JPH01224621A - 位置検出方法又は装置 - Google Patents
位置検出方法又は装置Info
- Publication number
- JPH01224621A JPH01224621A JP63049534A JP4953488A JPH01224621A JP H01224621 A JPH01224621 A JP H01224621A JP 63049534 A JP63049534 A JP 63049534A JP 4953488 A JP4953488 A JP 4953488A JP H01224621 A JPH01224621 A JP H01224621A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- output
- phase
- fine
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 41
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 32
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 7
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 244000145845 chattering Species 0.000 description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 235000007575 Calluna vulgaris Nutrition 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
- G01D5/24409—Interpolation using memories
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は移動体の位置や速度を検出するものに関する。
従来、移動体の位置を検出する一手法として、我々発明
者等は既に特開昭６０−２１６２６２号公報および特開
昭６１−８６６１０号公報記載の発明を提案している。
者等は既に特開昭６０−２１６２６２号公報および特開
昭６１−８６６１０号公報記載の発明を提案している。
これらの公報記載の手法は、いずれも二相のエンコーダ
信号に基づいて位置を検出しようとするものである。具
体的には、２相の所定の搬送波である周期波あるいは鋸
波状波から例えば零電圧等の特定値と比較し、その零ク
ロス点がらパルスを作成し、粗位置として記憶回路に記
憶する。
信号に基づいて位置を検出しようとするものである。具
体的には、２相の所定の搬送波である周期波あるいは鋸
波状波から例えば零電圧等の特定値と比較し、その零ク
ロス点がらパルスを作成し、粗位置として記憶回路に記
憶する。
そして、パルス間の微細位置は、この周期波のアナログ
値から検出するものである。
値から検出するものである。
前記公開公報記載のものでは、パルス間の位置の検出が
補間制御あるいはオブザーバ等による予測制御で行なわ
れるために絶対的な位置の検出を行なうことが困難であ
る。すなわち、粗位置を検出するためのパルスは前記周
期波の零クロス点で発生するが、周期波はアナログ値で
あるためノイズが重畳されると前記パルスの発生位置が
チャタリング等により大きく変動してしまう。これを防
止するための一手法として検出すべき基準値を零クロス
ではなく、所定のヒステリシスを持たせた幅を有する二
つの基準値としてノイズによる誤動作を防止する技術が
知られている、 しかしながら、前記基準値にヒステリシスをもたせると
、粗位置検出のためのパルスの発生位置は微細位置と必
ずしも一致せず、位置、特に検出される微細位置が不連
続になってしまう。
補間制御あるいはオブザーバ等による予測制御で行なわ
れるために絶対的な位置の検出を行なうことが困難であ
る。すなわち、粗位置を検出するためのパルスは前記周
期波の零クロス点で発生するが、周期波はアナログ値で
あるためノイズが重畳されると前記パルスの発生位置が
チャタリング等により大きく変動してしまう。これを防
止するための一手法として検出すべき基準値を零クロス
ではなく、所定のヒステリシスを持たせた幅を有する二
つの基準値としてノイズによる誤動作を防止する技術が
知られている、 しかしながら、前記基準値にヒステリシスをもたせると
、粗位置検出のためのパルスの発生位置は微細位置と必
ずしも一致せず、位置、特に検出される微細位置が不連
続になってしまう。
本発明は基準値にヒステリシスを設けて耐ノイズ性を高
めても、微細位置の検出に不連続が生じないようにし、
正確な微細位置の検出を行い得るようにすることを目的
とするものである。
めても、微細位置の検出に不連続が生じないようにし、
正確な微細位置の検出を行い得るようにすることを目的
とするものである。
本発明は前記に着目し、その方法および構成は次のとお
りである。
りである。
すなわち、その方法は、二相の周期波のうち、いずれか
一方の周期波とヒステリシスを有する一定の基準値とを
比較し、この周期波の１／２周期を単位として粗位置を
検出し、前記二相の周期波と零クロス値をサンプリング
時間毎にＡ／Ｄ変換して微細位置を検出し、 これらの粗位置と微細位置の両者から位置を検出するも
のであって、前記ヒステリシスから生じる粗位置の起点
付近の誤差を前記で検出された粗位置および微細位置の
相互関係に基づいて補正するものであり、又、その構成
は、移動体と、この移動体の位置に応じて生成され、相
互に１／４周期の位相差を有する二相の周期波を出方す
る位置検出器と、この位置検出器から得られた二相の周
期波のうち一相の１／２周期毎に一定の基準値と比較し
、一致したときに粗位置出方信号を出方し、前記二相の
周期波から上記移動体の変位方向を検出するための正逆
二つの変位パルス信号を作る波形処理回路と、その正逆
二つの変位パルス信号を加減計数して前記移動体の上記
二相周期波のうち一相分に対する１／２周期を単位とし
てＭｌ（々置を検出するＵ／Ｄカウンタと、前記二相周
期波の出力の各相と零値をサンプリング時間毎にＡ／Ｄ
変換し微細位置回路により微細位置を検出し、＄１１位
置と微細位置を合成して位置を検出するものであって、
その波形処理及び変位パルス計数により発生する粗位置
の誤差を補正するのに供される上記二相周期波形から粗
位置と微細位置から、初期時にＵ／Ｄカウンタの初期化
と原点区間番号の選択と周回絶対位置を検出する周回絶
対位置回路と検出したＵｌＤカウンタの出力と周回絶対
位置から位置補正する位置補正回路とＵ／Ｄカウンタの
出力と位置補正回路の出力から粗位置を補正する粗位置
回路と粗位置回路の出力と微細位置回路の出力から位置
を検出する位置合成回路を惧えたことを特徴とする位置
検出装置である。
一方の周期波とヒステリシスを有する一定の基準値とを
比較し、この周期波の１／２周期を単位として粗位置を
検出し、前記二相の周期波と零クロス値をサンプリング
時間毎にＡ／Ｄ変換して微細位置を検出し、 これらの粗位置と微細位置の両者から位置を検出するも
