JPH01211087A - 電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取得/処理システム - Google Patents
電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取得/処理システムInfo
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- JPH01211087A JPH01211087A JP3584288A JP3584288A JPH01211087A JP H01211087 A JPH01211087 A JP H01211087A JP 3584288 A JP3584288 A JP 3584288A JP 3584288 A JP3584288 A JP 3584288A JP H01211087 A JPH01211087 A JP H01211087A
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- calibration
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- cpu
- box
- test
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 29
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Landscapes
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Aerodynamic Tests, Hydrodynamic Tests, Wind Tunnels, And Water Tanks (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ブリッジ型セ″ンサを使用する計DI分野全
般に適用可能で、特に航空機、ロケット等の飛昇体を開
発する為の風洞試験に於けるデータ計測システムにおい
て好適な電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取
得/処理システムに関する。
般に適用可能で、特に航空機、ロケット等の飛昇体を開
発する為の風洞試験に於けるデータ計測システムにおい
て好適な電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取
得/処理システムに関する。
[従来の技術]
従来技術は特にない。
[発明が解決しようとする課題]
ゲージブリッジ型センサ及び電圧発生型センサの組合わ
せに、市販の歪増幅器及び直流増幅器とアナログ/デジ
タル(以下A/Dと略す)変換機能をもつCPUとで単
一純構成した計測システムを用いて風洞試験を実施した
場合を想定すると、次のような問題が生じる。
せに、市販の歪増幅器及び直流増幅器とアナログ/デジ
タル(以下A/Dと略す)変換機能をもつCPUとで単
一純構成した計測システムを用いて風洞試験を実施した
場合を想定すると、次のような問題が生じる。
(1)計測系の調整が繁雑な上に、試験、風洞。
模型条件の調整、設定及びその結果のCPUへのインプ
ット等が試験直前に集中する。
ット等が試験直前に集中する。
(2)上記(1)の大部分は人為操作である為、誤設定
やインプットミスが発生し易く試験準備工数増となる。
やインプットミスが発生し易く試験準備工数増となる。
(3)伝送系を補正する為の較正電圧は歪増幅器に内蔵
される標準ブリッジにより発生させる為、必ずしも系全
体(特に風洞試験ではセンサ/増幅器間のケーブル長は
一般に数107ILに達する)の伝送特性を代表するも
のではない。
される標準ブリッジにより発生させる為、必ずしも系全
体(特に風洞試験ではセンサ/増幅器間のケーブル長は
一般に数107ILに達する)の伝送特性を代表するも
のではない。
もし完全な精度管理を狙うとすれば、風洞試験を休止し
試験計測時と完全に一致した計測系を用いてセンサの較
正検定がとなり風洞可動率が低下する。
試験計測時と完全に一致した計測系を用いてセンサの較
正検定がとなり風洞可動率が低下する。
そこで本発明は、人為操作に伴う誤設定やインプットミ
スが少なくなり、例えば風洞試験を行なう場合のフロー
ティングタイムを大巾に短縮することのできる電気較正
ボックスを用いたオンラインデ〜り取得/処理システム
を提供することを目的とする。
スが少なくなり、例えば風洞試験を行なう場合のフロー
