JPH01216291A - 物体の探知方法およびその装置 - Google Patents

物体の探知方法およびその装置

Info

Publication number
JPH01216291A
JPH01216291A JP63042491A JP4249188A JPH01216291A JP H01216291 A JPH01216291 A JP H01216291A JP 63042491 A JP63042491 A JP 63042491A JP 4249188 A JP4249188 A JP 4249188A JP H01216291 A JPH01216291 A JP H01216291A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
medium
waveform
spectral distribution
detecting
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63042491A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Honjo
克彦 本庄
Keiichi Sudo
佳一 須藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP63042491A priority Critical patent/JPH01216291A/ja
Publication of JPH01216291A publication Critical patent/JPH01216291A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、媒質に超音波を送信し、該超音波の反射波
を受信して、所定の物体、例えば媒質中の異質物体、組
織等を探知する方法およびその装置に関する。
(l従来の技術l) 例えば、従来の探知方法では、均質な材料で構成された
ものの中に発生した欠陥、空隙あるいは材質の異なる組
織等の検出には超音波パルスを送信し、これらのものか
ら反射して受信されるまでの伝播時間から位置を算出し
、また、超音波パルスの送信、受信位置を変えることに
よってこれらのものの形状を検出町いた。しかし、これ
らの異質物体の材質あるいは超音波パルスの送受信位置
を一定に保ったままでその形状を認識することはできな
かった。第8図は従来の超音波による異質物体あるいは
欠陥の探知方法の一例を示す。
1は均質な媒質、2は異質物体、3は超音波パルパルス
受信部、7はオシロスコープである。パルス送信部5で
発生された電気パルスを送信センサ3で超音波に変換し
て媒質1に入力する。異質物体2は音響インピーダンス
が媒質1と異なるために一部は反射して受信センサ4を
通してパルス受信部6で受信される。この場合、超音波
パルスは発信源から直進して反射され受信されるまでを
最短距離に伝播するため、予め既知とした媒質1の音速
をもとに異質物体2の位置を検出していた。
このため、第9図に示すように超音波パルスの受信信号
をその強度が一定の値を越えるものを受信信号と判断し
ているために、例えば、Is以下の信号は受信信号と判
断しない。また、超音波の伝播時間T1だけが位置検出
のパラメータであった。
この図で、Plはパルス送信部で励起された電気パルス
、P2+P3は超音波の受信波形である。
(1発明が解決しようとする課81) 上述したように従来の探知方法では、■超音波の反射信
号が減衰によってその振幅強度が一定の値以下の場合は
目標物体の検出はできない。■多種類の異質物体が存在
して受信信号が重なり合っている場合は目標の物体は検
出できない。以上に掲げられる問題点がある。この発明
は、上記の問題点を解決するためになされたものであっ
て、その目的は均質な媒質中に存在する異質物体を超音
波パルスの反射信号を受信して所定の物体を的確にかつ
高精度に探知する方法およびその装置を提供することに
ある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段および作用)この発明は上
記目的を達成するために、均質な媒質中に超音波パルス
を送信し、媒質中に存在する異質物体からの反射信号を
受信して所定の物体を探知する方法であって、上記反射
信号を周波数領域に変換してスペクトル分布からスペク