のであって、前記ヒステリシスから生じる粗位置の起点
付近の誤差を前記で検出された粗位置および微細位置の
相互関係に基づいて補正するものであり、又、その構成
は、移動体と、この移動体の位置に応じて生成され、相
互に１／４周期の位相差を有する二相の周期波を出方す
る位置検出器と、この位置検出器から得られた二相の周
期波のうち一相の１／２周期毎に一定の基準値と比較し
、一致したときに粗位置出方信号を出方し、前記二相の
周期波から上記移動体の変位方向を検出するための正逆
二つの変位パルス信号を作る波形処理回路と、その正逆
二つの変位パルス信号を加減計数して前記移動体の上記
二相周期波のうち一相分に対する１／２周期を単位とし
てＭｌ（々置を検出するＵ／Ｄカウンタと、前記二相周
期波の出力の各相と零値をサンプリング時間毎にＡ／Ｄ
変換し微細位置回路により微細位置を検出し、＄１１位
置と微細位置を合成して位置を検出するものであって、
その波形処理及び変位パルス計数により発生する粗位置
の誤差を補正するのに供される上記二相周期波形から粗
位置と微細位置から、初期時にＵ／Ｄカウンタの初期化
と原点区間番号の選択と周回絶対位置を検出する周回絶
対位置回路と検出したＵｌＤカウンタの出力と周回絶対
位置から位置補正する位置補正回路とＵ／Ｄカウンタの
出力と位置補正回路の出力から粗位置を補正する粗位置
回路と粗位置回路の出力と微細位置回路の出力から位置
を検出する位置合成回路を惧えたことを特徴とする位置
検出装置である。
前記ヒステリシスは変位パルスのチャタリングを防止す
るように作用し、一方、前記位置補正回路は前記ヒステ
リシスにより生ずる粗の計数誤差を補正するように作用
するので、正確な位置の検出をすることができる。
るように作用し、一方、前記位置補正回路は前記ヒステ
リシスにより生ずる粗の計数誤差を補正するように作用
するので、正確な位置の検出をすることができる。
以下、本発明の構成の一実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
ここで第１図は、本発明の一実施例に係る位置検出装置
の詳細ブロック図、第２図は周回絶対位置と周回動作位
置の検出方法の原理図、第３図は位置検出方法の原理図
、第４図は粗位置と微細位置から位置を検出するための
原理図、第５図は粗位置と微細位置の位置検出のタイム
チャート、第６図はｔａｎ ｅ ｆのテーブルを示す図
、第７図は位置補正をしない場合のタイムチャート、第
８図は、補正判定、第９図は補正値、第１０．１１図は
ソフトウェアの構成図を示す。
の詳細ブロック図、第２図は周回絶対位置と周回動作位
置の検出方法の原理図、第３図は位置検出方法の原理図
、第４図は粗位置と微細位置から位置を検出するための
原理図、第５図は粗位置と微細位置の位置検出のタイム
チャート、第６図はｔａｎ ｅ ｆのテーブルを示す図
、第７図は位置補正をしない場合のタイムチャート、第
８図は、補正判定、第９図は補正値、第１０．１１図は
ソフトウェアの構成図を示す。
本発明の構成の具体例は第１図に示されるが、この構成
の説明に先たち、第４図ないし第７図に基づいて本発明
の位置の検出原理手法を説明する。
の説明に先たち、第４図ないし第７図に基づいて本発明
の位置の検出原理手法を説明する。
第４図において、１は１／４周期位相のずれた互いに同
形状の二相の周期波を出力する位置検出器、２は特定値
から矩形波状原信号ｅａ’ と変位パルスＴ１及びＴ
２を作る波形処理回路、３は変位パルスＴ１またはＴ２
によりアップダウンするＵ／Ｄカウンタ、４はサンプリ
ング周期を作るサンプリング回路、５はサンプリング出
力によりＵ／Ｄカウンタの値をラッチするラッチ回路、
６は位置検出原信号をサンプリング出力のタイミングで
サンプルホールドするサンプルホールド回路、７はサン
プルホールドの時間内で発生するランプ信号発生回路、
８はサンプルホールド値とランプ信号を比較し、Ａ相パ
ルス幅Ｂ相パルス幅、零値パルス幅を作る比較器、９は
上記パルス幅を計数するタイマ、１０は前記の比較器８
とタイマ９を包含するＡ／Ｄ変換器、１１はラッチ回路
の出力を数倍してθｓｕを得る粗位置回路、１２はＴａ
、 ＴｂｙＴｃからｔａｎθ□を演算してＯＳ□を得る
微細位置回路、１３は粗位置θｓｕと微細位置θｓｔを
加算する位置合成回路である。第５図は動作のタイムチ
ャートである。図において、位置検出原信号はＡ相。
形状の二相の周期波を出力する位置検出器、２は特定値
から矩形波状原信号ｅａ’ と変位パルスＴ１及びＴ
２を作る波形処理回路、３は変位パルスＴ１またはＴ２
によりアップダウンするＵ／Ｄカウンタ、４はサンプリ
ング周期を作るサンプリング回路、５はサンプリング出
力によりＵ／Ｄカウンタの値をラッチするラッチ回路、
６は位置検出原信号をサンプリング出力のタイミングで
サンプルホールドするサンプルホールド回路、７はサン
プルホールドの時間内で発生するランプ信号発生回路、
８はサンプルホールド値とランプ信号を比較し、Ａ相パ
ルス幅Ｂ相パルス幅、零値パルス幅を作る比較器、９は
上記パルス幅を計数するタイマ、１０は前記の比較器８
とタイマ９を包含するＡ／Ｄ変換器、１１はラッチ回路
の出力を数倍してθｓｕを得る粗位置回路、１２はＴａ
、 ＴｂｙＴｃからｔａｎθ□を演算してＯＳ□を得る
微細位置回路、１３は粗位置θｓｕと微細位置θｓｔを
加算する位置合成回路である。第５図は動作のタイムチ
ャートである。図において、位置検出原信号はＡ相。
Ｂ相の２相正弦波を有する周期波である。波形処理回路
２ではＡ相が特定値ｅｃと交差する点で変位パルスＴ１
を発生させる。ただし、変位パルスは正転ではＴｌ、逆
転ではＴ２が発生する。Ｔ１またはＴ２信号によりＵ／
Ｄカウンタ３がカウントＵｐまたはＤｏｗｎする。Ｕ／
Ｄカウンタ３の出力θ、はサンプリング信号第５図の■
ｔ（。−１）の点でラッチ回路５により保持され、粗位
置回路１１により粗位置信号θｓｕに変換される。粗位
置信号は次式で与えられる。
２ではＡ相が特定値ｅｃと交差する点で変位パルスＴ１
を発生させる。ただし、変位パルスは正転ではＴｌ、逆
転ではＴ２が発生する。Ｔ１またはＴ２信号によりＵ／
Ｄカウンタ３がカウントＵｐまたはＤｏｗｎする。Ｕ／
Ｄカウンタ３の出力θ、はサンプリング信号第５図の■
ｔ（。−１）の点でラッチ回路５により保持され、粗位
置回路１１により粗位置信号θｓｕに変換される。粗位
置信号は次式で与えられる。
θｓｕ＝θｒＸＫｓｕ ’・・（
１）ただしＫｓｕは定数。
１）ただしＫｓｕは定数。
サンプリング信号は第４図の如くホールド時間Ｔｈ、フ
リー時間Ｔｔ を発生する。このホールド開始点■ｔ
（ｎ−ｔ）でＵｌＤカウンタの値θ、をラッチ回路でラ
ッチしθ１．とする。一方位置検出原信号をホールド開
始点■ｊ （ｎ−ｔ）でサンプルホールド回路へでホー
ルドし、ｅｂｔ ｅｂｇ ｅｔ とする。
リー時間Ｔｔ を発生する。このホールド開始点■ｔ
（ｎ−ｔ）でＵｌＤカウンタの値θ、をラッチ回路でラ
ッチしθ１．とする。一方位置検出原信号をホールド開
始点■ｊ （ｎ−ｔ）でサンプルホールド回路へでホー
ルドし、ｅｂｔ ｅｂｇ ｅｔ とする。
ただし１３ａはＡ相のサンプル値、ｅｂはＢ相のサンプ
ル値、ｅｃは特定値のサンプル値である。
