JPH0210538A - Optical disk bit error measuring instrument - Google Patents
Optical disk bit error measuring instrumentInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は消去光ディスクのビットエラー率測定装置に関
するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a bit error rate measuring device for erasing optical discs.
従来の技術
第３図は従来の光ディスクビットエラー率測定装置の構
成図を示すものであり、１はデータを記録再生する光デ
ィスクである。２はドライブで、微小なスポットに絞つ
たレーザ光を光ディスク１のトラックに照射して信号を
記録する。３はドライブ２で光ディスクに記録する信号
を発生すると共にドライブの動作を制御するコントロー
ラである。４はデータを一時格納するメモリでテストデ
ータを記憶する。５はメモリ４のデータにエラー訂正符
号を付加するエラー制御部である。６はデータ変復調部
で、メモリ４のデータを変調したり、逆にドライブ２の
再生信号を復調してメモリ４に格納する。７はインター
フェースで、コントローラ３とホストコンピュータ９を
接続する。８は制御ＣＰＵで、コントローラ３の構成各
部の制御を行う、９はホストコンピュータで、コントロ
ーラ３にコマンド、データを送出してドライブ２経由で
光ディスク１にデータを記録したり、再生する。BACKGROUND OF THE INVENTION FIG. 3 shows a block diagram of a conventional optical disk bit error rate measuring device, and numeral 1 indicates an optical disk for recording and reproducing data. A drive 2 irradiates a track of the optical disc 1 with a laser beam focused on a minute spot to record a signal. Reference numeral 3 denotes a controller that generates a signal to be recorded on the optical disc by the drive 2 and controls the operation of the drive. 4 is a memory for temporarily storing data, and stores test data. Reference numeral 5 denotes an error control unit that adds an error correction code to the data in the memory 4. A data modulation/demodulation section 6 modulates the data in the memory 4 or demodulates the reproduced signal from the drive 2 and stores it in the memory 4. 7 is an interface that connects the controller 3 and the host computer 9; Reference numeral 8 denotes a control CPU, which controls each component of the controller 3. Reference numeral 9 denotes a host computer, which sends commands and data to the controller 3 to record and reproduce data on the optical disc 1 via the drive 2.
以上のように構成された従来のビットエラー率測定装置
においては、ホストコンピュータ９がコントローラ３に
ライトコマンドを送出し、コントローラ３はライトコマ
ンドと、ひき続き送られるデータをメモリ４に格納した
後、ドライブ２に検索コマンドを送って光ディスク１の
所定のトラックをアクセスする。所定のトラックがアク
セスされると、制＠ｃ Ｐ Ｕ ｓはエラー訂正部５、
データ変復調部６を起動してドライブ２にデータ変調記
録信号を送り、ドライブ２はこれを光ディスク１に記録
する。記録が終ると、ホストコンピュータ９は記録した
トラックのデータをリードコマンドで読む、即ち、コン
トローラ３は所定のトラックをライトと同じ様にしてア
クセスし、ドライブ２は光ディスク１に記録された信号
を再生し、データ変復調部６でこの再生信号を復調して
メモリ４に格納する。コントローラ３はメモリ４からデ
ータと共にエラー訂正符号もホストコンピュータ９に転
送する。In the conventional bit error rate measuring device configured as described above, the host computer 9 sends a write command to the controller 3, and the controller 3 stores the write command and subsequently sent data in the memory 4, and then A search command is sent to the drive 2 to access a predetermined track on the optical disc 1. When a predetermined track is accessed, the control unit 5,
The data modulation/demodulation section 6 is activated to send a data modulation recording signal to the drive 2, and the drive 2 records this on the optical disc 1. When the recording is finished, the host computer 9 reads the data of the recorded track using a read command. In other words, the controller 3 accesses the predetermined track in the same way as when writing, and the drive 2 reproduces the signal recorded on the optical disc 1. Then, the data modulation/demodulation section 6 demodulates this reproduced signal and stores it in the memory 4. The controller 3 transfers the error correction code as well as the data from the memory 4 to the host computer 9.