トルピーク周波数、直流成分比および半値幅を算出し、
所定の物体を検出することを特徴とするもの、および均
質な媒質中に超音波パルスを送信し、媒質中に存在する
異質物体からの反射信号を受信して所定の物体を探知す
る装置において、媒質中に超音波パルスを送信する手段
と、上記超音波パルスの反射波を受信する受信手段と、
受信した反射信号をサンプリングする手段と、サンプリ
ングされた信号をA/D変換する手段と、このA/D変
換された信号を所定の時間幅に分割、抽出する手段と、
この抽出された信号を高速フーリエ変換処理によって周
波数領域に変換してスペクトル分布を算出する手段と、
スペクトル分布から所定の物体を検出する手段と、検出
した結果を表示する手段を有することを特徴とするもの
、および上記スペクトル分布から所定の物体を検出する
手段として、上記スペクトル分布からスペクトルピーク
周波数、直流成分比および半値幅を算出する手段と、媒
質毎に規定される物体の反射信号から算出されるスペク
トルビーク周波数、直流成分比および半値幅をデータ化
して記録するデータベース手段と、上記2つの手段で得
た結果に基づいて所定の物体を検知する手段を有するこ
とを特徴とするもので、媒質中に超音波パルスを送信し
、異質な物体による反射信号を受信して所定の物体を探
知し、上記反射信号を周波数領域に変換してスペクトル
分布を算出し、このスペクトル分布からスペクトルビー
ク周波数、直流成分比および半値幅を算出し、これらの
情報に基づいて所定の物体を検出するものである。
(I実施例γノ 第1図は、この発明の実施例のブロック構成図を示す。
10は波形解析装置であり、■実時間上で受信した波形
を所定の時間幅で抽出、除去し、■高速フーリエ変換等
の演算機能を用いて周波数領域のスペクトル分布に変換
し、スペクトルピーク周波数、直流成分比および半値幅
を算出する機能をもつ。11はA/D変換部、12は波
形フィルタ、13は高速フーリエ変換プロセッサ(FF
T)で、実時間上の振幅波形を作る機能をもつ。14は
演算処理部であり、波形解析装置10で得た値から所定
の物体を判定する演算が行われる。15は表示部である
まず、パルス送信部5で発生された電気パルスが送信セ
ンサ3で超音波パルスに変換されて媒質値センサ4を兼
ねる場合もある)、パルス受信部6で電気信号に変換さ
れる。次に、波形解析装置10でアナログ受信波形をサ
ンプリングしてディジタル化して、波形解析装置10で
波形を一定時間幅で分割、抽出する。さらに、分割して
おいたユニット毎に、高速フーリエ変換プロセッサ13
で高速フーリエ変換処理によって周波数領域に変換して
スペクトル分布を算出する。最後に、演算処理部14で
予めデータ化しておいたスペクトルピーク周波数、直流
成分比および半値幅の値をもとに、測定した上記2つの
パラメータから物体を判定する。加えて、結果を表示部
15で示す。
第2図の下の図は、上記■に示した受信波形の時間分割
及び抽出、除去方法を示す。これは、−般にはゼロクロ
ス法と呼ばれる手法が用いられており、その手法に基づ
いて説明する。受信波形は、直流成分を除去されてアナ
ログ波形として得られる。パルス発生器と送受信センサ
の特性によって定まる送信波形の波束相当の時間幅ΔT
を基準に、受信波形の振幅強度がゼロの時点N1.N2
・・・から61幅に当たる波形部分W1.W2・・・を
抽出し、各々を高速フーリエ変換してスペクトル分布を
求める。
°第2図の上の図は、上記■に示した高速フーリエ変換
を経た波形部分のスペクトル分布の算出によってスペク
トルピーク周波数、直流成分比および半値幅を求めた例
を示す。上述した波形部分WiをFFT処理することに
よってスペクトル分布を算出する。このスペクトル強度
の極大値IPとそれに対応する周波数f、を求め、次に
、■P/2の値に当たる周波数(1+、1−>から半値
幅ΔWを算出する。最後に、直流成分■oを求め、直流
成分比RDC−10/IPを算出する。
第3図、第4図は、アルミ材中に空孔および水孔が存在
する場合の超音波反射信号のスペクトル分布から得られ
た直流成分比RDCとスペクトルピーク周波数fPとの
関係および半値幅ΔWとスペクトルピーク周波数fPと
の関係を示している。
但し、送信パルスは2.25MHzの送信センサを用い
ている。ここで、「黒丸」は空孔、「白丸」は水孔、「
三角」は底面からの反射信号の特性を示す。孔の径が3
.01111から0.5 mと小さくなるにつれて1.
