JPH0187271U - - Google Patents

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JPH0187271U
JPH0187271U JP18333587U JP18333587U JPH0187271U JP H0187271 U JPH0187271 U JP H0187271U JP 18333587 U JP18333587 U JP 18333587U JP 18333587 U JP18333587 U JP 18333587U JP H0187271 U JPH0187271 U JP H0187271U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例を示すブロツク図
、第２図乃至第４図はこの考案の動作を説明する
ための波形図、第５図は従来の装置を説明するた
めのブロツク図、第６図は従来の装置の動作を説
明するための波形図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 被試験回路に与える波形を具備した信号を発
    生する波形生成部、この波形生成部から出力され
    る信号の波形を必要量遅延させる可変遅延回路、
    この可変遅延回路から出力される信号を増幅して
    出力する駆動回路とが縦続接続されて構成された
    信号伝送路と、 Ｂ この信号伝送路から出力される駆動信号を選
    択的に取出す選択スイツチと、 Ｃ この選択スイツチによつて取出した駆動信号
    を被試験回路に与えるケーブルと、 Ｄ 必要に応じて駆動信号を出力することができ
    る校正用駆動回路と、 Ｅ この校正用駆動回路から出力される校正用駆
    動信号を上記駆動回路の出力端子に選択的に与え
    る校正用スイツチと、 Ｆ 一方の入力端子に校正用ストローブパルスが
    与えられ、他方の入力端子に上記校正用スイツチ
    を通じて被校正信号が与えられストローブパルス
    の供給時点で被校正信号のレベルが所定値に達し
    ていることを検出する校正用コンパレータと、 によつて構成されるタイミング校正装置。
JP1987183335U 1987-11-30 1987-11-30 タイミング校正装置 Expired - Lifetime JPH0736300Y2 (ja)

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JPH0187271U true JPH0187271U (ja) 1989-06-08
JPH0736300Y2 JPH0736300Y2 (ja) 1995-08-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001183432A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Advantest Corp タイミング調整方法、半導体試験装置におけるタイミングキャリブレーション方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5915875A (ja) * 1982-05-25 1984-01-26 フエアチアイルド・カメラ・アンド・インストルメント・コ−ポレ−シヨン 自動テスト装置に於けるインタ−フエ−ス回路の歪補正
JPS60138479A (ja) * 1983-12-26 1985-07-23 Advantest Corp 論理回路試験装置
JPS60151568A (ja) * 1984-01-20 1985-08-09 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 集積回路用テスタ
JPS61286768A (ja) * 1985-06-13 1986-12-17 Hitachi Ltd テスト装置

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