ホストコンピュータ９は別に記憶していた記録データと
再生データを比較してビットエラー発生状態を調べる。The host computer 9 compares the separately stored recorded data and reproduced data to check whether a bit error has occurred.
以上の一連の動作を調べたい消去可能回数だけ繰り返す
。Repeat the above series of operations as many times as you want to erase.
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記の様な構成では、テストデータを検査
トラックの各セクタに記録する毎に異なうたランダムデ
ータを記録しないと正確な繰り返しによるセクタの劣化
が評価できないことから記録の度にデータの乱数をホス
トコンピュータで計算してコントローラに転送すること
、また記録毎にデータを比較することからデータ発生、
データ転送、データ比較等の処理、に時間がかかるとい
う問題点を有していた。Problems to be Solved by the Invention However, with the above configuration, the deterioration of sectors due to accurate repetition cannot be evaluated unless different random data is recorded each time test data is recorded in each sector of the inspection track. Data is generated by calculating a random number of data on a host computer and transmitting it to the controller each time, and comparing data each time it is recorded.
This method has a problem in that processing such as data transfer and data comparison takes time.
このことは、光ディスクがより高速になるに連れてより
高い性能のコンピュータが必要になることになる。This will require higher performance computers as optical disks become faster.
本発明はかかる点に鑑み、ドライブの一回転時間×記録
回数で決まる時間にほぼ比例して高速にビットエラー率
が測定可能で、ホストコンピュータの性能に測定時間が
影響を受けないビットエラー率測定装置を提供すること
を目的とする。In view of these points, the present invention enables bit error rate measurement that can be performed at high speed in approximately proportion to the time determined by one rotation time of the drive x the number of recording times, and the measurement time is not affected by the performance of the host computer. The purpose is to provide equipment.
ｉ＋ｔ＋ｕを解決するための手段
本発明は、テストデータを保持するメモリと、メモリの
データを光ディスクの所定のトラックに記録する記録手
段と、光ディスクから記録したデータを読みだしてメモ
リに格納する再生手段と、記録手段がトラックに記録す
る毎にメモリの読みだし開始アドレスにオフセットを加
えるアドレスオフセット付与手段と、これら手段の動作
を制御する第１の制御手段と、テストデータをメモリに
転送し、また再生手段の再生データのピットエラ−を検
出する第２の制御手段とを具備したビットエラー測定装
置である。Means for Solving i+t+u The present invention provides a memory for holding test data, a recording means for recording data in the memory on a predetermined track of an optical disk, and a reproducing means for reading data recorded from the optical disk and storing it in the memory. an address offset applying means that adds an offset to the read start address of the memory each time the recording means records on a track; a first control means that controls the operations of these means; and a first control means that transfers test data to the memory; The bit error measuring device includes second control means for detecting pit errors in reproduced data of the reproduction means.
作用
本発明は前記した構成により、第１の制御手段は記録手
段によってメモリの読みだしアドレスにアドレスオフセ
ット付与手段でトラック記録毎に少なくとも１セクタ相
当のアドレスオフセットを加算してテストデータを巡回
させながら記録を所定の回数繰り返し、ついで再生手段
を起動して繰り返し記録後のデータを再生し、第２の制
御手段が該再生データのビットエラーを測定する。Operation According to the above-described structure, the first control means adds an address offset equivalent to at least one sector for each track recording to the read address of the memory by the recording means, while circulating the test data. Recording is repeated a predetermined number of times, and then the reproduction means is activated to reproduce the data after repeated recording, and the second control means measures bit errors in the reproduced data.
実施例
第１図は本発明の一実施例における光ディスクビットエ
ラー率測定装置のブロック図を示すものである。第１図
において、１□ ２．５〜７．９は第３図の同じ番号の
ブロックと同じものである。Embodiment FIG. 1 shows a block diagram of an optical disk bit error rate measuring device in an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1□2.5 to 7.9 are the same as the blocks with the same numbers in FIG.
