JPH0154779B2 - - Google Patents
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- JPH0154779B2 JPH0154779B2 JP57093284A JP9328482A JPH0154779B2 JP H0154779 B2 JPH0154779 B2 JP H0154779B2 JP 57093284 A JP57093284 A JP 57093284A JP 9328482 A JP9328482 A JP 9328482A JP H0154779 B2 JPH0154779 B2 JP H0154779B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Moving Of The Head To Find And Align With The Track (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は情報読取り装置におけるトラツキング
サーボ信号発生装置に関するものである。
サーボ信号発生装置に関するものである。
例えば光学式情報読取り装置におけるトラツキ
ングサーボ制御装置として第1図に示す如き構成
のものがある。すなわち、レーザ光源1よりの照
射光束は、レンズ2、ビームスプリツタ3,1/4
波長板4及び対物レンズ5を経て記録デイスク6
の記録面へ入射する。対物レンズ5によりレーザ
光は収束せしめられて記録面上にて微小な情報検
出点としてのピツクアツプ光スポツトとなる。こ
のデイスク6による反射光(又は透過光)は、ビ
ームスプリツタ3により分離されて一組の光電変
換素子9a,9bの各受光面上に照射される。両
光電変換素子9a,9bの出力は増幅器10a,
10b及びLPF(ローパスフイルタ)11a,1
1bを夫々経て差動アンプ12へ印加される。こ
の差出力がイコライザ13を介して駆動アンプ1
4へ入力され、対物レンズ5をトラツク直交方向
に移動させるための駆動コイル8の駆動信号とな
つている。
ングサーボ制御装置として第1図に示す如き構成
のものがある。すなわち、レーザ光源1よりの照
射光束は、レンズ2、ビームスプリツタ3,1/4
波長板4及び対物レンズ5を経て記録デイスク6
の記録面へ入射する。対物レンズ5によりレーザ
光は収束せしめられて記録面上にて微小な情報検
出点としてのピツクアツプ光スポツトとなる。こ
のデイスク6による反射光(又は透過光)は、ビ
ームスプリツタ3により分離されて一組の光電変
換素子9a,9bの各受光面上に照射される。両
光電変換素子9a,9bの出力は増幅器10a,
10b及びLPF(ローパスフイルタ)11a,1
1bを夫々経て差動アンプ12へ印加される。こ
の差出力がイコライザ13を介して駆動アンプ1
4へ入力され、対物レンズ5をトラツク直交方向
に移動させるための駆動コイル8の駆動信号とな
つている。
一組の光電変換素子9a,9bは、第2図に示
すように一本の分割線9cによりその受光面が分
割されたごとく取付けられており、この分割線9
cは記録トラツク接線方向(矢印Yにて示してい
る。)に平行とされ、かつ光スポツトの反射光の
光軸7′に関してこれら素子9a,9bが対称と
なる様に設けられている。尚、7は入射光光軸で
あり、15はデイスク回転用スピンドルモータを
示している。
すように一本の分割線9cによりその受光面が分
割されたごとく取付けられており、この分割線9
cは記録トラツク接線方向(矢印Yにて示してい
る。)に平行とされ、かつ光スポツトの反射光の
光軸7′に関してこれら素子9a,9bが対称と
なる様に設けられている。尚、7は入射光光軸で
あり、15はデイスク回転用スピンドルモータを
示している。
第3図はデイスク6上の記録トラツクを構成す
るピツト16―1,16―2,16―3と情報検
出点としての光スポツトSoとの関係を示す図で
ある。この光スポツトSoの中心がピツト列すな
わち記録トラツクの中心線Loの上に沿つて、時
刻toから順次図面の右方向へ所定相対速度をもつ
て移動した場合におけるアンプ10a,10bの
各出力波形イ,ロが第4図A,Bに夫々示されて
いる。これら両波形イ,ロのLPF11a,11
bを経た出力は夫々第4図A,Bのハ,ニの如く
なる。よつて、この時の差動アンプ12の出力は
第7図の実線(横軸)に示すように零レベルとな
りトラツキングエラーが存在せず正確なトラツキ
ングがなされていることを示している。
るピツト16―1,16―2,16―3と情報検
出点としての光スポツトSoとの関係を示す図で
ある。この光スポツトSoの中心がピツト列すな
