JPH01233447A - 感光性組成物 - Google Patents
感光性組成物Info
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- JPH01233447A JPH01233447A JP5939488A JP5939488A JPH01233447A JP H01233447 A JPH01233447 A JP H01233447A JP 5939488 A JP5939488 A JP 5939488A JP 5939488 A JP5939488 A JP 5939488A JP H01233447 A JPH01233447 A JP H01233447A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、紫外光を露光波長として利用される感光性組
成物に関し、さらに詳しくは、アルカリ現像可能でしか
もクラックの発生の恐れのない感光性組成物に関するも
のである。
成物に関し、さらに詳しくは、アルカリ現像可能でしか
もクラックの発生の恐れのない感光性組成物に関するも
のである。
(従来の技術)
感光性組成物は、半導体デバイス製造に際しての微細パ
ターン形成用に欠くことができないものであり、一般的
製造ラインでは主としてポジ型の感光性組成物が用いら
れている。これらの代表的なものとしてはアルカリ現像
液に可溶なノボラック樹脂と、1,2−ナフトキノンジ
アジドスルホン酔エステル類のようなアルカリ現像液に
対して母体の樹脂を難虐化させる溶解抑止剤(感光剤)
との混合物がある。
ターン形成用に欠くことができないものであり、一般的
製造ラインでは主としてポジ型の感光性組成物が用いら
れている。これらの代表的なものとしてはアルカリ現像
液に可溶なノボラック樹脂と、1,2−ナフトキノンジ
アジドスルホン酔エステル類のようなアルカリ現像液に
対して母体の樹脂を難虐化させる溶解抑止剤(感光剤)
との混合物がある。
また有機溶媒で現像を行なうネガ型のものとしては、ノ
ボラックの水酸基が直接1,2−ナフトキノンジアジド
スルホン酸でエステル化されていろもの(富士薬品社、
LMR−UVなと)がある。
ボラックの水酸基が直接1,2−ナフトキノンジアジド
スルホン酸でエステル化されていろもの(富士薬品社、
LMR−UVなと)がある。
かかる感光性組成物のパターン形成メカニズムは、主と
して1,2−ナフトキノンジアジド誘導体の光照射前後
における極性(現像液に対する溶解性)が変化すること
に基づいている。従って露光部分と非露光部分の溶解速
度差が大きければ大きい程、パターン解像性が向上する
ものである。
して1,2−ナフトキノンジアジド誘導体の光照射前後
における極性(現像液に対する溶解性)が変化すること
に基づいている。従って露光部分と非露光部分の溶解速
度差が大きければ大きい程、パターン解像性が向上する
ものである。
前述のノボラック樹脂と1,2−ナフトキノンジアジド
スルホン酸エステル類の混合物は、先に述べた特性をよ
く満足することから今後パターンの微細化に伴ない、益
々その使用量が増加する可能性があるとされている。
スルホン酸エステル類の混合物は、先に述べた特性をよ
く満足することから今後パターンの微細化に伴ない、益
々その使用量が増加する可能性があるとされている。
ところでかかる系におけろ高解11!度化の試みとして
、ポリビニルフェノール樹脂のフェノール性水酸基に感
光性を有する置換基を導入し、それが露光の前後に光反
応によって脱離を起すことにより、上記ポリビニルフェ
ノール樹脂そのものの溶解性を変化させ溶解抑止剤との
相乗効果を得ようというものが開示されている(例えば
特開昭62−69263)。この例では、上述の感光基