１０はドライブ２にデータを記録再生を制御するコント
ローラ、１１はコントローラ１０の動作を制御する制御
ＣＰＵ、１２はすくなくとも１トラツクの記録容量を持
ったメモリ、１３は制御１ｃＰＵ１１からの指令でメモ
リ１２の続みだしアドレスにアドレスオフセットを付与
するアドレスオフセット発生回路である。10 is a controller that controls recording and reproduction of data in the drive 2; 11 is a control CPU that controls the operation of the controller 10; 12 is a memory having a recording capacity of at least one track; This is an address offset generation circuit that adds an address offset to the continuation address.
以上のように構成された本実施例の光ディスクビットエ
ラー率測定装置について、以下その動作を説明する。The operation of the optical disc bit error rate measuring device of this embodiment configured as described above will be described below.
ホストコンビエータ９は、乱数データを発生してコント
ローラｌＯのメモリ１２にインターフェース７経由でこ
の乱数データを転送する。The host combinator 9 generates random number data and transfers this random number data to the memory 12 of the controller IO via the interface 7.
ここで乱数データは、１トラツクのセクタ数をｎとして
例えば（ｎ−１）セクタ分のデータ；ｄｌ。Here, the random number data is, for example, data for (n-1) sectors, where n is the number of sectors in one track; dl.
ｄ２．ｄ３．、、、ｄｎ−、（ｄ ｉはトラック１番目
のセクタデータに相当する。）である。d2. d3. , , dn-, (d i corresponds to the first sector data of the track).
次に、ホストコンピュータ９はコントローラ１０がメモ
リ１２のデータをドライブ２で光ディスク１の被検査ト
ラックに繰り返し記録することを指令する。Next, the host computer 9 instructs the controller 10 to repeatedly record the data in the memory 12 onto the track to be inspected on the optical disc 1 using the drive 2 .
コントローラ１０の制御ＩｃＰＵＩＩはデータの光ディ
スク１への繰り返し記録を実行する。すなわち、まずメ
モリ１２からデータを読みだしエラー制御部５で符号化
、エラー訂正符号のデータへの付与を行う、符号化デー
タはデータ変復調部６で変調されドライブ２でレーザ光
を強度変調してデータを光ディスク１に記録する。光デ
ィスク１は、例えば薄膜のアモルファス−結晶状態の相
変化を利用して信号の消去記録を行う相変化形消去光デ
ィスクである。The control IcPUII of the controller 10 repeatedly records data onto the optical disc 1. That is, data is first read from the memory 12, encoded by the error control unit 5, and an error correction code is added to the data.The encoded data is modulated by the data modulation/demodulation unit 6, and the drive 2 modulates the intensity of the laser beam. Data is recorded on the optical disc 1. The optical disc 1 is a phase-change erasing optical disc that performs erasing and recording of signals by utilizing, for example, a phase change between the amorphous and crystalline state of a thin film.
上記の繰り返し記録において、平均的な記録回数を測定
するためにはセクタに記録するデータが記録の度に異な
る必要がある。もし、同じデータが同じセクタに記録さ
れるとミクロにみれば記録ピットが光ディスクのセクタ
のほぼ同じ場所に記録される事となって必要以上に厳し
い条件で繰り返しを測定することになる。In the above-described repeated recording, in order to measure the average number of recordings, it is necessary that the data recorded in the sector be different each time the recording is performed. If the same data is recorded in the same sector, from a microscopic perspective, the recording pits will be recorded in almost the same location in the sector of the optical disk, resulting in repeated measurements under more severe conditions than necessary.
すなわち、セクタに記録されるデータは記録の度にラン
ダムに変わることがのぞまれる。That is, it is desired that the data recorded in a sector change randomly each time it is recorded.
アドレスオフセット発生回路１３は上記の要請を実現す
る。すなわち、制御ＣＰＵＩＩばｌトラックの記録が終
わる毎にアドレスオフセット発生回路１３のアドレスオ
フセット値を−セクタ長和当加算し、記録回数に連れて
メモリ１２の読みだし開始アドレスがセクタ単位で巡回
する様に制御しながら光ディスク１にデータを記録する
。The address offset generation circuit 13 fulfills the above requirements. That is, each time recording of the control CPU II track is completed, the address offset value of the address offset generation circuit 13 is added by the sum of -sector length, so that the read start address of the memory 12 rotates in units of sectors as the number of recordings increases. Data is recorded on the optical disc 1 while controlling the data.
