JPH01253841A - ホログラムを用いた受光装置及び光ヘッド装置 - Google Patents

ホログラムを用いた受光装置及び光ヘッド装置

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JPH01253841A
JPH01253841A JP63080763A JP8076388A JPH01253841A JP H01253841 A JPH01253841 A JP H01253841A JP 63080763 A JP63080763 A JP 63080763A JP 8076388 A JP8076388 A JP 8076388A JP H01253841 A JPH01253841 A JP H01253841A
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JP
Japan
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light
photodetector
light beams
lens
diffracted light
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Application number
JP63080763A
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English (en)
Inventor
Shinichi Kadowaki
慎一 門脇
Yoshiaki Kaneuma
慶明 金馬
Makoto Kato
誠 加藤
Tetsuo Hosomi
哲雄 細美
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ディスクあるいは光カードなど、光媒体も
しくは光磁気媒体上に記憶される光学情報を記録・再生
あるいは消去可能な光ピツクアップヘッド装置に関する
ものである。
従来の技術 高密度・大容量の記憶媒体として、ビット状パターンを
用いる光メモリ技術は、ディジタルオーディオディスク
、ビデオディスク、文書ファイルディスク、ざらにはデ
ータファイルと用途を拡張しつつ、実用化されてきてい
る。ミクロンオーダに紋られた光ビームを介して情報の
記録再生が高い信頼性のもとに首尾よく遂行されるメカ
ニズムは、ひとえにその光学系に因っている。光ピツク
アップヘット装置(以下OPUと略す)の基本的な機能
は、 (【)回折限界の微小スポットを形成する集光性
、 (II)前記光学系の焦点制御とビット信号検出、
および(III)同トラッキング制御の3種類に大別さ
れる。これらは、目的、用途に応じて、各種の光学系な
らびに光電変換検出方式の組合せによって実現されてい
る。第11図は、従来のOPUの一例を示す模式図であ
る。通常、TEl!oモートで発際する半導体レーザ光
源1からの発散波面(電場:水平偏波)をコリメートレ
ンズ2て〜IV行ビームとし、偏光ビームスプリッタ1
07で左方の四分の一波長板Cへ入板)18に選択反射
する。1八λ板18を通過した円偏光波面は、レンズ3
で大略1μm程度のスポットに紋られ、光記憶媒体面4
上に到達し、ビット状パターン40を照射する。媒体面
で反射・回折された光束は、再びレンズ3を逆に進んで
電へλ板18を通過すると垂直偏波の平行ビームとなり
、偏光ビームスプリッタ−107を透過してビームスプ
リッタ19で2方向に分割される。一方の反射光は集光
レンズ20、ならびに非点収差を付与する円柱状レンズ
21を通って四分割フォトディテクタ55に入射し、フ
ォーカス(焦点)誤差(以下FEと略す)信号に変換さ
れる。他方の透過光は、ファーフィールドパ・ターンの
まま、トラッキング誤差(以下TEと略す)信号検出用
の二分割フォトディテクタ22に入る。
ここて、1八λ板18は、偏光ビームスプリッタ107
と組み合わせることによって、光量の利用効率を高める
ことと同時に、半導体レーザへの戻り光を抑圧して、信
号光成分に不要なノイズが増加しないための工夫である
。しかし、再生専用ディスクのOPUでは、光量設計に
余裕があり、゛/4人板と偏光ビームスプリッタを省く
ことが可能であり、特に小型化、低価格化のためには、
部品の省略、複合化が図られている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、再生専用OPUにおいても、ビーム分割
手段、非点収差あるいはナイフェツジ法などによる焦点
