JPH0115085B2 - - Google Patents

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JPH0115085B2
JPH0115085B2 JP59037914A JP3791484A JPH0115085B2 JP H0115085 B2 JPH0115085 B2 JP H0115085B2 JP 59037914 A JP59037914 A JP 59037914A JP 3791484 A JP3791484 A JP 3791484A JP H0115085 B2 JPH0115085 B2 JP H0115085B2
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resistive film
buffer circuit
detection device
input panel
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JP59037914A
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Kazuo Yoshikawa
Hisashi Yamaguchi
Tooru Asano
Hideaki Takizawa
Shizuhito Ando
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Priority to ES540763A priority patent/ES8702007A1/es
Priority to DE8585301314T priority patent/DE3565732D1/de
Priority to US06/706,224 priority patent/US4680430A/en
Priority to CA000475287A priority patent/CA1251537A/en
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Publication of JPH0115085B2 publication Critical patent/JPH0115085B2/ja
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【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は座標検出装置に係り、特に抵抗膜を設
けた基板とそれに付加されるインピーダンスとを
有し、該インピーダンスによつて指示される座標
値を検出する座標検出装置に関する。
(2) 技術の背景 オフイスオートメーシヨンなどの発達により、
コンピユータに図や文字などを入力、処理するこ
とが盛んに行われている。図や文字などの入力装
置としてはキーボードが代表的であるが、そのほ
か特定のボード上で指やペンなどによつて位置を
指定し、その座標を入力することによつて図又は
文字などの入力を行う座標入力装置がある。
(3) 従来技術と問題点 上記のような座標入力装置の一方式としては、
ボード上に多数のセンサを格子状に配置し、指や
ペンなどによつて指示し該位置のセンサからの信
号によつてその座標を求めるという方式のものが
ある。しかし、このような方式のものは座標の入
力精度が配置されるセンサの密度によつて決定さ
れてしまうため、高精度の座標入力が難しいとい
う問題点があつた。
座標入力装置の他の一方式としては、入力ボー
ドとして抵抗膜を用い、抵抗膜両端よりインピー
ダンス接続点(指又はペンなどの接触点)へ電流
を流し、その電流比から接続点の座標を求めると
いう方式がある。このような方式の原理を第1図
に示す。材質が均一な抵抗膜1の左端子2には、
電流計測器9を介して電源8の片側の端子5が接
続される。抵抗膜1の右端子3には、電流計測器
10を介して同じく電源8の片側の端子5が接続
される。電源8の他方の端子はアース7に接地さ
れる。電流計測器9の出力はAD変換器11に接
続され、電流計測器10の出力はAD変換器12
に接続される。AD変換器11及び12の出力は
制御装置13に接続される。そして抵抗膜1上の
任意の位置4を片側がアース7に接地された指や