ティングタイムを大巾に短縮することのできる電気較正
ボックスを用いたオンラインデ〜り取得/処理システム
を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は上記課題を解決し目的を達成するために次のよ
うな手段を講じた。すなわち試験データの自動計DI
/処理を行なうシステムにおいて、計測・処理条件等を
情報のCPUへ転送する転送手段と、上記CPUに付設
されたメモリテーブルからデータ処理係数の索引を行な
う手段と、電気較正ボックスにより較正データを発生さ
せこの較正データにより計測データの補正を行ない前記
データ処理係数に基づいた処理を行なう手段とを備えた
。
うな手段を講じた。すなわち試験データの自動計DI
/処理を行なうシステムにおいて、計測・処理条件等を
情報のCPUへ転送する転送手段と、上記CPUに付設
されたメモリテーブルからデータ処理係数の索引を行な
う手段と、電気較正ボックスにより較正データを発生さ
せこの較正データにより計測データの補正を行ない前記
データ処理係数に基づいた処理を行なう手段とを備えた
。
[作用]
このような手段を諧じたことにより、計測準備期間に於
ける操作手順が大巾にソフト化され、従って人為的操作
部分は整理、単純化されることになり、人為操作に伴う
誤操作やインプットミスが少なくなる。
ける操作手順が大巾にソフト化され、従って人為的操作
部分は整理、単純化されることになり、人為操作に伴う
誤操作やインプットミスが少なくなる。
[実施例]
以下、本発明の一実施例を第1図〜第7図を参照して説
明する。
明する。
(1)電気較正ボックス(第1図参照)センサブリッジ
1の近傍に設置されている電気較正ボックス5は、次の
ように構成されている。
1の近傍に設置されている電気較正ボックス5は、次の
ように構成されている。
各試験ごとにCPUから送られてくるデジタル/アウト
プット(以下D/φと略す)信号soによりSWI、S
W2が作動し、ブリッジ1の一辺に較正抵抗2を並列接
続し、較正電圧を発生させて、これを計測系の伝送特性
を代表する情報A/IとしてCPUに読み込まれる。
プット(以下D/φと略す)信号soによりSWI、S
W2が作動し、ブリッジ1の一辺に較正抵抗2を並列接
続し、較正電圧を発生させて、これを計測系の伝送特性
を代表する情報A/IとしてCPUに読み込まれる。
但し電圧発生型センサでは、そのフルレンジに相当する
較正電圧を前記D/φ信号SOの発生タイミングにより
切り換え伝送する。
較正電圧を前記D/φ信号SOの発生タイミングにより
切り換え伝送する。
尚計測器の調整は、正負の較正電圧がA/D変換許容最
大値を越えない程度の電圧となるように合せるだけの調
整でよく、調整時間の大巾短縮となる。
大値を越えない程度の電圧となるように合せるだけの調
整でよく、調整時間の大巾短縮となる。
一方、較正抵抗2としては、歪量換算で1500.10
00.750,500,250及び0(マイクロストレ
イン)相当の6段階の抵抗値を有するものが用意されて
おり、ATT切換用ロータリスイッチ3により選択され
る。
00.750,500,250及び0(マイクロストレ
イン)相当の6段階の抵抗値を有するものが用意されて
おり、ATT切換用ロータリスイッチ3により選択され
る。
尚、この較正抵抗2を選択するための識別コードは、C
PUからのD/φ信号S1と、ロータリスイッチ3と、
バイナリ・コード・デシマル(以下BCDと略す)マト
リクス4とで構成されるデジタル/インプット マルチ
プレクサ(以下D/I MPXと略す)方式により転
送ビットS2に変換されてシーケンシャルにCPUにイ
ンプットされる。
PUからのD/φ信号S1と、ロータリスイッチ3と、
バイナリ・コード・デシマル(以下BCDと略す)マト
リクス4とで構成されるデジタル/インプット マルチ
プレクサ(以下D/I MPXと略す)方式により転
送ビットS2に変換されてシーケンシャルにCPUにイ
ンプットされる。
(2)D/I MPX (第2図参照)第2図に示す
制御卓6は電気較正ボックス5の較正抵抗選択スイッチ
に連動して風洞試験計測処理条件の選択切換を行なう識
別信号S2をつくり、これを転送ビットとしてシーケン
シャルにCPUに転送するものである。
制御卓6は電気較正ボックス5の較正抵抗選択スイッチ
に連動して風洞試験計測処理条件の選択切換を行なう識
別信号S2をつくり、これを転送ビットとしてシーケン
シャルにCPUに転送するものである。
かくしてCPUから対応アドレスD/φ信号S1が送出
されると、この信号S1で指定された電気較正ボックス