制御手段、またトラッキング制御手段を独立、もしくは
結合して構成する必要がある。そのために従来用いられ
てきた光学部品は、ビームスプリッタ、レンズ、プリズ
ム等いずれも大量に製作・組立・調整することは容易で
はなく、小型化、低価格化、ll産性、高信頼性の面で
問題があった。
これらの問題が生じる共通の理由として、第1に高精度
の平面あるいは非球面を要する光学部品は、多くの工程
を経て初めて所望の加工が実現されるのでプレス手段等
を用いるが如き生産が一般に困難であること、第2に多
数の部品を組み合わせて所定の総合性能を発揮させるた
めには、組立・調整にも多くの時用と複雑な検査・測定
装置を要すること、第3に部品の小型化に限界があると
ころから、全光学系の小型化にも大きな制約があった。
上記課題の解決方法として、1枚のホログラム素子にフ
ォーカスおよびトラッキング制御用の所定波面を記録し
ておき、光ヘッドの読み取りビームで再生される各波面
を光検出器に導く技術が晟近閉示されている。1)〜5
′ 1)特願 昭52−108908号 、天井り、永井2
)特願 昭62−16850号 、天井−L、永井3)
特願 昭6179677号 、松下、辰巳4 ) Y、
K”imura et at、”tligh Perf
ormance 0ptical )lead usi
n30ptimized Ho1o3raphic 0
pticalE l emen t、” 、プロシーデ
ィング オブ ザ インターナショナル シンポジウム
 オン オプティカルメモリ(Proc、 of th
e International Symposium
on 0ptical Memory、)Tokyo、
5ept、16−18.1987(p−5)K、Tat
sumi  et al、”A Multi−func
tional  Reflection  Type 
Grating  Lens  for  the C
D 0pticaI Head”、プロシーディング 
才ブ ザ インターナショナル シンポジウム オン 
オプティカルメモリ(Proc、 of the In
ternational SymposiuIlon 
0ptical Memory、)Tokyo、5ep
t、+6−18.1987(p、1上記のうち、4)は
FE倍信号ダブルナイフェツジ法で、TE倍信号ファー
フィールド(ホログラム素子面)上に設けたスリット格
子からの回折光強度によって検出する方法であり、他は
すべて第10図に示すように非点収差波面を四分割フォ
トディテクタ55で受光した信号から演算してFE倍信
号びTE倍信号検出するものである。ところが、各方式
ともホログラム素子の1次回折光のみを利用して信号の
検出を行っているために光の利用効率が悪くその結果検
出感度が低くなっ−こおり従来のOPU装置と同程度の
信号強度を得るためには光源の出力を大きくする必要が
あった。光源であるレーザの出力の増加は消費電力、体
積、コスト等の増大に起因するため、小型化、低価格化
、低消R電力化のためには光の利用効率を向上し光源の
出力を低下させるという課題かあ・つた。
また、フォトディテクタの調整をミクロンオーダーで精
度よく行わなければデフォーカスが生じるという課題が
あった。
課題を解決するための手段 本発明は、上述の課題を解決するためにFE倍信号しく
はTE倍信号検出を行う際、ホログラム素子の1次回折
光のみならず2次以上の高次回折光もしくは前記回折光
の共役像等、複数の回折光を同一基板上に形成したフォ
トディテクタを用いて同時に受光する。
作用 本発明では、ボログラムを用いた光ヘッド装置において
FE倍信号しくはざらにTE倍信号検出する際、ホログ
ラム素子からの複数の回折光を同時に受光することによ
りFE倍信号しくはさらにTE倍信号検出感度を著しく
改善する。さらに共役像も同時に検出すれば、相補作用
によりフォトディテクタを大略調整するだけで良好なF
E倍信号得ることができ、デフォーカスはほとんど生じ
なくなる。
実施例 第1図は、本発明の一実施例によるOPU装置の概略構
成を示す。同図(a)において、1はコヒーレントビー
ムを発する半導体レーザ(例えば波長λ2′:!800
 n m)、2はコリメートレンズ(例えば焦点距離f
 c N:20 m m ) 3は集光用の対物レンズ
、4は光記憶媒体(光ディスク)であって、光源1から
発したビームはコリメートレンズ2て平行ビームとされ
、レンズ3でディスク4上に集光される。このとき6は
非点収差を含む波面を記録したホログラム素子であって
レンズ2.3の間に介在して、往路ではその0次透過光