として、0−ニトロベンジル基を用いこれを直接ポリビ
ニルフェノール樹脂のフェノール水W 基に結合させて
いる。そしてこの場合それらの解像性を向上させるため
該0−ニトロベンジル基をなるべく多量に樹脂中に導入
することが望まれている。
、ポリビニルフェノール樹脂のフェノール性水酸基に感
光性を有する置換基を導入し、それが露光の前後に光反
応によって脱離を起すことにより、上記ポリビニルフェ
ノール樹脂そのものの溶解性を変化させ溶解抑止剤との
相乗効果を得ようというものが開示されている(例えば
特開昭62−69263)。この例では、上述の感光基
として、0−ニトロベンジル基を用いこれを直接ポリビ
ニルフェノール樹脂のフェノール水W 基に結合させて
いる。そしてこの場合それらの解像性を向上させるため
該0−ニトロベンジル基をなるべく多量に樹脂中に導入
することが望まれている。
(発明が解決しようとする課ff1)
しかし、前述の0−ニトロベンジル基は、それらの立体
構造に起因する立体障害によってより多くの基をポリビ
ニルフェノール樹脂中に導入するのが困難であるとか、
又多量に導入したものはペース樹脂が塗布溶媒に不溶に
なるとか、更に塗布後にクラックが発生したりするなど
の問題があった。かかる問題点は、ベース樹脂が、ポリ
ビニルフェノール樹脂に限らずフェノール骨格を有する
クレゾールノボラック樹脂やキシレノールノボラック樹
脂でも同様に認められ、そしてクレゾールノボラック樹
脂中では特にパラ置換体のものに顕著であった。
構造に起因する立体障害によってより多くの基をポリビ
ニルフェノール樹脂中に導入するのが困難であるとか、
又多量に導入したものはペース樹脂が塗布溶媒に不溶に
なるとか、更に塗布後にクラックが発生したりするなど
の問題があった。かかる問題点は、ベース樹脂が、ポリ
ビニルフェノール樹脂に限らずフェノール骨格を有する
クレゾールノボラック樹脂やキシレノールノボラック樹
脂でも同様に認められ、そしてクレゾールノボラック樹
脂中では特にパラ置換体のものに顕著であった。
この発明は、上述した感光性基0−ニトロベンジル、基
がフェノール骨格等を有する樹脂中に多量に導入するの
が困難であること、また多量に導入時塗布溶媒に不溶に
なること及び塗布性の低下、更にクラック発生等の問題
点を除去し、解像性にすぐれた感光性組成物を提供する
ことを目的とする。
がフェノール骨格等を有する樹脂中に多量に導入するの
が困難であること、また多量に導入時塗布溶媒に不溶に
なること及び塗布性の低下、更にクラック発生等の問題
点を除去し、解像性にすぐれた感光性組成物を提供する
ことを目的とする。
(課題を解決するための手段)
この発明は、紫外線を露光波長として用い、ペース樹脂
と溶解抑止剤との混合物である感光性組成物において、
上記ベース樹脂に感光性基として0−ニトロベンジロキ
シカルボニル基を導入させるようにしたものである。
と溶解抑止剤との混合物である感光性組成物において、
上記ベース樹脂に感光性基として0−ニトロベンジロキ
シカルボニル基を導入させるようにしたものである。
即ち本発明は、フェノール骨格、クレゾール骨格あるい
はキシレノール骨格を有する樹脂と、溶解抑止剤(感光
剤)との混合物から構成される感光性組成物において、
上記フェノール、クレゾールあるいはキレレノールの水
酸基の一部あるいは全部に 一般式、 (式中R7〜R4は水素、ハロゲン(塩素、臭素、フッ
素)2アルコキシ基(メトキシ基。
はキシレノール骨格を有する樹脂と、溶解抑止剤(感光
剤)との混合物から構成される感光性組成物において、
上記フェノール、クレゾールあるいはキレレノールの水
酸基の一部あるいは全部に 一般式、 (式中R7〜R4は水素、ハロゲン(塩素、臭素、フッ
素)2アルコキシ基(メトキシ基。