ル値、ｅｃは特定値のサンプル値である。
ランプ信号はサンプルホールド時間Ｔ、ｈにおいて正負
に発生する。このとき比較器８ではランプ信号と８１ｇ
ｅｂｔ ｅａと比較し、それぞれＡ相パルス幅、Ｂ相
パルス幅、零値パルス幅を形成する。
に発生する。このとき比較器８ではランプ信号と８１ｇ
ｅｂｔ ｅａと比較し、それぞれＡ相パルス幅、Ｂ相
パルス幅、零値パルス幅を形成する。
タイマ９ではこれらのパルスをマイコンのクロックパル
スで正確に計数しＴａ、’ｒ、、Ｔｃとする。
スで正確に計数しＴａ、’ｒ、、Ｔｃとする。
ここで比較器８とタイマ９は両機能を有している市販の
Ａ／Ｄ変換器１０を使用してもよい。微細位置回路１２
では次の演算を行う。
Ａ／Ｄ変換器１０を使用してもよい。微細位置回路１２
では次の演算を行う。
Ｅ＾＝Ｋｚ（Ｔａ Ｔｃ） −（
２）ＥＢ＝Ｋｚ （Ｔｂ Ｔｃ）
−（３）θｚ＝Ｋｔｔａｎ−’ （ＩＥａｌ／ １Ｅ
ｂｌ） −（４）ただし、Ｅ ａ Ｘ Ｅ ｂ
＜ ＯＫ ｔ ：定数θｚ＝ ｋｚｔａｎ−’ （Ｉ
Ｅｂｌ／ １Ｅａｌ） ’・・（５）ただし、
ＥａＸＥｂ＞０ このとき（３）、 （４）式の演算は時間がかかるので
ただし、Ｋ＆：定数また い Ｘ １＝ｔａｎθ、ＸＫ、
−（ｇ）ただし、Ｋ１ ：定数 第６図に示すようにテーブルに保管しておきＸｌとＹを
比較して一致したアドレスＯＳｔを微細位置とする。位
置０５は粗位置Ｏ５ｕと微細位置θｓｔから Ｏｓ＝ Ｏｓｕ十〇ｓ区 ・＝Ｃ
９）の式を用いて求められる。第７図は位置検出のタイ
ムチャートである６位置検出原信号から変位パルスＴＩ
を発生させるとき、変位パルスＴ１は原信号にヒステリ
シス＋ａｈ、−ａｈの影響を受けて、位相Ｏｈ遅れる。
２）ＥＢ＝Ｋｚ （Ｔｂ Ｔｃ）
−（３）θｚ＝Ｋｔｔａｎ−’ （ＩＥａｌ／ １Ｅ
ｂｌ） −（４）ただし、Ｅ ａ Ｘ Ｅ ｂ
＜ ＯＫ ｔ ：定数θｚ＝ ｋｚｔａｎ−’ （Ｉ
Ｅｂｌ／ １Ｅａｌ） ’・・（５）ただし、
ＥａＸＥｂ＞０ このとき（３）、 （４）式の演算は時間がかかるので
ただし、Ｋ＆：定数また い Ｘ １＝ｔａｎθ、ＸＫ、
−（ｇ）ただし、Ｋ１ ：定数 第６図に示すようにテーブルに保管しておきＸｌとＹを
比較して一致したアドレスＯＳｔを微細位置とする。位
置０５は粗位置Ｏ５ｕと微細位置θｓｔから Ｏｓ＝ Ｏｓｕ十〇ｓ区 ・＝Ｃ
９）の式を用いて求められる。第７図は位置検出のタイ
ムチャートである６位置検出原信号から変位パルスＴＩ
を発生させるとき、変位パルスＴ１は原信号にヒステリ
シス＋ａｈ、−ａｈの影響を受けて、位相Ｏｈ遅れる。
粗位置の変位点はさらに変位パルスによる計数時間Ｔａ
により遅れる。微細位置θｓｔは位置検出原信号の一相
の零点に同期している。このため位置Ｏ５はθｈ ＋
Ｔ ａの区間で非連続になる。この非連続部を検出し、
粗位置θｓｕを補正する必要がある。
により遅れる。微細位置θｓｔは位置検出原信号の一相
の零点に同期している。このため位置Ｏ５はθｈ ＋
Ｔ ａの区間で非連続になる。この非連続部を検出し、
粗位置θｓｕを補正する必要がある。
このようにして、本発明の位置は検出される。
次に、第１図の具体的構成図等に基づいて詳細説明する
。
。
第１図において、工ないし１４は第４図において説明し
た名称と同一の部品を示す。１５は初期状態に位置検出
器１の原信号の符号から決定する原点区間番号回路、１
６は動作中に位置検出器１の原信号の符号から決定する
周回絶対位置回路、１７はタイマ９からの信号を前記（
２）、 （３）式を用いてＥ＾、Ｅａ倍信号得る回路と
（６）、 （７）式からＹを得る微細位置検出回路であ
る。１８は初期時にＵ／Ｄカウンタ３の初期化と原点区
間番号回路１５の状態を決定する初期指令回路である。
た名称と同一の部品を示す。１５は初期状態に位置検出
器１の原信号の符号から決定する原点区間番号回路、１
６は動作中に位置検出器１の原信号の符号から決定する
周回絶対位置回路、１７はタイマ９からの信号を前記（
２）、 （３）式を用いてＥ＾、Ｅａ倍信号得る回路と
（６）、 （７）式からＹを得る微細位置検出回路であ
る。１８は初期時にＵ／Ｄカウンタ３の初期化と原点区
間番号回路１５の状態を決定する初期指令回路である。
第１図において、始動時に、移動体、たとえばモータ等
の回転体に接続されたロータリーエンコーダのような位
置検出器より出力される１／４周期位相差のある二相周
期波を出力する位置検出器１の原信号ｅｈ倍信号及びｅ
ｂ倍信号ある。このとき第２図および第３図に示すよう
に波形処理回路２では特定値ｅｃに対し±ａｈのヒステ
リシスを持つ比較器により大小を比較して、第３図の矩
形波状原信号ｅａ’ 信号を得る。このとき矩形波状
原信号ｅａ″ は特定値ｅｃと位置検出原信号ｅａ倍信
号交点からθｈのヒステリシス遅れを生ずる。
の回転体に接続されたロータリーエンコーダのような位
置検出器より出力される１／４周期位相差のある二相周
期波を出力する位置検出器１の原信号ｅｈ倍信号及びｅ
ｂ倍信号ある。このとき第２図および第３図に示すよう
に波形処理回路２では特定値ｅｃに対し±ａｈのヒステ
リシスを持つ比較器により大小を比較して、第３図の矩
形波状原信号ｅａ’ 信号を得る。このとき矩形波状
原信号ｅａ″ は特定値ｅｃと位置検出原信号ｅａ倍信
号交点からθｈのヒステリシス遅れを生ずる。
矩形波状原信号ｅａ’ 信号の立上りまたは立下りに
同期して変位パルスＴ１またはＴ２が発生する。
同期して変位パルスＴ１またはＴ２が発生する。
Ｔ１とＴ２は回転体の変位方向に関係し、正方向変位時
は正変位パルスＴｚのみを、逆方向変位時には逆変位パ
ルスＴ２のみを発生する。Ｕ／Ｄカウンタ３はＴ１また
はＴ２によりアップダウンされるが、このとき変位パル
スに対してＴｄの時間遅れを生じる。また位置検出器１
の原信号ｅａ、 ｅｂはサンプリング回路からの出力信
号により（第５図参照）■ｔ（。−１）でサンプルホー
ルドされ、比較器８はランプ信号発生回路７とサンプル
ホールド値ｅａ、ｅｂと特定値ｅｃ を比較し、Ａ相パ
ルス幅、Ｂ相パルス幅、Ｃ相パルス幅を作り、タイマ９
においてそれぞれ計数してＴａ、Ｔｂ、Ｔｃを求める。
は正変位パルスＴｚのみを、逆方向変位時には逆変位パ
ルスＴ２のみを発生する。Ｕ／Ｄカウンタ３はＴ１また
はＴ２によりアップダウンされるが、このとき変位パル
スに対してＴｄの時間遅れを生じる。また位置検出器１
の原信号ｅａ、 ｅｂはサンプリング回路からの出力信
号により（第５図参照）■ｔ（。−１）でサンプルホー
ルドされ、比較器８はランプ信号発生回路７とサンプル
ホールド値ｅａ、ｅｂと特定値ｅｃ を比較し、Ａ相パ
ルス幅、Ｂ相パルス幅、Ｃ相パルス幅を作り、タイマ９
においてそれぞれ計数してＴａ、Ｔｂ、Ｔｃを求める。
微細位置検出回路１７は前記（２）、 （３）式を用い
てＥａ、Ｅｂを符号術で演算する。また微細位置検出回
路１７は前記（６）、 （７）式を用いＹを演算する。
てＥａ、Ｅｂを符号術で演算する。また微細位置検出回
路１７は前記（６）、 （７）式を用いＹを演算する。
微細位置回路１２は前記（８）式のＸｉとＹから微細位
置信号θｓｔを演算する。このとき第７図でも説明した
ようにＵ／Ｄカウンタθ、Ｕの変位点と微細位置回路信
号Ｏ８，の零点が一致しない。