第3図の左下から右上へと変化していく。
このように、孔径の違いが直流成分比RDCとスペクト
ルピーク周波数fPの分布から判定できる。
また、水孔は空孔に比べて相対的にスペクトルピーク周
波数fPが大きくなることがわかる。一方、底面からの
信号特性は、半値幅ΔWが1.4MHz以下となる。こ
のように、底面からの不要信号も半値幅ΔWとスペクト
ルピーク周波数fPの分布の違いから判定できる。第5
図は、本実施例の作用を示すフローチャートを示す。次
に、このフローに従って本探知処理の流れを説明する。
パルス発生器から電気的パルスが励起され、送信センサ
で機械的な振動に変換されて超音波パルスが発生される
。媒質中を伝播し異質物体で反射された超音波パルスが
受信センサで検出されてパルス受信器で電気的アナログ
信号として受信される(100)。この受信信号波形は
A/D変換部11でA/D変換されて、波形としてメモ
リされる(110)。次に、送信パルスの時間幅でゼロ
クロス法に則って波形を分割、抽出する(120)。
この抽出した波形部分をf“窓“処理(ハニングあるい
はハミング処理)して抽出の際に波形部分の両端が振幅
強度ゼロの値と不連続になる影響を出来るだけ抑える処
理を行う(130)。次に、120の処理後の波形部分
をFFTによってパワー・スペクトルに変換する(14
0)。パワー・スペクトル分布からスペクトルピーク周
波数fP。
直流成分比RDCおよび半値幅ΔWを算出する(150
)。最後に、予めパルス発生・受信器と送受信センサの
特性で定められた周波数毎のスペクトルビーク周波数f
Ps半値幅ΔWの分布特性に対応した異質物体の材質お
よび形状のデータ(111tO)から物体の材質あるい
は形状を判別することができる(160)。第6図に目
標の物体の信号を抽出し、不要信号を除去した後の信号
波形を示す。この処理によって目標物体の信号および送
信から受信までの伝播時間T1が得られる。
また、媒質の音速が既知の場合は異質物体と判明した反
射信号の伝播時間を検出することによって、この物体ま
での距離が求められる。これは、第7図に示すように超
音波パルスは媒質中を幾何学的に最短距離を伝播するた
めに、送受信センサの相対的位置あるいはそれらを相対
的に移動させることによって推定できる。第7図は第6
図で得た信号処理後の目標物体の探知出力結果の例を示
す。
この例のように、送信センサ3と受信センサ4の中点を
結ぶ直下AA’に目標物体がある場合、媒質の音速をV
とすると、3,4の各センサがらの距離L1は、 Ll−T、−V/2       (1)の関係から求
めることができる。最後に、探知の結果を出力する(1
70)。
なお、上記実施例では、金属材料中に存在する欠陥を探
知する場合について説明しているが、これに限定される
ものではなく、例えば、固体材料中の異種組織、物体の
探知、識別を行う場合、液体あるいは気体中に点在す名
異種物体の探知、識別を行う場合、さらには、媒質中を
異質物体が移動している場合の探知、識別を行う場合に
も適用できる。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、受信した超音
波パルスの反射信号のスペクトル分布から、スペクトル
ピーク周波数、直流成分比および半値幅を算出し、これ
らの情報に基づいて所定の物体を検出あるいは識別して
いるので、例えば、固体の材料中に存在している欠陥、
異種物体およびそれらの形状を探知する場合において超
音波が減衰したり、所定の物体以外のものからの反射が
あり、その振幅強度からは目標の物体が的確に識別でき
ない場合にも、的確かつ高精度に目標の物体を探知でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す構成説明図、第2図
はこの発明に係る受信波形の分割、抽出方法とスペクト
ルの分布の一例を示す特性図、第3図はこの発明に係る
分割して抽出した受信信号のスペクトルピーク周波数f
Pと直流成分比RDCの関係の一例を示す特性図、第4
図はこの発明に係る分割して抽出した受信信号のスペク
トルビーり周波数fPと半値幅ΔWの関係の一例を示す
特性図、第5図はこ発明の実施例における作用を示すフ
ローチャート、。 第6図はこの発明に係る不要信号除去後の信号波形の一
例を示す特性図、第7図はこの発明に係る目標物体の探
知出力の例を示す図、第8図は従来の物体の探知装置の
一例を示す構成説明図、第9図は従来の超音波の受信波
形の一例を示す波形図である。 1・・・被検体媒質、2・・・異質物体(探知物体、探
知媒質等)、3・・・送信センサ(探触子=4を兼ねる
場合もある)、4・・・受信センサ(探触子)、5・・
・パルス送信部、6・・・パルス受信部、7・・・オシ
ロスコープ、Pl・・・パルス送信部で励起された電気
パルス、P2 +  P2 ’ 、P 3・・・異質物
体(探知物体)からの反射パルス、10・・・波形解析
装置、11・・・A/D変換部、12・・・波形フィル
タ、13・・・FFT (高速フーリエ変換プロセッサ
)、14・・・演算処理部、15・・・表示部。 早イ直幅、ΔW 直fJgj、オル、 RDC 抵@楓戻(V)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)均質な媒質中に超音波パルスを送信し、媒質中に
    存在する異質物体からの反射信号を受信して所定の物体
    を探知する方法であって、上記反射信号を周波数領域に
    変換してスペクトル分布からスペクトルピーク周波数、
    直流成分比および半値幅を算出し、所定の物体を検出す
    ることを特徴とする物体の探知方法。
  2. (2)均質な媒質中に超音波パルスを送信し、媒質中に
    存在する異質物体からの反射信号を受信して所定の物体
    を探知する装置において、媒質中に超音波パルスを送信
    する手段と、上記超音波パルスの反射波を受信する受信
    手段と、受信した反射信号をサンプリングする手段と、
    サンプリングされた信号をA/D変換する手段と、この
    A/D変換された信号を所定の時間幅に分割、抽出する
    手段と、この抽出された信号を高速フーリエ変換処理に
    よって周波数領域に変換してスペクトル分布を算出する
    手段と、スペクトル分布から所定の物体を検出する手段
    と、検出した結果を表示する手段を有することを特徴と
    する物体の探知装置。
  3. (3)スペクトル分布から所定の物体を検出する手段と
