12 2009-06-04 Hynix Semiconductor Inc 半導体集積回路

Also Published As

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