置信号θｓｔを演算する。このとき第７図でも説明した
ようにＵ／Ｄカウンタθ、Ｕの変位点と微細位置回路信
号Ｏ８，の零点が一致しない。
本発明では原点区間番号回路１５９周回絶対位置回路１
６．微細位置検出回路１７２位置補正回路１９、粗位置
回路１１．微細位置回路１２２位置合成回路１３を用い
てＵ／Ｄカウレタ３の出力Ｏｒｕから得られるラッチ回
路の出力０．信号と微細位置回路信号Ｏ３，の零点を一
致させるものである。
６．微細位置検出回路１７２位置補正回路１９、粗位置
回路１１．微細位置回路１２２位置合成回路１３を用い
てＵ／Ｄカウレタ３の出力Ｏｒｕから得られるラッチ回
路の出力０．信号と微細位置回路信号Ｏ３，の零点を一
致させるものである。
次にその方法を述べる。
回転体の始動時、すなわち位置検出器１が停止時に初期
指令回路１８からＵ／Ｄカウンタ３の初期化（零値にク
リヤ）と原点区間番号回路１５の初期化を行う。第２図
に示すように初期化時にｅ＆倍信号正のときを原点区間
番号ｍｏ＝１とし、負のときを原点区間番号ｍｏ：：Ｏ
とする。原点区間番号ｍｏ：１のときはｅａ倍信号正の
ときでありＵ／Ｄカウンタ３が零に初期化されたことに
なる。
指令回路１８からＵ／Ｄカウンタ３の初期化（零値にク
リヤ）と原点区間番号回路１５の初期化を行う。第２図
に示すように初期化時にｅ＆倍信号正のときを原点区間
番号ｍｏ＝１とし、負のときを原点区間番号ｍｏ：：Ｏ
とする。原点区間番号ｍｏ：１のときはｅａ倍信号正の
ときでありＵ／Ｄカウンタ３が零に初期化されたことに
なる。
そのため周回絶対位置回路１６の出力Ｔ５はｅ＆が正の
とき、バイナリ−表示で、有効数字２桁で／ｌ Ｑ Ｑ
ＩＩ、負のとき’ ０１ ”となる。また原点区間番
号ｍｏ：ｏのときｅ＆倍信号負のときにＵ／Ｄカウンタ
３が零に初期化されたことになる。そのため周回絶対位
置回路１６の出力Ｔ５はｅａが正のとき、バイナリ−表
示で有効数字２ＮｊでＬＬ ＯＩ ＨＨ２負のときＩＩ
ＯＯＩＩとなる。周回絶対位置信号Ｔ５は初期時に決
定する原点区間番号回路の出力ｍ。
とき、バイナリ−表示で、有効数字２桁で／ｌ Ｑ Ｑ
ＩＩ、負のとき’ ０１ ”となる。また原点区間番
号ｍｏ：ｏのときｅ＆倍信号負のときにＵ／Ｄカウンタ
３が零に初期化されたことになる。そのため周回絶対位
置回路１６の出力Ｔ５はｅａが正のとき、バイナリ−表
示で有効数字２ＮｊでＬＬ ＯＩ ＨＨ２負のときＩＩ
ＯＯＩＩとなる。周回絶対位置信号Ｔ５は初期時に決
定する原点区間番号回路の出力ｍ。
との関係は動作中不変となる。またｅａ倍信号符号の検
出は微細位置検出回路１７の出力信号Ｅ＾の符号により
行う。
出は微細位置検出回路１７の出力信号Ｅ＾の符号により
行う。
次に回転体が動作中の検出方法を説明する。
サンプリング回路４の出力信号によりＵ／Ｄカウンタ３
の出力θ、Ｕをラッチ回路５を介してＯｒが出力される
。このときθ、Ｕの位置検出器原信号に対する位相分布
は第３図に示すようにｅａ信号と特定値ｅｃ倍信号交点
からθゎ十Ｔ６の遅れを持つ。第３図は原点区間番号回
路の出力がｍｏ＝１のときの例である。検出はサンプリ
ング時間毎に微細位置検出回路１７の出力Ｅ＾から位置
検出原信号ｅ＆の正負を周回絶対位置回路１６で判定す
る。一方原点区間番号回路の出力ｍｏ を周回絶対位置
回路１６で判定し、第２図に示したように周回絶対位置
Ｔ５を決める。位置補正回路１９ではラッチ回路５の出
力θ、と周回絶対位置Ｔ６から次式でもって差分子６を
計算し、差分子ｏを２で割った剰余を求め、その剰余の
値により位置補正量Ｔ７信号を求める。
の出力θ、Ｕをラッチ回路５を介してＯｒが出力される
。このときθ、Ｕの位置検出器原信号に対する位相分布
は第３図に示すようにｅａ信号と特定値ｅｃ倍信号交点
からθゎ十Ｔ６の遅れを持つ。第３図は原点区間番号回
路の出力がｍｏ＝１のときの例である。検出はサンプリ
ング時間毎に微細位置検出回路１７の出力Ｅ＾から位置
検出原信号ｅ＆の正負を周回絶対位置回路１６で判定す
る。一方原点区間番号回路の出力ｍｏ を周回絶対位置
回路１６で判定し、第２図に示したように周回絶対位置
Ｔ５を決める。位置補正回路１９ではラッチ回路５の出
力θ、と周回絶対位置Ｔ６から次式でもって差分子６を
計算し、差分子ｏを２で割った剰余を求め、その剰余の
値により位置補正量Ｔ７信号を求める。
Ｔ６＝θｒＴδ ・・・（１０）位置
補正量Ｔ７の検出方式を述べる。Ｔｂはバイナリ−で下
２ビットが有効であるので差分子６も下２ビットが有効
である。第８図はＴ８の下２ビットからの補正の判定表
である。すなわち、 Ｔ。
補正量Ｔ７の検出方式を述べる。Ｔｂはバイナリ−で下
２ビットが有効であるので差分子６も下２ビットが有効
である。第８図はＴ８の下２ビットからの補正の判定表
である。すなわち、 Ｔ。
のＯビットの値が１１０ ＩＩのときは補正なし、１”
のときは補正量となる。
のときは補正量となる。
これはＴ・ が２で割切れるかどうかの判定である０次
にＴ＠の１ビツトの値がＯ”のときは正の補正、１”の
ときは負の補正となる。これらから位置補正量Ｔ７
を求めると第９図のようになる。Ｔｓ の２ビツトから
０．１，２．３の値がある。このときのＴ７ の値は０
，１．Ｏ，−１となる６粗位置回路１１ではラッチ回路
出力ｏｒとＴ７から補正する。
にＴ＠の１ビツトの値がＯ”のときは正の補正、１”の
ときは負の補正となる。これらから位置補正量Ｔ７
を求めると第９図のようになる。Ｔｓ の２ビツトから
０．１，２．３の値がある。このときのＴ７ の値は０
，１．Ｏ，−１となる６粗位置回路１１ではラッチ回路
出力ｏｒとＴ７から補正する。
Ｏｒ”θ−＋ Ｔｔ −（１１）
このθ、を（１）に代入して粗位置信号θｓｕとなる。
このθ、を（１）に代入して粗位置信号θｓｕとなる。
位置合成回路１３では（９）式を用いて位置信号θ５を
形成する。第３図は粗位置信号ＯＳＵ、微細位置信号θ
ｉｍ、位置信号θ８をアナログ的に表現した。
形成する。第３図は粗位置信号ＯＳＵ、微細位置信号θ
ｉｍ、位置信号θ８をアナログ的に表現した。
この動作において一点鎖線で囲んだ部分はマイクロコン
ピュータで置き変えることができる。
ピュータで置き変えることができる。
マイクロコンピュータで処理するときのソフ１へウェア
の詳細について説明する。ソフトウェアは大別して初期
化処理と位置検出処理に分けられる。
の詳細について説明する。ソフトウェアは大別して初期
化処理と位置検出処理に分けられる。
第１０図＃次初期化処理である。この処理は、前記ハー
ドウェアの起動時や再初期化の必要に応じて起動され、
１０１は前記サンプリング回路４を始動し、各信号の発
生の準備、検出の準備を行う。
ドウェアの起動時や再初期化の必要に応じて起動され、
１０１は前記サンプリング回路４を始動し、各信号の発
生の準備、検出の準備を行う。
１０２は初期指令を与えて、１０３はＵ／Ｄカウンタを
クリヤする。１０４は微細位置検出により原点区間番号
ｍｏの検出を行う。１０５でリダンサブルーチンでメイ
ン処理に戻す。第１１図は位置検出処理である。２０１
は位置検出器原信号ｅａｔ ｅｂ、ｃｃ、Ｕ／Ｄカウン
タの値からθ、を取込む。２０２は微細位置検出回路１
７の出力Ｅ＾の符号を求める。２０３は初期化処理で求