すなわち、セクタ１，２．、、、ｎ−１に対して、
記録１回目 ｄｌ、ｄ２．・・・・・・ｄｎ−２、ｄ
ｎ−１記録２回目 ｄ２．ｄ３．−・・・・・ｄｎ−
１，ｄｌ。That is, sectors 1, 2 . ,,, for n-1, the first recording dl, d2.・・・・・・dn-2,d
2nd n-1 record d2. d3. -・・・dn-
1, dl.
記録３回目 ｄ３．ｄ４．・・・・・・ｄｌ、ｄ２゜
記録ｎ−１回目 ｄｎ−１、ｄＬ ・・・”・ｄ ｎ−
ｔ ’ｎ−ｚという順序で記録される。このように、メ
モリ１２のデータが乱数であれば上記のセクタ巡回記録
によって各セクタには乱数データが繰り返し記録される
と見なせる。3rd record d3. d4. ...dl, d2° recording n-1st time dn-1, dL ..."・d n-
They are recorded in the order t'nz. In this way, if the data in the memory 12 is a random number, it can be considered that random number data is repeatedly recorded in each sector by the sector cyclic recording described above.
第２図は同実施例における光ディスク１のトラックにテ
ストデータが記録される動作波形図である。FIG. 2 is an operational waveform diagram in which test data is recorded on the track of the optical disc 1 in the same embodiment.
第２図（ａ）〜（ロ）において、第２図（旬はメモリ１
２に格納されたデータを示し、ｄｉ、ｄ２．、、。In Fig. 2 (a) to (b), Fig.
2, di, d2. ,,.
ｄｎ−１は（ｎ−１）個のセクタに相当するデータブロ
ックを示す、第２図（ロ）、（Ｃ）、（ロ）は記録回数
が１回目、２回目、３回目に記録されるデータブロック
の記録セクタ位置を示す。dn-1 indicates a data block corresponding to (n-1) sectors. Figure 2 (B), (C), and (B) are recorded for the first, second, and third times. Indicates the recording sector position of the data block.
例えば、セクタ１では記録がデータブロックｄｉ、ｄ２
．ｄ３．・・・・・・、セクタ２では記録がデータブロ
ックｄ２．ｄ３．ｄ４． ・・・・・・、セクタ３では
記録がデータブロックｄ３．ｄ４．ｄ５．・・・・・・
、というふうに記録されるので各セクタには記録毎に異
なったデータが記録されることになる。For example, in sector 1, recording is in data blocks di, d2
．． d3. ..., in sector 2, recording is in data block d2. d3. d4. ......, in sector 3, the recording is in data block d3. d4. d5.・・・・・・
, so different data is recorded in each sector each time.
また、第２図においてセクタ０はデータを記録しない、
これは光ディスク１のパイラルトラックを同心円状に追
従するために光ビームをこのセクタでジャンピングして
スパイラルトラックをリトレースする期間である。Also, in Figure 2, sector 0 does not record data.
This is a period in which the optical beam is jumped in this sector to retrace the spiral track of the optical disc 1 in order to concentrically follow the spiral track.
こうすることで回転待ち時間なしに高速にトラックにテ
ストデータを記録できる。By doing this, test data can be recorded on the track at high speed without rotational waiting time.
さて、所定の回数の記録が終了するとコントローラ１０
は命令の実行の終了をホストコンピュータ９に通知する
。ホストコンピュータ９はリードコマンドをコントロー
ラ１０に出力してトラックのデータを読み込み、記録デ
ータと比較して、ビットエラーと比較して、ビットエラ
ー率を計算する。Now, when the predetermined number of recordings are completed, the controller 10
notifies the host computer 9 of the completion of instruction execution. The host computer 9 outputs a read command to the controller 10 to read the track data, compares it with recorded data, compares it with bit errors, and calculates a bit error rate.
また、メモリ１２のテストデータは通常のライトコマン
ドで（ｎ−１）セクタを記録すれば、特別のコマンドを
用意しな（でも容易に設定、変更可能である。Furthermore, if the test data in the memory 12 is recorded in (n-1) sectors using a normal write command, it can be easily set and changed without preparing a special command.