わち記録トラツクの中心線Loの上に沿つて、時
刻toから順次図面の右方向へ所定相対速度をもつ
て移動した場合におけるアンプ10a,10bの
各出力波形イ,ロが第4図A,Bに夫々示されて
いる。これら両波形イ,ロのLPF11a,11
bを経た出力は夫々第4図A,Bのハ,ニの如く
なる。よつて、この時の差動アンプ12の出力は
第7図の実線(横軸)に示すように零レベルとな
りトラツキングエラーが存在せず正確なトラツキ
ングがなされていることを示している。
次に、記録トラツクの偏心によるトラツキング
ずれ等の原因により光スポツト中心がトラツク直
交方向Xへずれて第3図の点線S+のようになり、
これが点線L+に沿つて図面の右方向へ移動した
場合、アンプ10a,10bの各出力波形イ,ロ
は第5図A,Bに夫々示すイ,ロの如くなる。こ
れら両波形イ,ロのLPF11a,11bを経た
出力は夫々第5図A,Bのハ,ニにのようになる
から、差動アンプ12の出力には第7図の点線で
示すように正極性のエラー信号が得られる。一
方、光スポツト中心が第3図の一点鎖線S-のよ
うにX方向にずれて一点鎖線L-に沿つて図面の
右方向―へ移動した場合、アンプ10a,10b
の各出力波形が第6図A,Bのイ,ロに夫々示さ
れており、両波形のLPF11a,11bを経た
出力は夫々第6図A,Bのハ,ニのようになる。
よつて差動アンプ12の出力には第7図の一点鎖
線で示す如く負極性のエラー信号が得られる。
ずれ等の原因により光スポツト中心がトラツク直
交方向Xへずれて第3図の点線S+のようになり、
これが点線L+に沿つて図面の右方向へ移動した
場合、アンプ10a,10bの各出力波形イ,ロ
は第5図A,Bに夫々示すイ,ロの如くなる。こ
れら両波形イ,ロのLPF11a,11bを経た
出力は夫々第5図A,Bのハ,ニにのようになる
から、差動アンプ12の出力には第7図の点線で
示すように正極性のエラー信号が得られる。一
方、光スポツト中心が第3図の一点鎖線S-のよ
うにX方向にずれて一点鎖線L-に沿つて図面の
右方向―へ移動した場合、アンプ10a,10b
の各出力波形が第6図A,Bのイ,ロに夫々示さ
れており、両波形のLPF11a,11bを経た
出力は夫々第6図A,Bのハ,ニのようになる。
よつて差動アンプ12の出力には第7図の一点鎖
線で示す如く負極性のエラー信号が得られる。
以上のことから判るように、差動アンプ12の
出力には、ピツクアツプ光スポツト中心が記録ト
ラツク中心線Loに対しトラツク直交方向Xのい
ずれに偏倚したかにより正負極性をとり、またそ
の偏倚量に応じた大きさをとる信号が得られるか
らこれがトラツキングサーボ信号となるのであ
る。
出力には、ピツクアツプ光スポツト中心が記録ト
ラツク中心線Loに対しトラツク直交方向Xのい
ずれに偏倚したかにより正負極性をとり、またそ
の偏倚量に応じた大きさをとる信号が得られるか
らこれがトラツキングサーボ信号となるのであ
る。
かかるトラツキングサーボ信号発生装置では以
上のように構成されているので、2つの光電変換
素子9a,9bの受光面を光軸7′に対し正確に
対称に配置して設ける必要がある。しかし、正確
に対称に設けることは極めて困難でありまたデイ
スク6の面触れによる光軸7′のずれによつても
その対称性が悪くなり、この時たとえピツクアツ
プ光スポツトが正確にトラツクを追跡していて
も、LPF11a,11bの出力は等しくならず、
結果としてトラツキングサーボ系に重大な目標値
ずれを生ずるという欠点がある。
上のように構成されているので、2つの光電変換
素子9a,9bの受光面を光軸7′に対し正確に
対称に配置して設ける必要がある。しかし、正確
に対称に設けることは極めて困難でありまたデイ
スク6の面触れによる光軸7′のずれによつても
その対称性が悪くなり、この時たとえピツクアツ
プ光スポツトが正確にトラツクを追跡していて
も、LPF11a,11bの出力は等しくならず、
結果としてトラツキングサーボ系に重大な目標値
ずれを生ずるという欠点がある。
本発明の目的は、受光面の対称ずれや光軸ずれ
等に起因するトラツキングサーボ信号への悪影響
を防止して正確なトラツキング制御が可能なトラ
ツキングサーボ信号発生装置を提供することであ
る。
等に起因するトラツキングサーボ信号への悪影響
を防止して正確なトラツキング制御が可能なトラ
ツキングサーボ信号発生装置を提供することであ
る。
本発明によるトラツキングサーボ信号発生装置
は、ピツクアツプ情報検出点のトラツク直交方向
における偏倚量に対応して検出出力相互間に差異
が生じるように設けられた一組の検出手段と、こ
の一組の検出手段の検出出力の低域成分の差信号
