JPH0159798B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0159798B2
JPH0159798B2 JP57113566A JP11356682A JPH0159798B2 JP H0159798 B2 JPH0159798 B2 JP H0159798B2 JP 57113566 A JP57113566 A JP 57113566A JP 11356682 A JP11356682 A JP 11356682A JP H0159798 B2 JPH0159798 B2 JP H0159798B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
screen
frame
quality
test pattern
display device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57113566A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS594383A (ja
Inventor
Koya Fujita
Hiroshi Hayashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57113566A priority Critical patent/JPS594383A/ja
Publication of JPS594383A publication Critical patent/JPS594383A/ja
Publication of JPH0159798B2 publication Critical patent/JPH0159798B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/04Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明はCRT(陰極線表示管)の表示画面が表
示装置の表示枠に対して相対的に正しい位置関係
でしかも歪なく表示されているかどうかを自動的
に検査するようにしたCRT画面品質検査方式に
関する。
(2) 技術の背景及び問題点 ワードプロセツサをはじめとしてCRTを使用
した各種データ処理装置に用いる表示装置では、
CRTに表示される画面が表示装置の表示枠に対
して相対的に正しい位置関係で表示されないとき
は、画面の品質は著しく低下するものとなる。
例えば第1図に示すように、情報処理装置用の
表示装置1では、オペレータは表示枠を基準にし
て画面が正しい位置関係にあるか否かを判断する
ので、第1図においてCRT2に表示される画面
3は、表示枠4に対して上下左右に片寄つたり、
傾いたりせず、かつ画面3に歪がないことが必要
である。なお5はフロツピイデイスク挿入部であ
る。
家庭用テレビジヨンでは画面の多少のずれや歪
は利用者にそれ程品質の低下を感じさせないが、
情報処理用表示装置では、画面のずれ、傾き、歪
は表示されたグラフや文字、記号を変形させるの
で著るしく画面品質を低下させることになる。
第2図は画面不良な画面3の例を示したもの
で、点線6で示した画面が枠4に対して相対的に
正しい位置関係にある場合の画面である。ここで
第2図aは画面3の垂直振幅不足状態、bは画面
3が傾斜した状態、cは画面3に糸巻き歪が存在
する状態、dは画面3の中心が左にづれている状
態、eは画面3の垂直直線性が不良状態の場合で
ある。画面の品質不良は前記以外にも種々存在す
るし、またこれらが重複する場合もある。
このような品質不良は多くの場合調整不良や故
障などにより生ずるものであるが、それ以外の原
因によつても一部生ずる。例えば画面3がCRT
2に対して相対的に正しい位置関係に表示される
ように調整されていても、CRT2が表示枠4に
対して正しく取付けられていないと、結局画面3
は表示枠4に対して相対的に正しい位置関係にな
いことになる。そこで画面の品質検査は最終的に
はCRTが表示装置に取付けられた後に行うこと
が必要となる。
ところでこのような画面品質の良否を検査する
のに従来は検査員がもつぱら目視により行なつて
いた。そのため人間にとつて目が疲れるという疲
労が生ずる点で問題があるばかりでなく、人間が
行なつているために検査の品質が一定化せず、し
かも検査の迅速化が困難である等の多くの問題が
あつた。
(3) 発明の目的 本発明の目的はこのようなCRT画面品質検査
を人手によらず自動的に行うことにより前記問題
点を解決しようとするものであり、これを可能と