いま、１回の記録回数をｍとして、データ記録時間Ｔは
次式で与えられる。Now, assuming that the number of times of one recording is m, the data recording time T is given by the following equation.
Ｔ−ｍ同記録時間＋データリード時間
＝ （（６０／Ｎ）ｓ＋＋ （６０／Ｎ） ］ （Ｎ
／腸）−（６０／Ｎ）（１＋１／■）
ここで、Ｎはディスクの回転数（ｒｐｍ）である。T-m same recording time + data read time = ((60/N)s++ (60/N) ] (N
/intestine) - (60/N) (1+1/■) Here, N is the rotation speed (rpm) of the disk.
したがって、記録回数ｍが１００回以上であればデータ
記録時間は殆ど光ディスクの回転数で決定され、ホスト
コンピュータのデータ転送能力の影響を受けない。Therefore, if the number of recordings m is 100 or more, the data recording time is determined mostly by the rotational speed of the optical disc and is not affected by the data transfer ability of the host computer.
データ比較時間についても、ホストコンピュータ９は繰
り返し記録の時間を使って行うことができるから負荷に
ならない、さらに、エラー制御部５をバイパスさせてエ
ラー訂正符号を付加しないようにしてデータを（ただし
、データ長は通常のデータとエラー訂正符号を加えた長
さ）記録すれば、ホストコンビエータ９でエラー訂正符
号の計算が不用となるため処理時間はより短縮される。As for the data comparison time, the host computer 9 can use the time of repeated recording, so there is no burden on the host computer 9.Furthermore, the error control section 5 is bypassed and the data is compared without adding an error correction code (however, If the data length is the sum of the normal data and the error correction code), the processing time will be further shortened since the host combinator 9 will no longer need to calculate the error correction code.
また、予めエラー訂正符号を計算して磁気ディスク等に
格納して置いてもよいことは言うまでもない。It goes without saying that the error correction code may be calculated in advance and stored on a magnetic disk or the like.
以上のように、メモリ１２からデータをセクタ単位でし
かも記録毎にデータを巡回させながら記録することによ
ってデータ転送速度などの影響を殆ど無視可能な高速な
ビットエラー率測定を提供できる。As described above, by recording data from the memory 12 on a sector-by-sector basis and circling the data for each recording, it is possible to provide high-speed bit error rate measurement in which the influence of data transfer speed and the like can be almost ignored.
発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、消去光ディスクの
記録の繰り返しビットエラー率を特別に高性能なコンピ
ュータを使用することなく高速度に測定することができ
、その実用的効果は大きい。As described in detail, according to the present invention, the repeated bit error rate of recording on an erasable optical disk can be measured at high speed without using a particularly high-performance computer, and its practical effects are as follows. big.
第１図は本発明における実施例の光ディスクビットエラ
ー率測定装置のブロック図、第２図は同実施例によるト
ラック記録動作波形図、第３図は従来の光ディスクビッ
トエラー率測定装置のブロック図である。
１・・・・・・光ディスク、２・・・・・・ドライブ、
３・旧・・コントローラ、４・・・・・・メモリ、５・
・・・・・エラー制御部、６・・・・・・データ変復調
部、７・・・・・・インターフェース、８・・・・・・
制御ＣＰＵ、９・旧・・ホストコンピュータ、１０・・
・・・・コントローラ、１１・・・・・・制？ＩｃＰＵ
、１２・・・・・・メモリ、１３・・・・・・アドレス
オフセット発生回路。
代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか１名第
図FIG. 1 is a block diagram of an optical disk bit error rate measuring device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a track recording operation waveform diagram according to the same embodiment, and FIG. 3 is a block diagram of a conventional optical disk bit error rate measuring device. be. 1... optical disc, 2... drive,
3. Old controller, 4. Memory, 5.
...Error control unit, 6...Data modulation/demodulation section, 7...Interface, 8...
Control CPU, 9, old host computer, 10...