    して、上記スペクトル分布からスペクトルピーク周波数
    、直流成分比および半値幅を算出する手段と、媒質毎に
    規定される物体の反射信号から算出されるスペクトルピ
    ーク周波数、直流成分比および半値幅をデータ化して記
    録するデータベース手段と、上記2つの手段で得た結果
    に基づいて所定の物体を検知する手段を有することを特
    徴とする請求項2記載の物体の探知装置。
JP63042491A 1988-02-25 1988-02-25 物体の探知方法およびその装置 Pending JPH01216291A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63042491A JPH01216291A (ja) 1988-02-25 1988-02-25 物体の探知方法およびその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63042491A JPH01216291A (ja) 1988-02-25 1988-02-25 物体の探知方法およびその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01216291A true JPH01216291A (ja) 1989-08-30

Family

ID=12637529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63042491A Pending JPH01216291A (ja) 1988-02-25 1988-02-25 物体の探知方法およびその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01216291A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007500348A (ja) * 2003-07-29 2007-01-11 ドン ハル リ 超音波を用いる距離の測定方法と装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5246839A (en) * 1975-10-13 1977-04-14 Hitachi Ltd System for discriminating object
JPS5999835A (ja) * 1982-11-29 1984-06-08 Nec Corp 周波数ホツピング周波数拡散通信同期捕捉装置
JPS61181957A (ja) * 1985-02-08 1986-08-14 Hitachi Ltd 金属材料検査装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5246839A (en) * 1975-10-13 1977-04-14 Hitachi Ltd System for discriminating object
JPS5999835A (ja) * 1982-11-29 1984-06-08 Nec Corp 周波数ホツピング周波数拡散通信同期捕捉装置
JPS61181957A (ja) * 1985-02-08 1986-08-14 Hitachi Ltd 金属材料検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007500348A (ja) * 2003-07-29 2007-01-11 ドン ハル リ 超音波を用いる距離の測定方法と装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7894874B2 (en) Method and apparatus for enhancing the detecting and tracking of moving objects using ultrasound
US7779693B2 (en) Method for nondestructive testing of pipes for surface flaws
CN108802203B (zh) 一种基于多模态技术的杆状构件内部缺陷定位方法
Angrisani et al. Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet transform
CN106770668B (zh) 一种用于单孔的基桩质量声波透射法检测方法
Broberg et al. Improved corner detection by ultrasonic testing using phase analysis
JPH04323553A (ja) 超音波共振探傷方法および装置
JP2001343365A (ja) 金属薄板の厚み共振スペクトル測定方法及び金属薄板の電磁超音波計測方法
JP3036387B2 (ja) 超音波探傷方法及び装置
JPH01216291A (ja) 物体の探知方法およびその装置
JP4126817B2 (ja) 膜厚測定方法及び装置
US4380929A (en) Method and apparatus for ultrasonic detection of near-surface discontinuities
JPH10213573A (ja) 表層傷の推定法
JP2818615B2 (ja) 超音波計測装置
RU2246724C1 (ru) Способ ультразвукового контроля качества материала
JP2003149214A (ja) 超音波センサを用いた非破壊検査法及びその装置
JPH07248317A (ja) 超音波探傷方法
JPS6229023B2 (ja)
KR101550706B1 (ko) 초음파를 이용한 두께 측정 장치 및 이의 두께 측정 방법
JPH095310A (ja) 超音波検査方法
RU2052769C1 (ru) Ультразвуковой способ измерения толщины изделия с большим затуханием ультразвука и устройство для его осуществления
JP2740871B2 (ja) 超音波試験における横波音速測定方法および装置
JPH0933318A (ja) 超音波式液位測定方法
JPH11221212A (ja) 超音波骨計測装置
JP2005233865A (ja) 構造部材の腐食判定方法および装置