5における接点信号群の列が制御卓6におけるB、C,
D、マトリクス4によりエンコードされ、転送ビットS
2としてCPUに読込まれる。この読込まれた転送ビッ
トはCPU内のコモンエリアの対応アドレス位置にファ
イルされる。
されると、この信号S1で指定された電気較正ボックス
5における接点信号群の列が制御卓6におけるB、C,
D、マトリクス4によりエンコードされ、転送ビットS
2としてCPUに読込まれる。この読込まれた転送ビッ
トはCPU内のコモンエリアの対応アドレス位置にファ
イルされる。
(3)トリガコードとメモリテーブル(第3図参照)
機能概要は第3図に示す通りである。すなわち予め磁気
ディスク10内の「メモリテーブル」に、係数の変更が
少ないものはカードインプットにより、また略定期的に
係数の変更のあるものはオンライン検定により、各種係
数M、Nを変換器、風洞検定毎及び模型製作毎にファイ
ルしておく。そして必要に応じて第1表に示すトリガコ
ードを用い、これに対応する第2表に示す係数を磁気デ
ィスク10のメモリテーブルからR1,R2に示す如く
索引し、通風時にはコモンエリア11へ、また係数チj
−ツク時にはCaracter/ D1sply以下C
/Dと略す)画面12ヘセツトアツプするシステムであ
る。なお第4図は第1表の試験コードの模式図である。
ディスク10内の「メモリテーブル」に、係数の変更が
少ないものはカードインプットにより、また略定期的に
係数の変更のあるものはオンライン検定により、各種係
数M、Nを変換器、風洞検定毎及び模型製作毎にファイ
ルしておく。そして必要に応じて第1表に示すトリガコ
ードを用い、これに対応する第2表に示す係数を磁気デ
ィスク10のメモリテーブルからR1,R2に示す如く
索引し、通風時にはコモンエリア11へ、また係数チj
−ツク時にはCaracter/ D1sply以下C
/Dと略す)画面12ヘセツトアツプするシステムであ
る。なお第4図は第1表の試験コードの模式図である。
本システムによれば値かな数のトリガコードのインプッ
トにより、膨大な量になる各種係数の自動的な索引及び
設定が可能となり、人為操作によるミス介入の排除、準
備工数の削減に寄与する。
トにより、膨大な量になる各種係数の自動的な索引及び
設定が可能となり、人為操作によるミス介入の排除、準
備工数の削減に寄与する。
第 1 表
第 2 表
(4)検定とデータ処理(第5図参照)検定は第5図の
較正幅KHに相当する物理ff1Aを求める為に行なう
ものである。一方、計測処理は較正幅KHに対する計測
値KSの比率から計11111物理量Aaを算定するも
のである。即ち物理変換 !係数B及び計測物理量A
aは (B−(検定加重W/検定
出力P) ×(較正幅KH) ・・・■Aa−
(計測出力KS/較正幅KH) ×(物理変換係数B) ・・・■ ′
ここで試験/検定では較正幅KHが共通ベース ′と
なり、この較正幅K Hは較正抵抗2にめみ依存 “
するから、それ以降の増幅器、A/D変換器等の 0
計n1系とは無関係となる。
rI従ってセンサの較正検定は、風洞試験に関わり
エなく随時可能となり、精度管理面で有効である上、
イ風洞可動率へも影響を与えない。
i尚、試験/検定での較正°幅の違い(検定時;
−1000(マイクロストレイン))を補正するた
ラめ前記式■は
ノAa=ATT比率(計測出力KS/ 較正巾KH)x物理変換係数 ・・・■となる。ここで
ATT比率はD/I MPX(第2図を参照)で転送
された較正抵抗(第1図を参機)の識別コードを基に、
メモリテーブル(第3閾、第2表を参照)から索引され
る係数であり、これにより計/lPJ伝送系のゲインが
補正される。
較正幅KHに相当する物理ff1Aを求める為に行なう
ものである。一方、計測処理は較正幅KHに対する計測
値KSの比率から計11111物理量Aaを算定するも
のである。即ち物理変換 !係数B及び計測物理量A
aは (B−(検定加重W/検定
出力P) ×(較正幅KH) ・・・■Aa−
(計測出力KS/較正幅KH) ×(物理変換係数B) ・・・■ ′
ここで試験/検定では較正幅KHが共通ベース ′と
なり、この較正幅K Hは較正抵抗2にめみ依存 “
するから、それ以降の増幅器、A/D変換器等の 0
計n1系とは無関係となる。
rI従ってセンサの較正検定は、風洞試験に関わり
エなく随時可能となり、精度管理面で有効である上、
イ風洞可動率へも影響を与えない。
i尚、試験/検定での較正°幅の違い(検定時;
−1000(マイクロストレイン))を補正するた
ラめ前記式■は
ノAa=ATT比率(計測出力KS/ 較正巾KH)x物理変換係数 ・・・■となる。ここで