がディスク4に集光されることになる。42は基板、4
1は保護膜である。ディスク4上で反射されたビームは
復路で再びレンズ3を通過してほぼ平行光とされた後ホ
ログラム素子6に入射して、0次透過光の他に、軸外に
±l、±2.±3.・・・±n次の非点収差をもつ回折
光波面を生成する。第1図において波面711,712
は1次の非点収差再生像と共役像、波面721,722
は2次の非点収差再生像と共役像である。ここでホログ
ラム素子6はフーリエ変換型ホログラムであって、コリ
メートレンズ2を介してこれら波面711,712.7
21,722は収束され、ディスク上に焦点が正しく結
ばれているときには0次透過光の収束点く光源lの発光
点10)を含んでレンズ2の光軸に垂直な面111とは
前後する位置の2面に各々直交する方向に非点像を結ぶ
。5は光を受ける4組の四分割フォトディテクタで検出
器511゜512.521及び522がが一体化されて
いる。
各焦点面と面IIIとの間隔は& I=82−8と設計
する。
同図(b)は面111に配置された4組の四分割フォト
ディテクタの各々の第1.第2.第3゜及び第4のフォ
トディテクタ5111.5112゜5113.5114
..5121,5122,5123.5124,521
1,5212.5213+5214、 5221. 5
222. 5223. 5224と発光点10の関係を
示している。この図ではディスクのデフォーカス状態に
財応したフォトディテクタLの非点収差再生像を示して
いる。図中、フォトディテクタ5の光電変換面での入射
ビームの一方は711及び?21のごとくなり、共役像
712及び722と共に発光点を通る直線X−X −、
hに並ぶ。
第2図は本発明の別の実施例を示す概念図である。第1
実施例では透過型ホログラム素子を用いているのに対し
、本実施例では反射型ホログラム素子66を使って光軸
をαΣ90°として折り曲げている。またコリメートレ
ンズを使用せず対物レンズ系30だけで結像光学系を構
成して、小型化を計り、部品点数をより少なくしている
第3図は本発明のさらに別の実施例を説明したもので、
先の2例と異なる点は、光源lからの往路とは分離され
た復路で制御ビーム711,712.721及び722
を得られるように偏光ビームスプリツタ106と波長板
9を設けていること、及び第5フオトデイテクタ500
によって0次透過光700を用いた高周波情報(RF)
信号検出を別途行う構成としたことである。ここで波長
板9は、偏光ビームスプリッタ106との性能バランス
を容易にする目的でλへ程度の設計とし、光R1への戻
り光竜の最適化を計って信号検出のSZN比を極大にし
ている。ミラー8は光路折り曲げ用である。この場合は
必要に応じてホログラム666をブレーズ化して極大の
回折効率をもたせることができ、共役像712,722
は微弱なビームとなるので、ホログラム素子666から
の回折光を受光するフォトディテクタ50において共役
像を検出するフォトディテクタ部分を省略できる。
さて以上の実施例における光検出器の構成及び信号検出
方法を詳しく説明しよう。第4図は第3図(b)で示し
た4!Iの四分割フォトディテクタ511.512,5
21,522の各分割領域5Ill、5112,511
3,5114,5121.5122,5123,512
4,5211゜5212、 5213. 5214. 
5221. 5222.5223.5224で検出され
るビーム711.712,721.’722及びフォト
ディテクタ500で検出されるO次光700の関係を模
式的にかつ一般的に表している。第4図(b)はディス
ク上に合焦点のスポットが形成された場合であり、第4
図(a)及び(c)は各々逆位相でのデフォーカス状態
を示す。フォーカス制御の特性(いわゆる8字特性)は
第10図に示すように非点収差波面をいずれかの四分割
フォトディテクタで受光した信号から演算して得ること
ができ、これは衆知の技術である。このとき各々の4分
割フォトディテクタで受光した信号を演算することによ
って得られたFE倍信号和をとることによりFE倍信号
出力強度は、1次回折光のみを利用して得られた場合と
比べて増大する。さらに、共役像も利用してFE倍信号
検出した場合、フォトディテクタの調整が多少ずれてい
ても相補作用によりディスク上に合焦点のスポットが形
成された時にFE倍信号出力はほぼ0となりしたがって
デフォーカスは生じない。また、光源に波長変動が生じ
てもフォトディテクタ上の再生像は動くが、やはり相補
効果によりディスク上に合焦点のスポットが形成された
時にFE倍信号出力はほぼOとなり、したがってデフォ