...controller, 11... system? IcPU
, 12...memory, 13...address offset generation circuit. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao
Claims (5)
ィスクにテストデータを繰り返し記録再生して光ディス
クのビットエラー率を測定する装置であって、テストデ
ータを保持するメモリと、前記メモリからデータを読み
だして光ディスクの所定のトラックに記録する記録手段
と、前記光ディスクから記録したデータを読みだして前
記メモリに格納する再生手段と、前記記録手段がトラッ
クに記録する毎に前記メモリの読みだし開始アドレスに
オフセットを与えるアドレスオフセット付与手段と、前
記手段の動作を制御する第１の制御手段と、前記テスト
データを前記メモリに転送し、また前記再生手段の再生
データのビットエラーを検出する第２の制御手段とから
なり、前記第１の制御手段は前記記録手段によって前記
メモリのテストデータを所定のトラックに前記アドレス
オフセット手段でトラック記録毎に少なくとも１セクタ
相当づつメモリ読みだしアドレスを巡回させながら所定
の回数を繰り返して記録することを特徴とする光ディス
クビットエラー測定装置。(1) A device that measures the bit error rate of an optical disk by repeatedly recording and reproducing test data on an optical disk consisting of tracks divided into a plurality of sectors, and includes a memory for holding test data, and a device for reading data from the memory. recording means for reading data from the optical disk and recording it on a predetermined track of the optical disk; reproducing means for reading data recorded from the optical disk and storing it in the memory; and a readout start address of the memory each time the recording means records on a track. address offset applying means for applying an offset to the data, first control means for controlling the operation of said means, and second control means for transferring said test data to said memory and detecting bit errors in reproduction data of said reproduction means. and a control means, wherein the first control means causes the recording means to transfer the test data of the memory to a predetermined track while the address offset means rotates the memory read address by at least one sector for each track recording. An optical disc bit error measuring device characterized by repeatedly recording a number of times.
がら前記記録手段が所定の回数の記録をおこなった後、
再生手段を起動して繰り返し記録後のデータを再生し、
第２の制御手段が前記再生データのビットエラーを測定
することを特徴とする請求項（１）記載の光ディスクビ
ットエラー測定装置。(2) After the recording means performs recording a predetermined number of times while cycling through addresses in the memory, the first control means:
Activate the playback means and playback the data after repeated recording,
2. The optical disk bit error measuring device according to claim 1, wherein the second control means measures bit errors of the reproduced data.
って、第１の制御手段は、光ビームをトラックジャンプ
させるセクタを除いてテストデータを記録するようにし
たことを特徴とする請求項（１）、（２）のいずれかに
記載の光ディスクビットエラー測定装置。(3) The track of the optical disk is a spiral track, and the first control means records the test data except for the sector in which the optical beam is caused to track jump. The optical disc bit error measuring device according to any one of 2).
とする請求項（１）、（２）のいずれかに記載の光ディ
スクビットエラー測定装置。(4) The optical disk bit error measuring device according to claim 1, wherein the test data is random data.
書き込み、読み出しが行われることを特徴とする請求項
（１）、（２）、（４）のいずれかに記載の光ディスク
ビットエラー測定装置。(5) The optical disk bit error measuring device according to any one of claims (1), (2), and (4), wherein the test data is written to and read from the memory by the second control means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16007888A JP2506949B2 (en) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | Optical disc bit error measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16007888A JP2506949B2 (en) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | Optical disc bit error measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0210538A true JPH0210538A (en) | 1990-01-16 |
| JP2506949B2 JP2506949B2 (en) | 1996-06-12 |
Family
ID=15707399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16007888A Expired - Lifetime JP2506949B2 (en) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | Optical disc bit error measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2506949B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7864207B2 (en) | 2006-10-17 | 2011-01-04 | Yamaha Corporation | Optical disk drawing apparatus |
| WO2019235266A1 (en) * | 2018-06-05 | 2019-12-12 | Ａｇｃ株式会社 | Vehicle window glass with terminal |
-
1988
- 1988-06-28 JP JP16007888A patent/JP2506949B2/en not_active Expired - Lifetime
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| WO2019235266A1 (en) * | 2018-06-05 | 2019-12-12 | Ａｇｃ株式会社 | Vehicle window glass with terminal |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2506949B2 (en) | 1996-06-12 |
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