するCRT画面品質検査方式を提供することを目
的とする。
(4) 発明の構成 この目的を遂行するために本発明のCRT画面
品質検査方式では、CRT表示装置と、このCRT
表示装置にテストパターンを発生させるテストパ
ターン発生手段と、前記CRT表示装置に設けら
れて画面品質の良否を判断する基準線を形成する
基準部材と、前記テストパターンと基準部材を観
測して基準線とテストパターン像のデータを出力
する観測手段と、これら基準線とテストパターン
像のデータから基準線における相対的間隔比にも
とづき下記のTBO〜THDの定義式の判定量を算出
する手段と、これらの判定量から画面の品質不良
の有無を判定する品質判定手段を有し、これらの
定義式より得られる値を基準量と比較して画面位
置づれ、画面の傾き、画面寸法歪等の判定を行う
ことを特徴とする。
TBO=BO/AO、TBL=BL/AL、TBR=BR/AR TCO=CO/AO、TCL=CL/AL、TCR=CR/AR TDO=DO/AO、TDL=DL/AL、TDR=DR/AR TFO=FO/EO、TFU=FU/EU、TFD=FD/EP TGO=GO/EO、TGU=GU/EU、TGD=BD/ED THO=HO/EO、THU=HU/EU、THD=HD/ED ここで枠の内側の上下の間隔をA、両面の上下
の間隔をB、枠の内側と画面の上、下の間隔を
C,Dとし、中央、左方、右方の各測定線におけ
るA,B,C,Dに対応する間隔がAO,BO,CO
DO;AL,BL,CL,DL;AR,BR,CR,DRであり、
枠の内側の左右の間隔をE、画面の左右の間隔を
F、枠の内側と画面の左右の間隔をG,Hとし、
中央、上方、下方の各測定線におけるE,F,
G,Hに対応する間隔がEO,FO,GO,HO;EU
FU,GU,HU;ED,FD,GD,HDである。
(5) 発明の実施例 本発明を一実施例にもとづき詳述するに先立ち
本発明の概略について簡単に説明する。
本発明はCRTを実装している表示装置の表示
枠位置とCRTに表示した試験用パターンとをTV
カメラ等を用いて測定し、表示枠と試験用パター
ンとの相対的な寸法を基にして画面の表示寸法、
位置、傾き、各種歪の値を求め、それらが所定の
基準値内にあるかによつて画面表示品質の良否の
判定を行うようにしたものである。
以下本発明の一実施例を第3図〜第8図にもと
づき説明する。
第3図は本発明におけるCRT画面品質検査方
式の概念を示す説明図であつて、表示装置1がベ
ルトコンベア7上を矢印方向に移動し、テレビカ
メラ等の観測装置8の前までくると、この観測装
置8は表示装置1の表示画面を観測して、第4図
に示す画像を検査装置9に送出する。
第4図は観測された表示画面像(説明の便宜上
輪郭で示す)を示したもので、4U,4D,4
L,4Rは4の内側の上、下、左、右のエツジを
示し、また3U,3D,3L,3Rは画面(テス
トパターンTP1,TP2,TP3,TP4)3の最外側
の上、下、左、右のエツジをそれぞれ示す。なお
各像は実際の表示画面に対し上、下、左、右が逆
になつているが、このことは本発明にとつては本
質的なことではない。
またP0P0′,PLPL′,PRPR′は画面3の垂直方向
の中央測定線、左方測定線、右方測定線を示す。
左右の測定線PLPL′,PRPR′は画面3の左右のエ
ツジ3L,3Rに近い位置で、かつ第2図に示す
ような画面位置ずれ、画面寸法歪が生じても画面
内にあるように選定される。
QOQO′,QUQU′,QDQD′は画面3の水平方向の
中央測定線、上方測定線、下方測定線を示す。上
下の測定線QUQU′,QDQD′は画面3の上下のエツ
ジRU,RDに近い位置でかつ第2図に示すような
画面位置ずれ、画面寸法歪が生じても画面内にあ
るように選定される。
そして枠4の内側の上下の間隔をA、画面3の
上下の間隔をB、枠4の内側と画面の上、下の間
隔をC,Dとし、中央、左方、右方の各測定線に
おけるA,B,C,Dに対応する間隔をA0,B0
C0,D0;AL,BL,CL,DL;AR,BR,CR,DR
する。同様に枠4の内側の左右の間隔をE、画面
3の左右の間隔をF、枠4の内側と画面の左右の
間隔をG,Hとし、中央、上方、下方の各測定線
におけるE,F,G,Hに対応する間隔をEO
FO,GO,HO;EU,FU,GU,HU;ED,FD,GD
HDとする。
これらのパラメータをもとにして次のような判
定量TBO〜TDLを定義する。
TBO=BO/AO、TBL=BL/AL、TBR=BR/AR TCO=CO/AO、TCL=CL/AL、TCR=CR/AR TDO=DO/AO、TDL=DL/AL、TDR=DR/AR そしてこれらの判定量の基準量を添字「S」を
付与してTBOS,TCOS,TDOS,TBLS,TCLS,TDLS