エトキシ基)、アルキル基(メチル基、エチル基、イソ
プロピル基、t−ブチル基)。
プロピル基、t−ブチル基)。
の中から選ばれる。)
で表わされるO−ニトロベンジロキシカルボニル基を結
合させた化合物を含有させたことを特徴とする感光性組
成物である。
合させた化合物を含有させたことを特徴とする感光性組
成物である。
本発明において、フェノール骨格、クレゾール骨格ある
いはキシレノール骨格を有する樹脂とは、例えハポリビ
ニルフェノールp ビニルフェノール。
いはキシレノール骨格を有する樹脂とは、例えハポリビ
ニルフェノールp ビニルフェノール。
メタクリル酸メチル共重合体、ビニルフェノールメタク
リル酸共重合体、ビニルフェノールメククリル酸ヒドロ
キシエチル共重合体、クレゾールノボラック樹脂(Or
”P p−の異性体の共重合物も含む)2キンレノ−
ルツボラック樹脂、り、レゾールキシレノールノボラッ
ク樹脂、あるいはクレゾールウビニルフェノール、キシ
レノールとアクリロニトリルあるいはスチレン等のコポ
リマーなどがあげられる。もちろんここにあげたポリマ
ーの2種以上の混合物あるいは上述の樹脂1種以上に他
の樹脂成分を混合したものでも、それらがアルカリ水溶
液に可溶なものであれば、任意に用いることができろ。
リル酸共重合体、ビニルフェノールメククリル酸ヒドロ
キシエチル共重合体、クレゾールノボラック樹脂(Or
”P p−の異性体の共重合物も含む)2キンレノ−
ルツボラック樹脂、り、レゾールキシレノールノボラッ
ク樹脂、あるいはクレゾールウビニルフェノール、キシ
レノールとアクリロニトリルあるいはスチレン等のコポ
リマーなどがあげられる。もちろんここにあげたポリマ
ーの2種以上の混合物あるいは上述の樹脂1種以上に他
の樹脂成分を混合したものでも、それらがアルカリ水溶
液に可溶なものであれば、任意に用いることができろ。
次にフェノール、クレゾールあるいはキシレノールの水
酸基に導入する0−ニトロベンジロキシカルボニル基の
具体例としては次式のようなものがあげられろ。
酸基に導入する0−ニトロベンジロキシカルボニル基の
具体例としては次式のようなものがあげられろ。
かかる置換基を導入するための前駆体は、ホスゲンと、
相当するベンジルアルコール誘導体とを、1: 1のモ
ル比で反応させて得られるクロロホーメート類として合
成し得る。該置換基の導入は、得られた0−ニトロベン
ジルクロロホーメート類を、トリエチルアミン、ピリジ
ンなどのアミンの存在下で導入される樹脂溶液に対し0
℃〜室温で滴下反応させることによって達成される。
相当するベンジルアルコール誘導体とを、1: 1のモ
ル比で反応させて得られるクロロホーメート類として合
成し得る。該置換基の導入は、得られた0−ニトロベン
ジルクロロホーメート類を、トリエチルアミン、ピリジ
ンなどのアミンの存在下で導入される樹脂溶液に対し0
℃〜室温で滴下反応させることによって達成される。
上記フェノール、クレゾールあるいはキシレノールの水
酸基に対する上記O−ニトロベンジロキシカルボニル基
の導入率は20〜80%の範囲であり、感度は低下する
が解像度を向上させるためには、なるべく多い方が望ま
しい。導入率が20%未満ではパターニングが殆んど不
能であり、又あまり大量に導入すると、溶解性、塗布性
をそこなう可能性があるからである。
酸基に対する上記O−ニトロベンジロキシカルボニル基
の導入率は20〜80%の範囲であり、感度は低下する
が解像度を向上させるためには、なるべく多い方が望ま
しい。導入率が20%未満ではパターニングが殆んど不
能であり、又あまり大量に導入すると、溶解性、塗布性
をそこなう可能性があるからである。
本発明の感光性組成物に用いられる溶解抑止剤(感光剤
)としては、例えば1,2−ナフトキノン−2−ジアジ