めた原点区間番号ｍｏとＥＡから周回絶対位置Ｔ５を求
める。２０４はラッチ回路の出力θ、と周回絶対位置Ｔ
５から位置補正Ｂｋ Ｔ ７を求める。２０５はラッチ
出力Ｏｒと位置補正量Ｔ７から粗位置ｏｓｕを求める。
クリヤする。１０４は微細位置検出により原点区間番号
ｍｏの検出を行う。１０５でリダンサブルーチンでメイ
ン処理に戻す。第１１図は位置検出処理である。２０１
は位置検出器原信号ｅａｔ ｅｂ、ｃｃ、Ｕ／Ｄカウン
タの値からθ、を取込む。２０２は微細位置検出回路１
７の出力Ｅ＾の符号を求める。２０３は初期化処理で求
めた原点区間番号ｍｏとＥＡから周回絶対位置Ｔ５を求
める。２０４はラッチ回路の出力θ、と周回絶対位置Ｔ
５から位置補正Ｂｋ Ｔ ７を求める。２０５はラッチ
出力Ｏｒと位置補正量Ｔ７から粗位置ｏｓｕを求める。
２０６は微細位置検出回路１７から（６）。
（７）式を用いてＹを求め第６図のｔａｎθ、テーブル
からθｓｔを求める。２０７は（９）式により粗位置と
微細位置を合成して位置信号θ８を求める。
からθｓｔを求める。２０７は（９）式により粗位置と
微細位置を合成して位置信号θ８を求める。
第１２図に他の実施例を示す。前記構成で、位置検出器
からの原信号にノイズ等が重畳されたとき第３図に示し
たように特定値ｅ。に対するヒステリシス電圧±ｅ、が
小さいと、位置検出器から変位方向を検出する正逆二つ
の変位パルス信号を作るとき、チャツタリングおよび誤
動作の原因になる。そのため、この他の実施例では別個
にヒステリシス回路２ｏを設けたものである。これによ
り誤動作がなくなり、正確な検出が期待できる。
からの原信号にノイズ等が重畳されたとき第３図に示し
たように特定値ｅ。に対するヒステリシス電圧±ｅ、が
小さいと、位置検出器から変位方向を検出する正逆二つ
の変位パルス信号を作るとき、チャツタリングおよび誤
動作の原因になる。そのため、この他の実施例では別個
にヒステリシス回路２ｏを設けたものである。これによ
り誤動作がなくなり、正確な検出が期待できる。
前記実施例は二相の周期波のうち一相の周期波に対し、
１／２周期を単位として粗位置あるいは微細位置の検出
を行なったものであるが、二相の周期波の２相分に対す
る１／４周期を単位として粗位置および微細位置を検出
することも同様にして行なうことができる。
１／２周期を単位として粗位置あるいは微細位置の検出
を行なったものであるが、二相の周期波の２相分に対す
る１／４周期を単位として粗位置および微細位置を検出
することも同様にして行なうことができる。
以上説明したように本発明によれば、まず移動体と、こ
の移動体の位置に応じて相互に１／４周期の位相差を有
する二相周期波を出力する位置検出器とを備え、この位
置検出器からの二相周期波から移動体の位置を検出する
方法において、前記二相の周期波のうち、いずれか一方
の周期波とヒステリシスを有する一定の基準値とを比較
し、この周期波の１７２周期を単位として粗位置を検出
し、前記二相の周期波を零クロス値をサンプリング時間
毎にＡ／Ｄ変換して微細位置を検出し、これらの粗位置
と微細位置の両者から位置を検出するものであって、前
記ヒステリシスから生じる粗位置の起点付近の誤差を前
記で検出された粗位置および微細位置の相互関係に基づ
いて補正する方法とし、又、その構成は波形処理及び変
位パルス計数により発生する粗位置の誤差を補正するの
に供される上記二相周期波形から粗位置と微細位置から
、初期時にＵ／Ｄカウンタの初期化と原点区間番号の選
択と周回絶対位置を検出する周回絶対位置回路と検出し
たＵ／Ｄカウンタの出力と周回 。
の移動体の位置に応じて相互に１／４周期の位相差を有
する二相周期波を出力する位置検出器とを備え、この位
置検出器からの二相周期波から移動体の位置を検出する
方法において、前記二相の周期波のうち、いずれか一方
の周期波とヒステリシスを有する一定の基準値とを比較
し、この周期波の１７２周期を単位として粗位置を検出
し、前記二相の周期波を零クロス値をサンプリング時間
毎にＡ／Ｄ変換して微細位置を検出し、これらの粗位置
と微細位置の両者から位置を検出するものであって、前
記ヒステリシスから生じる粗位置の起点付近の誤差を前
記で検出された粗位置および微細位置の相互関係に基づ
いて補正する方法とし、又、その構成は波形処理及び変
位パルス計数により発生する粗位置の誤差を補正するの
に供される上記二相周期波形から粗位置と微細位置から
、初期時にＵ／Ｄカウンタの初期化と原点区間番号の選
択と周回絶対位置を検出する周回絶対位置回路と検出し
たＵ／Ｄカウンタの出力と周回 。
絶対位置から位置補正する位置補正回路とＵ／Ｄカウン
タの出力と位置補正回路の出力から粗位置を補正する粗
位置回路と粗位置回路の出力と微細位置回路の出力から
位置を検出する位置合成回路を惧えるように構成したの
で次に述べる効果を奏するものである。
タの出力と位置補正回路の出力から粗位置を補正する粗
位置回路と粗位置回路の出力と微細位置回路の出力から
位置を検出する位置合成回路を惧えるように構成したの
で次に述べる効果を奏するものである。
すなわち、特に１７４周期位相のずれた、互いに同形状
の二相周期波を位置検出器原信号として出力する位置検
出装置を用い、前記位置検出器原信号を波形処理すると
き、積極的にヒステリシスを設けることで変位パルスの
発生のチャツタリングが防止され、多少のノイズがあっ
ても誤動作しないものとなる。
の二相周期波を位置検出器原信号として出力する位置検
出装置を用い、前記位置検出器原信号を波形処理すると
き、積極的にヒステリシスを設けることで変位パルスの
発生のチャツタリングが防止され、多少のノイズがあっ
ても誤動作しないものとなる。
一方このヒステリシスが粗位置信号の発生に時間遅れを
生ずるところから、その計数に±１計数分に相当する誤
差を生ずるが、本方法および装置によればその誤差を検
出し補正することで粗位置と微細位置の間に連続性が保
たれ、しかも正確で高分解能な位置検出ができるもので
ある。
生ずるところから、その計数に±１計数分に相当する誤
差を生ずるが、本方法および装置によればその誤差を検
出し補正することで粗位置と微細位置の間に連続性が保
たれ、しかも正確で高分解能な位置検出ができるもので
ある。
第１図は本発明の一実施例に係る位置検出装置のブロッ
ク図、第２図は周回絶対位置検出方法の原理説明図、第
３図はその位置検出方法の原理タイムチャート、第４図
は粗位置と微細位置からの位置検出源、理説明図、第５
図は粗位置と微細位置の位置検出のタイムチャート、第
６図はｊａｎθｆのテーブルを示す図、第７図は変位パ
ルスに時間遅れを生じたとき、位置補正をしない時のタ
イムチャート、第８図は位置補正の判定表、第９図は補
正値、第１０図、第１１図はソフトウェアの構成図、第
１２図は他の実施例のブロック図である。 １・位置検出器、２・・・波形処理回路、３・・・Ｕ／
Ｄカウンタ、４・・・サンプリング回路、５・・・ラッ
チ回路、６・・・サンプルホールド回路、７・・・ラン
プ信号発生回路、８・・・比較器、９・・・タイマ、１
０・・・Ａ／Ｄ変換器、１１・・・粗位置回路、１２・
・・微細位置回路、１３・・・位置合成回路、１４・・
・マイコン部、１５・・・原点区間番号回路、１６・・