しを得る手段と、この一組の検出手段の検出出力
のピーク値の差信号を得る手段と、これら2つの
差信号を所望に合成する手段とを含み、この合成
出力をトラツキングエラー信号とするようにした
ことを特徴としている。
は、ピツクアツプ情報検出点のトラツク直交方向
における偏倚量に対応して検出出力相互間に差異
が生じるように設けられた一組の検出手段と、こ
の一組の検出手段の検出出力の低域成分の差信号
しを得る手段と、この一組の検出手段の検出出力
のピーク値の差信号を得る手段と、これら2つの
差信号を所望に合成する手段とを含み、この合成
出力をトラツキングエラー信号とするようにした
ことを特徴としている。
以下に本発明を図面を参照して説明する。
第8図は本発明の実施例の回路ブロツク図であ
り、第1図と同等部分は同一符号により示されそ
の説明は省略する。第1図の構成の他に、アンプ
10a,10bの各出力信号イ,ロのピークレベ
ルを検出するピーク検出器17a,17bが設け
られており、両ピーク検出器17a,17bの出
力信号ホ,ヘの差信号が作動アンプ18により得
られようになつている。この作動アンプ18と先
の差動アンプとの出力差が差動アンプ21により
算出されてイコライザ13及び駆動アンプ14を
介してトラツキングエラー信号となるのである。
り、第1図と同等部分は同一符号により示されそ
の説明は省略する。第1図の構成の他に、アンプ
10a,10bの各出力信号イ,ロのピークレベ
ルを検出するピーク検出器17a,17bが設け
られており、両ピーク検出器17a,17bの出
力信号ホ,ヘの差信号が作動アンプ18により得
られようになつている。この作動アンプ18と先
の差動アンプとの出力差が差動アンプ21により
算出されてイコライザ13及び駆動アンプ14を
介してトラツキングエラー信号となるのである。
第9図乃至第12図は第8図の回路動作を示す
各部信号波形図である。いま、何等かの原因によ
り光軸7′がずれて例えば第2図の上方へ反射光
16の中心がずれている場合を考える。この時、
光スポツトSoが第3図のトラツク中心線Loに沿
つて移動しているものとすれば、アンプ10a,
10bの各出力イ,ロ,LPF11a,11bの
各出力ハ,ニ及びピーク検出器17a,17bの
各出力ホ,ヘは、第9図A,Bの各イ〜ヘとして
夫々対応して示した波形となる。また光スポツト
S+が点線L+上を沿つて移動すれば、各出力イ〜
ヘは、第10図A,Bの各イ〜ヘとして夫々対応
して示した波形となり、更に光スポツトS-が一
点鎖線L-上を沿つて移動すれば、各出力イ〜ヘ
は、第11図A,Bの各イ〜ヘとして夫々対応し
て示した波形となる。
各部信号波形図である。いま、何等かの原因によ
り光軸7′がずれて例えば第2図の上方へ反射光
16の中心がずれている場合を考える。この時、
光スポツトSoが第3図のトラツク中心線Loに沿
つて移動しているものとすれば、アンプ10a,
10bの各出力イ,ロ,LPF11a,11bの
各出力ハ,ニ及びピーク検出器17a,17bの
各出力ホ,ヘは、第9図A,Bの各イ〜ヘとして
夫々対応して示した波形となる。また光スポツト
S+が点線L+上を沿つて移動すれば、各出力イ〜
ヘは、第10図A,Bの各イ〜ヘとして夫々対応
して示した波形となり、更に光スポツトS-が一
点鎖線L-上を沿つて移動すれば、各出力イ〜ヘ
は、第11図A,Bの各イ〜ヘとして夫々対応し
て示した波形となる。
第12図Aは差動アンプ12の出力を示してお
り、点線は光スポツトが点線L+(第3図参照)に
沿つて移動した場合、一点鎖線は同じく第3図の
一点鎖線L-に沿つて移動した場合の各波形であ
り、実線はトラツク中心線Loを移動した場合で
ある。すなわち、光軸7′のずれに対応したDCオ
フセツトαが重畳されており、このオフセツト値
αが光軸ずれによる雑音となつて、この信号すな
わち差動アンプ12の出力をそのままエラー信号
として用いれば、サーボ系はオフセツト値αだけ
目標値ずれを生じることになるのである。
り、点線は光スポツトが点線L+(第3図参照)に
沿つて移動した場合、一点鎖線は同じく第3図の
一点鎖線L-に沿つて移動した場合の各波形であ
り、実線はトラツク中心線Loを移動した場合で
ある。すなわち、光軸7′のずれに対応したDCオ
フセツトαが重畳されており、このオフセツト値
αが光軸ずれによる雑音となつて、この信号すな
わち差動アンプ12の出力をそのままエラー信号
として用いれば、サーボ系はオフセツト値αだけ
目標値ずれを生じることになるのである。
本発明はこのオフセツト値αを補償して打消す
ために、アンプ10a,10bの各出力のピーク