指示ペンなどのインピーダンス7によつて指示す
る。これによつて抵抗膜1において左端の座標が
0、右端の座標が1である抵抗膜上の任意の位置
4の座標X(0≦X≦1)が指示される。
このような状態で端子2と4の間の抵抗値を
Rx、端子3と4の間の抵抗値をR1-xとする。ま
た端子2から4に流れる電流をIx、端子3から4
に流れる電流をI1-xとする。この時、均一な材質
でできている抵抗膜の抵抗値は抵抗の長さに比例
するので指示点4の座標Xは、 X=Rx/(Rx+R1-x) ……(1) によつて与えられる。また抵抗値Rxによる電圧
降下と抵抗値R1-xによる電圧降下は等しいので、 RxIx=R1-xI1-x ……(2) なる関係が成立る。(1)式及び(2)式より、 X=I1-x/(Ix+I1-x) ……(3) となる。すなわち指示点4の座標Xは、端子2と
4の間に流れる電流Ixと、端子3と4の間に流れ
る電流I1-xが分かれば求めることができる。従つ
てこれらの電流Ix及びI1-xを、電流測定器9及び
10で電圧値として検出し、AD変換器11及び
12によつてそれぞれデイジタル値に変換した
後、制御装置13によつて前記(3)式を計算するこ
とによつて、座標Xをデイジタル値として求める
ことができる。
このような従来方式によれば抵抗膜1上の任意
の位置の座標X(左端の座標を0、右端の座標を
1としてその間の値)を、デイジタル値として求
めることができる。しかし、電流を計測するため
の電流計測器9及び10として電流を電圧に変換
するためのオペアンプなどが必要であり、またX
の値を精度良く求めるために量子化精度の高い
AD変換器11及び12が必要であり、それによ
つて回路が複雑になりコストが高くつくという問
題点があつた。
上記のような問題点を解決する技術として、既
に出願した「座標検出装置」がある。これは第2
図に示すように(詳細な原理については後述す
る)、抵抗膜の両端にバツフア回路を付加するこ
とにより、該抵抗膜の片端から見た等価インピー
ダンスと指示点の座標とが特定の関数関係になる
ことを利用して、前記等価インピーダンスの値を
検出し前記指示点の座標を検出するものである。
この方式によれば簡単な回路構成により、高精度
な座標検出を行うことが可能となる。しかし、同
方式は座標指示用のインピーダンスの値があらか
じめ一定である場合には非常に有効であるが、該
インピーダンスが不確定な場合は座標検出ができ
ない。例えば座標指示に指タツチを用いインピー
ダンスとして人体容量を用いる場合、その容量が
人や場所により変動する(50pF〜150pF)するた
め、上記方式を直接用いることはできないという
問題点があつた。
(4) 発明の目的 本発明は上記問題点を除くために、前記等価イ
ンピーダンスからの座標検出の原理に基づき、抵
抗膜の両端から見た等価インピーダンスを比較
し、さらにそれら等価インピーダンスを複数回に
わたつて測定し平均することにより、不確定な値
を持つインピーダンスによる座標指示を可能と
し、同時に角状抵抗膜の四端辺にそれぞれ個別の
スイツチ手段を設けることにより、2次元座標の
検出を可能とする座標検出装置を提供することを
目的とする。
(5) 発明の構成 上記目的は本発明によれば、基板上に抵抗膜を
配置した座標入力パネルと、該抵抗膜上の一点を
指示する座標指示手段と、前記抵抗膜の両端に接
続され該両端の電位を一定の関係に保つバツフア
回路と、前記抵抗膜の両端と該バツフア回路の両
端とを交互に切り換え接続する切り換え手段と、
前記バツフア回路の一端に接続され該一端と座標
指示手段のアースとの間のインピーダンスを前記
切り換え手段によつて切り換えられた各場合につ
いて検出する検出手段と、該検出手段の出力値を
用いて前記座標指示手段によつて指示された前記
座標入力パネル上の座標位置を計算する演算手段
とを有することを特徴とする座標検出装置を提供
することにある。
(6) 発明の実施例 以下本発明の実施例について詳細に説明を行
う。
第2図は本発明を実施する場合に基本となる等
価インピーダンスからの座標検出の原理を説明す
るための図である。抵抗膜1は第1図で説明した
従来例の場合と同じものであり、片側がアース1
7に接地されたインピーダンスZ0(指示ペンに相
当)によつて指示点4を指示し、その座標Xを検
出するようになつている。この場合も抵抗膜1の
左端子2の座標が0、右端子3の座標が1であ