・周回絶対位置回路、１７・・・微細位置回路、１８・
・・初期指令回路、光λ日 も３囚 嵩５０ 杢６日 寓″Ｉ日 高８図 補正＋ｌｌ定 補正１里 ＴＳ
ク図、第２図は周回絶対位置検出方法の原理説明図、第
３図はその位置検出方法の原理タイムチャート、第４図
は粗位置と微細位置からの位置検出源、理説明図、第５
図は粗位置と微細位置の位置検出のタイムチャート、第
６図はｊａｎθｆのテーブルを示す図、第７図は変位パ
ルスに時間遅れを生じたとき、位置補正をしない時のタ
イムチャート、第８図は位置補正の判定表、第９図は補
正値、第１０図、第１１図はソフトウェアの構成図、第
１２図は他の実施例のブロック図である。 １・位置検出器、２・・・波形処理回路、３・・・Ｕ／
Ｄカウンタ、４・・・サンプリング回路、５・・・ラッ
チ回路、６・・・サンプルホールド回路、７・・・ラン
プ信号発生回路、８・・・比較器、９・・・タイマ、１
０・・・Ａ／Ｄ変換器、１１・・・粗位置回路、１２・
・・微細位置回路、１３・・・位置合成回路、１４・・
・マイコン部、１５・・・原点区間番号回路、１６・・
・周回絶対位置回路、１７・・・微細位置回路、１８・
・・初期指令回路、光λ日 も３囚 嵩５０ 杢６日 寓″Ｉ日 高８図 補正＋ｌｌ定 補正１里 ＴＳ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、移動体と、この移動体の位置に応じて相互に１／４
周期の位相差を有する二相周期波を出力する位置検出器
とを備え、この位置検出器からの二相周期波から移動体
の位置を検出する方法において、 前記二相の周期波のうち、いずれか一方の周期波とヒス
テリシスを有する一定の基準値とを比較し、この周期波
の１／２周期を単位として粗位置を検出し、前記二相の
周期波と零クロス値をサンプリング時間毎にＡ／Ｄ変換
して微細位置を検出し、 これらの粗位置と微細位置の両者から位置を検出するも
のであつて、前記ヒステリシスから生じる粗位置の起点
付近の誤差を前記で検出された粗位置および微細位置の
相互関係に基づいて補正することを特徴とする位置検出
方法。 ２、移動体と、この移動体の位置に応じて生成され、相
互に１／４周期の位相差を有する二相の周期波を出力す
る位置検出器と、この位置検出器から得られた二相の周
期波のうち一相の１／２周期毎に一定の基準値と比較し
、一致したときに粗位置出力信号を出力し、前記二相の
周期波から上記移動体の変位方向を検出するための正逆
二つの変位パルス信号を作る波形処理回路と、その正逆
二つの変位パルス信号を加減計数して前記移動体の上記
二相周期波のうち１相分に対する１／２周期を単位とし
て粗位置を検出するＵ／Ｄカウンタと、前記二相周期波
の出力の各相と零値をサンプリング時間毎にＡ／Ｄ変換
し微細位置回路により微細位置を検出し、粗位置と微細
位置を合成して位置を検出するものであつて、その波形
処理及び変位パルス計数により発生する粗位置の誤差を
補正するのに供される上記二相周期波形から粗位置と微
細位置から、初期時にＵ／Ｄカウンタの初期化と原点区
間番号の選択と周回絶対位置を検出する周回絶対位置回
路と検出したＵ／Ｄカウンタの出力と周回絶対位置から
位置補正する位置補正回路とＵ／Ｄカウンタの出力と位
置補正回路の出力から粗位置を補正する粗位置回路と粗
位置回路の出力と微細位置回路の出力から位置を検出す
る位置合成回路を惧えたことを特徴とする位置検出装置
。 ３、前記特許請求の範囲第１項記載のものにおいて、二
相周期波を出力する位置検出器から変位方向を検出する
正逆二つの変位パルス信号を作るとき、ヒステリシス付
与し、変位パルス信号を微細位置信号の零値から所定の
位相遅れを持たせたことを特徴とする位置検出方法。 ４、特許請求の範囲第２項記載のものにおいて、正逆二
つの変位パルス信号を加減計数して前記移動体の上記二
相周期波のうち２相分に対する１／４周期を単位として
粗位置を検出するＵ／Ｄカウンタと、前記二相周期波の
出力の各相と零値をサンプリング時間毎にＡ／Ｄ変換し
、微細位置回路により微細位置を検出し、粗位置と微細
位置を合成して位置を検出する装置において、前記、特
許請求の範囲第１項記載の波形処理及び変位パルス計数
により発生する粗位置の誤差を補正することを特徴とす
る位置検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63049534A JPH01224621A (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | 位置検出方法又は装置 |
| EP89103773A EP0331189B1 (en) | 1988-03-04 | 1989-03-03 | Position/speed detection method and apparatus |
| DE68915814T DE68915814T2 (de) | 1988-03-04 | 1989-03-03 | Weg-/Geschwindigkeits-Messverfahren und Vorrichtung. |
| US07/318,688 US4922175A (en) | 1988-03-04 | 1989-03-03 | Position/speed detection method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63049534A JPH01224621A (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | 位置検出方法又は装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01224621A true JPH01224621A (ja) | 1989-09-07 |
Family
ID=12833828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63049534A Pending JPH01224621A (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | 位置検出方法又は装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4922175A (ja) |
| EP (1) | EP0331189B1 (ja) |
| JP (1) | JPH01224621A (ja) |
| DE (1) | DE68915814T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05248889A (ja) * | 1991-03-15 | 1993-09-28 | Shinko Electric Co Ltd | 回転角度検出方法 |
| JP2015215344A (ja) * | 2014-04-25 | 2015-12-03 | 株式会社リコー | 角度検出装置、モータ駆動制御装置、及びモータ装置 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5196776A (en) * | 1989-09-06 | 1993-03-23 | Space Systems/Loral, Inc. | Waveform generator for a resolver |