ド−4−スルホン酸と、2,3.4−トリ、ドヮキシベ
ンゾフェノンあるいは2.3.4゜4′−テトラヒドロ
キシベンゾフェノンあるいは没食子酸メチルあるいはピ
ロガロールの水酸基の一部あるいは全部がエステル化さ
れたもの、あるいは1,2−ナフトキノン−2−ジアジ
ド−5−スルホン酸エステルと、2,3.4−トリヒド
ロキシベンシブエノンあるいは2.3.4.4’−テト
ラヒドロキシベンゾフェノンあるいは没食子酸メチルあ
るいはピロガロールの水酸基の一部あるいは全部がエス
テル化されたもの、1,2−ベンゾキノン−2−ジアジ
ド−4−スルホン酸と、2.3.4−トリヒドロキシベ
ンゾフェノンあるいは2,3゜4.4′−テトラヒドロ
キシベンゾフェノンあるいは没食子酸メチルあるいはピ
ロガロールの水酸基の一部あるいは全部がエステル化さ
れたもの、などがあげられる。これらの溶解抑止剤(感
光剤)は単独あるいは2種以上の混合物として用いるこ
とができる。
)としては、例えば1,2−ナフトキノン−2−ジアジ
ド−4−スルホン酸と、2,3.4−トリ、ドヮキシベ
ンゾフェノンあるいは2.3.4゜4′−テトラヒドロ
キシベンゾフェノンあるいは没食子酸メチルあるいはピ
ロガロールの水酸基の一部あるいは全部がエステル化さ
れたもの、あるいは1,2−ナフトキノン−2−ジアジ
ド−5−スルホン酸エステルと、2,3.4−トリヒド
ロキシベンシブエノンあるいは2.3.4.4’−テト
ラヒドロキシベンゾフェノンあるいは没食子酸メチルあ
るいはピロガロールの水酸基の一部あるいは全部がエス
テル化されたもの、1,2−ベンゾキノン−2−ジアジ
ド−4−スルホン酸と、2.3.4−トリヒドロキシベ
ンゾフェノンあるいは2,3゜4.4′−テトラヒドロ
キシベンゾフェノンあるいは没食子酸メチルあるいはピ
ロガロールの水酸基の一部あるいは全部がエステル化さ
れたもの、などがあげられる。これらの溶解抑止剤(感
光剤)は単独あるいは2種以上の混合物として用いるこ
とができる。
本発明の感光性組成物はシクロヘキサノン、エチルセル
ソルブアセテート、メチルセルソルブアセテート、メチ
ルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、アニソール
等の有機溶剤に溶解し、シリコンウェハ上に回転塗布し
て使用される。そして常法のように真空吸着式オーブン
などで乾燥後マスク、レチクル等を通して紫外線露光(
200〜450 nm ) Lt 、アルカリ水溶液で
の現僧及び乾燥してパターン形成を行う。上記アルカリ
水溶液としては、テトラメチルアンモニウムハイドロオ
キサイド、トリエタノールアミン、(2−ヒドロキシエ
チル)アンモニウムヒドロキシ等の有機アルカリ、ある
いは水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア水
等の無機アルカリの水溶液が用いられる。
ソルブアセテート、メチルセルソルブアセテート、メチ
ルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、アニソール
等の有機溶剤に溶解し、シリコンウェハ上に回転塗布し
て使用される。そして常法のように真空吸着式オーブン
などで乾燥後マスク、レチクル等を通して紫外線露光(
200〜450 nm ) Lt 、アルカリ水溶液で
の現僧及び乾燥してパターン形成を行う。上記アルカリ
水溶液としては、テトラメチルアンモニウムハイドロオ
キサイド、トリエタノールアミン、(2−ヒドロキシエ
チル)アンモニウムヒドロキシ等の有機アルカリ、ある
いは水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア水
等の無機アルカリの水溶液が用いられる。