り、指示点4の座標Xは、0≦X≦1の値をと
る。
本原理が第1図の従来例と異なる点は、抵抗膜
1の両端子は第1図の従来例のように電源に接続
されているのではないという点である。その代り
に端子14が端子2に接続されると共にオペアン
プ15を介して端子3に接続されている。すなわ
ち端子14はオペアンプ15の非反転入力に接続
され、オペアンプ15の出力は端子3に接続され
る。またオペアンプ15の出力はオペアンプ15
自身の反転入力にも接続される。
以上のような構成の回路において、オペアンプ
15はボルテージフオロアの動作をするバツフア
回路となつている。すなわち原理の特徴は抵抗膜
1の端子2及び3がバツフア回路によつて接続さ
れている点である。このような構成によつて端子
2及び3のアース17に対する電位は等しくな
り、かつオペアンプ15の入力インピーダンスは
無限大と考えることができるので、端子14の電
流には端子3から指示点4へ流れる電流は含まれ
ないという特性になる。換言すれば、端子3から
指示点4へ流れる電流はオペアンプ15から独自
に供給されるので、端子14を流れる電流は端子
2から指示点4へ流れる電流そのものになつてい
る。いま、端子2および3の部分のアース17に
対する電位をV、指示点4の部分のアース17に
対する電位をVaとする。また2と4の間の抵抗
値及び端子3と4の間の抵抗値を第1図の場合と
同様にそれぞれRx及びR1-xとする。そして端子
14とアース17の間のZ0,Rx及びR1-xを合成
した等価的なインピーダンスをZとする。本原理
は座標XがこのインピーダンスZの関数になると
いうことを利用するものである。以下、このイン
ピーダンスZを計算してみる。
まず、インピーダンスZ0に流れる電流Va/Z0
は、指示点4を介してRxに流れる電流(V―
Va)Rxと、R1-xに流れる電流(V―Va)/R1-x
の和となる。すなわち、 (V―Va)〔(1/Rx)+(1/R1-x)〕 =(Va/Z0) ……(4) となる。ところが実際には前記した理由で、等価
インピーダンスZに流れる電流V/Zは、Rx
流れる電流(V―Va)/Rxに等しくなる。すな
わち、 V/Z=(V―Va)/Rx ……(5) となる。(4)式及び(5)式からV及びVaを消去して
Zを求めると、 Z=Rx+Z0・〔(Rx+R1-x)/R1-x)〕 ……(6) となる。ここでRx+R1-xがインピーダンスZ0
大きさ|Z0|に比べて充分に小さくなるように
Rx,R1-x及びZ0を設定すれば、(6)式は近似的に、 Z≒Z0・〔(Rx+R1-x)/R1-x〕 ……(7) とすることができる。ここで抵抗膜1は第1図の
従来例と同じなので前記(1)式(従来例)を変形し
て、 R1-x=〔(1−X)/X〕Rx ……(8) となる。(8)式を(7)式に代入して等号で結びXを求
めると、 X=1−(Z0/Z) ……(9) となる。(9)式を見て分かるように、第2図のよう
な構成にすることによつて、指示点4の座標Xは
端子14とアース17の間の等価インピーダンス
Zと反比例の関係になつている。従つてこの等価
インピーダンスZ及びインピーダンスZ0の値を測
定し、(9)式を計算すれば座標Xの値を計算するこ
とができる。
以上本原理をまとめれば、抵抗膜1の両端子を
ボルテージフオロワによるバツフア回路で接続
し、抵抗膜1の抵抗値が指示点を指示するための
指示ペンのインピーダンスZ0の大きさに比べて十
分小さくなるように設定する。そしてインピーダ
ンスZ0をあらかじめ測定しておき、端子14とア
ース17の間の等価インピーダンスZを適当な測
定手段によつて測定する。こうして求まつたZ及
びZ0を用いて(9)式を計算することによつて指示点
4の座標Xを検出することができる。
第2図のような構成における上記インピーダン
スの具体例として、インピーダンスZ0が容量であ
る場合について考えてみる。今、その容量をC0
とすると、 Z0=1/jωC0 ……(10) となる。ただし、jは複素量を表わす記号、ωは
容量に付加される信号の角周波数である。(10)式を
(7)式に代入し等号で結ぶと、 Z=1/jω[C0(R1-x/(Rx+R1-x)}]……(11) なる。従つて端子14とアース17の間の等価イ
ンピーダンスZも、 C=C0{R1-x/(Rx+R1-x)} ……(12) という容量値をもつ等価的な容量になることがわ
