JPH01291176A - 不良電子回路切り分け方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子回路カード（パッケージ）に不良が発生し
た場合の不良電子回路切り分け方法に関する。

〔従来の技術〕

従来の不良電子回路切り分けにおいては、回路と回路と
が接続されていてどちらの回路が不良かの切り分けを行
なう時、回路と回路との間にテスト端子を出して不良の
解析を行なうか、回路と回路との間をオープン端子ピン
にして不良の解析を行なっていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来の不良電子回路切り分け方法は、回路と回
路とを接続し、かつ回路と回路との間にテストピンを設
けるか、又は回路と回路との間をオープン端子ピンにし
であるため、回路間の整合による不良、両回路の不良の
場合は不良切り分けに時間がかかるという問題があった
。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の不良電子回路切り分け方法は第１の電子回路と
第２の電子回路との間にオープン端子ピンを設け、前記
オープン端子ピンの上に前記第１の電子回路と前記第２
の電子回路とを接続可能なコネクタを設けて前記第１の
電子回路及び前記第２の電子回路の動作を観測する構成
である。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

本発明の一実施例を示す第１図、第２図及び第３図を参
照すると、電子回路カード７の上に電子回路３及び電子
回路４があり、これらの回路間にコネクタ１を設け、カ
ード７及びコネクタ１はテスタ６に接続されている。テ
スタ６からカード７にテストパターンを送出し、コネク
タ１の出力と電子回路３の出力２とをテスタ６に取り出
し、正解データと比較する。コネクタ１の出力が不一致
であれば、電子回路４の不良であり、電子回路３の出力
２が不一致であれば電子回路３の不良である。また、電
子回路３．４の両方が不一致であれば、コネクタ１を電
子回路４側のオープン端子ビン８のみに＃妾続し、テス
タ６からカード７ヘテストパターンを送出する。コネク
タ１の出力が正解データと不一致であれば、電子回路４
の不良である。オープン端子ピン８は電子回路３と電子
回路４とを切り離している。コネクタ１をオープン端子
ピン８に挿入することによって電子回路３，４が接続さ
れる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、電子回路の間にオ
ープン端子ビンを設け、オープン端子ビンをコネクタに
より接続することにより、不良電子回路を容易に切り分
けることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図及び第３図は本発明の一実施例を示す構
成図である。 １・・・コネクタ、３．４・・・電子回路、６・・・テ
スタ、７・・・電子回路カード、８・・・オープン端子
ビン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 第１の電子回路と第２の電子回路との間にオープン端子
   ピンを設け、前記オープン端子ピンの上に前記第１の電
   子回路と前記第２の電子回路とを接続可能なコネクタを
   設けて前記第１の電子回路及び前記第２の電子回路の動
   作を観測することを特徴とする不良電子回路切り分け方
   法。