TBRS,TCRS,TDRSで示す。同様に水平方向に対し
ても次の判定量を定義する。
TFO=FO/EO、TFU=FU/EU、TFD=FD/EP TGO=GO/EO、TGU=GU/EU、TGD=GD/ED THO=HO/EO、THU=HU/EU、THD=HD/ED そしてまたこれらの判定量の基準値をTFOS
TGOS,THOS,TFUS,TGUS,THUS,TFDS,TGDS
THDSで示すものとする。
表示装置1の機種が決まると枠4及び画面3の
寸法が決まるので、前記各判定量の基準量は表示
装置1の機種に応じて一義的に規定される。
ここで観測される枠4及び画面3の絶対寸法に
よらずに前記のような判定量と基準量により表示
画面の品質の良否を判定するようにすれば、次の
如き利点がある。
すなわち、第3図において、表示装置1を観測
装置8で観測する場合、表示装置1が観測装置8
の正面の位置で表示画面が観測装置8の方向に直
角に面した状態で観測されたときは、第4図に示
す観測された表示画面像の各寸法は実際の寸法に
正しく比例した値を示す。したがつてこの寸法が
基準値に対して所定範囲内に入つているか否かに
よつて品質の良否を判定することが可能である。
しかしながら実際には表示装置1はコンベア7
上に置かれたとき観測装置8の正面位置から多少
ずれたり、距離が外れたり、あるいは表示画面が
観測装置8の方向に直角から少しずれて面したい
わゆる斜めの状態で観測され易い。その場合は観
測された表示画面像の各寸法は正しい寸法を示さ
ないので画面品質の良否を判定することができな
いことになる。
しかし、本発明で使用する相対寸法比で規定さ
れる判定量は、表示装置1と観測装置8の間に前
述のようなずれがあつても、各寸法は同じ相対関
係で変化するのでずれのない場合と同じ値を示
す。したがつて表示装置1と観測装置8との間に
位置ずれのある状態でも支障なく検査することが
できる。このことは表示装置の運搬と観測を容易
にするので検査を迅速に行う上で大いに有利であ
る。
次に前記判定量及び基準量を用いて画面品質の
良否を検査する方法について説明すると、各判定
量が対応する基準量に対して所定の範囲内に入つ
ていれば画面品質は良好と判定され、判定量の少
くとも1つが対応する基準量に対して所定の範囲
よりもずれた値となると画面品質は不良と判定す
る。良否を決める基準値からの所定のずれ範囲
は、画面の品質低下を感じさせない範囲として実
験的に決められる。
本発明は単に画面品質の良否を判定するのみな
らず更にその不良内容を検出することができるも
のである。
次に検出できる不良内容例を示す。
画面位置ずれの検出 画面位置ずれには、中心位置ずれと画面の傾
きの両者がある。なお画面寸法は正常とする。
−1 中心位置ずれの検出 中心位置ずれには、第2図dに示すよう
に、左右の中心位置ずれと、他に上下の中心
位置ずれがあるが、これは次のようにして検
出できる。
−1−1 上方に中心位置ずれがあるとき TCO<TCOSかつTCL<TCLSかつTCR<TCRSかつTDO>TDOS
つTDL>TDLSかつTDR>TDRS……… −1−2 下方に中心位置ずれがあるとき 式の不等号が逆になつた場合である。
−1−3 左方に中心位置ずれがあるとき(第
2図dの場合) TGO<TGOSかつTGU<TGUSかつTGD<TGDSかつTHO>THOS
つTHU>THUSかつTHD>THDS……… −1−4 右方に中心位置ずれがあるとき 式の不等号が逆になつた場合である。
−2 画面の傾きの検出 第2図bに示すように、画面3が反時計方
向又は時計方向に傾く場合である。
−2−1 反時計方向に傾いたとき(第2図b
の場合) TCR>TCRSかつTCO<TCOSかつTCL<TCLSかつTDR<TDRS
つTDO<TDOSかつTDL>TDLS……… −2−2 時計方向に傾いたとき 式の不等号が逆になつた場合である。
画面寸法歪の検出 画面寸法歪には、第2図aに示す垂直振幅又
は水平振幅の過不足と、第2図cに示す水平方
向及び垂直方向の糸巻状歪がある。
−1 垂直振幅歪の検出 −1−1 垂直振幅が不足しているとき(第2
図aの場合) (TCR/TCRS)=(TCO/TCOS) =(TCL/TCLS)=(TDR/TDRS) =(TDO/TDOS)=(TDL/TDLS)>1……… −1−2 垂直振幅がオーバーしているとき 式の不等号が逆になつた場合である。
−2 垂直振幅歪の検出 −2−1 水平振幅が不足しているとき (TGU/TGUS)=(TGO/TGOS) =(TGD/TGDS)=(THU/THUS) =(THO/THOS)=(THD〕THDS)>1……… −2−2 水平振幅がオーバーしているとき 式の不等号が逆になつた場合である。