かる。
(8)式と(12)式を用いてXを求めると、 X=1―(C/C0) ……(13) となる。以上よりインピーダンスZ0に容量を用い
た場合は、端子14とアース17の間の等価イン
ピーダンスも容量となり、それらの値より(13)
式から座標Xを求めることができる。
上記のような原理によれば例えば端子14に容
量可変デイジタル発振器とその発振周期の測定器
を取り付けることによつて、前記(13)式を発振
周期の関係から計算することができる。この時容
量C0は指示点4を抵抗膜1の左端子2に持つて
くることによつて測定することができる。
ところが上記のような方式は、容量C0が指示
ペンのように一定である場合には非常に有効であ
るが、容量C0として指タツチによる人体容量を
用いたような場合には、測定の途中で容量値が変
動するため、上記方式を直接用いることができな
い。また左端子2及び右端子3のそれぞれとアー
ス17との間に浮遊容量が存在するような場合、
それらによる前記等価インピーダンスZ(等価容
量C)の計算における誤差が無視できなくなる。
そこでそのような場合を考慮した本発明の原理を
第3図に示す。
まず第3図aの構成は第2図の場合とはほとん
ど同じである。ただし端子14には容量可変デイ
ジタル発振器20が接続されており、その出力パ
ルスが端子21から取り出される。また指示点4
の指示手段としては変動する容量値CBを持つ指
タツチ18を用いている。また端子2とアース1
7との間には容量値Csxなる浮遊容量が存在し、
端子3とアース17との間には同じく容量値
Cs1-xなる浮遊容量が存在するとする。この状態
における端子14とアース17との間の等価容量
Cxを求めてみる。この場合端子2とアース17
との間の等価容量値は前記第2図における(12)式に
おいてC0をCBに置き換えた値として与えられる。
そして浮遊容量値Cs1-xは端子3が低インピーダ
ンスでオペアンプ15に接続されているので無視
でき、浮遊容量値Csxは上記端子2とアース17
との間の等価容量値と並列に接続された形とな
る。従つて等価容量Cxは前記(12)式を利用して、 Cx1=Csx+CB{R1-x/(Rx+R1-x)} ……(14) となる。ここで容量可変デイジタル発振器20の
動作については後述する。次に第3図aにおける
オペアンプ15と発振器20の接続を端子2と端
子3とで全く逆に付け換えて第3図bのような接
続にする。このときの接続の切り換えは非常に短
い時間(5msec程度)で行われるとすると、浮
遊容量値Csx,Cs1-x及び人体容量値CBは変化しな
いと考えることができる。そして第3図bの場合
における端子19とアース17との間の等価容量
Cx2を計算してみる。この場合は前記(14)式に
おいてCsxがCS1-xに置き換わり、RxとR1-xとの関
係が逆になり、またCBは短い時間内では一定値
と考えられるので、 Cx2=Cs1-x+CB{Rx/(Rx+R1-x)}……(15) となる。
ここで、第3図aの回路の接続と第3図bへの
回路の接続とが前記したように非常に短い時間で
行われ、人体容量値CBが変化しないと仮定でき
れば、前記(14)式及び(15)式からCBを消去
することができ、 R1-x={(Cx1-Csx)/(Cx2-Csx)}.Rx ……(16) となる。この関係と前記第1図の従来例における
(1)式とから指示点4の座標Xは、 X=Rx/(Rx,R1-x) =(Cx2−Cs1-x)/{(Cx1−Csx) +(Cx2−Cs1-x)} ……(17) として計算することができる。この(17)式が本
発明による座標検出の原理の基本となる式であ
る。
すなわち本発明による座標検出の原理の基本に
ついてまとめれば、本発明は抵抗膜1に対し第3
図a及び第3図bのような回路の接続を短時間で
切り換える手段を有し、それぞれの場合について
の端子14とアース17の間の等価容量Cx1(第3
図a)及び端子19とアース17の間の等価容量
Cx2(第3図b)とを検出する手段を有し、さらに
浮遊容量Csx及びCs1-xを検出する手段を有する構
成となつており、それらの容量値Cx1,Cx2,Csx
及びCs1-xを用いて前記(17)式を計算すること
により、指示点4の座標Xを指タツチ18の人体
容量CBを用いることなしに求めることができる。
次に上記各容量は第3図a及びbにおける容量