ーカスは生じない。この相補効果によるFE信号検出の
安定化は他の実施例においても同様なことがいえる。ま
た、例えば第5図に示すがごとくフォトディテクタ50
の内部を結線すれば信号演算回路から見たフォトディテ
クタは1組の四分割フォトディテクタとなり、従来の回
路構成をそのまま使用することも可能となる。四分割フ
ォトディテクタ511,512,521.522及び0
次光検出用フォトディテクタ500は、・例えば1枚の
N型シリコン基板上にボウ嚢(■族元素)をイオン注入
することによって各ディテクタを形成すれば容易に実現
可能である。
第6図は第1図(a)のホログラム素子とは非点収差波
面の再生方向が異なるホログラム素子を用いたときに得
られる再生像700. 711. 712.721,7
22及びフォトディテクタ51の様子を表しており、第
6図(b)はディスクtに合焦点のスポットが形成され
た状態、第6図(a)及び(C)は、各々逆位相でのデ
フォーカス状態を示す。RF倍信号フォトディテクタ5
000を用いて検出する。FE倍信号、第7図Aもしく
は八−の如き信号出力が片側のフォトディテクタ501
2もしくは5015より得られ、もしA−A−の差動出
力を利用すれば、図のように作動域は倍加されることが
わかる。また、別の方法として一方の共役像の中央部、
例えばフォトディテクタ5012の出力Aにその両隣の
フォトディテクタ5011.5013の各出力を逆符号
で加算すればBの如き出力特性が得られる。同様に、他
方の共役像からもフォトディテクタ5015の出力へ−
にその両隣のフォトディテクタ5014゜5016の各
出力を逆符号で加算すればB−の如くBと対称的な出力
が得られるので再び差動をとればB−B−より更に拡大
された作動域を得ることもEif能である。第6図に示
したような再生像の場合には、高次の回折光も例えば第
〔5図に示した帯状のフォトディテクタにより検出する
ことが可能なのでフォトディテクタの構造は簡素化され
る。
また、共役像側のフォトディテクタもFE倍信号得られ
るように内部で結線すれば出力強度は倍加しさらに演算
回路を簡素化することができろ。
第8図は例えば第3図(a)に示す光学系の構成におい
て異なる位置に焦点を持つ波面を重畳記録したホログラ
ム素子を用いた場合に得られる再生像7000,711
1,7112,7121,7122.7211,721
2,7221.7222及びそのときのフォトディテク
タ52の構成を表している。7000は0次光、1つの
波面の再生像は7111が1次回折光、7211が2次
の回折光、7121.7221がそれぞれ航記回折光の
共役像であり、もう1つの波面の再生像は7112が1
次回折光、7212が2次回折光、7122.7222
が共役像である。第8図(b)はディスク上に合焦点の
スポットが形成された状態、第8図(a)及び(c)は
各々逆位相の状態を示す。FE倍信号例えばフォトディ
テクタ5018と5021の差動出力をとることにより
得られ、また、例えはフォトディテクタ5018の出力
に5020.5022の出力を、5021の出力に50
17.5019の出力をそれぞれ加算することにまり差
動出力は増大する。さらに共役像側のフォトディテクタ
5023,5024,5025、 5026. 502
7. 5028についても同様な演算を行い、その出力
も利用すればFE倍信号倍加する。勿論この場合にもフ
ォトディテクタを帯状の構成とすることにより、さらに
ディテクタ内部で結線を行うことにより信号演算回路、
配線等が簡素化されることは言うまでもない。
第9図は本発明の更に別の実施例を説明する概念図であ
る。同図(a)はホログラム素子6666の機能領域区
分を示し、フォーカス制御用に非点収差を含む波面を記
録した領域691,692及び693と単純な格子パタ
ーンを各々使と異なる方向に記録したスリット状格子の
領域68.69とからなる。同図(b)は、例えば第3
図(a)に示したO P Uにホログラム素子6666
を用いた場合のフォトディテクタ上における再生像を示
している。FE倍信号フォトディテクタ5001゜50
02を用いて検出し、TE倍信号フォトディテクタ54
1と542もしくは543と544とから差動検出する
。この実施例で示したTE信号検出のためのスリット格
子ホログラム素子も、本発明の他の全ての実施例に組み
合わせて実施可能である。
なお、本実施例に述べた構成では全て±1次及び±2次
の回折光を利用する場合について説明したが、±3次以
上の回折光をも利用することや、もしくは片側(例えば
+側)のみの複数の回折光を利用することも可能である
ことは勿論言う迄もない。