ATT比率はD/I MPX(第2図を参照)で転送
された較正抵抗(第1図を参機)の識別コードを基に、
メモリテーブル(第3閾、第2表を参照)から索引され
る係数であり、これにより計/lPJ伝送系のゲインが
補正される。
(5)メインプログラム(第6図、第7図)風洞試験の
計測準備・試験・データ処理・データアウトプットを総
括するメインプログラムの概更を第6図および第7図に
示す。図に示すように¥ 動割込ミ21 、 22 、
27 、 28 及ヒC/ D 画(j23〜26から
の「キーイン」により、各種条tの呼込みとその条件に
基づく各種係数、制御関文のコモンエリアへの設定が進
められ、計測準備ヨ完了して「通風」に至り、較正及び
計n1データバ取得される。また調圧停止後にはファイ
ナルデータが取得されたのち第5図に示す概念に基づき
戸−夕処理が行われ、処理結果のC/D表示、数?3図
表のプリントアウト等の全てがソフトルーチンにガード
された手順に沿って行われる。上記メインプログラムの
特徴は以下に示すとおりである。
計測準備・試験・データ処理・データアウトプットを総
括するメインプログラムの概更を第6図および第7図に
示す。図に示すように¥ 動割込ミ21 、 22 、
27 、 28 及ヒC/ D 画(j23〜26から
の「キーイン」により、各種条tの呼込みとその条件に
基づく各種係数、制御関文のコモンエリアへの設定が進
められ、計測準備ヨ完了して「通風」に至り、較正及び
計n1データバ取得される。また調圧停止後にはファイ
ナルデータが取得されたのち第5図に示す概念に基づき
戸−夕処理が行われ、処理結果のC/D表示、数?3図
表のプリントアウト等の全てがソフトルーチンにガード
された手順に沿って行われる。上記メインプログラムの
特徴は以下に示すとおりである。
(1)手動割込みSW及びC/D画面は、準備操作手順
に沿って配列され、特に手動割込みs w i;:はL
GET (i)2g、AND回路29により途中割込み
、飛越しを防止する。
に沿って配列され、特に手動割込みs w i;:はL
GET (i)2g、AND回路29により途中割込み
、飛越しを防止する。
尚、C/D画面は入力条件「キーイン」後の「エンター
」が次段階への割込みを兼ねる。従ってオペレータによ
る操作ミスの発生の余地は少ない。
」が次段階への割込みを兼ねる。従ってオペレータによ
る操作ミスの発生の余地は少ない。
(2)各操作の節目ごとにC/D画面をデイスプレィし
、CPU内の条件設定状況の目視確認が可能である。
、CPU内の条件設定状況の目視確認が可能である。
(3)rP3000Jの画面23は、D/IMPXによ
る転送結果の表示であり、またrP 2000J 2
3. rP 2010J 25には前回試験の条件
がホールドされている。一方rP3010J 24
はトリガコードにより標準値が自動索引(第2表を参照
)される。従って試験ごとの条件変更に伴う再「キイー
イン」は少なく、オペレータへの負担は軽い。
る転送結果の表示であり、またrP 2000J 2
3. rP 2010J 25には前回試験の条件
がホールドされている。一方rP3010J 24
はトリガコードにより標準値が自動索引(第2表を参照
)される。従って試験ごとの条件変更に伴う再「キイー
イン」は少なく、オペレータへの負担は軽い。
(4)試験データは較正中とATT比率とにより、常に
センサ較正検定時と同一条件下と等価な処理ができる。
センサ較正検定時と同一条件下と等価な処理ができる。
なお本発明は上述した実施例に限定されるものではなく
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
[発明の効果]
本発明によれば、計Ipl準備期に於ける操作手順が大
巾にソフト化され、従って人為操作部分が整理、単純化
される為1人為操作に伴う誤設定やインプットミスが少
なく、例えば風洞試験を行なう場合のフローティングタ
イムを大巾に短縮することのできる電気較正ボックスを
用いたオンラインデータ取得/処理システムを提供でき
る。
巾にソフト化され、従って人為操作部分が整理、単純化
される為1人為操作に伴う誤設定やインプットミスが少
なく、例えば風洞試験を行なう場合のフローティングタ
イムを大巾に短縮することのできる電気較正ボックスを
用いたオンラインデータ取得/処理システムを提供でき
る。
第1図〜第7図は本発明の一実施例であり、第1図は電
気較正ボックスの機能を示す概略図、第2図はD/I
MPXによる転送状況を示すフロー図、第3図はトリ
ガコードとメモリテーブルの機能を示す図、第4図は試