| US5202842A (en) * | 1989-11-29 | 1993-04-13 | Kabushiki Kaisha Okuma Tekkosho | Rotational position detecting device which compensates for eccentricity of rotating object |
| JP2721757B2 (ja) * | 1991-05-24 | 1998-03-04 | 工業技術院長 | 位置決め制御方法及び装置 |
| US5408153A (en) * | 1991-07-05 | 1995-04-18 | Canon Denshi Kabushiki Kaisha | Index position detecting apparatus for an electromagnetic rotary machine |
| JPH07229757A (ja) * | 1994-02-18 | 1995-08-29 | Canon Inc | 信号処理装置、位置検出装置及び駆動装置 |
| FI108262B (fi) * | 1998-01-23 | 2001-12-14 | Metso Paper Automation Oy | Menetelmä toimilaitteen asemoimiseksi |
| US6084376A (en) * | 1998-06-09 | 2000-07-04 | Aspen Motion Technologies, Inc. | Low cost resolver system |
| US6397369B1 (en) | 1998-11-06 | 2002-05-28 | Acorn Technologies, Inc. | Device for using information about the extent of errors in a signal and method |
| US6381088B1 (en) | 1998-11-06 | 2002-04-30 | Acorn Technologies, Inc. | Apparatus for developing a dynamic servo signal from data in a magnetic disc drive and method |
| USRE40413E1 (en) * | 1998-11-06 | 2008-07-01 | Purchased Patent Management Llc | Method and apparatus for developing a dynamic servo signal from data |
| US6973399B1 (en) | 1999-03-30 | 2005-12-06 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Method and circuit for correcting periodic signals of an incremental position measuring system |
| US6594103B1 (en) | 1999-11-12 | 2003-07-15 | Acorn Technologies, Inc. | Read channel generating absolute value servo signal |
| US6545836B1 (en) | 1999-11-12 | 2003-04-08 | Acorn Technologies, Inc. | Servo control apparatus and method using absolute value input signals |
| US6396052B1 (en) | 2000-04-07 | 2002-05-28 | Lexmark International, Inc. | High precision analog encoder system |
| AU2001296189A1 (en) | 2000-10-22 | 2002-04-29 | Stridsberg Innovation Ab | Position transducer |
| JP3965934B2 (ja) * | 2001-05-09 | 2007-08-29 | 株式会社日立製作所 | 移動体の制御装置並びに移動体システム |
| US6600150B1 (en) | 2001-07-03 | 2003-07-29 | Lexmark International, Inc. | Encoder systems for printers and related methods |
| DE10392675B4 (de) * | 2003-04-11 | 2006-10-12 | Mitsubishi Denki K.K. | Drehcodierer |
| US7561968B2 (en) * | 2004-10-13 | 2009-07-14 | The Boeing Company | Scale factor calibration and compensation for angular position resolver |
| EP1752740B1 (en) * | 2005-08-11 | 2008-12-03 | Mitutoyo Corporation | Method and Circuit for interpolating an Encoder Output |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62237316A (ja) * | 1986-04-09 | 1987-10-17 | Hitachi Ltd | 位置検出器の検出誤差補正装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3462663A (en) * | 1968-02-29 | 1969-08-19 | Sequential Information Systems | System for controlling motor speed and position |
| US3725760A (en) * | 1969-03-10 | 1973-04-03 | Bendix Corp | Automatic plotter utilizing a coordinate grid device |
| US4272818A (en) * | 1979-07-19 | 1981-06-09 | The Bendix Corporation | Position feedback control system for a numerically controlled machine tool |
| US4319172A (en) * | 1980-02-25 | 1982-03-09 | Tracer Control Company | Numerical control system |