−3 糸巻状歪の検出 −3−1 水平方向(すなわち上下)の糸巻状
歪の検出 (TBO/TBOS)<(TBR/TBRS) =(TBL/TBLS)<1 ……… −3−2 垂直方向(すなわち左右)の糸巻状
歪の検出 (TFO/TFOS)<(TFU/TFUS) =(TFD/TFDS<1 ……… これらが実際上多く出現する不良例の検出方法
である。
なお上記以外の画面品質不良の場合、例えば画
面位置ずれの中の複雑な態様が重複して生じた
り、画面位置ずれと画面寸法歪が重複して生じた
りした場合も関係式は複雑になるが、前記〜
式を組み合せることにより検出可能である。
しかしながら実際上はそれらの出現頻度は少な
く、観測装置のハードが複雑になる割合には実用
上の効果は少く、かつ簡単に再調整できず、装置
全体を再点検する必要がある場合が多い。
そこで前述のような画面品質不良の場合、すな
わち第2図に示すような場合(第2図eについて
は、次に説明する)以外の複合した不良態様が発
生した場合は一括して複合不良として表示装置を
再点検するようにすることが実際的である。
第2図eに示す垂直直線性不良の検出方法を第
5図及び第6図により説明する。
垂直直線性不良を検出するときは、第5図に示
すように、第4図のテストパターンTP1〜TP4
内部にL1〜LNのN個の等間隔の水平格子を発生
したものをテストパターンとして用いる(第5図
のテストパターンを第4図のテストパターンとし
て用いても何等差しつかえないので、以下両者を
区別せずテストパターンTP1〜TP4と呼ぶ)。
第6図は、第5図に示したテストパターンTP1
〜TP4を表示した画面3を観測装置8で観測した
ときの画面像を示したものである。理解を容易に
するため垂直方向に拡大されている。
第6図はY方向の長さ220mmのCRTを350ドツ
トで垂直走査した例であるので、観測画面像のY
座標は0.6285mm/ドツトで量子化された値で表示
される。
第6図の各数字は枠4の内側4D,4U及びテ
ストパターンの各格子のY方向の座標を観測装置
8で量子化して位置画像として得たときの値で示
したものである。例えば測定線POPO′において、
4D上の数字「53」は、観測装置8が画面を垂直
走査して53ドツト目で4Dを観測したことを示
し、数字「118」は垂直走査をして118ドツト目で
テストパターンの最初の格子L1の像L1′を観測し
たことを示している。また格子像のY座標を示す
数字の右側の数字(7,8,9)は隣接する格子
像間のドツト数を示す。このドツト数が大きいと
ころでは画面3は垂直方向に拡大されており、こ
のドツト数の小さいところでは縮小していること
になる。
ところで量子化誤差があること及び垂直直線性
歪は急激に変化する性質のものではないことか
ら、隣接する格子像間のドツト数でその隣接格子
間の直線性歪を計算するのは好ましくない。例え
ばドツト数8と9では1ドツトの直線性歪が存在
すると判定することは両者に存在する量子化誤差
を考えると危険である。
しかしこのような量子化誤差は多くの測定値の
平均値をとることにより除去することができるの
で、第6図のようにQ1Q1′,Q2Q2′によりQDQD′と
QUQU′間を3等分し、これらの3区間での平均値
を用いれば、垂直直線性歪の有無を正しく判定す
ることができる。
例えば第6図の場合、中央の区間の平均ドツト
は約8.17ドツトであり、下側の区間は約8.22ドツ
トであり、上側の区間は約7.94ドツト、基準ドツ
トは8.1ドツトである。これらより第6図のPO
PO′では下が拡大され、上が縮小されているの
で、第2図eとは逆特性の垂直直線性歪があるこ
とがわかる。
このようにして上、中、下3区間における平均
ドツト数と基準ドツト数の大小関係をみることに
より垂直直線性歪の態様を判定することができ
る。
第7図は、具体的な表示画面像の観測法の説明
図である。
第7図aは、表示装置1の表示画面を観測装置
8で観測したときの1つの垂直走査方向の1ライ
ン分を示したものである。このときはCRT2に
は何も表示せず、かつCRT2の画面に照明光を
投射することなく枠4を照らすような照明を行つ
て枠部分の観測が行われる。
第7図aにおいて、4′は枠4の像(白レベル)
を示し、4D′と4U′は枠4の上下内側のエツジ
4Dと4Uの像を示し、2′はCRT2の画面の像
(黒レベル)を示し、1′は背影の像(黒レベル)
を示す。そしてスライスレベルSLにより2値化
すれば4D′と4U′が検出できる。
なお枠4の代りにCRT2の画面とのコントラ
ストがとれる部分、例えば枠4のすぐ外側の本体
部分をとつてもよい。