値の差がこのオフセツト値αに比例していること
を利用するものであり、第12図Bに両ピーク値
の差出力すなわち差動アンプ18の出力波形が示
されている。この出力レベルβがオフセツト値α
に比例している。なぜなら、アンプ10a,10
bの各出力のピーク値は光スポツトが鏡面部にあ
る場合の出力レベルであり、両者の差は偏心によ
るトラツキングずれ情報をほとんど含んでおら
ず、光軸7′のずれによる雑音成分のみを含んで
いるからである。
ために、アンプ10a,10bの各出力のピーク
値の差がこのオフセツト値αに比例していること
を利用するものであり、第12図Bに両ピーク値
の差出力すなわち差動アンプ18の出力波形が示
されている。この出力レベルβがオフセツト値α
に比例している。なぜなら、アンプ10a,10
bの各出力のピーク値は光スポツトが鏡面部にあ
る場合の出力レベルであり、両者の差は偏心によ
るトラツキングずれ情報をほとんど含んでおら
ず、光軸7′のずれによる雑音成分のみを含んで
いるからである。
従つて、差動アンプ12と18のゲインを所望
に選定して差動アンプ21によりその差を演算す
れば、差動アンプ12の出力に含まれるDCオフ
セツトαが打消されて第12図Cに示すようなエ
ラー信号波形が得られ、光軸ずれのない場合の第
7図に示すエラー波形と同等となるのである。
に選定して差動アンプ21によりその差を演算す
れば、差動アンプ12の出力に含まれるDCオフ
セツトαが打消されて第12図Cに示すようなエ
ラー信号波形が得られ、光軸ずれのない場合の第
7図に示すエラー波形と同等となるのである。
尚、上記実施例では、スポツト光が第3図のX
軸上すなわちピツト間にあるときには差動アンプ
18の出力は光軸ずれによる雑音成分のみを含ん
でいるとしたが、記録情報周波数が非常に高くな
ると(ピツト間距離が短くなる)、光スポツトが
ピツト間にある時でも差動アンプ18の出力には
トラツキングずれによる成分をも含むようにな
る。そのために、非常に高い周波数の情報が頻繁
に現われる場合感度が減少することになる。これ
を補正するためにアンプ10a,10bの出力段
にイコライザを挿入したり、差動アンプ21のゲ
インを情報周波数に応じて制御しても良いもので
ある。
軸上すなわちピツト間にあるときには差動アンプ
18の出力は光軸ずれによる雑音成分のみを含ん
でいるとしたが、記録情報周波数が非常に高くな
ると(ピツト間距離が短くなる)、光スポツトが
ピツト間にある時でも差動アンプ18の出力には
トラツキングずれによる成分をも含むようにな
る。そのために、非常に高い周波数の情報が頻繁
に現われる場合感度が減少することになる。これ
を補正するためにアンプ10a,10bの出力段
にイコライザを挿入したり、差動アンプ21のゲ
インを情報周波数に応じて制御しても良いもので
ある。
上記例では情報検出点の偏倚手段として対物レ
ンズ5を用いているが、いわゆるトラツキングミ
ラー等の他の手段を用いても良く、また光学式に
限らず他の例えば静電方式等であつても良い。更
には記録媒体はデイスク状に限定されるものでは
ない。
ンズ5を用いているが、いわゆるトラツキングミ
ラー等の他の手段を用いても良く、また光学式に
限らず他の例えば静電方式等であつても良い。更
には記録媒体はデイスク状に限定されるものでは
ない。
叙上の如く、本発明によればトラツキング情報
信号の高域成分のみを用いていわゆる同相検波を
なすようにしてトラツキングサーボ信号を発生す
るようにしているから、光軸ずれ等に起因する低
域の雑音成分を完全に除去でき正確なトラツキン
グサーボ制御が可能となる。また、光軸ずれ等に
よる雑音成分の検出を2つのピーク検出器の出力
の差により行つているので、簡単な構成でかつ光
検出器の出力歪に全く依存することなく雑音成分
を除去できる利点がある。
信号の高域成分のみを用いていわゆる同相検波を
なすようにしてトラツキングサーボ信号を発生す
るようにしているから、光軸ずれ等に起因する低
域の雑音成分を完全に除去でき正確なトラツキン
グサーボ制御が可能となる。また、光軸ずれ等に
よる雑音成分の検出を2つのピーク検出器の出力
の差により行つているので、簡単な構成でかつ光
検出器の出力歪に全く依存することなく雑音成分
を除去できる利点がある。
第1図は従来のトラツキングサーボ装置のブロ
ツク図、第2図は情報検出点である光スポツトの
記録面反射光と受光素子との関係を示す図、第3
図は記録トラツクを構成するピツト列と光スポツ
トとの関係を示す図、第4図乃至第7図は第1図
のブロツクの各部動作波形を示す図、第8図は本
発明の実施例のブロツク図、第9図乃至第12図
は第8図のブロツクの動作を説明する波形図であ