この感光性組成物i*wlには必要に応じて染料。
可塑剤、接着剤、現像加速剤、界面活性剤等の添加物を
混合して用いても良い。
混合して用いても良い。
(作 用)
この発明の感光性組成物溶液が上記した特に塗布性の良
さ、更にクラックの発生がないことの作用機構は、上述
の立体的構造に起因しての立体障害が少ない0−ニトロ
ベンジロキシカルボニル基が導入されたことにより分子
におけるひずみが少なくなることによると考えられる。
さ、更にクラックの発生がないことの作用機構は、上述
の立体的構造に起因しての立体障害が少ない0−ニトロ
ベンジロキシカルボニル基が導入されたことにより分子
におけるひずみが少なくなることによると考えられる。
また解像性の向上に関しては、上記溶解抑止剤のみの極
性変化に依存せず樹脂そのものにも極性変化を生じさせ
る作用によるためと考えられる。
性変化に依存せず樹脂そのものにも極性変化を生じさせ
る作用によるためと考えられる。
(実施例)
以下本発明を実施例により具体的に説明する。
実施例1
ホスゲン及びO−ニトロベンジルアルコールの重量比1
: 1配合で上記合成法にて調製した。 −ニトロベン
ジルクロロホーメート70gを、ポリビニルフェノール
〔丸善石油化学製Mw = 8.000)50gとトリ
エチルアミン50gを1.4−ジオキサン500 mL
に溶解し水溶で冷却した溶液中に60分かけて滴下した
。その後室温で一夜かくはんを行い生成した塩を濾過し
炉液を21の水中に投入した。生じた沈殿を炉別しさら
に水11で3回洗浄し更に乾燥してビニルフェノールの
0−ニトロベンジロキシカーボネート化物80gを得た
。
: 1配合で上記合成法にて調製した。 −ニトロベン
ジルクロロホーメート70gを、ポリビニルフェノール
〔丸善石油化学製Mw = 8.000)50gとトリ
エチルアミン50gを1.4−ジオキサン500 mL
に溶解し水溶で冷却した溶液中に60分かけて滴下した
。その後室温で一夜かくはんを行い生成した塩を濾過し
炉液を21の水中に投入した。生じた沈殿を炉別しさら
に水11で3回洗浄し更に乾燥してビニルフェノールの
0−ニトロベンジロキシカーボネート化物80gを得た
。
炭酸エステル化率はNMRによる測定で約70%であっ
た。
た。
得られた樹脂20gと2.3.4.4’−テトラヒドロ
キシベンゾフェノント1.2−ナフトキノン−2=ジア
ジド−4−スルホン酸クロリドから調製したエステル3
.5gとをエチルセルソルブアセテート90 mLに溶
解後、1 pm及び0.45μm、次いで、0.2μm
のフィルターで濾過してレジスト溶液を調製した。
キシベンゾフェノント1.2−ナフトキノン−2=ジア
ジド−4−スルホン酸クロリドから調製したエステル3
.5gとをエチルセルソルブアセテート90 mLに溶
解後、1 pm及び0.45μm、次いで、0.2μm
のフィルターで濾過してレジスト溶液を調製した。
このレジスト溶液を用い、200℃1分でデバイトレー
ジョンベークを行い、次いで室温で1分間OAP (東
京応化製へキサメチルジシラザン)蒸気処理を行なった
シリコンウェハ上にスピンナーにより塗布し真空吸着式
ホットプレート上で、100℃1分間乾燥し、1.07
μm膜厚の感光膜を得た。この基板を、g−線の縮小投
影型露光装置(開口数0.35、日本光学製)を用い、
テストレチクル(自作0.5μm、0.55μm、0.
6μm。
ジョンベークを行い、次いで室温で1分間OAP (東
京応化製へキサメチルジシラザン)蒸気処理を行なった
シリコンウェハ上にスピンナーにより塗布し真空吸着式
ホットプレート上で、100℃1分間乾燥し、1.07
μm膜厚の感光膜を得た。この基板を、g−線の縮小投
影型露光装置(開口数0.35、日本光学製)を用い、
テストレチクル(自作0.5μm、0.55μm、0.