次に表示装置1と観測装置8の位置はそのまま
にしておいて照明を消し、CRT2の画面にテス
トパターンTP1〜TP4を表示すると観測装置8に
は格子L1〜LNを含むテストパターン像が観測さ
れる。第7図bは1つの垂直方向についての格子
像L′を示したもので、スライスレベルSL′で2値
化することにより各格子像のY座標が求められ
る。
このような2種類の画像a,bから枠4の内側
部とテストパターン像を検出し、第4図〜第6図
に示した各画像の位置データを求めることができ
る。
なおこの2種類の画像a,bを別々に求めるこ
となく、照明を調整することにより両者を同時に
求めてもよい。
第8図は本発明のCRT画面品質検査方式の一
実施例を示したものである。
まず照明部10で表示装置1の枠部分を検出で
きるように照明して観測部8で観測しPRPR′の方
向の1ライン分の画像信号(第7図a)をライン
バツフア11に記入する。
エツジ検出回路12はラインバツフア11より
画像信号を読出して枠4の内側上下のエツジ4
D,4Uを求め枠/画面切換部13を経て枠エツ
ジ情報格納部14に格納する。
同様にしてPOPO′及びPLPL′方向の各1ライン
分の画像信号からそれぞれの枠4の内側上下のエ
ツジ4D,4Uを求めて枠エツジ情報格納部14
に格納する。
次に照明10を消し、表示装置1のCRT2に
テストパターンを表示する。観測部8はPRPR′,
POPO′,PLPL′の各1ラインずつ走査し、ライン
バツフア11、エツジ検出回路12、枠/画面切
換部13を経て格子エツジ情報格納部15に各ラ
イン毎の格子位置を格納する。
枠情報検出部16は各種判定量を求めて画面位
置ずれ検出部17と画面寸法検出部18に供給す
る。
格子情報検出部19は格子間の間隔を求めて格
子間隔検出部20に供給する。
画面位置ずれ検出部17は、PLPL′,POPO′,
PRPR′の判定量をそれぞれ左部21、中心部2
2、右部23に送出して保持させる。
画面位置ずれ判定部24は、前記式〜式等
にしたがつて画面の中心位置のずれ及び画面の傾
きの態様を判定して判定表示部25に送出し判定
結果を表示させる。
画面寸法検出部18も同様にして各判定量を左
部26、中心部27、右部28に送出して保持さ
せる。画面寸法歪判定部29は、前記式〜式
等にしたがつて垂直振幅歪や水平方向の糸巻状歪
の有無を判定して判定表示部25に送り、判定結
果を表示させる。
格子間隔検出部20は、第6図のQDQ1間、
Q1Q2間、Q2QU間の各格子間隔の平均値をそれぞ
れ下部30、中心部31、上部32に送出して保
持させる。
直線歪判定部33はこれらの平均値から垂直直
線歪の態様を判定して判定表示部25に送出し、
判定結果を表示させる。
なお平面位置ずれ判定部24、画面寸法歪判定
部29及び直線歪判定部33は、判定不能のとき
は複合不良と判定して判定表示部25に送出す
る。
なおこれらの各操作は制御部34により制御さ
れるものである。
以上は垂直走査方向についても同様に行われ
る。水平走査方向のときは、左部、右部、上部、
下部21,23,26,28,30,31は図示
括弧内の名称をとることになる。
なお、上方、下方、中央、左方、右方の各測定
線は上下、左右各3本に限定されるものではな
く、任意の本数をとることができる。本数を増す
ことにより画面品質変化に対する詳細なデータを
得ることができるので、正確な判断を行うことが
できる。
(6) 発明の効果 本発明によれば、例えば特開昭53−117928号公
報に記載されたような特別の配列のイメージセン
サを有するラインスキヤンカメラを使用すること
なく、CRT画面の品質検査を人手によらず全て
自動的に行うことができる。また検査内容も単に
良否の判定にとどまらず、不良の内容も画面位置
づれ、画面の傾き、画面寸法歪等の具体的に検出
することができる。しかも表示装置と観測部の位
置関係をあまり厳格に規定する必要がないので検
査を容易に、かつ迅速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は表示装置の外観図、第2図は画面品質
の不良例の説明図、第3図は本発明の概念的説明
図、第4図〜第6図は本発明のCRT画面品質検
査方式の説明図、第7図は本発明の枠及びテスト
パターン位置検出方法の説明図、第8図は本発明
の一実施例構成図である。 図中、1は表示装置、2はCRT、3は画面、
4は枠、5はフロツピイデイスク挿入部、6は正
しい画面像、7はベルトコンベア、8は観測装
置、9は検査装置、10は照明、11はラインバ
ツフア、12はエツジ検出回路、13は枠/画面
切換部、14は枠エツジ情報格納部、15は格子