る。 主要成分の符号の説明、5……対物レンズ、6
……記録デイスク、9……光電変換素子、11…
…LPF、12,18,21……差動アンプ、1
7……ピーク検出器。
ツク図、第2図は情報検出点である光スポツトの
記録面反射光と受光素子との関係を示す図、第3
図は記録トラツクを構成するピツト列と光スポツ
トとの関係を示す図、第4図乃至第7図は第1図
のブロツクの各部動作波形を示す図、第8図は本
発明の実施例のブロツク図、第9図乃至第12図
は第8図のブロツクの動作を説明する波形図であ
る。 主要成分の符号の説明、5……対物レンズ、6
……記録デイスク、9……光電変換素子、11…
…LPF、12,18,21……差動アンプ、1
7……ピーク検出器。
Claims (1)
- 1 ピツクアツプの情報検出用光スポツトが記録
トラツクを正確に追跡するように前記情報検出用
光スポツトを記録トラツクの略直交方向に偏倚せ
しめるよう構成された情報読取装置におけるサー
ボ信号発生装置であつて、記録トラツク接線方向
に平行な直線を境界として互いの受光面同士が隣
接して単一の受光面を形成すると共に前記情報検
出用光スポツトを形成して記録面を経た光が前記
単一の受光面に入射されるように配置された2つ
の光電変換素子と、前記2つの光電変換素子の出
力の低域成分間の差に応じた第1差信号を得る手
段と、前記2つの光電変換素子の出力のピーク値
間の差に応じた第2差信号を得る手段と、前記第
1及び第2差信号を合成する手段とを含み、この
合成出力をトラツキングエラー信号とするように
した情報読取装置におけるトラツキングサーボ信
号発生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9328482A JPS58211369A (ja) | 1982-06-01 | 1982-06-01 | 情報読取装置におけるトラツキングサ−ボ信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9328482A JPS58211369A (ja) | 1982-06-01 | 1982-06-01 | 情報読取装置におけるトラツキングサ−ボ信号発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58211369A JPS58211369A (ja) | 1983-12-08 |
JPH0154779B2 true JPH0154779B2 (ja) | 1989-11-21 |
Family
ID=14078115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9328482A Granted JPS58211369A (ja) | 1982-06-01 | 1982-06-01 | 情報読取装置におけるトラツキングサ−ボ信号発生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58211369A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61239436A (ja) * | 1985-04-16 | 1986-10-24 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | トラツキング誤差信号検出方法 |
JPH0746434B2 (ja) * | 1985-10-31 | 1995-05-17 | シャープ株式会社 | 光情報記録再生装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58169349A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Hitachi Ltd | 光スポツト制御装置 |
-
1982
- 1982-06-01 JP JP9328482A patent/JPS58211369A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58169349A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Hitachi Ltd | 光スポツト制御装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58211369A (ja) | 1983-12-08 |
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