可変デイジタル発振器20によつて検出される。
今、容量可変デイジタル発振器20の端子21か
らの出力パルスの発振周期は端子14又は19と
アース17との間の等価容量値に比例する構成を
となつている。従つて第3図aの場合の発振周期
をTx1とすれば、上記比例定数をkとして、 Tx1=k・Cx1 ……(18) となる同様に第3図bの場合の発振周期をTx2
すれば、 Tx2=k・Cx2 ……(19) となる。
以上(18)式及び(19)式のようにして等価容
量Cx1及びCx2が、端子21からの出力パルスの発
振周期Tx1及びTx2として検出される。また浮遊
容量Cs1-xは第3図aで指タツチ18がない状態
の等価容量値として求まる。即ち前記(14)式に
おいてR1-xが0となる場合として考えられる。
従つて第3図aで指タツチ18がない状態の端子
21からの出力パルスの発振周期をTs1-xとする
と、 Tsx=k・Csx ……(20) となり、浮遊容量Csxは第3図aで指タツチ18
がない状態の発振周期Tsxとして検出される。同
様にして浮遊容量Cs1-xは第3図bで指タツチ1
8がない状態の等価容量値として求まるので(前
記(15)式においてRxが0となる場合である)、
その時の端子21からの出力パルスの発振周期を
Ts1-xとすると、 Ts1-x=k・Cs1-x ……(21) として検出される。
以上(18),(19),(20),(21)式を前記(17)
式に代入すると、 指示点4の座標xは、 x=(Tx2−Ts1-x)/{(Tx1−Tsx) +(Tx2−Ts1-x)} ……(22) として計算できる。即ち本発明においては、第3
図a及びbの各状態で指タツチ18がない時の発
振周期をまず求めておき、その後指タツチ18が
ある場合の第3図a及びbの各状態における発振
周期を求めることによつて、(17)式に対応する
(22)式から指タツチ18による指示点4の座標
が計算される。ここで指タツチ18がある場合に
おいて第3図a及びbの回路の接続の切換えが短
時間に行なわれることが本発明の重要な点であ
る。
以上が本発明による座標検出の原理であるが、
次にこの原理を用いさらに2次元座標の検出が可
能な本発明の実施例の構成を第4図に示す。
第4図においてタツチパネル22はガラス基板
上に透明抵抗膜を形成し、さらにSiO2蒸着膜で
被覆した構造となつている。タツチパネル22の
左端辺にはアナログスイツチアレイ23がm本の
各スイツチ線Ax11,Ax12,……,Ax1nによつて接
続され、それらスイツチ線の他端子は接続線L1
に共通接続されている。またタツチパネル22の
右端辺にはアナログスイツチアレイ24がアナロ
グスイツチアレイ23に対応して、m本の各スイ
ツチ線Ax21,Ax22,……Ax2nによつて接続され、
それらスイツチ線の他端子は接続線L2に共通接
続されている。さらにタツチパネルの上端辺には
アナログスイツチアレイ25がn本の各スイツチ
線AY11,AY12,AY13,……,AY1oによつて接続さ
れ、それらスイツチ線の他端子は接続線L1に共
通接続されている。同様にタツチパネル22の下
端辺にはアナログスイツチアレイ26がアナログ
スイツチアレイ25に対応して、n本の各スイツ
チ線Ax21,Ax22,Ax23,……Ax2oによつて接続さ
れ、それらスイツチ線の他端子は接続線L2に共
通接続されている。
上記アナログスイツチアレイ23及び24の制
御端子はスイツチ制御線C1に接続され、アナロ
グスイツチアレイ25及び26の制御端子はイン
バータ31及び32を介してスイツチ制御線C1
に接続され、スイツチ制御線C1は制御装置30
に接続さされる。接続線L1はアナログスイツチ
27のスイツチS1に接続され、スイツチS1は端子
I1又はO1と選択的に接続される。また接続線L2
同じくアナログスイツチ27のスイツチS2に接続
され、スイツチS2は端子I2又はO2と選択的に接続
される。アナログスイツチ27の制御端子はスイ
ツチ制御線C2に接続され、スイツチ制御線C2
制御装置30に接続される。またオペアンプ28
の非反転入力端子はアナログスイツチ27の端子
I1及びI2に接続されると共に、容量可変デイジタ
ル発振器29の容量端子に接続される。オペアン
プ28の反転入力端子はオペアンプ28の出力端
子に接続され、オペアンプ28の出力端子はアナ