6μm。
0.7μmラインアンドスペースのパターンを含む)を
用いてテストパターンを焼つけた後、0.1規定のテト
ラメチルアンモニウムハイドロオキサイド水溶液にて4
0秒間デイツプ現像を行なった。その後、105℃の真
空吸着式ホットプレート上で1分間乾燥した。SEMQ
察を行なった結果、0.6μmラインアンドスペースが
、解(象されていた。
用いてテストパターンを焼つけた後、0.1規定のテト
ラメチルアンモニウムハイドロオキサイド水溶液にて4
0秒間デイツプ現像を行なった。その後、105℃の真
空吸着式ホットプレート上で1分間乾燥した。SEMQ
察を行なった結果、0.6μmラインアンドスペースが
、解(象されていた。
比較例1
樹脂として上述の炭酸エステル化を行わないポリビニル
フェノール15gをレジスト溶液用のベース樹脂として
用いた他は実施例1と全(同様にして、パターン形成を
行ない、同様にSEM[l察を行なった0017μmラ
インアンドスペースのパターンが解像されていた。
フェノール15gをレジスト溶液用のベース樹脂として
用いた他は実施例1と全(同様にして、パターン形成を
行ない、同様にSEM[l察を行なった0017μmラ
インアンドスペースのパターンが解像されていた。
比較例2
樹脂として従来技術の一つとして上記に説明した0−ニ
トロベンジルエーテル化を行ったポリビニルフェノール
(エーテル化率70%)ヲ合成シた。実施例1と同様に
してレジスト溶液を調製しコーティングを行なったとこ
ろ、ウェハ周辺部がら多数のクラックが発生した。
トロベンジルエーテル化を行ったポリビニルフェノール
(エーテル化率70%)ヲ合成シた。実施例1と同様に
してレジスト溶液を調製しコーティングを行なったとこ
ろ、ウェハ周辺部がら多数のクラックが発生した。
実施例2
樹脂として精製したパラクレゾールノボラック樹脂50
gを用いた他は、実施例1と全く同様にして、レジスト
溶液を調製し、同様にパターン形成を行なった。SEM
li察を行なったところ0.55μmラインアンドスペ
ースのパターンが解像されていた。
gを用いた他は、実施例1と全く同様にして、レジスト
溶液を調製し、同様にパターン形成を行なった。SEM
li察を行なったところ0.55μmラインアンドスペ
ースのパターンが解像されていた。
比較例3
樹脂として上記の炭酸エステル化を行ないパラクレゾー
ルノボラック樹脂50gをそのままレジスト用のペース
樹脂として用いた他は、実施例1と全く同様にしてパタ
ーン形成を行なった。SEM観察を行なった結果、0.
8μmラインアンドスペースのパターンが解像されてい
た。
ルノボラック樹脂50gをそのままレジスト用のペース
樹脂として用いた他は、実施例1と全く同様にしてパタ
ーン形成を行なった。SEM観察を行なった結果、0.
8μmラインアンドスペースのパターンが解像されてい
た。
比較例4
樹脂として上述の0−ニトロベンジルエーテル化e 行
った。パラクレゾールノボラック樹脂20g(エーテル
化率70%)を用いた外は実施例1と全く同様にしてレ
ジスト溶液を調製しようとしたが、溶媒であるエチルセ
ルソルブアセテート(こ溶解させることが非常に困難で
あった。そこで濾過を行なった溶液を用いて、シリコン
ウェハ上にスピンコーティングを行なったカリ、膜厚を
厚くすることができず、しかもウニ/’%周辺部よりク
ラックが発生した。
った。パラクレゾールノボラック樹脂20g(エーテル
化率70%)を用いた外は実施例1と全く同様にしてレ
ジスト溶液を調製しようとしたが、溶媒であるエチルセ
ルソルブアセテート(こ溶解させることが非常に困難で
あった。そこで濾過を行なった溶液を用いて、シリコン
ウェハ上にスピンコーティングを行なったカリ、膜厚を
厚くすることができず、しかもウニ/’%周辺部よりク
ラックが発生した。
実施例3
実施例1で調製したレジスト溶液にさらに、実施例1で
合成した樹脂を10g加えた後同様にが過した溶液を用
い2インチシリコンウェハー上に塗布し、同様にして1
.05μmの感光層を得た。
合成した樹脂を10g加えた後同様にが過した溶液を用
い2インチシリコンウェハー上に塗布し、同様にして1
.05μmの感光層を得た。
これを遠紫外線密着型露光装置(PLA−5213キヤ
ノン製)を用い、CM−250コールドミラーを通過し
た光で自作マスクを用いてテストパターンの露光を行っ
た。同様にして、現像処理を行ない断面SEMii察を
行なったところ、0.4μmラインアンドスペースが解
像されていた。
ノン製)を用い、CM−250コールドミラーを通過し
た光で自作マスクを用いてテストパターンの露光を行っ
た。同様にして、現像処理を行ない断面SEMii察を
行なったところ、0.4μmラインアンドスペースが解
像されていた。
実施例4
実施例2で調製したレジスト溶液に、さらに実施例2で
合成した炭酸エステル化を行った樹脂10gを加え、同
様に濾過を行ないレジスト溶液を調製した。これを実施
例3と同様にして露光を行ない、現像処理して断面SE
Mii察を行なったところ、0.4μmラインアンドス
ペースが解像されていた。
合成した炭酸エステル化を行った樹脂10gを加え、同
様に濾過を行ないレジスト溶液を調製した。これを実施
例3と同様にして露光を行ない、現像処理して断面SE
Mii察を行なったところ、0.4μmラインアンドス
ペースが解像されていた。
(発明の効果)
以上詳細に説明しtコようにこの発明の感光性組成物に
よれば、感光性基として、0−ニトロベンジロキシカル
ボニル基が結合されたものであることから、仮りに該感
光性基の含有量を増加させても、上記従来の如く溶解性
の低下及びクラック発生がなく塗布性が著しく改善され
、かつ解像性が著しく向上した感光性組成物が提供可能
となるのであり、その工業的利用効果は極めて大きい。
よれば、感光性基として、0−ニトロベンジロキシカル
