JPH01261821A - 縮小投影露光装置 - Google Patents

縮小投影露光装置

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JPH01261821A
JPH01261821A JP63090717A JP9071788A JPH01261821A JP H01261821 A JPH01261821 A JP H01261821A JP 63090717 A JP63090717 A JP 63090717A JP 9071788 A JP9071788 A JP 9071788A JP H01261821 A JPH01261821 A JP H01261821A
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JP
Japan
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wafer
exposure
optical system
reticle
circuit pattern
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JP63090717A
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Masahiro Yoneyama
正洋 米山
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NEC Corp
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は縮小投影露光装置に関し、特に周辺露光機構を
有する縮小投影露光装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の縮小投影露光装置は、半導体ウェハーの
周辺を露光する周辺露光機構を備えていないために、ウ
ェハーの周辺露光を行なう場合にはパターン投影用の製
品露光用レチクルを取外し、周辺露光用レチクルを縮小
投影露光装置にセットし直して周辺露光を行なっていた
また、その他の周辺露光装置としてはコンタクト式露光
装置と、光ファイバーを用いたウェハー周辺露光装置と
がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の縮小投影露光装置を用いてウェハーの周
辺露光を行なう場合には製品用の製品露光用レチクルを
取外し1周辺露光用レチクルを装置にセットし直す必要
があり1作業に時間がかかるという欠点がある。また、
周辺露光専用装置として縮小投影露光装置を使用する場
合は、特に限られた装置台数で露光作業を行なっている
場合、装置の作業能力を超えてしまうという欠点もある
また、コンタクト式露光装置を用いる場合はマスクとパ
ターンを接触させるためマスクのゴミやウェハー平行出
し板によるキズ、ゴミがパターンをくずす可能性があり
、光ファイバーによる周辺露光装置はウェハーを回転さ
せながら露光するためウェハー周辺に近いチップパター
ンをくずすことが考えられ、これを防ぐためには製品毎
に光のスポットサイズやウェハーの回転数を変えて周辺
露光を行なわなければならないという煩雑さがある。
本発明の目的は上記課題を解消した縮小投影露光装置を
提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解消するため、本発明の縮小投影露光装置に
おいては、回路パターンを半導体ウェハー上に縮小投影
する第1の光学系と、前記ウェハーの周辺不要部分を露
光する第2の光学系とを有し、両光学系間に渡って前記
半導体ウェハーを搭載するステージを移動可能に配設し
たものである。
また1本発明の縮小投影露光装置は半導体ウェハー上に
パターンを縮小投影する単一の光学系に、製品パターン
を有する製品露光用レチクルとウェハーの周辺不要部分
を露光する周辺露光用レチクルを保持し、前記光学系に
前記製品露光用レチクルと周辺露光用レチクルを選択的
に装填するホルダーを装備したことによっても実現され
る。
〔実施例〕
以下に本発明の実施例を図によって説明する。
(実施例1) 本実施例は2基の光学系を組合せた例である。
第1の光学系Iは回路パターンをウェハー上に縮小投影
する系、第2の光学系■はウェハーの周辺不要部分を露
光する系である。第1の光学系■は光源1と、遮光板2
と、縮小投影レンズ4とを備え、第2の光学系■は前記
光源1の光線を反射して系に投光するミラー7と、遮光
板8と、縮小投影レンズ10とを備えている。各々の光
学系は独立した縮小投影露光装置であるが、半導体ウェ
ハー5を搭載するステージを共用させている。すなわち
可動ウェハースチーシロは両光学系1.II間に渡って
移動可能に配設されている。なお、第2の光学系■にも
専用の光源を設けてもよい。
第1の光学系Iには半導体ウェハー5に対する製品露光
用パターン(回路パターン)を有する製品露光用レチク
ル3をセットし、第2の光学系■にはウェハー5の周辺
不要部分を露光する周辺露光用レチクル9をセットする
まず、ウェハー5を載置した可動ウェハースチーシロを
第1の光学系!の光軸に配置する。光源1を出光した光
を、遮光板2で回路パターンの露光ショットの大きさに
定め、製品露光用レチクル3を通過させ、その回路パタ
ーンを縮小投影レンズ4で縮小し、ウェハー5上に縮小
された回路パターンを投影露光する。ウェハー5上への
回路パターンの露光を完了した後5次いで可動ウェハー
スチーシロを第2の光学系■の光軸に移し、光学系■で
はミラー7によって反射された光源1からの光を、遮光
板8でウェハー周辺露光ショットの大きさに定め、周辺
露光用の透明レチクル及び縮小投影レンズ10を経てウ
ェハー5の周辺部を露光する。
(実施例2) 第2図は本発明の第2の実施例を示す構成図である0本
実施例は単一の光学系を用い、レチクルを交換する例で
ある。すなわち、光源1.遮光板2、縮小投影レンズ4
を有する光学系に製品露光用レチクル3と、周辺露光用
レチクル9とを保持させたレチクルホルダー11を摺動
可能に装備したものである。
本実施例ではウェハーステージ12は光学系の定位置に
設置されており、まずレチクルホルダー11上の製品露
光用レチクル3を光学系にセットし。
パターンの露光後、レチクルホルダー11を移動させて
、製品露光用レチクル3を周辺霧光用レチクル9に切り
替えてこれを光学系にセットし、同一位置でウェハー周
辺の露光を行なう。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の縮小投影露光装置によれば
、ウェハー上への回路パターン露光終了後、簡単にウェ
ハー周辺露光を行なうことができ、作業時間を短縮でき
る。また1周辺露光用レチクルは自動あるいは手動でセ
ットできる透明なレチクルを使用し、各々の製品に対し
ては自動的に遮光板の遮光部の大きさを調整することに
より、各製品毎にレチクルを取替えることなくウェハー
上の所望の部分への露光が可能となり、製品露光ショッ
トのパターンをくずすことなく、ウェハーの周辺露光が
でき、高品質の製品が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1の発明の縮小投影露光装置の一実施例を示
す構成図、第2図は第2の発明の縮小投影露光装置の一
実施例を示す構成図である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)回路パターンを半導体ウェハー上に縮小投影する
    第1の光学系と、前記ウェハーの周辺不要部分を露光す
    る第2の光学系とを有し、両光学系間に渡って前記半導
    体ウェハーを搭載するステージを移動可能に配設したこ
    とを特徴とする縮小投影露光装置。
  2. (2)半導体ウェハー上にパターンを縮小投影する単一
    の光学系に、製品パターンを有する製品露光用レチクル
    とウェハーの周辺不要部分を露光する周辺露光用レチク
    ルを保持し、前記光学系に前記製品露光用レチクルと周
    辺露光用レチクルを選択的に装填するホルダーを装備し
    たことを特徴とする縮小投影露光装置。
JP63090717A 1988-04-13 1988-04-13 縮小投影露光装置 Expired - Lifetime JPH0713939B2 (ja)

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JPH0713939B2 JPH0713939B2 (ja) 1995-02-15

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