ログスイツチ27の端子O1及びO2に接続される。
容量可変デイジタル発振器29の出力端子は制御
装置30に接続され、制御装置30の出力端子3
1には検出座標値が出力される。そしてタツチパ
ネル22上における座標指示は指タツチ32によ
つて行なわれる。その時の変動する人体容量を
CBとし、そのアースを33とする。
以上のような構成の座標検出装置において、ア
ナログスイツチアレイ23,24,25、及び2
6はスイツチ制御線C1によつてX方向(タツチ
パネル22の左右方向)又はY方向(タツチパネ
ル22の上下方向)が交互に開閉できるようにな
つている。例えばアナログスイツチアレイ23及
び24がオンとなれば、アナログスイツチ25及
び26はオフとなる。またオペアンプ28の部分
はボルテージフオロア回路となつており、その入
力及び出力端子は、アナログスイツチ27におい
てスイツチ制御線C2によつて接続線L1及びL2
交互に接続されるようになつている。また指タツ
チ32による人体容量CBにはSiO2蒸着膜の部分
の容量も含まれるとする。
次に本実施例でタツチパネル22に指タツチ3
2が行なわれる場合の動作について経時的に説明
する。
1 まず制御装置30からスイツチ制御線C1
ハイレベル信号が出力され、アナログスイツチ
アレイ23及び24がオンとなり25及び26
はオフとなる。これはインバータ31及び32
による。
1―1 この状態で制御装置30からスイツチ
制御線C2にハイレベル信号が出力され、ア
ナログスイツチ27において、スイツチS1
端子I1に接続され、スイツチS2は端子O2に接
続される。以上によつてオペアンプ28とタ
ツチパネル22の部分の等価回路は第3図a
と全く同じになる。これにより容量可変デイ
ジタル発振器から、タツチパネル22の左端
とアース33との間の等価容量値Cx1に対応
する発振周期Tx1の出力パネルが出力され
る。この出力パルスの発振周期Tx1は制御装
置30内のタイマとカウンタによつて計測さ
れ、記憶される。またこの状態で指タツチ3
2がない時の発振周期Tsxは予め計測され記
憶されており、これはタツチパネル22の左
端の浮遊容量Csxに対応している。
1―2 次にスイツチ制御線C2の信号がロー
レベルとなり、アナログスイツチ27におい
て、スイツチS1は端子O1に接続され、スイ
ツチS2は端子I2に接続される。この時スイツ
チ制御線C1の信号はハイレベルのままであ
る。この動作によつて等価回路は第3図bと
全く同じになる。これにより容量可変デイジ
タル発振器から、タツチパネル22の右端と
アース33との間の等価容量値Cx2に対応す
る発振周期Tx2の出力パルスが出力される。
この出力パネルの発振周期Tx2は制御装置3
0によつて計測、記憶される。またこの状態
における指タツチ32がない時の発振周期
Ts1-xもあらかじめ計測、記憶されており、
これはタツチパネル22の右端の浮遊容量
Cs1-xに対応している。
1―3 以上の動作によつて求まつたTx1
Tx2及びTsx,Ts1-xを用いて、前記(22)式
が制御装置30内の演算装置によつて演算さ
れ、タツチパネル22における指タツチ32
の左右方向の座標、すなわちX座標が検出さ
れ、出力端子31に出力される。なおこの場
合、タツチパネル22の左端のX座標が0、
右端のX座標が1であり、検出されるX座標
は0と1の間の値となる。
2 次にスイツチ制御線C1の信号がローレベル
となり、アナログスイツチアレイ25及び26
がオンとなり23及び24はオフとなる。
以下の動作はタツチパネル22の左右方向が上
下方向に入れかわり、全く同様にしてタツチパネ
ル22における指タツチ32の上下方向の座標、
すなわちy座標が検出され出力端子31に出力さ
れる。この場合はタツチパネル22の上端のY座
標0、下端のY座標が1となる。
以上の動作によつて指タツチ32のタツチパネ
ル22上の2次元座標が精度良く求まる。上記ス
イツチ制御のための各動作時間は短い時間間隔
(5msec程度)で時分割的に行われる。
次に上記X,Y座標をさらに高精度に求めるた
めの実施例について説明する。上記実施例におい
ては、Tx1,Tx2を求める間に人体容量が変化し
ないと仮定したが、実際にはその間にも人体容量
はわずかに変化しておりそれによつて検出精度に
限界がある。そこで上記1―1,1―2の動作を
数回(l回とする。l=2〜4が望ましい。)繰