ボニル基が結合されたものであることから、仮りに該感
光性基の含有量を増加させても、上記従来の如く溶解性
の低下及びクラック発生がなく塗布性が著しく改善され
、かつ解像性が著しく向上した感光性組成物が提供可能
となるのであり、その工業的利用効果は極めて大きい。
そして更に、本発明の感光性組成物は最近注目されてい
るKrFエキシマ−レーザーを光源に用いた縮小投影型
露光法にも適用できるのでありパターンの超微細化が可
能となる等の効果を有する。
るKrFエキシマ−レーザーを光源に用いた縮小投影型
露光法にも適用できるのでありパターンの超微細化が可
能となる等の効果を有する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 フェノール骨格、クレゾール骨格あるいはキシレノール
骨格を有する樹脂と、溶解抑止剤(感光剤)との混合物
から構成される感光性組成物において、上記フェノール
、クレゾールあるいはキシレノールの水酸基の一部ある
いは全部に 一般式、 ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中R_1〜R_4は水素、ハロゲン(塩素、臭素、
フッ素)、アルコキシ基(メトキシ基、エトキシ基)、
アルキル基(メチル基、エチル基、イソプロピル基、t
−ブチル基)、の中から選ばれる。) で表わされるo−ニトロベンジロキシカルボニル基を結
合させた化合物を含有させたことを特徴とする感光性組
成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5939488A JPH01233447A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 感光性組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5939488A JPH01233447A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 感光性組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01233447A true JPH01233447A (ja) | 1989-09-19 |
Family
ID=13112026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5939488A Pending JPH01233447A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 感光性組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01233447A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0562025A4 (ja) * | 1990-12-06 | 1994-03-30 | Affymax Technologies N.V. | |
US5744101A (en) * | 1989-06-07 | 1998-04-28 | Affymax Technologies N.V. | Photolabile nucleoside protecting groups |
JP2008013745A (ja) * | 2006-06-09 | 2008-01-24 | Canon Inc | 感光性化合物、感光性組成物、レジストパターンの形成方法及び基板の加工方法 |
-
1988
- 1988-03-15 JP JP5939488A patent/JPH01233447A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5744101A (en) * | 1989-06-07 | 1998-04-28 | Affymax Technologies N.V. | Photolabile nucleoside protecting groups |
US5744305A (en) * | 1989-06-07 | 1998-04-28 | Affymetrix, Inc. | Arrays of materials attached to a substrate |
US6124102A (en) * | 1989-06-07 | 2000-09-26 | Affymetrix, Inc. | Methods for determining receptor-ligand binding using probe arrays |
US6600031B1 (en) * | 1989-06-07 | 2003-07-29 | Affymetrix, Inc. | Methods of making nucleic acid or oligonucleotide arrays |
EP0562025A4 (ja) * | 1990-12-06 | 1994-03-30 | Affymax Technologies N.V. | |
EP1046421A3 (en) * | 1990-12-06 | 2001-09-19 | Affymetrix, Inc. | Methods and reagents for very large scale immobilized polymer synthesis |
JP2008013745A (ja) * | 2006-06-09 | 2008-01-24 | Canon Inc | 感光性化合物、感光性組成物、レジストパターンの形成方法及び基板の加工方法 |
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