エツジ情報格納部、16は枠情報検出部、17は
画面位置ずれ検出部、18は画面寸法検出部、1
9は格子情報検出部、20は格子間隔検出部、2
4は画面位置ずれ判定部、25は判定表示部、2
9は画面寸法歪判定部、33は直線歪判定部、3
4は制御部を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 CRT表示装置と、このCRT表示装置にテス
    トパターンを発生させるテストパターン発生手段
    と、前記CRT表示装置に設けられて画面品質の
    良否を判断する基準線を形成する基準部材と、前
    記テストパターンと基準部材を観測して基準線と
    テストパターン像のデータを出力する観測手段
    と、これら基準線とテストパターン像のデータか
    ら基準線における相対的間隔比にもとづき下記の
    定義式の判定量を算出する手段と、これらの判定
    量から画面の品質不良の有無を判定する品質判定
    手段を有し、これらの定義式より得られる値を基
    準量と比較して画面位置づれ、画面の傾き、画面
    寸法歪等の判定を行うことを特徴とするCRT画
    面品質検査方式。 TBO=BO/AO、TBL=BL/AL、TBR=BR/AR TCO=CO/AO、TCL=CL/AL、TCR=CR/AR TDO=DO/AO、TDL=DL/AL、TDR=DR/AR TFO=FO/EO、TFU=FU/EU、TFD=FD/EP TGO=GO/EO、TGU=GU/EU、TGD=BD/ED THO=HO/EO、THU=HU/EU、THD=HD/ED ここで枠4の内側の上下の間隔をA、両面3の
    上下の間隔をB、枠4の内側と画面の上、下の間
    隔をC,Dとし、中央、左方、右方の各測定線に
    おけるA,B,C,Dに対応する間隔がAO,BO
    CO,DO;AL、BL,CL,DL;AR,BR,CR,DR
    あり、枠4の内側の左右の間隔をE、画面3の左
    右の間隔をF、枠4の内側と画面の左右の間隔を
    G,Hとし、中央、上方、下方の各測定線におけ
    るE,F,G,Hに対応する間隔がEO,FO,GO
    HO;EU,FU,GU,HU;ED,FD,GD,HDであ
    る。
JP57113566A 1982-06-30 1982-06-30 Crt画面品質検査方式 Granted JPS594383A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57113566A JPS594383A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 Crt画面品質検査方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57113566A JPS594383A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 Crt画面品質検査方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS594383A JPS594383A (ja) 1984-01-11
JPH0159798B2 true JPH0159798B2 (ja) 1989-12-19

Family

ID=14615501

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57113566A Granted JPS594383A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 Crt画面品質検査方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS594383A (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4654706A (en) * 1985-06-03 1987-03-31 International Business Machines Corp. Automatic front of screen adjustment, testing system and method
US4754329A (en) * 1987-04-13 1988-06-28 Tektronix, Inc. Focusing and screen calibration method for display screen coupled to video camera