り返し、各回毎の測定値Tx1i,Tx2iに対して、制
御装置30内の演算装置によつて (Tx1i−Tsx),(Tx2i−Ts1-x)を計算し、その
値をn回にわたつて演算する。すなわち、 li=1 (Tx1i−Tsxli=1 (Tx2i−Ts1-x) を計算する。以上l回の測定、演算の後に上記結
果から、 X=li=1 (Tx2i−Ts1-x)/{li=1 (Tx1i−Tsx)+li=1 (Tx2i−Ts1-x)} ……(23) としてX座標を演算、検出し出力端子31に出力
する。この値は各測定サイクルにおける検出座標
値Xi, Xi=(Tx2i−Ts1-x)/{(Tx1i−Tsx)+(Tx2i−Ts
1-x
)}……(24) の加重平均になつており、Tx1i,Tx2iを求める間
の人体容量の変化による検出座標値のばらつきを
良く平均化しており、高精度なX座標の検出を可
能としている。Y座標についても全く同様に考え
ることができる。
以上本発明による実施例において重要なことは
指タツチによる人体容量が一定とみなせる程度の
短時間において上記動作を時分割的に完了するこ
とであり、それが実現されればたとえ人体容量値
が不確定であつても、正確に座標検出を行うこと
が可能となる。
この時アナログスイツチ、容量可変デイジタル
発振器29及び制御装置内のカウンタや演算装置
は容易に実現でき、高信頼性を保つたまま全体的
なコストを低くすることができる。
また本実施例は2次元座標の検出に関するもの
であつたが、第3図の原理に基づけば1次元座標
の検出に用いることができるのは言うまでもな
い。また指タツチ以外の座標指示手段に対しても
当然応用できる。
本発明の他の実施例としては透明な抵抗膜をコ
ンピユータなどの端末のCRTデイスプレイ装置
の一部に配置することによつて、情報入力用のタ
ツチパネルとして用いることもできる。また座標
指示手段として容量以外のインピーダンスを用い
た場合においても、前記(14)〜(22)式などに
対応する同様の式をたてることにより同様の効果
を得ることができる。
(7) 発明の効果 本発明によれば抵抗膜の両端から見た等価イン
ピーダンスを時分割的に測定できるようにし、さ
らにそれら測定結果に対して数回分の測定の加重
平均を計算できるようにすることによつて、座標
指示手段のインピーダンスが不確定なものに対し
ても正確な座標検出が可能となる。
また左右、上下方向の座標を時分割的に測定で
きるようにすることによつて、上記条件における
2次元座標の検出が可能となる。
さらに本発明によれば低コストで信頼度の高い
座標検出装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の座標検出装置の構成図、第2図
は本発明の背景となる基本原理の説明図、第3図
a,bは本発明による座標検出装置の原理説明
図、第4図は本発明による座標検出装置の構成図
である。 22……タツチパネル、23,24,25,2
6……アナログスイツチアレイ、27……アナロ
グスイツチ、28……オペアンプ、29……容量
可変デイジタル発振器、30……制御装置、C1
C2……スイツチ制御線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板上に抵抗膜を配置した座標入力パネル
    と、該抵抗膜上の一点を指示する座標指示手段
    と、前記抵抗膜の両端に接続され該両端の電位を
    一定の関係に保つバツフア回路と、前記抵抗膜の
    両端と該バツフア回路の両端とを交互に切り換え
    接続する切り換え手段と、前記バツフア回路の一
    端に接続され該一端から見たインピーダンスを前
    記切り換え手段によつて切り換えられた各場合に
    ついて検出する検出手段と、該検出手段の出力値
    を用いて前記座標指示手段によつて指示された前
    記座標入力パネル上の座標位置を計算する演算手
    段とを有することを特徴とする座標検出装置。 2 前記座標入力パネルは四端を有する抵抗膜を
    配置した2次座標入力パネルであり、前記抵抗膜
    の四端のうち向い合ういずれか2端を選択し、該
    2端と前記バツフア回路の両端とを交互に切り換
    え接続する切り換え手段と、前記バツフア回路の
    一端に接続され該一端から見たインピーダンスを