発明の効果 本発明では2次以上の高次の回折光もしくはその共役像
をも利用することにより以下に示す効果を有する。
(I)回折格子によって制御ビームを生成した場合の弱
点とされる制御信号の微弱化に対して、本発明でCよ光
の利用効率が向上し通常のホログラム素子を用いても従
来光学系と何ら遜色ない強度の制御信号を検出すること
が可能となる。
(II ’)フォーカス誤差(FE)信号、トラッキン
グ誤差(TE)信号もしくはさらに高周波情報(RF)
信号を1つの基板上に形成したフォトディテクタで検出
できるため光学系の調整が容易となり部品点数の減少、
低価格化、小型化等が実現可能となる。
(III)共役像も同時に差動検出することにより、F
E信号特性に関するフォトディテクタの調整精度が大幅
に緩和される。
(【■)共役像も同時に差動検出することにより、FE
信号特性に関する光源の波長変動の許容範囲が大幅に緩
和される。
(V)共役像も同時に差動検出することにより、光源の
波長が変動したりもしくはディテクタの設定位置にずれ
が生じたとしてもFE倍信号オフセットが極めて生じに
くくなり、安定したフォーカス制御が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の一実施例を示す光ヘッド装置の
概略構成図、同図(b)は同図(a)に示す光ヘッド装
置におけるフォトディテクタと発光点の関係図、第2図
は本発明の別の実施例を説明する光ヘッド装置の概略構
成図、第3図(a)ごま本発明の他の実施例を説明する
光ヘッド装置の概略構成図、同図(b)は同図(a)に
示す光ヘット装置におけるホログラム素子からの回折光
とフォトディテクタの関係図、第4図(a )、(b 
)、(C)は本発明を説明する一般的原理図、第5図は
本発明によるフォトディテクタの結線図、第6図(a)
、(b)、(c)は本発明の別の実施例を説明するフォ
トディテクタの構成図、第7図は本発明の一実施例を説
明するフォーカス誤差信号検出特性の概念図、第8図(
a )、(b )、(C)は本発明の他の実施例を説明
するフォトディテクタの構成図、第9図(a)は本発明
の他の実施例を説明するホログラム素子の構成図、同図
(b)は同図(a)に示すホログラム素子を用いた光ヘ
ッド装置における回折光とフォトディテクタの用係図、
第10図(a)、(b)、(c)は従来の光ヘッド光学
系のフォーカス制御信号検出方法の概念図、第1J図は
従来の光ヘッド光学系の非点収差波面検出系の一例を示
す構成図である。 l・・・半導体レーザもしくは相当のコヒーレント光源
、2・・・コリメートレンズ、3・・・レンズ、4・・
・光記憶媒体(光ディスク)、5・・・フォトディテク
タ、6・・・ホログラム素子、8・・・ミラー、9・・
・115波長板、10・・・発光点、66・・・反射型
ホログラム素子、68・・・単純回折格子領域、69・
・・単純回折格子領域、106・・・偏光ビームスプリ
ッタ、691・・・ホaグラノ、領域、692・・・ホ
ログラム領域、693・・・ホログラム領域、711・
・・1次回折光、712・・・1次回折光(共役像)、
721・・・2次回折光、722・・・2次υ1折光(
共役像)、6666・・・スリット格子付ホログラム素
子、 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名30−m−
しンス゛ 乙6−、グ泪型才、U’)’セム蒙チ 第2図 / 舐−一一〇次迭局尤 / 第4図 (と2.ン              (bン   
            (()第5図 第 6[Xl ((1)            (b)      
     (ご)の15 第 7 図 B−B’ 第90 7/−、;lμ声収差再生ふア面 第10図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ホログラム素子と、このホログラム素子からの複
    数次の回折光を受光する複数の受光部が一体化されたフ
    ォトディテクタとを具備したホログラムを用いた受光装
    置。
  2. (2)コヒーレントビームもしくは準単色のビームを発
    する光源と、前記光源からのビームを受け光記憶媒体上
    へ微小スポットに収束する集光光学系と、前記光記憶媒
    体で反射したビームを受け回折光を発生させて受光する
    特許請求の範囲第1項記載の受光装置を具備した光ヘッ
    ド装置。
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