JPH0282792A (ja) * 1988-09-19 1990-03-23 Hitachi Ltd Crtディスプレイ調整指示装置
US5077600A (en) * 1989-10-03 1991-12-31 Sony Corporation Self-inspecting convergence measuring apparatus
JPH03160308A (ja) * 1989-11-20 1991-07-10 Fujitsu Ltd 画質検査装置
JPH0437896A (ja) * 1990-06-04 1992-02-07 Nippon Avionics Co Ltd モニタ画像検査装置
US7231786B2 (en) 2004-07-29 2007-06-19 Corning Incorporated Process and device for manufacturing glass sheet
KR100830458B1 (ko) * 2004-12-14 2008-05-20 엘지전자 주식회사 영상 위치의 자동 조절을 위한 텔레비젼 수상기, 방법 및시스템

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53117928A (en) * 1977-03-24 1978-10-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Automatic measuring device for television screen

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53117928A (en) * 1977-03-24 1978-10-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Automatic measuring device for television screen

Also Published As

Publication number Publication date
JPS594383A (ja) 1984-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0236001B1 (en) Method and apparatus for performing automated circuit board quality inspection
WO2003017655A1 (en) Method and system for correcting keystoning in a projector arbitrarily oriented with respect to a display surface
KR960029781A (ko) 패턴결함 검사방법 및 장치
JPH0159798B2 (ja)
US4403858A (en) Defect inspection system
WO2012042582A1 (ja) ガラスびん検査装置
JP3618713B2 (ja) ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置
JPH0875542A (ja) 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置
JPH0399376A (ja) 画質検査装置
WO2001022070A1 (en) Method and system of lcd inspection by pattern comparison
JPS6365947B2 (ja)
JPH059995B2 (ja)
KR100517324B1 (ko) 평판 표시 패널의 화질 검사 방법
JPS63246795A (ja) 表示試験装置
JP2000195458A (ja) 電子顕微鏡及び検査方法
JPH02110306A (ja) 観測位置検出方法およびその装置
JPS586426B2 (ja) テレビジョン画面自動計測装置
JPS63170830A (ja) 陰極線管画質評価用基準点設定方法
JPS60106290A (ja) Crt画面品質検査装置
KR0145255B1 (ko) 도트패턴 검사장치
JPH03189772A (ja) 実装基板外観検査装置
JPS6237856A (ja) 分析機器の試料走査像表示装置
JPS63223505A (ja) 位置合わせ方法及びその装置
JPH04346243A (ja) 半導体装置の検査装置及び検査方法
JPH01269035A (ja) プリント回路基板の検査装置