    前記切り換え手段によつて選択的に切り換えられ
    た各場合について検出する手段と、該検出手段の
    出力値を用いて前記座標指示手段によつて指示さ
    れた前記座標入力パネル上の、2次元座標位置を
    計算する演算手段とを有することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の座標検出装置。 3 前記座標指示手段は指タツチであることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載
    の座標検出装置。 4 前記基板上の抵抗膜は絶縁膜によつて被覆さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    または第2項記載の座標検出装置。 5 前記基板、抵抗膜及び絶縁膜はそれぞれ透明
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項ま
    たは第2項または第4項記載の座標検出装置。 6 前記座標入力パネルはデイスプレイ画面上に
    設置されることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項または第2項または第3項記載の座標検出装
    置。 7 前記バツフア回路はボルテージフオロア回路
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の座標検出装置。 8 基板上に抵抗膜を配置した座標入力パネル
    と、該抵抗膜上の一点を指示する座標指示手段
    と、前記抵抗膜の両端に接続され該両端の電位を
    一定の関係に保つバツフア回路と、前記抵抗膜の
    両端と該バツフア回路の両端とを交互に切り換え
    接続する切り換え手段と、前記バツフア回路の一
    端に接続され該一端から見たインピーダンスを前
    記切り換え手段によつて切り換えられた複数回の
    測定サイクルについて検する検出手段と、該検出
    手段からの複数の出力値の平均値を計算する第1
    の演算手段と、該第1の演算手段の出力値に基づ
    いて前記座標指示手段によつて指示された前記座
    標入力パネル上の座標位置を計算する第2の演算
    手段とを有することを特徴とする座標検出装置。 9 前記座標入力パネルは四端を有する抵抗膜を
    配置した2次元座標入力パネルであり、前記抵抗
    膜の四端のうち向い合ういずれか2端を選択し、
    該2端と前記バツフア回路の両端とを交互に切り
    換え接続する切り換え手段と、前記バツフア回路
    の一端に接続され該一端から見かインピーダンス
    を前記切り換え手段によつて選択的に切り換えら
    れた複数回の測定サイクルについて検出する手段
    と、該検出手段からの複数の出力値の平均値を計
    算する第1の演算手段と該第一の演算手段の出力
    値に基づいて前記座標指示手段によつて指示され
    た前記座標入力パネル上の2次元座標位置を計算
    する第2の演算手段とを有することを特徴とする
    特許請求の範囲第8項記載の座標検出装置。 10 前記座標指示手段は指タツチであることを
    特徴とする特許請求の範囲第8項または第9項記
    載の座標検出装置。 11 前記基板上の抵抗膜は絶縁膜によつて被覆
    されていることを特徴とする特許請求の範囲第8
    項または第9項記載の座標検出装置。 12 前記基板、抵抗膜及び絶縁膜はそれぞれ透
    明であることを特徴とする特許請求の範囲第8項
    または第9項または第11項記載の座標検出装
    置。 13 前記座標入力パネルはデイスプレイ画面上
    に設置されることを特徴とする特許請求の範囲第
    8項または第9項または第11項記載の座標検出
    装置。 14 前記バツフア回路はボルテージフオロア回
    路であることを特徴とする特許請求の範囲第8項
    記載の座標検出装置。
JP59037914A 1984-02-29 1984-02-29 座標検出装置 Granted JPS60181913A (ja)

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