| US4458322A (en) * | 1981-06-19 | 1984-07-03 | Manhattan Engineering Co., Inc. | Control of page storage among three media using a single channel processor program and a page transfer bus |
| US4429267A (en) * | 1981-06-22 | 1984-01-31 | Manhattan Engineering Company, Inc. | Digital positioning systems having high accuracy |
| CA1196998A (en) * | 1981-10-22 | 1985-11-19 | James M. Sakundiak | Automatic electronic depth and height control |
| DE3202356C1 (de) * | 1982-01-26 | 1983-08-11 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Einrichtung zum Unterteilen von periodischen analogen Signalen |
| US4491776A (en) * | 1982-05-25 | 1985-01-01 | Manhattan Engineering Company, Inc. | Servo operated digital positioning control system |
| US4472669A (en) * | 1982-12-23 | 1984-09-18 | General Electric Company | Compensated resolver feedback |
| US4494060A (en) * | 1983-03-02 | 1985-01-15 | Anorad Corporation | Axis controller for robotic actuator |
| JPS60216262A (ja) * | 1984-04-12 | 1985-10-29 | Hitachi Ltd | 位置，速度検出装置 |
-
1988
- 1988-03-04 JP JP63049534A patent/JPH01224621A/ja active Pending
-
1989
- 1989-03-03 DE DE68915814T patent/DE68915814T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-03-03 EP EP89103773A patent/EP0331189B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-03 US US07/318,688 patent/US4922175A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62237316A (ja) * | 1986-04-09 | 1987-10-17 | Hitachi Ltd | 位置検出器の検出誤差補正装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05248889A (ja) * | 1991-03-15 | 1993-09-28 | Shinko Electric Co Ltd | 回転角度検出方法 |
| JP2015215344A (ja) * | 2014-04-25 | 2015-12-03 | 株式会社リコー | 角度検出装置、モータ駆動制御装置、及びモータ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4922175A (en) | 1990-05-01 |
| EP0331189A3 (en) | 1991-09-04 |
| EP0331189B1 (en) | 1994-06-08 |
| EP0331189A2 (en) | 1989-09-06 |
| DE68915814T2 (de) | 1994-09-15 |
| DE68915814D1 (de) | 1994-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH01224621A (ja) | 位置検出方法又は装置 | |
| US5710509A (en) | Phase difference detection device for an inductive position detector | |
| US6232595B1 (en) | Position detecting apparatus | |
| JPH05500592A (ja) | 直接位相デジタル化 | |
| JPH0373808B2 (ja) | ||
| JPH11118520A (ja) | ディジタル角度変換方法 | |
| US4837492A (en) | Apparatus for detecting revolution using a synchro | |
| JP2000329505A (ja) | 位置検出データ生成方法及び装置 | |
| JPS62237316A (ja) | 位置検出器の検出誤差補正装置 | |
| JP3365913B2 (ja) | 位置検出装置 | |
| JPH11241927A (ja) | 位置検出装置 | |
| KR0169842B1 (ko) | 전동기 제어용 엔코더에 의한 회전방향 판별회로 | |
| CN115001458B (zh) | 一种正交光电编码器脉冲信号任意次倍频控制方法 | |
| JPS6347612A (ja) | 変位検出装置 | |
| Shen | DSP-solution for high-resolution position with sin/cos-encoders | |
| RU2108663C1 (ru) | Способ преобразования угла поворота вала в код | |
| JPS63229320A (ja) | 回転検出装置 | |
| JP2001330476A (ja) | 位置検出方法 | |
| JP3318663B2 (ja) | 回転位置検出器 | |
| JP2741431B2 (ja) | 任意の基準点からの移動位置を検出するエンコーダ | |
| SU842894A1 (ru) | Преобразователь угла поворота валаВ КОд | |
| JPH04184217A (ja) | 高分解能位置検出器 | |
| JPH0617802B2 (ja) | エンコーダ内挿回路 | |
| JPH03162622A (ja) | 計数回路 | |
| JPS62211512A (ja) | 回転位置検出装置 |