験コードの模式図、第5図は検定/試験における較正中
を示す図、第6図および第7図は計7111準備および
試験を行なう場合のメインプログラムを示すフロー図で
ある。 1・・・センサブリッジ、2・・・較正抵抗、3・・・
ATT切換用ロータリスイッチ、4・・・BCDマトリ
クス、5・・・電気較正ボックス、6・・・制御卓。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第3図 第4図 第5図
気較正ボックスの機能を示す概略図、第2図はD/I
MPXによる転送状況を示すフロー図、第3図はトリ
ガコードとメモリテーブルの機能を示す図、第4図は試
験コードの模式図、第5図は検定/試験における較正中
を示す図、第6図および第7図は計7111準備および
試験を行なう場合のメインプログラムを示すフロー図で
ある。 1・・・センサブリッジ、2・・・較正抵抗、3・・・
ATT切換用ロータリスイッチ、4・・・BCDマトリ
クス、5・・・電気較正ボックス、6・・・制御卓。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- 試験データの自動計測/処理を行なうシステムにおいて
、計測・処理条件等を情報をCPUへ転送する転送手段
と、上記CPUに付設されたメモリテーブルからデータ
処理係数の索引を行なう手段と、電気較正ボックスによ
り較正データを発生させこの較正データにより計測デー
タの補正を行ない前記データ処理係数に基づいた処理を
行なう手段とを具備したことを特徴とする電気較正ボッ
クスを用いたオンラインデータ取得/処理システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3584288A JPH01211087A (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取得/処理システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3584288A JPH01211087A (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取得/処理システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01211087A true JPH01211087A (ja) | 1989-08-24 |
Family
ID=12453233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3584288A Pending JPH01211087A (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 電気較正ボックスを用いたオンラインデータ取得/処理システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01211087A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0665419A1 (en) * | 1994-01-28 | 1995-08-02 | MAGNETI MARELLI S.p.A. | An auto-calibration device for a bridge sensor |
JP2011179818A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 抵抗比測定器校正用抵抗分圧器装置及び該装置を用いた校正方法 |
-
1988
- 1988-02-18 JP JP3584288A patent/JPH01211087A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0665419A1 (en) * | 1994-01-28 | 1995-08-02 | MAGNETI MARELLI S.p.A. | An auto-calibration device for a bridge sensor |
JP2011179818A (ja) * | 2010-02-26 | 2011-09-15 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 抵抗比測定器校正用抵抗分圧器装置及び該装置を用いた校正方法 |
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